转速测量装置的设计.doc

1、第 1 页 共 27 页转速测量装置的设计摘要：本文结合目前国内外转速测量装置的应用现状，分析了A/D 转换、数据传输形式,对转速测量单元进行了深入研究，设计了一种基于地磁传感器对信号采集，应用AVR单片机（ATmega8535L）对信号转换、控制，及基于芯片AT49BV162A闪存并传输于一体的测量单元。且对ATmega8535L 芯片在信号处理方面作了初步的研究。当远离工作现场，计算机需要提取信号时，用并行口进行数据传输。关键字：地磁传感器，ATmega8535L，A/D转换，AT49BV 162A，电平转换第 2 页 共 27 页1 绪论1.1 引言21 世纪，是人类全面进入信息电子化的

2、时代。在这个信息技术(包括计算机技术，通信技术及传感器技术)高度发展的时代，如果说计算机是人的大脑，通信相当于人的神经，那么传感器就是人的器官。并且电子技术的飞跃进步，单片机的普及与推广，使得电子化的时代又前进了一步。如果可以把计算机与单片机好好地结合，充分发挥各自的特点，并且配上相应的传感器，可以使人们更好更精确地探索出自然界的秘密，更好地的总结科学规律。转速测量在国民经济的各个领域，都是必不可少的.转速是工程中应用非常广泛的一个参数，其测量方法较多，而模拟量的采集和模拟处理一直是转速测量的主要方法，这种测量方法已不能适应现代科技发展的要求，在测量范围和测量精度上，已不能满足大多数系统的使用

3、。随着大规模及超大规模集成电路技术的发展，数字系统测量得到普遍应用，特别是单片机对脉冲数字信号的强大处理能力，使得全数字测量系统越来越普及，其转速测量系统也可以用全数字化处理。在测量范围和测量精度方面都有极大的提高。在一些特殊的场合 1，有时需要将传感器的信号不断的实时采集和存储起来，并且到一定时间再把数据回放到 PC 机中进行分析和处理。在工作环境恶劣的情况下采用高性能的单片机和大容量的 FLASH 存储器的方案恐怕就是最适当的选择了。1.2 国内外转速测量装置技术现状及发展趋势1.2.1 转速测量装置的技术现状1.电子计数法:这是应用最广泛的精密计量转速的方法。电子式转速表是一个比较笼统的

4、概念：以现代电子技术为基础，设计制造的转速测量工具。它一般有传感器和显示器，有的还有信号输出和控制。因为传感器和显示器件方面的多种多样，还有测量方法的多样性，从传感器和二次仪表分开来分类。如果从安装使用方式上来分，还有就地安装式、台式、柜装式和便携式以及手持式这种方原理是利用转速传感器将机械旋转频率变换成电脉冲信号，送入电子第 3 页 共 27 页计数器，在一定方法来计量单位时间内的脉冲数而获得转速。这种方法一般对高、中转速，可采用频率法。而对于低转速则可采用周期法.2.频闪测速法 :这种方法是基于频闪效应的原理。光电式转速传感器 2：它分为投射式和反射式两类。投射式光电转速传感器的读数盘和测

5、量盘有间隔相同的缝隙。测量盘随被测物体转动，每转过一条缝隙，从光源投射到光敏元件（见光电式传感器）上的光线产生一次明暗变化,光敏元件即输出电流脉冲信号。反射式光电传感器在被测转轴上设有反射记号，由光源发出的光线通过透镜和半透膜入射到被测转轴上。转轴转动时，反射记号对投射光点的反射率发生变化。反射率变大时，反射光线经透镜投射到光敏元件上即发出一个脉冲信号，反射率变小时，光敏元件无信号。在一定时间内对信号计数便可测出转轴的转速值。 变磁阻式转速传感器 3，它属于变磁阻式传感器。变磁阻式传感器的三种基本类型，电感式传感器、变压器式传感器和电涡流式传感器都可制成转速传感器。电感式转速传感器应用较广，它

6、利用磁通变化而产生感应电势，其电势大小取决于磁通变化的速率。这类传感器按结构不同又分为开磁路式和闭磁路式两种，开磁路式转速传感器结构比较简单，输出信号较小，不宜在振动剧烈的场合使用。闭磁路式转速传感器由装在转轴上的外齿轮、内齿轮、线圈和永久磁铁构成，内、外齿轮有相同的齿数。当转轴连接到被测轴上一起转动时，由于内、外齿轮的相对运动，产生磁阻变化，在线圈中产生交流感应电势，测出电势的大小便可测出相应转速值。 3.激光测速法1.3 转速测量装置的研究目的及意义转速测量在国民经济的各个领域，都是必不可少的.转速是工程中应用非常广泛的一个参数，因此，对其进行测量有重要意义。1.4 本设计要研究或解决的问

7、题设计一转速存储记录装置，并通过处理得到转动速度。1.5 论文章节分配第一章 绪论：回顾转速测量发展趋势，其中对转速测量方法做了详细的阐述。第 4 页 共 27 页第二章 转速测量装置的总体方案设计：介绍了总体方案概述及系统的工作原理。第三章 转速测量装置的硬件实现：其中包括了主要元器件的选择和硬件电路整体设计。并对主要元器件作了系统的说明。第四章 单片机的软件设计。第五章 总结与展望：整篇论文的总结。第 5 页 共 27 页2 转速测量装置的总体设计2.1 总体方案概述2.1.1 转速测量原理 就转速测量原理而言 5，大体可分为三大类：一是用单位时间内测得物体的旋转角来计算速度。例如在单位时

8、间内，累计转速传感器发出的N 个脉冲，即为该单位时间的速度，这种以测量频率来实现测量转速的方法，称测频法，即“M ”法；另一类是在给定的角位移距离内，通过测量这一角位移的时间来进行测速的方法，称测周法，即“T”法，如给定的角位移，传感器便发出一个电脉冲周期，以晶体震荡频率而产生的标准脉冲来度量这一周期时间，再经换算可得转速。这两种测速方法各有优缺点， “M”法一般用于高速测量，在转速较低时，测量误差较大，而且，检测装置对转速分辨能力也变差；而“T”法一般用于低速测量，速度越低测量精度越高，但在测量高转速时，误差较大；结合这两种测量方法就可以得出第三种测量方法，即M/T法，它结合这两种方法的优点

9、，一方面像“M”法那样在对传感器发出的脉冲计数的同时，也像“T ”法那样计取脉冲的时间，通过计算即可得出转速值。在实际测量中，还须设定定时时间，兼顾高、低转速时的精度影响，适时调节采样时间 18。 2.2 系统结构方案的选择综上所述，设计了一种应用地磁传感器及单片机的测量转速的方法。系统框图 2.1 如下：第 6 页 共 27 页传感器调理电路单片机存储器电平转换计算机图 2.1 系统框图首先被测信号通过传感器转化为电信号。传感器工作原理如下：薄膜式高灵敏度地磁方位传感器的工作原理为一个 n 匝线圈的闭合电路，切割地磁场产生感生电动势：，tnsB然后，传感器输出模拟信号经过调理电路调理之后进入

10、信号处理传输单元。信号处理单元主要由ATmega8535L内部的A/D转换。完成A/D转换后，发出A/D中断，把信号送到单片机的输出口，存储于闪存芯片AT49BV162A中。最后，当远离工作现场，计算机要读取闪存内的数据时，通过计算机的并行口对数据进行读取。第 7 页 共 27 页3 转速测量装置的硬件实现3.1 基本电路介绍转速测量装置的硬设计主要由地磁传感器与ATmega8535L芯片接口电路，ATmega8535L芯片与AT49BV162A接口电路，AT49BV162A芯片与电平转换芯片接口电路，电平转换芯片与上位机接口电路四个部分组成。地磁传感器与ATmega8535L芯片接口电路主要

11、完成对信号的采集及进行A/D转换传输。ATmega8535L芯片与AT49BV162A接口电路主要完成对信号的传输与存储。AT49BV162A芯片与电平转换芯片接口电路，电平转换芯片与上位机接口电路主要完成对信号实现电压转换并传输。3.2 主要元器件的选择3.2.1 地磁传感器薄膜式地磁方位传感器利用电磁感应原理，采用多层薄膜结构，首先在绝缘薄膜基底聚脂酰胺上溅射金属薄膜，然后蚀刻线圈图案，再覆盖介电保护层。目前国内外利用线圈式磁传感器测量子弹角速度的文献虽有报道，但所用传感器都是在铁磁骨架上缠绕漆包铜丝的结构，由于存在铁磁骨架，其灵敏度比较高，但结构和重量都较大，安装不便。柔性薄膜线圈式磁传

12、感器能够方便地粘贴于测试装置的钢质结构表面，既节省体积便于安装，又能借助减小磁屏蔽效应增大输出灵敏度。第 8 页 共 27 页薄膜式高灵敏度地磁方位传感器的工作原理为一个 n 匝线圈的闭合电路，切割地磁场感生电动势：，tnsB式中，B 为地磁场的磁场强度；S 为薄膜线圈传感器的有效面积。薄膜式地磁方位传感器使用时粘贴在测试装置的钢质外壳表面，由电磁感生定律及右手规则可知：如果将线圈划分为两个对称结构，对应圆柱的弧度为，两部分的绕线方向必须相反才能在转动时使两部分感电动势相加，否则就会相互抵消。地磁场强度大约为 500mG。本薄膜线圈传感器每匝线圈的面积是不相等的，因此采用 ，其中 S 为线圈面

13、积在磁场中的实际变化量。tB薄膜传感器的结构图 3.1 所示：bac逆时针方向 顺时针方向A CB图 3.1 传感器原理结构简图利用先进的薄膜加工工艺，设计制造柔性的多层薄膜线圈，可灵活地粘贴于测试装置的表面，构成地磁方位传感器，极大地提高传感器的灵敏度、可靠性和安装适应性。根据线圈感应地磁的原理可知线圈的匝数决定了其灵敏度。然而，薄膜线圈的层数决定在相同的线密度情况下线圈的总共匝数，也就决定了传感器的灵敏度。3.2.2 AVR 单片机AVR内核具有丰富的指令集和32个通用工作寄存器。所有的寄存器都直接与算逻单元相连接， 6使得一条指令可以在一个时钟周期内同时访问两个独立第 9 页 共 27

14、页的寄存器ATmega8535L具有一整套的编程与系统开发工具，包括：C语言编译器、宏汇编、 程序调试器/ 软件仿真器、仿真器及评估板。3.2.2.1 其主要特点如下：1.高性能、低功耗的 8 位AVR微处理器；2.非易失性程序和数据8K可编程Flash存储器（擦写寿命: 10,000 次）；3.512 字节的EEPROM，擦写寿命: 100,000 次；4.两个具有独立预分频器和比较器功能的8 位定时器/ 计数器；5.一个具有预分频器、比较功能和捕捉功能的16 位定时器/ 计数器；6.具有独立振荡器的实时计数器RTC；7.8路10 位ADC；8.具有可编程增益（1x, 10x, 或200x）

15、的差分通道；9.可工作于主机/ 从机模式的SPI 串行接口；10.具有独立片内振荡器的可编程看门狗定时器；11.片内模拟比较器；12.6种睡眠模式: 空闲模式、ADC 噪声抑制模式、省电模式、掉电模式、Standby ；13.32 个可编程的I/O 口；14. 工作电压ATmega8535L：2.7 - 5.5V；15.40引脚PDIP 封装, 44 引脚TQFP 封装,44 引脚PLCC 封装与44 引脚MLF 封装ATmega8535L有44个引脚，封装形式可使用TQFP。第 10 页 共 27 页图 3.2 ATmega8535L 芯片示意图3.2.2.2 各引脚功能：VCC：电路的电源

16、。GND：地。端口A(PA7PA0) ：端口A作为A/D转换器的模拟输入端。即使系统时钟还未起振，端口A处于高阻状态。端口B(PB7PB0) ：端口 B为8位双向I/O口，具有可编程的内部上拉电阻。端口C(PC7PC0) ：端口 C为8位双向I/O口，具有可编程的内部上拉电阻。端口D(PD7PD0) ：端口D为8位双向I/O口，具有可编程的内部上拉电阻。RESET ：复位输入引脚。持续时间超过最小门限时间的低电平将引起系统复位。持续时间小于门限时间的脉冲不能保证可靠复位。采用外部复位由外加于RESET引脚的低电平产生。 XTAL1 ：反向振荡放大器与片内时钟操作电路的输入端。XTAL2 ：反向

17、振荡放大器的输出端。采用内部晶振时这个管脚要悬空。第 11 页 共 27 页AVCC ：AVCC是端口A 与A/D转换器的电源。不使用ADC时，该引脚应直接与VCC连接。使用 ADC时应通过一个低通滤波器与VCC 连接。AREF： A/D 的模拟基准输入引脚，使用芯片内部A/D 转换功能时。要通过一个电容接地。本设计中 AVR 单片机 ATmega8535L 做为控制单元的中枢，与各个模块部分均要相连。其连接简图如图 3.3 所示：传感器ATmega8535L 电平转换电路计算机存储器10 位ADC输出图 3.3 ATmega8535L 与模块部分相连图3.2.3 ATmega8535L内部模

18、数转换器的特点：10 位精度；0.5 LSB的非线性度； 2 LSB的绝对精度；65 - 260 s的转换时间；最高分辨率时采样率高达15 kSPS；8 路复用的单端输入通道；7 路差分输入通道；2 路可选增益为10x与200x的差分输入通道；可选的左对齐ADC读数；0 - VCC 的ADC输入电压范围；可选的2.56V ADC参考电压；连续转换或单次转换模式；通过自动触发中断源启动ADC转换；ADC转换结束中断；基于睡眠模式的噪声抑制器。应用 A/D 转换功能时，采用单次转换模式较为简单，只取其中一个通道（如：PA0）即可。ADC转换结果为10位，存放于ADC数据寄存器ADCH及ADCL中。

19、ADC的参考电压源(VREF)反映了ADC的转换范围。若单端通道电平超过VREF，其结果将接近0x3FF。VREF可以是AVCC、内部2.56V基准或外接于AREF引脚的电压。AVCC通过一个无源开关与ADC相连。片内的2.56V参考电压由能隙基准(VBG)第 12 页 共 27 页通过内部放大器产生。无论是哪种情况，AREF都直接与ADC相连，通过在AREF与地之间外加电容可以提高参考电压的抗噪性。ADC单次转换时序图：图3.4 ADC单次转换时序图3.2.4 电平转换芯片及并口传输传输信号时，PCB 板与计算机并年口行所需的电压不同所以需要一个电平转换电路。HC4050 是非反向六缓冲器，

20、具有仅用一电源电压（ ）进行逻辑VCC电平转换的特征。用作逻辑电平转换时，输入信号高电平（VIH）可超过电源电压 。此器件主要用作 COS/MOS 到 DTL/TTL 的转换器，能直接驱动两个VCCDTL/TTL 负载。其工作范围如下：1 电源电压范围 3V15V；2 输入电压范围 0VVDD；3 工作温度范围-55125；引出端功能符号：1IN6IN 为数据输入端， 接正电源， 接地，VCC VSS1OUT 6OUT 为数据输出端。连接时没有用到的输入端要接地。VCC ： 正电源 VSS ： 负电HC4050 提供了 16 引线多层陶瓷双列直插（D） 、熔封陶瓷双列直插（J） 、塑料双列直插

21、（P ）和陶瓷片状载体（ C）4 种封装形式。这里选择 6 引线多层陶瓷双列直插（D）封装形式。第 13 页 共 27 页图 3.5 HC4050 引脚功能图3.2.5 存储器 AT49BV162AAT49BV162A 的主要引脚功能如表 3.1 所示表 3.1 AT49BV162A 的主要引脚引脚 功能A0 - A19 地址RESET/ 复位Vpp 写保护只有电压高于 0.9V 正常的擦写才能进行IO0IO14 芯片的 IO 口AT49BV162A 内部结构如图 3.6 所示：第 14 页 共 27 页图 3.6 AT49BV162A 内部结构AT49BV162A 引脚图如图:图 3.7 A

22、T49BV162A 引脚图3.3 硬件电路整体设计第 15 页 共 27 页3.3.1 地磁传感器与 ATmega8535L 芯片接口电路薄膜式地磁方位传感器利用电磁感应原理，采用多层薄膜结构，首先在绝缘薄膜基底聚脂酰胺上溅射金属薄膜，然后蚀刻线圈图案，再覆盖介电保护层。利用先进的薄膜加工工艺，设计制造柔性的多层薄膜线圈，可灵活地粘贴于测试装置的表面，构成地磁方位传感器，极大地提高传感器的灵敏度、可靠性和安装适应性。如图 3.8 所示是地磁传感器与 ATmega8535L 芯片接口电路其中元器件 J4 为地磁传感器示意图，元器件 U5 是对传感器测得的电压信号进行电压跟随，起到保持稳压的作用。

23、元器件 U6 为电压放大器，对电压信号进行放大。元器件U1 是本设计的主要芯片 Atmep8535L。本电路的功能主要实现对信号的采集，进行初步处理，并通过 Atmep8535L 内部的处理器进行 转换。转换后的信号AD存储与 ADC 的 ADCL 与 ADCH 中，转换结束后触发 A/D 中断 图 3.8 地磁传感器与 ATmega8535L 芯片接口电路3.3.2 ATmega8535L 芯片与 AT49BV162A 接口电路第 16 页 共 27 页如图3.9所示是ATmega8535L芯片与AT49BV162A接口电路，其由AVEF标准接法电路一个复位电路，AVEFAVCC标准接法电路

24、及8535L芯片与AT49BV162A芯片接口电路组成。复位电路的作用是对ATmega8535L芯片与AT49BV162A芯片进行初始化。AT49BV162A芯片的作用是将经过ATmega8535LA/D转换过的信号进行存储。由于经过8535LA/D转换的信号为10位信号，所以应用了C端口的PC7PC0 （端口C为8位双向I/O口，具有可编程的内部上拉电阻）和端口的两位PD6和PD7组成10位数据为。PC7 PC0及PD6 和PD7分别与AT49BV162A芯片的数据位A0A9相连。 图 3.9 ATmega8535L 芯片与 AT49BV162A 接口电路3.3.3 AT49BV162A 芯

25、片与电平转换芯片接口电路HC4050 是非反向六缓冲器，具有仅用一电源电压（ VCC）进行逻辑电平转换的特征。AT49BV162A 芯片与电平转换芯片接口电路如图 3.10 所示第 17 页 共 27 页图 3.10 AT49BV162A 芯片与电平转换芯片接口电路3.3.4 电平转换芯片与上位机接口电路连接到上位机时信号输出的电压不满足上位机并行口的电压要求所以应用HC4050 进行电平转换。用 DB25 的 2 至 8 引脚加上可以扩展的 11 引脚 12 引脚组成 10 位数据位。图 3.11 电平转换芯片与上位机接口电路3.3.5 复位电路第 18 页 共 27 页图 3.12 复位电

26、路原理图ATmega8535L 已经内置了上电复位设计。并且在熔丝位里，可以控制复位时的额外时间，故 AVR 外部的复位线路在上电时，可以设计得很简单：直接拉一只 10K 的电阻(R0)连接到 即可。为了可靠，再加上一只 0.1uF 的电容(C0)以VCC消除干扰、杂波。4 转速测量装置的软件设计第 19 页 共 27 页4.1 程序流程图及程序设计4.1.1 存储据流程图ATmega8535L 应用到的主要功能是 A/D 转换、中断和定时功能。定时器设置为单片机 1 ms 接收一次信号，电信号经内部 A/D 转换为十位数字量并存储到单片机内部的 ADCH 和 ADCL 寄存器中，过程中采用中

27、断控制信号实现数据的传输，单片机工作具体流程如图 4.1 所示单片机初始化采样保持器开始保持启动 AD 转换等待 AD 转换结束结束设置存储数据的 RAM的起始地址开始读取存放数据图 4.2 单片机采集存储数据流程图4.1.2 PC 机读取数据流程图第 20 页 共 27 页单片机初始化开中断等待读数子程序PC 发送读数据命令返回发送中断开始图 4.1 PC 机采集数据流程图试验结束后，此流程图是计算机要读取存储器的数据，当计算机准备好时，发出JREADY信号,发送中断，查询单片机是否初始化，是否准备好。但单片机准备好时，进入读数子程序。这时，单片机给存储器发命令，存储器将数据传输给计算机。当

28、数据提取结束时发中断，结束命令。第 21 页 共 27 页5 总结与展望5.1 全文小节本文主要研究了转速测量装置的设计问题，针对这一问题，本文考察了转速测量的发展历程，作者通过多种途径查阅国内外转速测量装置设计资料，比较了众多芯片和各种测量方案，最终选 ATMEL 公司的 ATmega8535L 芯片和AT49BV162A 芯片。本文对 ATmega8535L 芯片和 AT49BV162A 芯片进行了比较系统的研究，研究的主要内容为转速测量装置的硬件电路的设计。硬件部分设计，包括系统的结构组成及各部分功能的实现。主要工作及研究内容如下：硬件部分：研究了地磁传感器的结构组成，工作方式，工作特点

29、。ATmega8535L芯片与AT49BV162A芯片的结构组成，工作方式，数据传输结构特点。并且应用其优缺点互补的原则设计基于地磁传感器对信号的采集，ATmega8535L芯片对信号的处理（进行A/D转换）并传输，AT49BV162A芯片接对信号的存储为基础的一个基本电路。5.2 展望随着科学技术的发展，现代转速测试将向着高可靠性，高性能高智能化方向发展是大势所趋。传统转速测量法法在稳定工作，工艺流程己经成熟，但很难满足智能化高可靠性及高性能的市场要求，而为转速测量专用传感器测量单元具有智能化，集成化、微型化的众多优点。必将在不远的将来大放异彩。当然，因时间关系和个人努力程度，本设计中还存在

30、着一些缺点和不足，如没有写出相应的程序，光有硬件电路，而没有相应的程序去支持，就像没有灵魂的区壳一样 。这是本次毕业设计最大的遗憾，当然，还有很多缺点和不足，恳切希望各位老师批评指正。5.3 结束语转速测量是理论联系实际、基础研究与应用研究并驾齐驱的一个高技术学科，其专用测量单元的设计更有锦上添花、画龙点睛的作用。转速测量的进步，是多学科技术和新材料、新工艺发展的综合体现。创新是测试行业的灵魂。人类的任何进步和任何需求，都将是促进测试技术源动力。通过本次毕业设计，初步了解到了科学研究的艰辛，要培养起科学的思维第 22 页 共 27 页不是件容易的事。同时要有平时所学的科学文化知识作为基础，才能

31、用科学的方法去解决问题。第 23 页 共 27 页附录 A 整体电路图第 24 页 共 27 页附录 B 单片机部分程序#include#define uchar unsigned char#define uint unsigned intuchar Table10=0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f;uchar Data4=0,0,0,0;void DelayMs(uint i) /0.25ms uchar j;for(;i!=0;i-)for(j=250;j!=0;j-) ;void Display(uchar *p) /间隔

32、 5ms 显示uchar i,sel=0x01;for(i=0;i4;i+)PORTD=sel;PORTB=0xff-Tablepi;DelayMs(20);sel=sel1;uint ADC_Convert(void) uint temp1,temp2;temp1=(uint)ADCL;temp2=(uint)ADCH;temp2=(temp28)+temp1;return(temp2);第 25 页 共 27 页void Process(uint i,uchar *p) p0=i/1000;i=i%1000;p1=i/100;i=i%100;p2=i/10;i=i%10;p3=i;void

33、 main(void) uint i;DDRA=0x00; /设置 A 口为不带上拉输入；PORTA=0x00;DDRC=0xff; /设置 C 口为输出；PORTC=0xff;DDRD=0xff; /设置 D 口为输出；PORTD=0xff;PORTC=0xff; /B 口和 C 口初始化输出 1； PORTD=0xff;ADMUX=0x00; /选择第一通道 ADC0；ADCSR=0x00; /选择单次转换模式；DelayMs(3000); /延时待系统稳定；while(1) i=ADC_Convert();Process(i,Data);Display(Data);第 26 页 共 27

34、 页参考文献1.王之平 基于 89C51 的转速测量系统设计 硕士论文 2005.6.82.冯夏勇 宾鸿赞 微机转速测量常用方法与精度分析 电子与自动化 1995 年第2期3.刘保录 基于单片机的综合参数测试仪设计 第10 卷 第2 期4.孙涵芳 徐爱卿 单片机原理及应用 北京航空航天大学出版社 1996.45.何立民 单片机应用文集 社北京航空航天大学出版 1992.16.朱家建 单片机与可编程控制器 高等教育出版社 1998 .27.吕建平 电子线路CAD 北京大学出版社 2006.87.邹彦 EDA技术与数字系统设计2007.49.陈长龄自动测试及接口技术机械工业出版社2005.110.

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36、for dynamic errors measurementJ. Measurement, 1990, 8 (1): 178- 182.17Lattice Semiconductor Corporationisp PACHandbook,Version1.2,March 2000第 27 页 共 27 页致 谢本文是在我的导师尤文斌悉心指导、热情关怀和鼓励下完成的。导师在课题研究的全过程，都给予我精心的指导和孜孜不倦的教诲。导师博大精深的理论基础、渊博的学识、严谨的科学态度和求是创新的工作作风一直深深地激励着我刻苦学习、认真完成科研工作；导师对科学事业孜孜以求、废寝忘食的崇高精神，将时刻鞭策着我在未来的人生旅途中发历努力、锐意进取。值此毕业论文完成之际，谨向我的导师尤文斌致以最诚挚的感谢。感谢申伟师兄对本人的课程设计所做出的帮助。感谢本班同学徐静怡，吕奕菲，魏超对本人的课程设计所做出的帮助。感谢中北大学给我提供了幽雅的学习环境和良好的实验基础，在此表示由衷的感谢。还有很多非常值得我感谢的人，我的老师、同学、室友、朋友等等。这里没有一一列出姓名，在此我向他们致以深深的祝福和诚挚的谢意。