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SIC9552 成品测试规范.pdf

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资源描述

1、深爱半导体股份有限公司 技术标准Specification of Sisemi. 编号 NO.: SI.T.S.TC02版号 Ver.: B Page 1 of 2 标题: SIC9552/SIC9553/SIC9554/SIC9555 成品测试规范 SIC9552/SIC9553/SIC9554/SIC9555 Product Testing Specification SIC9552/SIC9553/SIC9554/SIC9555(SOP8,7/DIP8,7)成品测试规范 1、变更记录 版本 修订日期 变更内容 修改 审核 批准 A B 2014-6-16 2016-03-11 初始规范

2、加入变更记录 加入测试系统、程序、测试板说明 加入良率指标及质量检验要求 测试电路改进(加入高压保护,高压放电回路) 合并 TC02A SIC9552 3 4 成品测试规范和 TC03A SIC9555 成品测试规范。 周大伟 周大伟 2、测试程序及测试板: 测试系统: TR6850S QA8T862 测试程序: SIC9552_TR_V20 SIC9552_HB_V20 SIC9553_TR_V20 SIC9553_HB_V20SIC9554_TR_V20 SIC9554_HB_V20 SIC9554_TR_V20 SIC9554_HB_V20DUT 板: DUT board for TR6

3、500S_50118 Qa8TDut05A-M2A LB 板: SIC955X_TR_V20 SIC955X_HB_V20 3、质量检验要求: QA检测按成测标准测试,区间容许误差 1.2时, VST=LV013.2 14.8 V 8 欠压保护阈值 VUVLO LV0加压 15V,测流,记为 IDD1, LV0按 0.2V下降,监测电流 IDD2,当 IDD2/IDD10.8时, VUVLO=LV0 8.2 9.8 V 9 11 MOS 管栅漏电 IGSS 闭合 K7, LV0加压 15V, LV2加压 0V,测流。 100 nA 10 12 VDD工作电压 VDD MV0加压 20V, LV

4、0测压。 15.8 18.2 V 11 13 MOS管内阻 RDSON 闭合 K1, K4, K5, MV0 加压 15V, LV0加压 15V, LV3 采集 DRN 脚电压,求出最小值 LV3min,RDSON=LV3min/(15V-LV3min)/R3) 9552(A) 14 18 9553(A) 8 13 9554(A) 5 9 9555(A) 2 6 12 14 工作频率 FOP 闭合 K1, K4, K5, MV0 加压 15V, LV0 加压 15V, TMU测量振荡频率 FOP。3 6 KHz注:分选机应按测试 BIN 位分档。 如分选机档位不足,按 PASS, OS, PARA 分档 (可分多个档,测试失效数量多的参数分一档,少的可几个参数分一档 )。管脚号 管脚名称 描述 1 GND 地 2 RADJ 开路保护 3 / / 4 VDD 工作电源 5, 6 DRN 输出 MOS 管漏极 7, 8 ISEN 电流采样 批 准 Approval by 审 核 Reviewed by 拟 制 Prepared by 周大伟

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