1、1.2 比表面测试单位重量催化剂所具有的表面积称为比表面，其中具有活性的表面称活性比表面，也称有效比表面。尽管催化剂的活性、选择性以及稳定性等主要取决于催化剂的化学结构，但其在很大程度上也受到催化剂的某些物理性质如催化剂的表面积的影响。一般认为，催化剂表面积越大，其上所含有的活性中心越多，催化剂的活性也越高。因此，测定、表征催化剂的比表面对考察催化剂的活性等性能具有很大的意义和实际应用价值。催化剂的表面积针对反应来说可以分为总比表面和活性比表面，总比表面可用物理吸附的方法测定，而活性比表面则可采用化学吸附的方法测定。催化剂的比表面积的常见表征方法见表 2。1.2.1 总表面积的测定催化剂总表面
2、积的测定目前所采用的方法基本上均为低温物理吸附法，而其中的 BET 法则更是推崇为催化剂表面积测定的标准方法。有关 BET 法的具体介绍见第二章，在此不展开讨论。1.2.2 有效表面积的测定BET 法测定的是催化剂的总表面积。但是在实际应用中，催化剂的表面中通常只是其中的一部分才具有活性，这部分称为活性表面。活性表面的面积测定通常采用“选择化学吸附”进行测定。如附载型金属催化剂，其上暴露的金属表面是催化活性的，以氢、一氧化碳为吸附质进行选择化学吸附，即可测定活性金属表面积，因为氢、一氧化碳只与催化剂上的金属发生化学吸附作用，而载体对这类气体的吸附可以忽略不计。同样，用碱性气体的选择化学吸附可测
3、定催化剂上酸性中心所具有的表面积。表 2 列出了用于测定催化剂比表面积的常见方法。表 2 催化剂比表面表征类别 测试方法 备注BET 法 标准方法总表面积X-射线小角度法 快速测定表面积H2 吸附法 不适用于钯催化剂O2 吸附法 计量数不确定；尤其适用于不容易化学吸附氢或一氧化碳的金属CO 吸附法 不适合容易生成羰基化合物的金属N2O 吸附法 尤其适用于负载型铜和银催化剂中金属表面积的测定化学吸附法吸附-滴定法 H2-O2 滴定法先决条件是先吸附的氧只与活性中心发生吸附作用电子显微镜法 困难，对 Pt、Pd 负载催化剂效果较好金属X-射线谱线加宽法 粗略估计各种晶体组分的表面积活性表面积氧化物
4、 无通用方法，利用各组分在化学吸附性质方面的差异进行测（1）金属催化剂有效表面积测定17-19 金属表面积的测定方法很多，有 X-射线谱线加宽法、 X-射线小角度法、电子显微镜法、BET 真空容量法及化学吸附法等。其中以化学吸附法应用较为普遍，局限性也最小。所谓化学吸附法即某些探针分子气体（CO、H2、O2 等 ）能够选择地、瞬时地、不可逆地化学吸附在金属表面上，而不吸附在载体上。所吸附的气体在整个金属表面上生成一单分子层，并且这些气体在金属表面上的化学吸附有比较确定的计量关系，通过测定这些气体在金属表面上的化学吸附量即可计算出金属表面积。下面对经常采用的某些探针分子气体的化学吸附法作简单的介
5、绍：（a）H2 吸附法H2 吸附法的关键在于使催化剂表面吸附的 H 原子达到饱和，由于形成 H2 饱和吸附的条件比较苛刻，H2 的程序升温脱附不能在常压反应器中进行，因此限制了该法的应用，而且不同的吸附压力和吸附时间下得到的饱和吸附量不同，从而影响了测量的准确性。（b）其它吸附法化学吸附法除了最常用的 H2 吸附法外，常见的吸附法还有 CO 吸附法、O2 吸附法、N2O 吸附法、CO 吸附法等，其中 N2O 吸附法最近又发展了很多更为实用的技术如（a）量热法；（b）脉冲色谱法；（c）前沿反应色谱法；（d）容量法。CO 吸附法、O2 吸附量热法、N2O 吸附法用于表面积测试一般情况下不如 H2
6、吸附法，得到的结果也没有 H2吸附法令人满意，因为这些气体生成单层和化学吸附的化学计量比都不容易控制。但是，这些方法在某些特殊情况下具有很大的应用价值。如，O2 吸附法对于不容易化学吸附氢或一氧化碳的金属则比较有价值，而且氧化学吸附脉冲色谱法不仅不需要高真空装置，而且操作简便、快速、灵敏度高；CO 吸附法对于容易生成羰基化合物的金属则不适宜；N2O吸附法是测定负载型铜和银催化剂中金属表面积的优选方法。（c）吸附-滴定法只要化学计量比是已知和可以重现的，则吸附物种和气相物种之间的反应可以用来测定表面积。最常采用的是 H2-O2 滴定法，该法用于 Pt 负载催化剂的表面积测试最为有效，其用于非负载
7、型金属粉末也只能严格地看作氢化学吸附法的代用方法，因为金属粉末要得到完全洁净而无烧结的表面存在着严重的困难。滴定方法有价值的第二种场合是双金属催化剂，其中反应籍以进行的条件可能强烈的与化学吸附成分所处的金属组分的本性有关。这可供区别组分之用。表面氢氧滴定也是一种选择吸附测定活性表面积的方法。先让催化剂吸附氧，然后再吸附氢、吸附的氢与氧反应生成水。由消耗的氢按比例推出吸附的氧的量。从氧的量算出吸附中心数，由此数乘上吸附中心的截面积，即得活性表面积。当然做这种计算的先决条件是先吸附的氧只与活性中心发生吸附作用。（2）氧化物催化剂有效表面积测定如果只存在单独一种氧化物组分，显然表面积（总表面积）最好
8、用物理吸附（BET）来测定。然而如果在催化剂中不止存在种组份就具有在其他氧化物或金属组分存在下，选择性地测定指定氧化物表面积的问题。1.3 孔结构孔结构的表征主要包括孔径、孔径分布、孔容和孔隙率等几个方面，其表征方法很多（主要表征方法见表 1） ，需根据孔结构的类型具体确定。在众多表征方法中则属 N2 低温物理吸附法最为常用。量表 3 催化剂孔结构常用表征方法技术 测试方法 信息 微孔 介孔 大孔低温 N2 吸附 BET 表面积 适用 适用 适用t-plot 适用 适用与物理吸附法相比，压汞法具有速度快、测量范围宽和实验数据解释简单的优点。另一方面，汞很难从多孔固体中全部回收，从这个意义来讲，
9、这个方法是有破坏性的，尽管有些情况下，能够用蒸馏方法将汞全部除去22。X-射线小角散射法可以给出均匀一致物质上存在的 1-100nm 孔的某些有用信息，但是对于化学组成变化的样品或含有与孔同样大小颗粒的样品，X-射线小角散射法不可能或很难测定孔的大小。X-射线小角散射法是一种特殊技术，能满足其应用的场合很有限。由中子小角散射可获得有关孔大小分布的信息，从某种意义上讲，类似于用 X-射线。中子还具有下列优点，即除了少数明显的例外，由元素到元素散射的横截面变化要比 X-射线小，特别是由 X-射线所发现的，随着原子序数的增加而散射横截面显著增大，在用中子时不存在。因此存在化学不均匀性时，采用中子比用
10、 X-射线应能更加顺利地研究孔的结构。显微镜法（SEM/TEM ）是以直接观察和测量孔的大小为依据。但是在大多数情况下，由于孔的形状变化不一，在进行有意义的孔大小测量时经常遇到困难，因而很难获得准确的数据。一般来讲，为了得到有关孔结构的定性评价以及催化剂形貌和纹理等方面特征，显微镜法是非常重要的。1.4 机械强度催化剂应具备足够的机械强度，以经受搬运时的滚动磨损、装填时冲击和自身重力、还原使用时的相变以及压力、温度或负荷波动时产生的各种应力。固此，催化剂机械强度性能常被列为催化剂质量控制的主要指标之一。目前，催化剂机械强度测试主要有三类23：（1）单颗粒强度本方法要求测试大小均匀的足够数量的催
11、化剂颗粒，适用对象为球形、大片柱状和挤条颗粒等形状催化剂。单颗粒强度又可分为单颗粒压碎强度和刀刃切断强度。a. 单颗粒压碎强度将代表性的单颗粒催化剂以正向（轴向）或侧向（径向） 、或任意方向（球形颗粒）放置在两平台间，均匀对其施加负载直至颗粒破坏，记录颗粒压碎时的外加负载。其中强度测试颗粒数一般选 60 颗，强度数据采用球形和打片柱状颗粒的正压和侧压直接以外加负载表示。b. 刀刃切断强度本方法又称刀口硬度法，测强度时，催化剂颗粒放到刀口下施加负载直至颗粒切断。对于圆柱状颗粒，以颗粒切断时的外加负载与颗粒横截面积的比值来表示刀刃切断强度数据。与单颗粒压碎强度相比，该方法在单颗粒强度实际的测试中较
12、少采用。（2）整体堆积压碎强度对于固定床来讲，单颗粒强度并不能直接反映催化剂在床层中整体破碎的情况，因而需要寻求一种接近固定床真实情况的强度测试方法来表征催化剂的整体强度性能，该法即为整体堆积压碎强度。另外，对于许多不规则形状的催化剂强度测试也只能采用这种方法。（3）磨损强度测试催化剂磨损强度的方法很多，但最为常用的主要有两种：旋转碰撞法和高速空气喷射法。根据催化剂在实际使用过程中磨损情况，固定床催化剂一般采用前一种方法，而流化床催化剂多采用后一种方法。不管哪一种方法，它们都必须保证催化剂在强度测试中是由于磨损失效，而不是破碎失效。两种区别在于：前者得到的是微球粒子，而后者主要得到的是不规则碎
13、片。a.旋转碰撞法旋转碰撞法是测试固定床催化剂耐磨性的典型方法。其基本思想是将催化剂装入旋转容器内，催化剂在容器旋转过程中上下滚动而被磨损；经过一段时间，取出样品，筛出细粉，以单位质量催化剂样品所产生的细粉量，即磨损率来表示强度数据。b.高速空气喷射法对于硫化床催化剂，一般采用高速空气喷射法测定其磨损强度。高速空气喷射法的基本原理：在高速空气流的喷射作用下使催化剂呈流化态，颗粒间摩擦产生细粉，规定取单位质量催化剂样品在单位时间内所产生的细粉量，即磨损指数作为评价催化剂抗磨损性能的指标。2 催化剂微观结构与性能的表征固体催化剂的微观结构和物化性能主要包括催化剂本体及表面的化学组成、物相结构、活性
14、表面、晶粒大小、分散度、价态、酸碱性、氧化还原性、各组分的分布及能量分布等。特别是起活性作用的部位即活性中心的组成、结构、配位环境与能量状态。催化剂微观性质的表征的主要内容和方法如图 1 所示。催化剂微观性质的表征笼统地分可以分为两个方面，即表面性质的表征和体相性质的表征。下文中我们将以这两个方面为主线系统介绍各种物理、化学手段在催化剂微观性质表征方面的应用以及各种方法的局限性和优点，力求达到使读者对各种催化研究方法产生整体上的概念以及指导读者如何选择催化剂表征方法的作用。2.1 表面性质表征催化剂表面性质的表征方法一般可以分为两个方面：1分子探针技术，主要表征技术见表 4；2直接表征技术，主
15、要表征技术见表 。第一类催化剂表面微观性质表征技术是一类可以在接近原位条件下对催化剂进行多种表征的技术，通过此类技术可以获得催化剂的多种性质并可确定它们之间的相关性。此类技术的另外一个优点还在于仪器、设备简单、费用低，所以此类设备在一般催化研究实验室都可装备，使用非常方便。第二类表征技术均可在不使用任何探针分子的情况下对催化剂的表面微观性质进行直接观察，其获得的信息大多是来自于催化剂表面几层至十几层的表面原子的信息，所以此类技术所反映的表面性质更具微观性，更能反映催化剂的表面本质。但是此类表征技术所采用的仪器设备大多非常昂贵，一般实验室难以承受，因此使得这类技术的使用受到了一定的限制。另外，此
16、类技术所获取的催化剂表面性质均是在催化剂处于真空或低压条件下获取的，在一定程度上并不能详细、真实地反映催化剂在操作条件下的性质，因为很多研究都表面催化剂在真空或低压条件下的性质往往与操作条件的性质相差很远。但是随着原位技术的发展以及设备的完善，此缺点将逐渐被克服，因此可以相信此类技术在日后催化剂表面微观性质的表征中必将处于重要地位。值得注意的是，目前尽管第二类催化剂表面微观性质表征技术受到某些条件的限制，从而造成其在催化剂表征中的难以实现和较少采用，但是 XPS 技术由于对催化剂表面原子化学环境具有极其敏感性而受到催化研究者的格外青睐。在下文中我们将针对各种技术的主要优缺点以及适用范围做概括性
17、的介绍，力求达到使读者对催化剂表面微观性质的表征方法产生总体上的认识，并为催化剂表征手段的选择起指导性作用。表 4 催化剂表面性质探针分子表征技术技术方法获取信息定量分析体积吸附法吸附量与压力的关系高精度重量吸附法吸附量与压力的关系高精度动态吸附法不可逆吸附量定 量量热法吸附热与表面覆盖度的关系高精度红外光谱法催化剂表面功能性基团半定量吸附剂功能性基团拉曼光谱法催化剂表面功能性基团半定量吸附剂功能性基团Uv-vis 光谱法表面基团局部环境半定量TPD吸附物种量与温度的关系定 量TPD-MS吸附物种组分、量与温度的关系定 量TPD-IR吸附物种组分与温度的关系不可以TPSR不同探针分子间的竞争作
18、用表面反应性能半定量2.1.1 吸附技术由表 1 可见，催化剂表面性质的吸附技术经常采用的有体积吸附法、重量吸附法以及动态吸附法等，此类技术的共同最大优点在于可以对催化剂表面性质进行精确定量分析。前两者属于静态吸附技术，而后者则属于动态吸附技术。吸附技术所采用的仪器设备均十分简单而且价格相当便宜，尽管目前在市场上均有成套的装置出售，但是在一般实验室均根据实验现有条件以及所需要获得的信息自行设计和搭建。静态技术在催化剂定量分析中比动态技术具有更精确的结果。静态体积吸附技术更适用于气体吸附的研究，而静态重量吸附技术对于蒸汽尤其是有机物蒸气在催化剂表面上的吸附研究更具优势。但是由于探针分子难以到达吸
19、附平衡以及化学吸附和物理吸附难以区分，因此静态吸附技术在实际操作过程中非常缓慢且要求操作极其细致、精密。静态吸附技术结果的准确性和精确性在很大程度上取决于催化剂的测试温度，因此我们建议在进行静态吸附测试之前最好做一下 TPD 以确定合适的测试温度。2.1.2 吸附量热法吸附量热法的装置以及测试方法在很大程度上与前面所介绍的体积吸附法相似。不同之处在于，吸附量热法中的样品池位于量热计中，其可以测量探针分子在催化剂表面上的吸附体积以及吸附热。因此吸附量热法可以获取吸附剂探针分子与吸附质催化剂之间相互作用的相关信息以及催化剂表面活性位的非均一性。如，通过采用碱性气体作为探针分子可以确定催化剂表面的酸
20、性位以及酸强度的分布。吸附量热法是当代精确测量吸附热的可靠方法，它能从能量角度来研究气相分子在催化剂表面上的行为，为探索催化剂的反应性能及机理提供依据。另外，该技术可以同时获取催化剂表面活性位能量分布的定量及定性数据。但是吸附量热法实际操作过程缓慢、难以实施。2.1.3 探针分子光谱技术获取催化剂表面吸附分子的结构以及反应活性相关定性信息的最佳表征、测试手段为探针分子吸附光谱技术。此类技术所采用的装置以及测试方法在很大程度上与前面所介绍的体积吸附法相似。不同之处在于，探针分子吸附光谱技术中的样品池位于分光光度仪中，因此其可以获取催化剂表面上探针分子的光谱信息。此类分子探针技术较为常采用的有红外
21、光谱技术、拉曼光谱技术以及 UV-Vis 光谱技术。（1）红外光谱技术红外光谱已经广泛应用于催化剂表面性质的研究，其中最有效和广泛应用的是研究吸附在催化剂表面的所谓探针分子的红外光谱，如 NO、CO、CO2、NH3 、C5H5N 等，它可以提供在催化剂表面存在的“活性部位”的相关信息。用这种方法可以表征催化剂表面暴露的原子或离子，更深入地揭示表面结构的信息。与其它方法比较，这样的红外研究所获得的信息只限于探针分子（或反应物分子）可以接近或势垒所允许的催化剂工作表面。这对于表征催化剂是十分重要的。对于分子探针技术来说，探针分子的选择尤为重要，它直接关系到实验所预期的目标，分子探针红外光谱技术中最
22、常采用的探针分子有：CO、NO、NH3 、C2H4、CH3OH 、H2O以及吡啶。在中之所以选择上述探针分子其原因有二：（a）上述探针分子大多数分子结构简单，因此谱带解析相对来说比较简单；（b）1200-400cm-1 范围内的谱带受吸附的影响，而固体催化剂的骨架振动一般不会出现在此范围，因此相互之间不产生干扰或干扰很小。值得注意的是并不是说只可以采用上述探针分子，理论上说可以采用任何化合物，只不过当采用结构比较复杂的探针分子时图谱解析比较困难。尽管探针分子红外光谱技术在催化剂表征方面具有举足轻重的作用，但是也存在某些缺点：（a）红外光谱一般很难得到低波数（200cm-1 以下）的光谱，而低波
23、数光谱区恰恰可以反映催化剂结构信息，特别如分子筛的不同结构可在低波数光谱区显示出来；（b）大部分载体（如 -A12O3、TiO2 和 SiO2 等）在低波数的红外吸收很强，在1000cm-1 以下几乎不透过红外光；（c）IR 测试过程中所采用的 NaCl、KBr 、CaCl2 容易被水或其它液体溶解，所以 IR 不适用于通过水溶液体系制备催化剂过程的研究。（2）拉曼光谱技术探针分子拉曼光谱技术在催化研究中应用的研究与红外光谱相比有自己的特点。由于一般载体的红外光谱在 1200cm-1 以下范围内有很强的吸收，而拉曼光谱受载体的影响很小，因此可以在此范围内得到表面物种的拉曼光谱。而且红外和拉曼光
24、谱可以互补，结合起来可以更好地研究表面物种的结构。但是，吸附分子的拉曼光谱研究远远不如红外光谱开展得那么普遍，这是由于拉曼光谱的原位研究存在一定的困难，其中荧光干扰和灵敏度较低是最大的问题。（3）UV-Vis 光谱技术UV-Vis 探针分子技术很少用于催化剂表面性质的研究，有时甚至会得到错误的信息，因为它所提供的是吸附中心本身的直接信息。但是当旋光物在测试条件下均处于催化剂的表面则可以获取很好的、有价值的信息，因为在此条件下催化剂表面和体相互不影响，UV-Vis 所反映的仅是催化剂表面的特性。因此，UV-Vis 探针分子技术非常实用于负载型金属催化剂以及含有过渡金属的分子筛的研究，而且十分有效
25、和直接。图 6 探针分子光谱技术实验装置示意图2.1.4 程序升温脱附技术程序升温脱附（TPD）即将已吸附的气体在程序升温下脱附出来的方法，其可以通过采用不同的吸附气体获取催化剂表面各种不同的性质，如以碱性气体作为吸附质可以获取催化剂表面酸性质、O2、H2、CO、H2O、乙烯等气体的 TPD 可以测定金属、合金、氧化物、硫化物催化剂等表面活性中心的性质。TPD 技术可以根据所需要获得的信息而采用不同的脱附气体检测分析技术，最常用的有：（1）当吸附气体在脱附过程中不会发生任何变化或反应时，可以采用热导检测器；（2）当吸附气体会与催化剂表面发生反应或采用多种吸附气体时，可以采用红外或质谱检测器，即
26、 TPD-IR 和 TPD-MS 技术。另外，TPD 技术还具有以下优点：（1）设备简单、费用低、组装搭建方便可行；（2）操作简易；（3）定量解析简单、可靠。（4）可以在原位条件下采用混合气体作为探针分子，研究催化反应机理，即程序升温反应技术（TPSR） 。图 7 程序升温脱附试验装置图2.1.5 直接表征技术在此所指的催化剂表面性质直接表征技术只是相对于上述所介绍的探针分子技术而言的，并非是指直接观测技术。此类技术主要包括：XPS、UPS、AES、LEED、SIMS、ISS、HREELS、SEXAFS 等等，下面将对各种技术做简要的介绍。（1）光电子能谱技术光电子能谱技术是指将光子照射在催化
27、剂样品上，使之发射出结合能小于光子能量的电子（光电子） ，由此可测定电子的动能，其根据入射光类型可以分为 X 射线电子能谱（XPS）和紫外电子能谱（UPS） 。XPS 已经成为催化研究的重要手段之一，利用 XPS 技术可以进行催化剂各组分（如活性组分、助催化剂）的剖析，可以研究活性相的组成与性能的关系、毒质及其效应，可以进行对反应机理、催化剂的组成结构活性之间的关联等等。其中最基本、常见的应用是组分鉴别、价态分析以及半定量分析。XPS 用于固体材料分析、催化剂研究具有相当的优势，其优点在于：（1）样品用量小；（2）不需要进行样品前处理；（3）分析速度快；（4）分析范围广，可以对原子序数392
28、的元素进行定性和定量分析；（5）可以给出元素化学态信息，进而可以分析出化合物组成。另外，用 XPS 分析有机物可得到其元素组成和化学态，结合可观测表面分之碎片的静态二次离子质谱技术，可以较好地分析有机物的表面结构。UPS 技术主要用于提供：1）清洁表面或有化学吸附物的表面的电子结构；2）参与表面化学键的金属电子和分子轨道的组合等信息；3）有关电子激发和电荷转移的信息。由于吸附发生在样品的最表面，因此 UPS 和 AES 技术可以有效地对吸附质在催化表面的吸附行为以及吸附态进行研究（采样深度比 XPS 更浅） 。UPS 技术对表面吸附中的研究是 UPS 在催化领域中最重要的应用之一。（2）俄歇能
29、谱技术（AES）俄歇能谱技术（AES）是通过检测入射电子束所激发的俄歇电子来给出催化剂表面化学组成及分布的方法。俄歇电子的能量分布与入射电子能量无关，它只反映被激发原子的特征，因此可以从俄歇电子能量测定催化剂表面的化学组成及分布（包括痕量元素分析） 。研究俄歇电子谱随吸附、反应等过程的变化可得到表面吸附与反应过程的动力学；用电子枪溅射将样品一层层剥离，可以分析元素在颗粒中的分布等。做元素分析时，若入射电子能量为 1-5keV，则可检测 H、He 以外的所有元素，探测深度为 0.5-1.0nm，可控制为 10 层，但是该法对定量分析及对提供化学环境的信息方面不如 XPS。（3）低能电子衍射技术（
30、LEED）低能电子衍射技术（LEED）是目前使用最多的测定固体表面结构的方法之一。根据LEED 衍射斑点的图样，可以确定表面原子及其覆盖单层的点阵原胞的大小、方向和对称性；从衍射束斑的形状和强度分布，可以了解对应结构在表面上的有序程度；通过各衍射束强度与电子能量的关系，可以进行表面结构三堆分析，得到原子在原胞中的具体位置、数量及原子间的链长、链角等结构参数。对金属及其吸附单层，已积累了大量 LEED 实验结果，但由于低能电子在原子间有显著的多此散射效应，使衍射束强度的理论处理繁琐、计算工作量庞大，迄今通过三维 LEED 结构分析的体系不多，面临着表面扩展 X 射线吸收精细结构（SEXAFS）和
31、扫描隧道显微镜（ STM）等新的表面结构测定方法的竞争。LEED 的主要缺点在于其只能在超高真空条件下用于单晶表面及其有序吸附单层结构的研究，不能用于实际催化剂表面结构的分析。但是原子、分子在各种晶面上的吸附位置、吸附结构，对于了解有关催化剂表面的活性中心结构和催化反应机理都是必要的依据。LEED 和其它对表面灵敏的技术如 AES、XPS 等技术联用，用于研究单晶模型催化剂上的吸附和反应，能在原子尺度上探索多相催化过程，是近 10 多年来在多相催化领域内开辟的一个重要方面。（4）二次离子质谱法（SIMS）二次离子质谱（SIMS）是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射，
32、SIMS 可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS 具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领，所以其应用范围也相当广泛，涉及催化、化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、新材料、矿物研究等实用领域。主要功能为定性分析包括氢在内的全部元素，能给出同位素信息、化合物组分及分子结构，是表面分析技术中最灵敏的一种。对很多成分具有 ppm 甚至 ppb 量级的灵敏度；由于离子易聚热、偏转，其还能进行微区成分成象和深度剖面分析，但由于存在基体效应，一般难以定量分析。SIMS 的主要优点：（1）在超高真空下（10-7Pa）进行测试，可以确保得到样品表层的真实信息
33、；（2）原则上可以完成周期表中几乎所有元素的低浓度半定量分析。而传统仪器如 AES 适用于原子序数 33 以下的轻元素分析；XPS 适用于原子序数大的重元素分析。 （3）可检测同位素；（4）可分析化合物；（5）具有高的空间分辨率；（6）可逐层剥离实现各成分的纵向剖析，连续研究实现信息纵向大约为一个原子层。而 AES、XPS 等采用溅射方式将样品逐级剥离，对剥离掉的物质不加分析，只分析新生成的表面；（7）检测灵敏度最高可优于 ng/g 量级。高性能的 SSIMS 的检测灵敏度是所有表面分析法中最高的。而 SEM、XPS 等由于受检出限的限制，主要用于物质形态（价态） 、结构及物理结构分布状态的分
34、析与表征。当然，SIMS 自身也存在一定的局限性，主要在于：（1）质谱包含的信息丰富，在复杂成分低分辨率分析时识谱困难；（2）定量分析困难；（3）一次离子对样品有一定的损伤；（4）分析绝缘样品必须经过特殊处理；（5）样品组成的不均匀性和样品表面的光滑程度对分析结果影响很大。 （5）离子散射谱技术（ISS）作为一种表面分析手段，ISS 不但能对表面规整的模型催化剂，如单晶等进行表征，也能对应用于各种实际工业过程的实用催化剂进行表征。不但可以定性地描述样品表面的化学组成，也可在许多条件下定量地描述样品的化学组成。如果运用得当，它还能给出一些极其有用的表面结构信息，如吸附位置、吸附构型等。特别是由于
35、 ISS 的单层检测灵敏性，它能给出在很多情况下其他表面分析仪器所无法给出的信息。但是，ISS 通常无法给出表面原于的化学状态的信息，在大多数情况下其结果的定量分析比较困难。尽管如此，ISS 所要求的装置简单、解析容易、 可以方便地与其他表面分析手段对照，值得进一步推广。ISS 对不同元素的灵敏度的变化范围在 310 倍之间，分析时对表面的损伤很小。但定量分析有一定的困难、谱峰较宽、质量分辨本领不高、检测灵敏度为 10-3。 （6）表面扩展 X 射线吸收精细结构（ SEXAFS）表面扩展 X 射线吸收精细结构（ SEXAFS）是近年来发展起来的研究表面结构的另一手段。当吸附在衬底上的原子吸收
36、X 射线后，从基态发射的光电子可受到周围原子的散射，出射电子波与散射电子波之间有干涉作用，形成有起伏的末态。这个有起伏的末态使 X 射线吸收的几率在吸收边后有振荡现象，振荡的幅度与周期包含了吸附原子的近邻数，及其和周围原子所形成的键长的信息。键长确定的准确度可达0.03 埃；通过 SEXAFS 可观测金属晶面的氧化、清洁表面的结构、吸附引起表面的重构现象、吸附质在不同晶面上吸附结构差异。2.2 体相性质表征尽管催化反应均是在催化剂表面（外表面或内表面）进行的，这使得表征催化剂的表面性质尤为重要，但是催化剂体相性质在实际催化过程中也具有举足轻重的作用，催化剂的许多性能除了与催化剂表面性质有关外，
37、还直接与催化剂体相性质相联系。因此，表征催化剂的体相性质也是催化研究中十分重要的方面。催化剂体相性质的表征大致有以下几类常用表征技术：1元素分析技术2光谱及衍射技术（XRD、IR、Raman、UV-vis、NMR ）3热分析技术（TG、DTA 、 DSC、TPD、TPO、TPR）在下文中我们将对各种技术进行概括性的介绍。2.2.1 元素分析技术元素分析技术主要用于定性和定量催化剂体相各元素的组成或催化剂表面微区元素的组成，这是催化剂分析表征的首先所要解决的问题。通过催化剂元素组成的定性与定量分析，可得到主要组分（活性组分、助剂、载体等）及杂质（制备和使用过程中由于原料带入的分厂、毒物、污染物及
38、生成的沉积物等）的组成、含量及其在颗粒中的分布。元素组成的定性与定量分析除化学分析如酸碱滴定及络合滴定、电化学分析法外，较常采用的方法还有分光光度法、电感耦合等离子体发射光谱法、原子吸收光谱法、X 荧光分析法等。但是各种方法都有它的适用范围和条件，不同的样品、不同的测试目的所采用的方法也不同。下面我们将对上述常用方法的适用范围以及优缺点作一介绍。（1）分光光度法分光光度法操作复杂、时间长、试剂用量多。另外，在测试过程中需要引入显色剂配合物，而大多数配合物水溶性差，需要引人适当的表面活性剂增加灵敏度；存在一定程度的干扰因素，需要加人适当的掩蔽剂或与其它分离方法联合使用；目前的方法大多是针对特定的
39、样品，而缺乏普遍性。（2）原子吸收光谱（Atomic Absorption Spectroscopy，AAS ）原子吸收光谱法（AAS）灵敏度高、灵敏度高达 10-12-10-14 克，选择性好、抗干扰能力强、测定元素范围广、仪器简单、操作方便，但是对某些元素如 Na+灵敏度不好，而且一次只能测定一个元素，难于同时测定许多元素。此外，由于 AAS 法的光源是单元素空芯阴极灯，所以测定一种元素就必须选用该元素的空芯阴极灯，从而使其不适于物质组成的定性分析；对于难熔元素的测定不能令人满意；不能对共振线处于真空紫外区的元素进行直接测定。（3）电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)电感耦合等离子体
40、发射光谱(ICP-AES)的应用最为广泛，具有检出限低，基本干扰少，线性范围宽，精密度好，可同时测定多元素的特点。广泛应用于无机元素的定性、定量分析，尤其对沸石分析中常见的元素（例如硅、铝、磷、钛及许多其它元素）具有较高的灵敏度和精度，相对偏差小于 1%。值得注意的是，ICP 对重金属和磷的敏感度远高于普通得原子吸收光谱，而对于 IA 族元素（包括 Na 和 K）则不如 AAS。另外，ICP 法需昂贵的仪器和特定的实验设备，相比之下原子吸收光谱法有着更广泛的应用。（4）X 荧光分析（X-ray Fluorescence，XRF）X 荧光分析法（XRF）可以直接测定含量高的物质，避免对未知试样高
41、倍稀释带来的误差，这一点优于吸收光谱和发射光谱法。该法具有快速、准确、样品用量少的特点，但对轻元素如 Na 等难于测定。近年来在 X 荧光分析技术的基础上发展起来一种全新的技术全反射 X 荧光分析技术（TRXF） ，其是一种新的高灵敏度元素分析技术，主要特征是通过反射技术去掉在通常 X荧光分析中高能散射本底的影响，提高了分析灵敏度。该法除了灵敏度高之外，还具有分析样品用量少（微克量级） 、设备简单等优点。（5）电子探针分析（Electron Probe Microscopy，EPMA）电子探针分析可对催化剂表面微区（最小可检测 1m 左右）进行扫描分析，其可检测原子序数从 12（Mg）至 92
42、（U）的元素。由于元素的 X 射线的相对强度与其含量成正比，因此由谱线强度可检测各元素的百分含量；可将催化剂剖开测得催化剂各组分的空间分布；结合扫描技术，可以进行点分析、线分析和面分析；样品不易被破坏，可以进行重复试验；此法相对灵敏度为百分之几到万分之一。（6）X 射线能谱（EDS）EDS 可以在几分钟内对 Z11 的所有元素进行快速定性分析；检测效率极高，达100%，灵敏度比波谱高一个数量级；能谱仪操作简单；但是其对轻元素分析有一定的困难，只能探测原子序数 Z11 的元素；对于软 X 射线必须用超薄窗或无窗探测器，以增加对轻元素的探测效率；对于薄样轻元素定量分析的困难还在于修正试样对软 X
43、射线的吸收。值得注意的是，后两种方法主要用于催化剂表面微区域内元素的组成，其常常作为其它仪器或表征手段的辅助部分。2.2.2 谱学技术谱学技术在催化剂体相性质的表征中有着广泛的应用，通过谱学技术可以获取催化剂的结构性质（如骨架结构、结晶度、晶粒大小）和局部性质（如氧化态、配位数、对称性等） 。但是目前还没有一种技术能够获取催化剂的所有性质，因此必须根据所预期获取的信息来选择合适的表征技术。表 列出了最常用的几种技术以及其所能获取的信息。（1）分子光谱技术分子光谱技术主要包括红外、拉曼、紫外三大类技术，它们在催化剂体相性质中的表征都具有很大的应用价值。红外光谱的主要优点是具有广泛的使用性能，几乎
44、适用于所有的分散金属催化剂或氧化物催化剂。从拉曼光谱可以得到与红外光谱同样的结构信息，对于许多催化剂，不同的选律可能使用扩展频率范围（相对于红外光谱可选的频区） ，不过这种能力在很大程度上由于灵敏度损失可观而被抵消。但是红外光谱在表征固体催化剂结构性质上的应用并不是太多也并有效，因为催化剂所采用的载体除了某些化合物如钼酸盐、钒酸盐、分子筛之外，尤其是氧化物载体，在红外区域均存在较宽的谱带而无较为特征的特征谱带，使得谱带解析变得十分困难。目前红外光谱用于催化剂体相性质的表征，最常见也是十分有效的应用就是钼酸盐、钒酸盐、分子筛结构的表征，其主要应用还是集中在催化剂表面性质的研究与表征上。拉曼光谱在
45、催化剂体相性质表征方面也存在一些问题。首先，由于荧光干扰很难获取质量较好的谱图，尤其对于某些氧化物来说此问题表现得更为严重；另外，与红外光谱技术相似，拉曼光谱技术在催化剂体相性质表征方面的应用也仅限于 Mo、V、W、Ti 化合物以及少量其它物质。但是正是由于大多数载体拉曼散射较弱，从而更有利于拉曼光谱技术在催化剂表面性质上的研究。紫外-可见光谱（UV-Vis）是分子光谱技术在催化剂体相性质表征中最为常见、最为有效的光谱技术。UV-Vis 能够观察到过渡金属的 d-d 跃迁以及由于电荷转移（电子从配体转移至金属或从金属转移至配体）而引起的其它跃迁（如 Ti、Zn、Ce、Zr、Mo、Sn、稀土元素
46、、碱土金属氧化物以及许多其它过渡金属氧化物） ，所以其可以直接提供电子结构和第一配位层的相关信息，能够用以测定过渡金属的区域对称性、氧化态、配位体类型、配位数等，是一种探测离子所在位置类型的灵敏手段。但是 UV-Vis 谱图的解析相当困难，特别是在电荷转移跃迁谱带较宽情况下。（2）X 射线谱技术X 射线谱技术可以分为两类：一、 X 射线衍射技术；二、 X 射线吸收技术。绝大多数催化剂如分子筛、氧化物、负载金属、盐等等都是晶体，因此 X 射线衍射技术成为表征这些固体催化剂的基本手段，通过 XRD 的表征可以获取以下信息：a.催化剂的物相结构；b.组分含量；c.晶粒大小。物相定性分析是 XRD 技
47、术在催化研究中的主要用途。但是 XRD 技术必须依赖于晶格的长程有序的衍射技术，其看不到非晶，甚至看不到 50 以下的微晶。所以仅通过 XRD技术，以及对我们所看到的部分对催化剂整体下结论显然是不全面，而 X 射线吸收技术（其中主要包括 EXAFS 和 XANES）则可以在一定程度上突破上述局限。EXAFS 主要包含着详细的局域原子结构信息，其能够给出吸收原子近邻配位原子的种类、距离、配位数和无序度因子等结构信息，它通常通过拟合的方法分析获得；而 XANES 中则包含着吸收原子的价态、态密度以及定性的结构信息，它主要是通过模拟的方法来解释。EXAFS 技术用于催化领域的研究主要有以下特点和优点
48、：（1）EXAFS 现象来源于吸收原子周围最邻近的几个配位壳层作用，决定于短程有序作用，不依赖于晶体结构，可用于非晶态物质的研究，处理 EXAFS 数据能得到吸收原子邻近配位原子的种类，距离、配位数及无序度因子；（2）X 射线吸收边具有原子特征，可以调节 X 射线的能量，对不同元素的原子周围环境分别进行研究；（3）由吸收边位移和近边结构可确定原子化合价态结构和对称性等；（4）利用强 X 射线或荧光探测技术可以测量几个 ppm 浓度的样品；（5）EXAFS 可用于测定固体、液体、气体样品，一般不需要高真空，不损坏样品。尽管 EXAFS 技术用于催化领域的研究具有其它常规技术所无法比拟的优点，但是
49、EXAFS 作为一项有广泛用途的结构探测技术也将不可避免地存在一些缺点。其中最大的缺点就是：EXAFS 只能提供平均的结构信息。（3）共振谱技术固体催化剂体相性质表征中常见的共振谱技术主要包括核磁共振技术（NMR） 、电子自旋共振技术（EPR）以及穆斯堡尔谱。（a）磁共振技术（NMR）在催化研究中，比较常用的有 1H、29Si、27Al、13C、23Na 核磁共振技术，其中是29Si、27Al、23Na 固体 NMR 谱的研究在最近尤为活跃和突出，使固体 NMR 技术成为研究沸石分子筛各个方面的有力工具。不同核的核磁共振在催化研究中具有不同的用途，其中 29Si 和 27Al MAS NMR 主要用于研究沸石分子筛的结构，而其它核的 MAS NMR 研究其它种类的催化剂的结构，而且更多地是用来表征催化剂的表面性质，如 13C CP MAS NMR 可以用于研究催化剂表面结炭；1H MAS NMR 可以用于研究催化剂表面酸性；Xe 探针可以用于研究催化剂的孔结构等等。（b）穆斯堡尔谱效应是原子核对 射线的无反冲共振吸收现象，目前已广泛地应用于物理学、化学、材料科学、物理冶金学、生物学和医学、地质学、矿物和考古等许多领域，已发展成为一门独立的波谱学 穆斯堡尔谱学。通过穆斯堡尔谱学的研究主要可以获得以下相关信息：a. 穆
