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材料分析测试技术试题2.doc

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资源描述

1、第一章1、X 射线是德国物理学家( )在研究真空管高压放电现象时偶然发现的。A、劳埃 B、布拉格 C、伦琴 D、德拜2、X 射线管中阴极的功能是( ) A、使电子突然减速 B、发射电子 C、x-ray 射出的通道 D、发射 x-ray 的地方3、电子由 MK 跃迁辐射出的特征 X 射线称为( )谱线 A、K B、K C、L D、L 4、x-ray 光子与束缚力不大的原子外层电子相碰撞时发生的散射称为( )A、非相干散射 B、相干散射 C、弹性散射 D、汤姆逊散射5、X 射线管中阳极的功能是( ) A、使电子突然减速 B、发射电子 C、x-ray 射出的通道 D、发射 x-ray 的地方6、X

2、射线管中窗口的功能是( ) A、使电子突然减速 B、发射电子 C、x-ray 射出的通道 D、发射 x-ray 的地方7、X 射线是( )A、电磁波 B、声波 C、超声波 D、单色光8、当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后,L 层电子回迁 K 层,多余能量将另一个 L 层电子打出核外,这整个过程将产生( )A、光电子 B、二次荧光 C、俄歇电子 D、光电子和俄歇电子9、已知 X 射线管是铜靶,应选择的滤波片材料是( ) A、Co B、Ni C、Fe D、Al10、既能进行形貌观察又能进行晶体结构分析的仪器是( )A、XRD B、TEM C、SEM D、EPMA11、表面形貌分析的手段

3、包括( )A、XRD 和 SEM B、SEM 和 TEM C、WDS 和 XPS D、STEM 和 SEM12、发现了 x-ray 在晶体上衍射的科学家是( )A、劳埃 B、布拉格 C、伦琴 D、德拜13、特征 x-ray 的波长取决于( )A、入射波的波长 B、加速电压 C、物质的原子能级结构 D、滤波片14、x-ray 管中,当采用螺线形灯丝时将产生( )焦点 A、长方形 B、线性 C、椭圆形 D、圆形15、滤波片的波长应( )A、大于 k B、小于 k C、位于 k 和 k 之间 D、任意选取第二章1、面心立方结构的单位晶胞原子数是( ) A、2 B、4 C、8 D、122、体心立方结构

4、的单位晶胞原子数是( ) A、2 B、4 C、8 D、123、密排六方结构的单位晶胞原子数是( ) A、2 B、4 C、6 D、124、.最常用的 X 射线衍射方法是( )A、劳埃法 B、粉末法 C、周转晶体法 D、德拜法5、一束 X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于( ) A、是否满足布拉格条件 B、是否衍射强度 I0 C、A+B D、晶体形状。6、空间点阵只能有( )种 A、12 B、14 C、15 D、167、14 种布拉菲点阵( ) A、按其对称性,可归结为七大晶系 B、按其点阵常数分类,可归纳为七大晶系C、按其点阵所在位置分,可归结为七大晶系 D、按其几何形状分类,可归结为七大晶系

5、8、某晶体属于立方晶系,一晶面截 x 轴于 a/2、y 轴于 b/3、z 轴于 c/4,则该晶面的指标为( ) A、(364) B、(234) C 、(213) D、(468)9、符号uvw表示( )A、晶面族 B、晶面 C、晶向族 D、晶向10、在立方晶系中,指数相同的晶面和晶向( )A、相互平行 B、相互垂直 C、成一定角度范围 D、无必然联系11、体心立方结构的点阵常数之间的关系为( )A、 B、 C、 D、abcabcabcabc12、密排六方结构点阵常数间的关系为( )A、 B、 C、 D、13、引入空间点阵概念是为了( )A、描述原子在晶胞中的位置 B、描述晶体的对称性C、描述晶体

6、结构的周期性 D、同时描述晶体结构的周期性和对称性14、M 、N 两晶体,如果( )A、所属的空间点阵相同,则此两晶体的结构相同 B、晶体结构相同,它们所属的空间点阵可能不同C、晶体结构相同,它们所属的空间点阵必然相同 D、所属的空间点阵不同,两晶体的结构可能相同15、已知 NaCl 晶体结构属于立方晶系,则其晶体结构常数关系为( ) 。A、abc,90 B、ab=c, =90 C、 a=b=c, =90 D、 a=b=c, =90 16、属于体心立方晶体的是( )A、-Fe B、Al C、Mg D、-Fe17、属于面心立方晶体的是( )A、-Fe B、Ti C、Mg D、-Fe18、属于密排

7、六方晶体的是( )A、-Fe B、Al C、Mg D、-Fe19、立方晶系的110晶面族包含( )个晶面 A、6 B、8 C、12 D、14 20、X 射线衍射方法中,试样为单晶体的是( )A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、 A 和 B21、第一位推导出 x-ray 在晶体上衍射几何规律的科学家是( )A、劳埃 B、布拉格 C、伦琴 D、布拉菲22、单晶体材料呈现( ) A、各向异性 B、各向同性 C、伪各向异性 D、伪各向同性。23、非晶体材料呈现( )A、各向异性 B、各向同性 C、伪各向异性 D、伪各向同性。24、非晶体属于( ) A、凝聚态 B、固体 C、液体 D、气

8、体25、下列属于晶体的是( ) A、蜡烛 B、松香 C、食盐 D、玻璃26、晶体结构和空间点阵的相互关系( )A、空间点阵中每一个点阵代表晶体中的一个原子 B、每一种空间点阵代表唯一的一种晶体结构C、晶体结构一定,它所属的空间点阵也唯一地被确定 D、每一种晶体结构可以用不同的空间点阵表示27、利用白色 x-ray 作为入射光源的 X 射线衍射方法是( )A、劳埃法 B、周转晶体法 C、平面底片照相法 D、粉末法第三章1、对于简单点阵结构的晶体,系统消光的条件是( )A、不存在系统消光 B、h+k 为奇数 C、h+k+l 为奇数 D、h、k、l 为异性数2、对于底心斜方点阵结构的晶体,系统消光的

9、条件是( )A、不存在系统消光 B、h+k 为奇数 C、h+k+l 为奇数 D、h、k、l 为异性数3、对于体心立方点阵结构的晶体,系统消光的条件是( )A、不存在系统消光 B、h+k 为奇数 C、h+k+l 为奇数 D、h、k、l 为异性数4、对于面心立方点阵结构的晶体,系统消光的条件是( )A、不存在系统消光 B、h+k 为奇数 C、h+k+l 为奇数 D、h、k、l 为异性数5、立方晶系100晶面的多重性因子为( )A、2 B、3 C、4 D、66、洛伦兹因子中,第一几何因子反映的是( )A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D

10、、试样形状对衍射强度的影响7、洛伦兹因子中,第二几何因子反映的是( )A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响8、洛伦兹因子中,第三几何因子反映的是( )A、晶粒大小对衍射强度的影响 B、参加衍射晶粒数目对衍射强度的影响C、衍射线位置对衍射强度的影响 D、试样形状对衍射强度的影响9、对于底心斜方晶体,产生系统消光的晶面有( )A、112 B、113 C、101 D、11110、对于面心立方晶体,产生系统消光的晶面有( )A、200 B、220 C、112 D、11111、热振动对 x-ray 衍射的影响中不正

11、确的是( )A、温度升高引起晶胞膨胀 B、使衍射线强度减小 C、产生热漫散射 D、改变布拉格角12、定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数称为( )A、结构因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸收因子13、将等同晶面个数对衍射强度的影响因子称为( )A、结构因子 B、角因子 C、多重性因子 D、吸收因子14、一个电子对 x-ray 散射的特点叙述不正确的是( )A、散射线强度很强 B、散射线的强度与到观测点距离的平方成正比C、在 2=0 处散射强度最强 D、在 2=90时散射强度最弱15、德拜相机的直径为 57.3mm,则底片上每一毫米对应于( )圆心角A、0.5 B、2 C、

12、1 D、416、德拜相机的直径为 114.6mm,则底片上每一毫米对应于( )圆心角A、0.5 B、2 C、1 D、4第四章1、德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、以上均可2、样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是( )A、11 B、21 C、12 D、没有确定比例3、衍射仪法中的试样形状是( )A、丝状粉末多晶 B、块状粉末多晶 C、块状单晶 D、任意形状4、关于相机分辨率的影响因素叙述错误的是( )A、相机半径越大,分辨率越高 B、 角越大,分辨率越高 C、X 射线波长越小,分辨率越高 D、晶面间距越大,分辨率越低5、粉末法是

13、由德国的( )于 1916 年提出的 A、德拜和谢乐 B、布拉格和德拜 C、劳埃和布拉格 D、布拉格6、粉末照相法所用的试样形状为( )A、块状 B、分散 C、圆柱形 D、任意形状7、低角的弧线接近中心孔,高角线靠近端部的底片安装方法为( )A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可8、高角的弧线接近中心孔,低角线靠近端部的底片安装方法为( )A、正装法 B、反装法 C、偏装法 D、任意安装都可9、以气体电离为基础制造的计数器是( )A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、A 和 B10、利用 X 射线激发某种物质会产生可见的荧光,而且荧光的多少与 X 射线强度成正比的特

14、性而制造的计数器为( )A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、锂漂移硅检测器11、把从高度分析器来的脉冲加以计数的电子仪器为( )A、计数器 B、定标器 C、测角仪 D、光阑12、下列说法错误的是( )A、多晶体衍射的技术测量方法有连续扫描和阶梯扫描两种测量法B、为了提高衍射的分辨率,应该选择较小的接受光阑C、为了提高测量精度,一般选用尽可能大的时间常数D、为了提高测量精确度,应选用尽可能小的扫描速度13、下列说法错误的是( )A、发散狭缝光阑是用来限制入射线在测角仪平面平行方向上的发散角B、为了提高衍射的分辨率,应该选择较小的接受光阑C、为了测量衍射强度,应适当地加大接受光阑D

15、、防寄生散射光阑对衍射线本身有很大的影响14、底片位于相机圆筒内表面,试样位于中心轴上的照相法是( )A、徳拜法 B、聚焦照相法 C、针孔法 D、衍射仪法15、底片与 x-ray 垂直且试样位于两者之间的照相法是( )A、徳拜法 B、聚焦照相法 C、针孔法 D、衍射仪法16、底片、试样、x-ray 源均位于圆周上的照相法是( )A、徳拜法 B、聚焦照相法 C、针孔法 D、衍射仪法17、在 x-ray 探测器中分辨能力高、分析速度块、检测效率可达 100%的原子固体检测器是( )A、正比计数器 B、盖革计数器 C、闪烁计数器 D、锂漂移硅检测器18、在发散光阑尺寸不变的情况下,2 角越小,入射线

16、在试样表面的照射面积( )A、越小 B、越大 C、不变 D、不确定19、时间常数的增大会导致 x-ray 衍射线的峰高下降( )A、升高 B、下降 C、不变 D、无必然联系20、扫描速度的增大会导致 x-ray 衍射线的峰高下降( )A、升高 B、下降 C、不变 D、无必然联系21、为了提高 x-ray 衍射分辨率,需选用( )A、低速扫描和较小的接受狭缝光阑 B、快速扫描和较小的接受狭缝光阑C、低速扫描和较大的接受狭缝光阑 D、快速扫描和较大的接受狭缝光阑22、为了 x-ray 衍射强度测量有最大的精确度,需选用( )A、低速扫描和中等的接受狭缝光阑 B、快速扫描和中等的接受狭缝光阑C、低速

17、扫描和较大的接受狭缝光阑 D、快速扫描和较大的接受狭缝光阑第五章1、X 射线物相定性分析方法中,如果已知物质名时可以采用( )A、哈氏无机数值索引 B、芬克无机数值索引 C、戴维无机字母索引 D、A 或 B2、测定钢中的奥氏体含量,若采用定量 X 射线物相分析,常用方法是( )A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K 值法3、PDF 卡片中,数据最可靠的用( )表示 A、i B、 C、 D、C4、PDF 卡片中,数据可靠程度最低的用( )表示 A、i B、 C、 D、C5、将所需物相的纯物质另外单独标定,然后与多项混合物中待测相的相应衍射线强度相比较而进行的定量分析方法称为( )A、外标

18、法 B、内标法 C、直接比较法 D、K 值法6、在待测试样中掺入一定含量的标准物质,把试样中待测相的某根衍射线条强度与掺入试样中含量已知的标准物质的某根衍射线条相比较,从而获得待测相含量的定量分析方法称为( )A、外标法 B、内标法 C、直接比较法 D、K 值法第九章1、若 H-800 电镜的最高分辨率是 0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是( )A、 1000 B、10000 C、40000 D、600000 2、透射电子显微镜中可以消除的像差是( )A、球差 B、像散 C、色差 D、均不可能消除3、由于电磁透镜中心区域和边缘区域对电子折射能力不同而造成的像差称为( )A、球差 B、像散

19、 C、色差 D、背散4、由于透镜磁场非旋转对称而引起的像差称为( )A、球差 B、像散 C、色差 D、背散5、由于入射电子波长的非单一性造成的像差称为( )A、球差 B、像散 C、色差 D、背散6、制造出世界上第一台投射电子显微镜的是( )A、德布罗意 B、鲁斯卡 C、德拜 D、布拉格7、1924 年, ( )发现电子波的波长比可见光短十万倍 A、德布罗意 B、鲁斯卡 C、德拜 D、布拉格8、 射线不能用来做透射电镜照明光源的是因为( )A、波长较可见光长 B、不是单色光 C、不能聚焦 D、分辨率太低9、孔径角越小则( )A、球差越大 B、像散越大 C、色差越大 D、分辨率越高第十章1、透射电

20、镜中电子枪的作用是( ) A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像2、透射电镜中聚光的作用是( ) A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像3、透射电镜中物镜的作用是( ) A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像4、透射电镜中电中间镜的作用是( ) A、电子源 B、会聚电子束 C、形成第一副高分辨率电子显微图像 D、进一步放大物镜像5、能提高透射电镜成像衬度的光阑是( ) A、第二聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑6、物镜光阑安放在( )A、物

21、镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面7、选区光阑在 TEM 镜筒中的位置是( ) A、物镜的物平面 B、物镜的像平面 C、物镜的背焦面 D、物镜的前焦面8、电子衍射成像时是将( ) A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜 D、关闭物镜9、透射电镜成形貌像时是将( ) A、中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合 B、中间镜的物平面与与物镜的像平面重合C、关闭中间镜 D、关闭物镜10、为了减小物镜的球差,往往在物镜的背焦面上安放一个( ) A、第二聚光镜光阑 B、物镜光阑 C、选区光阑 D、索拉光阑第一章1、同种材料经过

22、不同的处理后其性能不变( )2、XRD 可以进行样品表面微观形貌观察( )3、x-ray 是电磁波,具有粒子性和波动性( )4、在医学透视上的 x-ray 波长很长,故又称为软 x-ray( )5、对于长方形焦点的 x-ray 管,对这长边的表观焦点形状为线状,它的强度很强( )6、连续 x-ray 的强度随着管压的增高而增高( )7、连续 x-ray 谱中,能量最大值在光子能量最大的 0 处( )8、K 线比 K 线的波长长而强度高( )9、每种物质的俄歇电子能量大小只取决于该物质的原子能级结构,是物质的固有特征( )10、质量吸收系数与物质密度和状态无关,只与原子序数和 x-ray 的波长

23、有关( )11、随 X 射线管的电压升高, 0 和 k 都随之减小( )12、经滤波后的 X 射线是相对的单色光( )13、选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度( )14、产生特征 X 射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态( )15、X 射线是单色的( )16、x-ray 的波长很短,能量和动量很大,具有很强的穿透能力( )17、连续 x-ray 谱短波限只与管电压有关( )18、x-ray 管中阳极靶物质的原子序数越大,所需临界激发电压值越高( )19、线吸收系数与物质种类、密度、x-ray 波长有关( )20、x-ray 不反射,几乎不折射( )21、原子系

24、统中各能级的能量差是不均匀的,越靠近原子核的相邻能极差越大( )22、光的干涉条件是散射波之间振动方向相同、频率相同、位相差恒定( )第二章1、空间点阵只有 14 种,而晶体结构可以有无限种( )2、空间点阵与晶体结构是相同的两个概念( )3、立方晶系的100晶面族包含 6 个晶面( )4、同一晶带中所有晶面的法线都与晶带轴垂直( )5、 (100)和(110)同属于001晶带轴( )6、单色 x-ray 的衍射只在满足布拉格定律的若干个特殊角度上产生( )7、X 射线衍射线的强度接近于入射线强度( )8、X 射线的入射线与反射线的夹角永远是 2( )9、X 射线的衍射是大量原子参与的一种散射

25、现象( )10、产生 X 射线衍射现象的必要条件是有一个可以干涉的波和一组周期排列的散射中心( )11、干涉指数只能是互质的整数( )12、衍射方向决定于晶胞的大小与形状( )13、干涉晶面与实际晶面的区别在于:干涉晶面是虚拟的,指数间存在公约数 n( )14、X 射线衍射与光的反射一样,只要满足入射角等于反射角就行( )15、一种布拉菲点阵可以代表许多种晶体结构( )16、晶面间距越大的晶面其指数也越大( )17、粉末法多晶体试样的形状可以是任意的( )18、晶面指数的数值是晶面在三个坐标轴上的截距( )19、凡是属于uvw晶带的晶面,其晶面指数(hkl)必须符合 hu+kv+lw=0( )

26、20、若已知特征 x-ray 的波长和衍射角,则通过布拉格方程可以计算出晶面间距( )21、劳埃法是采用连续 x-ray 作为入射光源的( )22、粉末法采用的 X 射线为单色 x-ray( )第三章1、衍射方向在 X 射线波长一定的情况下取决与晶面间距( )2、物质的原子序数越小,非相干散射越弱( )3、在一个晶面族中,等同晶面越多,参加衍射的概率就越大( )4、X 射线衍射线的峰宽可以反映出许多晶体信息,峰越宽说明晶粒越大( )5、在其他条件一定的情况下,晶粒越小,X 射线衍射强度越弱( )6、原子的热振动可使 X 射线衍射强度增大( )7、温度一定时,衍射角越大,温度因子越小,衍射强度随

27、之减小( )8、布拉格方程只涉及 X 射线衍射方向,不能反映衍射强度( )9、衍射角一定时,温度越高,温度因子越小,衍射强度随之减小( )10、原子的热振动会产生各个方向散射的相干散射( )第四章1、大直径德拜相机可以提高衍射线分辨率,缩短曝光时间( )2、德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确( )3、在衍射仪法中,衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆;另一个是聚焦圆,X 射线管的焦点、计数器接受光阑与试样三者必须位于其上( )4、粉末照相法所用的粉末试样颗粒越细越好( )5、德拜相机的底片安装方式中,正装法多用于点阵常数的确定( )6、根据不消光晶面的 N 值比值可以确定晶体结构( )7、为了提

28、高德拜相机的分辨率,在条件允许的情况下,应尽量采用波长较长的 x-ray 源( )8、在分析大晶胞的试样时,应尽可能选用波长较长的 x-ray 源,以便抵偿由于晶胞过大对分辨率的不良影响( )9、选择小的接受光阑狭缝宽度,可以提高接受分辨率,但会降低接受强度( )10、时间常数等于接受光阑的时间宽度的一半或更低时,能够记录出分辨能力最佳的强度曲线( )11、德拜相机的底片安装方式中,反装法多用于物相分析( )12、衍射角越大,相机的分辨率越高( )第五章1、X 射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分( )2、X 射线衍射之所以可以进行物

29、相定性分析,是因为没有两种物相的衍射花样是完全相同的( )3、各相的衍射线条的强度随着该相在混合物中的相对含量的增加而增强( )4、内标法仅限于粉末试样( )5、哈氏索引和芬克索引均属于数值索引( )6、PDF 索引中晶面间距数值下脚标的 x 表示该线条的衍射强度待定( )7、PDF 卡片的右上角标有 说明数据可靠性高( )8、多相物质的衍射花样相互独立,互不干扰( )9、物相定性分析时的试样制备,必须将择优取向减至最小( )第九章1、有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平( )2、电磁透镜的景深和焦长随分辨率 r0 的数值减小而减

30、小;随孔径半角 的减小而增加( )3、光学显微镜的分辨率取决与照明光源的波长,波长越长,分辨率越高( )4、波长越短,显微镜的分辨率越低,因此可以采用波长较短的 射线作为照明光源( )5、用小孔径角成像时可使球差明显减小( )6、电磁透镜和光学透镜均属于直线汇聚透镜( )7、限制电磁透镜分辨率的最主要因素是色差( )8、电磁透镜的景深越大,对聚焦操作越有利( )第十章1、TEM 的分辨率既受衍射效应影响,也受透镜的像差影响( )2、孔径半角 是影响分辨率的重要因素,TEM 中的 角越小越好( )3、物镜的分辨率主要决定于极靴的形状和加工精度( )4、物镜光阑可以减小像差但不能提高图像的衬度( )5、当电磁偏转器的上、下偏转线圈偏转的角度相等但方向相反时,电子束会进行平行移动( )6、物镜光阑孔越小,被挡去的电子越多,图像的衬度越大( )7、物镜光阑能使物镜孔径角减小,能减小像差,得到质量较高的图像( )8、物镜光阑是没有磁性的( )9、TEM 中栅极的作用是限制和稳定束流( )10、利用电子显微镜进行图像分析时,物镜和样品之间的距离是固定不变的( )

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