1、 编号：XK09-008集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证实施细则2016年9月30日公布 2016年10月30日实施国家质量监督检验检疫总局目 录第一章 总则 .1第二章 发证产品及标准 .1第三章 企业申请生产许可证的基本条件和资料 3第四章 企业实地核查 9第五章 产品检验 .10第六章 证书许可范围 .17第七章 附则 .19附件 1企业核查时准备书面材料清单 .20附件 1-1企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品主要工艺流程图 .21附件 1-2企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产场所示意图 .22附件 1-3企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产设备表 .
2、23附件 1-4企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品检验设备表 .24附件 1-5企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品关键件明细表 .25附件 1-6关键岗位专业技术人员表 .26附件 1-7产品技术文件和工艺文件清单 .27附件 2集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证企业实地核查办法 .28附件 3企业实地核查不符合和建议改进条款汇总表 .37附件 4生产许可证企业实地核查报告 .38附件 5检验报告 .39附件 6本实施细则与旧版细则主要内容对比表 .431集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证实施细则第一章 总则第一条 为了做好集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证
3、审查工作，依据中华人民共和国工业产品生产许可证管理条例 、 中华人民共和国工业产品生产许可证管理条例实施办法 、 国务院办公厅关于加强集成电路卡管理有关问题的通知 、工业产品生产许可证实施通则 （以下简称通则）等规定，制定本工业产品生产许可证实施细则（以下简称细则） 。第二条 本细则适用于集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可的实地核查、产品检验等工作,应与通则一并使用。第三条 集成电路卡及集成电路卡读写机产品由国家质量监督检验检疫总局发证。第二章 发证产品及标准第四条 本细则规定的集成电路卡及集成电路卡读写机（以下简称 IC卡及 IC卡读写机）产品划分为 5个产品单元 （见表 1） 。IC
4、 卡（带触点）为内部封装一个或多个集成电路的 ID-1型卡；IC 卡（无触点）为无触点的集成电路卡；双界面 IC卡为卡中的芯片同时具有符合 GB/T 16649接触式接口和符合 ISO/IEC 14443非接触式接口的 IC卡；IC 卡读写机是指各类 IC卡读写设备,手持式 IC卡读写机、台式 IC卡读写机、内置或外置（宿主机微机）的通用 IC卡通用读写器等。该类产品可（与计算机或网络）在联机或脱机方式下对 IC卡完成识别和各种操作。注：以下三类产品不属于实行生产许可证管理的 IC卡读写机:IC 卡家用膜式燃气表、IC 卡冷水水表、出租汽车计价器、IC 卡预付费热量表、IC 卡预付费售电系统中
5、的预付费电度表等嵌入了IC卡读写部件的计量器具产品；嵌入了 IC卡读写部件，但不执行信息技术类强制性标准的有线电视机顶盒、手机产品；嵌入了 IC卡读写部件，但实施强制性产品认证的产品：音视频设备类（共16种） 、信息技术设备（共 12种） 、电信终端设备（共 9种） 。2表 1集成电路卡及集成电路卡读写机产品单元及说明序号 产品单元 单元产品说明1 IC卡（带触点） 覆盖符合标准规定的全部 IC卡（带触点）。2 IC卡（无触点） 覆盖符合标准规定的全部 IC卡（无触点）。3 双界面 IC卡 覆盖符合标准规定的全部双界面 IC卡4 直流 IC卡读写机 覆盖符合标准规定的全部直流供电 IC卡读写机
6、。5 交流 IC卡读写机 覆盖符合标准规定的全部直流供电和交流供电 IC卡读写机。说明：获得交流 IC卡读写机单元生产许可证的企业能力覆盖生产直流 IC卡读写机单元产品。第五条 本细则的发证产品应执行的产品标准和相关标准见表 2。表 2集成电路卡及集成电路卡读写机产品执行标准和相关标准序号 产品单元 产品标准 相关标准1 IC卡（带触点）CJ/T166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术GB/T16649.1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第 1部分:物理特性GB/T16649.2-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第 2部分：触点的尺寸与位置GB/T16649.3-20
7、06 识别卡 带触点的集成电路卡 第 3部分：电信号和传输协议GB/T2828.1-2012 计数抽样检验程序 第 1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829-2002 周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验）GB/T14916-2006 识别卡 物理特性GB/T17554.1-2006 识别卡 测试方法 第 1部分:一般特性测试GB/T17554.3-2006 识别卡 测试方法 第 3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备GB/T18239-2000 集成电路（IC）卡读写机通用规范2 IC卡（无触点）CJ/T166-2014 建设事业集成电路（IC
8、）卡应用技术GB/T22351.1-2008 识别卡 无触点的集成电路卡 邻近式卡 第 1部分：物理特性GB/T2828.1-2012 计数抽样检验程序 第 1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829-2002 周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验） GB/T17554.1-2006 识别卡 测试方法 第 1部分:一般特性测试GB/T14916-2006 识别卡 物理特性3 双界面 IC卡CJ/T166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术GB/T16649.1-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第 1部分:物理特性GB/T16649.2-
9、2006 识别卡 带GB/T2828.1-2012 计数抽样检验程序 第 1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829-2002 周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验）GB/T14916-2006 识别卡 物理特性3触点的集成电路卡 第 2部分：触点的尺寸与位置GB/T16649.3-2006 识别卡 带触点的集成电路卡 第 3部分：电信号和传输协议GB/T17554.1-2006 识别卡 测试方法 第 1部分:一般特性测试GB/T17554.3-2006 识别卡 测试方法 第 3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备GB/T18239-2000 集成
10、电路（IC）卡读写机通用规范4 直流 IC卡读写机GB/T18239-2000 集成电路（IC）卡读写机通用规范CJ/T166-2014 建设事业集成电路（IC）卡应用技术GB/T2828.1-2012 计数抽样检验程序 第 1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829-2002 周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验） GB9254-2008 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T17618-2015 信息技术设备抗扰度限值和测量方法5 交流 IC卡读写机GB/T18239-2000 集成电路（IC）卡读写机通用规范CJ/T166-2014 建设
11、事业集成电路（IC）卡应用技术GB/T2828.1-2012 计数抽样检验程序 第 1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829-2002 周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验） GB4943.1-201信息技术设备 安全 第 1部分：通用要求GB9254-2008 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T17618-2015 信息技术设备抗扰度限值和测量方法注：标准一经修订，企业应当自标准实施之日起按新标准组织生产，生产许可证企业实地核查和产品检验应当按照新标准要求进行 。第三章 企业申请生产许可证的基本条件和资料第六条 凡生产集成电路卡及集成电
12、路卡读写机产品的企业应具备本条款规定的基本生产条件，内容包括：生产设施、生产设备、检验设备，具体要求见表 3-1至表 3-5。表 3-1企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品应具备的生产设施和检验设施序号 产品单元 生产设施名称 设施要求1 IC卡（带触点）2 IC卡（无触点）3 双界面 IC卡4 直流 IC卡读写机生产车间、库房、检验工位等 场地供电、供气、供水满足批量生产申请取证合格产品的要求。45 交流 IC卡读写机表 3-2 企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品应具备的生产设备和工艺工装类别 产品单元 设备名称 设备要求IC卡（带触点）1.生产线2.卡片铣槽设备3.点胶（背胶）
13、、贴片设备自动或半自动封装生产线IC卡（无触点）1.生产线2.焊（粘）线设备 3.层压设备4.冲压设备自动或半自动封装生产线双界面 IC卡1.生产线2.双界面 IC卡铣槽设备3. 双界面 IC卡点胶（背胶） 、贴片设备 4. 双界面 IC卡焊（粘）线设备 5.层压设备6.冲压设备自动或半自动封装生产线直流 IC卡读写机 1.生产线2.功能测试工装 1.装配生产线2.功能测试工装生产设备交流 IC卡读写机1. 生产线2. 功能测试工装3.抗电强度检测设备4.接触电流与保护导体电流检测设备5.接地导体及其连接的电阻检测设备1. 装配生产线2. 功能测试工装3.抗电强度检测设备至少 1套4.接触电流
14、与保护导体电流检测设备至少 1套5.接地导体及其连接的电阻检测设备至少 1套，无接地产品不适用注：本表为企业应具备的基本生产设备，可与上述设备名称不同，但应满足批量生产合格产品的要求。表 3-3企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品应具备的检验设备及检验类别序号产品单元 检验项目依据标准及条款 检验设备精度或测量范围检验类别 备注卡基 企业标准/规范 目测 - 进货检验 /芯片/模块 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验 /卡外观 企业标准/规范 目测 -过程检验、出厂检验/1IC卡（带触点）卡复位GB/T 16649.3-2006功能检测设备 -出厂检验 /5游标卡尺测量范围/分辨率：（
15、0-150）mm/0.01mm /卡尺寸 GB/T 14916-2006GB/T 17554.1-2006千分尺测量范围/分辨率：（0-25）mm/0.001mm过程检验、出厂检验 /动态弯曲应力GB/T 16649.1-2006GB/T 17554.1-2006动态弯曲应力检测设备长边位移：20mm； 短边位移：10mm；测试频率 ：0.5Hz出厂检验 /动态扭曲应力GB/T 16649.1-2006GB/T 17554.3-2006动态扭曲应力检测设备扭转角度：151；测试频率 ：0.5Hz出厂检验 /卡基 企业标准/规范 目测 - 进货检验 /芯片/模块 企业标准/规范 测试工装 - 进
16、货检验 /功能 企业标准/规范 功能检测设备 - 出厂检验 /卡外观 企业标准/规范 目测 -过程检验、出厂检验/游标卡尺测量范围/分辨率：（0-150）mm/0.01mm /卡尺寸 GB/T 14916-2006GB/T 17554.1-2006 千分尺测量范围/分辨率：（0-25）mm/0.001mm过程检验、出厂检验 /动态弯曲应力GB/T 17554.1-2006CJ/T 166-2014动态弯曲应力检测设备长边位移：20mm； 短边位移：10mm；测试频率 ：0.5Hz出厂检验 /2IC卡（无触点）动态扭曲应力GB/T 17554.1-2006CJ/T 166-2014动态扭曲应力检
17、测设备扭转角度：151；测试频率 ：0.5Hz出厂检验 /卡基 企业标准/规范 目测 - 进货检验芯片/模块 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验 /卡外观 企业标准/规范 目测 -过程检验、出厂检验/功能 企业标准/规范 功能检测设备 - 出厂检验 /卡复位 GB/T 16649.3-2006 功能检测设备 - 出厂检验 /3双界面 IC卡卡尺寸 GB/T 14916- 游标卡尺 测量范围/分辨率： 过程检 /6（0-150）mm/0.01mm 2006GB/T 17554.1-2006 千分尺测量范围/分辨率：（0-25）mm/0.001mm验、出厂检验 /动态弯曲应力GB/T 1664
18、9.1-2006GB/T 17554.1-2006CJ/T 166-2014动态弯曲应力检测设备长边位移：20mm； 短边位移：10mm；测试频率 ：0.5Hz出厂检验 /动态扭曲应力GB/T 16649.1-2006GB/T17554.3-2006CJ/T 166-2014动态扭曲应力检测设备扭转角度：151；测试频率 ：0.5Hz出厂检验 /主板 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验CPU 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验IC卡读写模块 企业标准/规范 测试工装 -进货检验主板、CPU、IC卡读写模块可集成功能及性能GB/T 18239-2000 4.1、5.3CJ/T 166-2
19、014 6.1.2IC 卡读写机测试大纲 4.24.8测试卡与测试软件秒表测量范围/分辨率：0.1s过程检验、出厂检验/外观与结构 GB/T 18239-2000 4.2、5.2目测 -过程检验、出厂检验/4直流IC卡读写机老化 企业标准/规范常温或高温老化设备- 过程检验 /主板 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验主板、CPU、IC卡读写模块可集成CPU 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验电源 企业标准/规范 测试工装 - 进货检验IC卡读写模块企业标准/规范 测试工装 - 进货检验5交流IC卡读写机功能及性能 GB/T 18239- 测试卡与 测量范围/分辨率： 过程检 /7200
20、0 4.1、5.3CJ/T 166-2014 6.1.2IC 卡读写机测试大纲 4.24.8测试软件秒表0.1s 验、出厂检验外观与结构GB/T 18239-2000 4.2、5.2目测 -过程检验、出厂检验/抗电强度检测 （交流 IC卡读写机产品）GB 4943.1-2011 5.2抗电强度检测设备（申报交流 IC卡读写机产品时，至少1套） 应满足 GB 4943.1-2011的要求过程检验、出厂检验/接触电流与保护导体电流检测 （交流 IC卡读写机产品）GB 4943.1-2011 5.1接触电流与保护导体电流检测设备（申报交流 IC卡读写机产品时，至少1套）应满足 GB 4943.1-2
21、011的要求过程检验、出厂检验/接地导体及其连接的电阻检测 （交流 IC卡读写机产品 ）GB 4943.1-2011 2.6.3.4接地导体及其连接的电阻检测设备（申报交流 IC卡读写机产品时，至少1套；交流IC卡读写机产品无接地不适用）应满足 GB 4943.1-2011的要求过程检验、出厂检验/老化 企业标准/规范常温或高温老化设备- 过程检验 /注：本表为企业应具备的检验设备，可与上述设备名称不同，但应满足上述设备的功能性能精度要求。8表 3-4企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品重要原材料、关键零部件序号 产品单元 重要原材料、关键零部件名称 依据标准或主要技术要求 备注卡基 /1
22、 IC卡（带触点） 芯片/模块CJ/T 166-2014GB/T 16649.1-2006企业标准/技术规范 /卡基 /2 IC卡（无触点） 芯片/模块CJ/T 166-2014GB/T 22351.1-2008 企业标准/技术规范 /卡基 /3 双界面 IC卡 芯片/模块CJ/T 166-2014GB/T 16649.1-2006 企业标准/技术规范 /主板CPU4直流 IC卡读写机IC卡读写模块GB/T 18239-2000CJ/T 166-2014企业标准/技术规范主板、CPU、IC卡读写模块可集成主板CPU电源5 交流 IC卡读写机IC卡读写模块GB/T 18239-2000CJ/T
23、166-2014GB 4943.1-2011 企业标准/技术规范主板、CPU、IC卡读写模块可集成表 3-5集成电路卡及集成电路卡读写机产品关键工序、质量控制点、特殊过程序号 产品单元 关键工序 质量控制点 特殊过程 备注1铣槽 /2点胶（背胶） /3封装 尺寸 、触点高度1IC卡（带触点）4检测 卡功能/ /1封装（绕线、焊线） 层压温度、压力、时间、尺寸 层压2 IC卡（无触点）2检测 卡功能 /绕线可外协1铣槽 / /2点胶（背胶） / /3封装（模块、绕线、焊线）尺寸 、触点高度层压温度、压力、时间层压3 双界面 IC卡4检测 卡功能 /绕线可外协1整机检测 功能及性能4 直流 IC卡
24、读写机 2老化 老化 / /1整机检测 功能及性能5 交流 IC卡读写机 2安全 电气安全性 / /93老化 老化第七条 申请发证、证书延续、许可范围变更（许可范围变更的情形含：生产地址迁移、增加生产场点、新建生产线、增加产品单元）等需要进行实地核查和产品检验。企业应在实地核查前做好准备，根据本细则第六条要求和实际情况填写下列企业资料。（一） 企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品主要工艺流程图 （见附件1-1）；（二）企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产场所示意图（见附件 1-2）；（三）企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产设备表（见附件 1-3）（四）企业生产集成电路卡及
25、集成电路卡读写机产品检验设备表（见附件 1-4）（五）企业生产集成电路卡及集成电路卡读写机产品重要原材料、关键零部件明细表 （见附件 1-5）；（六）关键岗位专业技术人员表（见附件 1-6）；（七）产品技术文件和工艺文件清单（见附件 1-7）；第四章 企业实地核查第八条 现场实地核查时，企业申请取证的产品应正常生产，相关人员应在岗到位。第九条 审查组现场对企业申请书及证照等申请材料进行核实。第十条 审查组现场按照本细则第七条要求企业准备的所有相关材料（见附件 1-11-7）进行核实。第十一条 审查组现场按照集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证企业实地核查办法（见附件 2）进行实地核查，并
26、做好记录，形成企业实地核查不符合项和建议改进项汇总表（见附件 3），完成生产许可证企业实地核查报告（见附件 4）。第十二条 审查组现场形成的核查材料和记录（包括附件 1-11-7、附件 2、附件3和附件 4）一式四份，企业、省级许可证主管部门、审查组织单位、全国工业产品生产许可证审查中心（以下简称全国许可证审查中心）各一份。10第十三条 实地核查判定原则（一）审查组应对实地核查办法的每一个条款进行核查，并根据其满足生产合格产品的能力的程度分别作出符合、不符合和建议改进的判定。（二）对判为不符合项的须填写详细的不符合事实，对判为建议改进项的须填写实地核查发现的可改进的问题。（三）核查结论的确定原
27、则：实地核查按产品单元审查，未发现不符合，核查结论为合格，否则为不合格。核查结论不合格则该产品单元不合格。第五章 产品检验第十四条 抽样规则实地核查合格的企业，审查组按检验样品数量一览表的规定（见表 4），在企业自检合格的产品中实施抽样，并填写抽样单（见表 5）。企业应在 7日内将样品和抽样单一并送达有资质的生产许可证检验机构（以下简称发证检验机构，企业可在国家质量监督检验检疫总局或省级质量技术监督部门网上查询自主选择）。表 4 检验样品数量一览表序号 产品单元 抽检样品种类 抽样基数 样品数量 抽样方法及要求1 IC卡（带触点）任意一款符合标准要求的产品100张 35张2 IC卡（无触点）任
28、意一款符合标准要求的产品100张 21张3 双界面 IC卡任意一款符合标准要求的产品100张 37张1.抽样人员应不少于 2人。抽样人员按企业所申报的产品单元随机抽取样品进行检验。2.对 IC卡产品抽样时，企业必须同时提供与 IC卡配套的专用读卡机和其它附件。3.样品抽取后，抽样人员当场加贴封条，封条上应有抽样单位印章、抽样人员签名及抽样日期。4 直流 IC卡读写机任意一个型号符合标准要求的产品6台/套 3台/套5 交流 IC卡读写机任意一个型号符合标准要求的产品6台/套 3台/套1.抽样人员应不少于 2人。抽样人员按企业所申报的产品单元随机抽取样品进行检验。2.对 IC卡读写机产品抽样时，企
29、业必须同时提供与样品有关的使用说明书、外接电源适配器或其它外接电源、与 IC卡读卡机配套的专用 IC卡和其它附件。3.样品抽取后，抽样人员当场加11序号 产品单元 抽检样品种类 抽样基数 样品数量 抽样方法及要求贴封条，封条上应有抽样单位印章、抽样人员签名及抽样日期。表 5集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证抽样单 申请单位（盖章）生产地址 邮政编码企业情况联系人 电 话 传 真产品名称 产品单元规格型号 执行标准样品等级 出厂编号抽样基数 生产日期样品情况样品数量 抽样日期抽样人员（签字） 1、 2、 企业代表（签字）抽样方式 审查组抽样 免实地核查企业抽样 说明 请企业在实地核查合格
30、后 7日内将样品送达自主选择的生产许可证检验机构。注：1. 集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证检验样品无论是审查组抽样还是企业抽样，均应填写此抽样单。2.执行标准为本细则要求该产品执行的标准。第十五条 企业延续符合免实地核查要求，只进行产品检验，企业应在申请受理之日起 7日内，按本细则第十四条中表 4要求自行抽封样品、填写抽样单（表 5） ，自主选择发证检验机构送样，同时将抽样单和检验委托合同寄送 IC卡产品审查部。企业对所抽送样品的及时性、真实性、准确性负责。第十六条 集成电路卡及集成电路卡读写机产品生产许可证发证检验项目、依据标准见表 6-16-5。表 6-1 IC卡（带触点）产品
31、的检验项目及合格判定序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量（张）121 复位应答 GB/T 16649.3-2006 5.3 GB/T 17554.3-2006 7.1 22 卡尺寸 GB/T 14916-2006 5 GB/T 17554.1-2006 5.2 23 触点的表面轮廓 GB/T 16649.1-2006 4.2.3 GB/T 17554.3-2006 5.4 24 触点尺寸和位置 GB/T 16649.2-2006 3、4 GB/T 17554.3-2006 5.1 25 卡翘曲 GB/T 14916-2006 8.11 GB/T 17554.1-
32、2006 5.1 26 温、湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲GB/T 14916-2006 8.5 GB/T 17554.1-2006 5.527 弯曲韧性 GB/T 14916-2006 8.1 GB/T 17554.1-2006 5.7 28 动态弯曲应力 GB/T 16649.1-2006 4.2.10 GB/T 17554.1-2006 5.8 29 动态扭曲应力 GB/T 16649.1-2006 4.2.11 GB/T 17554.1-2006 5.9 210 触点电阻 GB/T 16649.1-2006 4.2.5 GB/T 17554.3-2006 5.3 211 电磁场（静磁场
33、） GB/T 16649.1-2006 4.2.7 GB/T 17554.1-2006 5.14 212 静电 GB/T 16649.1-2006 4.2.8 GB/T 17554.3-2006 5.2 213 耐化学性 GB/T 14916-2006 8.4GB/T 17554.1-2006 5.4注：短期污染中除燃料 B长期污染中除盐雾614 紫外线 GB/T 16649.1-2006 4.2.1 GB/T 17554.1-2006 5.12 215 剥离强度 GB/T 14916-2006 8.8 GB/T 17554.1-2006 5.3 216 粘连或并块 GB/T 14916-20
34、06 8.9 GB/T 17554.1-2006 5.6 517 机械强度 GB/T 16649.1-2006 4.2.4 GB/T 17554.3-2006 A.1 218 电特性 GB/T 16649.3-2006 条款4 GB/T 17554.3-2006 条款 6 2合计 样品总数：35 张注：按照样品数量分配到各检验项目。合格判定 见第十七条。备注 抽样母体数100 张。表 6-2 IC卡（无触点）产品的检验项目及合格判定序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量（张）13序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量（张）1 初始化功
35、能 CJ/T 166-2014 5.3.3在正常射频场内，卡应能接收正确的初始化指令，给出相应应答信息。202 卡尺寸 GB/T 14916-2006 5 GB/T 17554.1-2006 5.2 23 卡翘曲 GB/T 14916-2006 8.11 GB/T 17554.1-2006 5.1 24 温、湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲GB/T 14916-2006 8.5 GB/T 17554.1-2006 5.5 25 弯曲韧性 GB/T 14916-2006 8.1 GB/T 17554.1-2006 5.7 26 动态弯曲应力 GB/T 17554.1-2006 5.8 GB/T 1
36、7554.1-2006 5.8 37 动态扭曲应力 GB/T 17554.1-2006 5.9 GB/T 17554.1-2006 5.9 38 电磁场（静磁场） CJ/T 166-2014 5.2.1 CJ/T 166-2014 5.2.1 29 静电 CJ/T 166-2014 5.2.1 CJ/T 166-2014 5.2.1 210* 紫外线 GB/T 17554.1-2006 5.12 GB/T 17554.1-2006 5.12 211 剥离强度 GB/T 14916-2006 8.8 GB/T 17554.1-2006 5.3 212 粘连或并块 GB/T 14916-2006
37、8.9 GB/T 17554.1-2006 5.6 513 交变磁场 CJ/T 166-2014 5.3.1 CJ/T 166-2014 5.3.1 2合计 样品总数：21 张注：按照样品数量分配到各检验项目。合格判定 见第十七条。备注 抽样母体数100 张。表 6-3 双界面 IC卡产品的检验项目及合格判定序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量 （张）1 复位应答 GB/T 16649.3-2006 5.3 GB/T 17554.3-2006 7.1 22 初始化功能 CJ/T 166-2014 5.2.3在正常射频场内，卡应能接收正确的初始化指令，给出相应应答
38、信息。333 卡尺寸 GB/T 14916-2006 5 GB/T 17554.1-2006 5.2 24 触点的表面轮廓 GB/T 16649.1-2006 4.2.3 GB/T 17554.3-2006 5.4 214序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量 （张）5 触点尺寸和位置 GB/T 16649.2-2006 3、4 GB/T 17554.3-2006 5.1 26 卡翘曲 GB/T 14916-2006 8.11 GB/T 17554.1-2006 5.1 27 温、湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲GB/T 14916-2006 8.5 GB/T 17
39、554.1-2006 5.5 28 弯曲韧性 GB/T 14916-2006 8.1 GB/T 17554.1-2006 5.7 29 动态弯曲应力GB/T 16649.1-2006 4.2.10GB/T 17554.1-2006 5.8GB/T 17554.1-2006 5.8 310 动态扭曲应力GB/T 16649.1-2006 4.2.11GB/T 17554.1-2006 5.9GB/T 17554.1-2006 5.9 311 触点电阻 GB/T 16649.1-2006 4.2.5 GB/T 17554.3-2006 5.3 212 电磁场（静磁场） GB/T 16649.1 -
40、2006 4.2.7CJ/T 166-2014 5.2.1 GB/T 17554.1-2006 5.14 213 静电 GB/T 16649.1-2006 4.2.8CJ/T 166-2014 5.2.1 GB/T 17554.3-2006 5.2 CJ/T 166-2014 5.2.1 214 耐化学性 GB/T 14916-2006 8.4GB/T 17554.1-2006 5.4注：短期污染中除燃料 B长期污染中除盐雾615 紫外线 GB/T 16649.1-2006 4.2.1 GB/T 17554.1-2006 5.12 216 剥离强度 GB/T 14916-2006 8.8 GB
41、/T 17554.1-2006 5.3 217 粘连或并块 GB/T 14916-2006 8.9 GB/T 17554.1-2006 5.6 518 机械强度 GB/T 16649.1-2006 4.2.4 GB/T 17554.3-2006 A.1 219 电特性 GB/T 16649.3-2006 条款 4 GB/T 17554.3-2006 条款 6 220 交变磁场 CJ/T 166-2014 5.2.1 CJ/T 166-2014 5.2.1 2合计 样品总数：37 张注：按照样品数量分配到各检验项目。合格判定 见第十七条。备注 抽样母体数100 张。表 6-4 直流 IC卡读写机
42、产品的检验项目及合格判定序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数15量（台）1 外观与结构 GB/T 18239-2000 4.2、5.2 GB/T 182392000 1相互确认时间GB/T 18239-2000 4.1、5.3CJ/T 166-2014 6.1.2GB/T 182392000CJ/T 166-2014 1字符及输出 集成电路卡及集成电路卡读写机产品测试大纲 4.3 集成电路卡及集成电路卡读写机产品测试大纲 1键盘 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 1卡座 GB/T 18239-2000 4.1.4 GB
43、/T 18239-2000 1存储器 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 1通信 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 12功能及性能脱机工作能力 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 13 电源适应能力 GB/T 182392000 4.1.5 GB/T 182392000 5.3.4 1工作温度下限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.2.1贮运温度下限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18
44、239-2000 5.7.2.21工作温度上限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.3.1贮运温度上限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.3.21工作条件下恒定湿热试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.4.1气候环境适应性贮运条件下恒定湿热试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.4.21振动试验 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.5 1冲击试验 G
45、B/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.6 1碰撞试验 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-20005.7.7 14机械环境适应性包装跌落 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.8 1无线电骚扰 GB/T 18239-2000 4.6.1 GB9254-2008 第 9、10 条5 电磁兼容性抗扰度 GB/T 18239-2000 4.6.2 GB/T 17618-2015 第 4条1166 可靠性 GB/T 18239-2000 4.5 GB/T 18239-2000 5.5
46、提供第三方试验报告合计 样品总数：3 台(1 台备份)合格判定 见第十七条。备注 抽样母体数6 台17表 6-5 交流 IC卡读写机产品的检验项目及合格判定序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量 （台）1 外观与结构 GB/T 18239-2000 4.2、5.2 GB/T 182392000 1相互确认时间GB/T 18239-2000 4.1、5.3CJ/T 166-2014 6.1.2GB/T 182392000CJ/T 166-2014 1字符及输出 集成电路卡及集成电路卡读写机产品测试大纲 4.3 集成电路卡及集成电路卡读写机产品测试大纲 1键盘 GB/
47、T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 1卡座 GB/T 18239-2000 4.1.4 GB/T 18239-2000 1存储器 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 1通信 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 12功能及性能脱机工作能力 GB/T 18239-2000 4.1、5.3 GB/T 18239-2000 13 电源适应能力 GB/T 182392000 4.1.5 GB/T 182392000 5.3.4 1工作温度下限试验 GB/T 18239-2000
48、4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.2.1贮运温度下限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.2.21工作温度上限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.3.1贮运温度上限试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.3.21工作条件下恒定湿热试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000 5.7.4.1气候环境适应性贮运条件下恒定湿热试验 GB/T 18239-2000 4.3.1GB/T 18239-2000
49、 5.7.4.21振动试验 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.5 1冲击试验 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.6 1碰撞试验 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.7 14机械环境适应性包装跌落 GB/T 18239-2000 4.3.2 GB/T 18239-2000 5.7.8 15 电磁兼容性 无线电骚扰 GB/T 18239-2000 4.6.1 GB9254-2008 第 9、10 条 118序号 检验项目 检验依据标准及条款 检验方法依据标准或条款 样品数量 （台）抗扰度 GB/T 18239-2000 4.6.2 GB/T 17618-2015 第 4条6 安全性 GB/T 182392000 4.4 GB 4943.1-2011 2.6.3.4、5.1、.5.2（直流电源供电且电压60V 的产品不适用）17 可靠性 GB/T 18239-2000 4.5 GB/T 18239-2000 5.5提供第三方试验
