1、实验四 触发器实验,实验目的 1.掌握常用触发器的逻辑功能及测试方法。2.了解触发器逻辑功能的转换。3.熟悉触发器的基本应用。 二. 实验电路及仪器设备 1.实验电路： 见图2-33，2-34，2-36。 2.实验仪器 ：数字电子实验箱 ,芯片：CT74LS112（ JK触发器） CT74LS74 （双D触发器）,三. 实验内容及步骤 1.基本RS触发器逻辑功能测试 用与非门构成的基本RS触发器的逻辑电路如图2-33所示。当 、 加不同逻辑电平时，记录输出Q、 端相应的状态，并把结果记录入表2-6中。,表26基本RS触发器功能表,Q,2. JK触发器逻辑功能测试 图2-34为集成JK触发器CT
2、74LS112(下降沿触发)的逻辑符号。任选其中一个JK触发器，进行逻辑功能测试。 （1）异步置位端 和异步复位端 的功能测试。 J、K、CP端为任意状态，当 、 加不同逻辑电平时，记录输出 、 端相应的状态，并把结果记录入表2-7中。 （2）JK触发器逻辑功能的测试 用 、 的置位、复位功能使现态 为0或1。 使 =11，根据表2-8给定J、K的值，在CP端输入单脉冲，观察单脉冲由0-1(上升沿）和由1-0（下降沿）时输出端状态 的变化，并把结果记录入表2-8中。 （3）按图2-35所示的电路连接线路，在CP脉冲端加入1KHz连续脉冲信号，观察并记录输出端QQ的变化，说明此电路能完成的逻辑功
3、能。,、,、,、,、,图3-35 JK触发器应用电路,表27JK触发器的置位、复位功能,表2-8JK触发器功能表,3. D触发器逻辑功能测试 图2-36为双D触发器CT74LS74（上升沿触发）的逻辑符号，任选其中一个D触发器，进行逻辑功能测试。 （1）置位复位端 的功能测试：CP、D为任意状态，测试D触发器置位、复位端 的功能。 （2）按2-9表的要求测试输出端 Qn+1的状态，把测试结果记入表中。测试方法、步骤同JK触发器。,、,、,将JK触发器转换为D触发器 如图2-39 测试方法自拟。,表2-9 D触发器功能表,四. 实验报告要求,画出逻辑电路图 画出芯片管脚图 归纳D触发器的逻辑功能,
