IC可靠性测试

1、硅片级可靠性测试作者：赵 毅，徐向明来源：上海华虹 NEC 电子有限公司摘要：介绍了硅片级可靠性之所以成为现在半导体工艺研发重要组成部分的原因。对硅片级可靠性所涉及的各个项目作了详细的介绍。同时，对各个项目的测试和评价方法也做了详细的分析。最后，对硅片级可靠性测试的发展方向做了分析。 , a5 Z1 y6 p# Y ! 9 M; 5 - I2 互连线可靠性（电迁移） / o4 P+ R9 Q! _0 : 电迁移（EM）是微电子器件中主要的失效机理之一，电迁移造成金属化的开路和短路，使器件漏电流增加。在器件向亚微米、深亚微米发展后，金属化的宽度不断减小，。

2、东莞市 XXX 科技有限公司头戴式耳机成品检验规范修订版本 次数 页次 章节变更内容 制定 审核 批准 日期0 第一次发行文件类别 文件编号 制定部门 版 本 页 次三阶文件 品管部 0/A Page1of4保管部门：品管部文件类别发 行 章1.0 目的:制定头戴式耳机成品检验规范，保证产品质量2.0 范围:本公司耳机生产制程 /成品出货的产品3.0 榷责:由品管部 OQC 负责耳机成品测试4.0 验货环境要求4.1 光源与检查物件距离的要求4.1.1 光源与检查物件的距离 40-80CM:140W 光管,80-140CM:240W 光管4.1.2 检查员与检验物体的距离:30+/-5CM. 角度:45+/-54.1.3 。

3、可靠性测试 1 反复短路测试 测试说明 在各种输入和输出状态下将模块输出短路，模块应能实现保护或回缩，反复多次短路，故障 排除后，模块应该能自动恢复正常运行。 测试方法： A、空载到短路：在输入电压全范围内，将模块从空载到短路，模块应能正常实现输出限流 或回缩，短路排除后，模块应能恢复正常工作。让模块反复从空载到短路不断的工作，短路 时间为1s，放开时间为1s，持续时间为2小时。这以后，短路放开，。

4、CG可靠度测试介绍,可靠性分析：Reliability analysis 可靠度：可靠度也叫可靠性,指的是产品在规定的时间内,在规定 的条件下,完成预定功能的能力,百格测试： cross-cutting test adhesion test试验方法：通过百格刀在试片上做1mm x 1mm围棋状划线，清洁表面后，用胶布强脱一般管控要求：油墨脱落 3B,铅笔硬度测试：pencil hardness test试验方法：把笔心削成圆柱状漏出约 3mm ，研磨使笔尖平坦，角质锋利，使笔芯和试片的涂膜面成约45角 把硬度测试仪以均匀的速度推动约10mm 推动5个来回。铅笔硬度等级：HB1H2H3H4H5H6H7H8H9H 管控要求：镜。

5、芯片可靠性测试质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是 IC 产品的生命，好的品质，长久的耐力往往就是一颗优秀 IC 产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，这就是what, how , where 的问题了。解决了这三个问题，质量和可靠性就有了保证，制造商才可以大量地将产品推向市场，客户才可以放心地使用产品。本文将目前较为流行的测试方法加以简单归类和阐述，力求达到抛砖引玉的作用。Quality 就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎 SPEC 的要求，是否符合。

6、书书书檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲檲殘殘殘殘燃气设备与材料卡燃气表的可靠性探讨陈国勇， 倪建华， 马 英（济宁华润燃气有限公司，山东济宁）摘 要： 探讨了卡燃气表中阀门的可靠性、脉冲计数的准确性、卡数据的完整性、电池掉电处理的可靠性。关键词： 卡燃气表； 智能燃气表； 可靠性； 脉冲计数； 掉电中图分类号： 文献标识码： 文章编号：（）， ， ： ，： ； ； ； 。

7、2018/6/13,产品可靠性测试,2018/6/13,LUCKY VALLEY R&D,一、产品可靠性能检验基础,可靠性定义和可靠性术语可靠性定义：产品在规定的条件下和规定的时间区间（或操作次数）内完成规定规定功能的能力。产品：能够被单独考虑的任何元器件、零部件、组件、设备和系统。规定的条件：产品使用是的负载和维护条件，如供电电压、输出功率、载荷、使用方法、使用频率、操作人员的技术水平、维修方法等。环境条件，如气候环境（温度、湿度、压力等）、生物和化学环境（生物作用物质霉菌、化学作用物质盐雾等）、机械环境（振动、冲击等）、电磁环境。

8、芜湖三颐照明有限公司玻璃灯罩可靠性测试,品管部,灯罩可靠性测试,附着力测试设计：模拟在高温高湿环境下使用5年以上使用状态。 耐胶水测试：装配可靠性，长期工作芯片封装树脂，硅胶释放有机气体的抗腐蚀性 耐温度老化测试：长期高温下的外观色差，透光率变化。模拟5年使用状态。 劣质灯罩光衰远远大于芯片的光衰 耐冷热冲击性：模拟30年天气循环变化。,一、漆面附着力测试（百格法）,用在刀片在泡壳内横竖划格子划多个格子，距离2MM。,漆面附着力测试（百格法）,使用3M“胶带 在泡壳内已经划好的格子上，后用力撕扯强力胶 测试结果：0级,。

9、可靠性测试 鬼谷子品质联盟乐天提供 第 1 页 共 12 页 可靠性测试内容 可靠性测试应该在可靠性设计之后，但目前我国的可靠性工作主要还是在测试阶段，这里将测试放在前面（目前大部分公司都会忽略最初的可靠性设计，比如我们公司，设计的时候，从来都没有考虑过可靠性，开发部的兄弟们不要拿砖头仍我这是实话，只有在测试出现失效后才开始考虑设计）。 为了测得产品的可靠度（也就是为了测出产品的MTBF），我们需要拿出一定的样品，做较长时间的运行测试，找出每个样品的失效时间，根据第一节的公式计算出MTBF，当然样品数量越多，测试结。

10、正气 进取 专业 文件名称 可靠性测试标准 文件编号 QZ/LCT-ZC09-2007 版本 V6.3拟制：综合测试部审核：质量管理部审核：质量策划部审核：第一产品事业部审核：第二产品事业部审核：三旗通信审核：国际业务事业部批准：产品质量总监文件说明发布日期 2011-05-05意见同意同意同意同意同意同意同意同意主控部门 综合测试部签名/日期李强斌 2011.05.03姚凤贤 2011.05.03沈 平 2011.05.03黄承梁 2011.05.03常玉柱 2011.05.03李志虎 2011.05.03朱明里 2011.05.03王一昌 2011.05.03质量中心-综合测试部可靠性实验室负责实施。版本号 修改时间 修。

11、丝印、喷油产品测试要求1. 0 目的指导检查员正确地进行可靠性测试，保证本公司产品满足客户品质要求。2. 0 适用范围适用于本公司生产的所有需丝印、喷油加工产品的可靠性测试。3. 0 定义3.1.可靠性：即产品在规定条件下进行的环境模拟测试，其品质特性和耐受性能达到规定的要求。3.2.测试周期，即在往返测试中，往返各一次为一个测试周期。3.3.单项测试：即每一个产品有多项测试要求时每一个部件只完成其中的一项测试。3.4.多项测试：即每一个产品有多项测试要求时，每一个部件要完成 2 个或以上的测试项目。40 职责检查员应按此指引作业。

12、攀登，只为卓越峰光,稳润光电品牌战略发布会,可靠性测试-AEC-Q101C,攀登，只为卓越峰光,稳润光电品牌战略发布会,以上一个鱼缸曲线图，是部分典型电子产品的生命周期,攀登，只为卓越峰光,稳润光电品牌战略发布会,对于产品而言，大量实践证明，无论是在设计阶段还是量产阶段，老化是一种减少早期失效的有效手段，注意这里是减少，不是改进。,攀登，只为卓越峰光,稳润光电品牌战略发布会,汽车电子委员会AEC(Automotive Electronics Council)克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，AEC。

13、一、IC 可靠度测试1.可靠度测试的由来可靠度测试，顾名思义，就是测试产品的可靠程度。它与品质既有区别，又有联系。品质就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎 SPEC 的要求，是否符合各项性能指标的问题；而可靠度则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说品质解决的是现阶段的问题，可靠度解决的是一段时间以后的问题。随着电子类产品的广泛应用，各大电子系统厂商之间竞争也逐渐加剧。竞争促使各大系统厂商更加重视产品的品质。系统的品质是由零部件的品质决定的。而作为系。

14、The fifth chapter:5All kinds of IC Reliability Test and analysisPDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.comKinds of IC Reliability Test iteml MSL or Pre-condition Testl T/C Test (Temperature Cycling Test)l T/S Test (Thermal Shock Test)l HTST (High Temperature Storage Test)l T&H Test (Temperature & Humidity Test)l THB Test (Temperature, Humidity & Bias Test)l PCT (Pressure Cooker Test)l Un-Bias HAST (Highly Accelerated Stress Test)l HAST (Highly Accelerated Stres。

15、可靠性测试第 1 页 共 12 页可靠性测试内容可靠性测试应该在可靠性设计之后， 但目前我国的可靠性工作主要还是在测试阶段，这里将测试放在前面（目前大部分公司都会忽略最初的可靠性设计，比如我们公司，设计的时候，从来都没有考虑过可靠性，开发部的兄弟们不要拿砖头仍我这是实话，只有在测试出现失效后才开始考虑设计） 。为了测得产品的可靠度（也就是为了测出产品的 MTBF） ，我们需要拿出一定的样品，做较长时间的运行测试，找出每个样品的失效时间，根据第一节的公式计算出 MTBF，当然样品数量越多，测试结果就越准确。但是，这样。

16、 IC产品的质量与可靠性测试 (IC Quality & Reliability Test) 质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。 质量（Quality） 就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的问题；可靠性（Reliability）则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。所以说质量（Quality）解决的是现阶段的问题，可靠性（Reliability）解决的是一段时间以后的问题。知道了两者的区别，我们发现，Quality的问题解决方法往往比较直接，设。

17、2020/1/10,可靠性测试 与 失效分析,杨 立 新,2020/1/10,1,可靠性测试与失效分析,可靠性基本概念,2020/1/10,2,可靠性测试与失效分析 前言,1.前言质量（Quality）和可靠性（Reliability）是IC产品的生命，好的品质及使用的耐力是一颗优秀IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题，验证什么，如何去验证，哪里去验证，验证后的结果分析(Failure analysis), 如何进行提高(Improvement). 解决了这些问题，质量和可靠性就有了保证，制造商才可以大量地将产品推向市场，客户才可以放心地使用产品。 本文中将介绍可靠性的定义,。