1、元器件焊接强度推拉力无铅工艺判定标准试验 推力标准NO 物料名称 检测方式 图片 测试方法仪器 （Kgf）推 1、消除阻碍 0402 元器件边缘的其它元器件；1 CHIP0402 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 0.653、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；计4、 0.65Kgf 判合格。推 1、消除阻碍 0603 元器件边缘的其它元器件；2 CHIP0603 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 1.203、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；计4、1.2Kgf 判合格。推 1、消除阻碍 0805 元器件边缘的其它元
2、器件；3 CHIP0805 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 2.303、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；计4、2.30Kgf 判合格。推 1、消除阻碍 1206 元器件边缘的其它元器件；4 CHIP1206 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 3.003、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；计4、3.00Kgf 判合格。1、用剪钳消除 pin 角边缘的塑胶材质部分；拉 PIN 脚 拉 2、选用推力计，将仪器归零，使用专用拉力测试夹具，垂5 SIM 卡连接 （六个 力 直成 90 度向上拉起， 1.00器 脚） 计
3、3、检查元器件是否拉掉是否脱焊，记录元器件脱焊的数值；4、1.00kgf 判合格。1、消除阻碍 SIM 卡元器件边缘的其它元器件 ；推力（六推 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行SIM 卡连接 个脚）6 器 （左右方 力 推力试验； 5.00计 3、检查元器件是否破裂，记录元器件破裂的数值 ；向）4、 5.00 Kgf 判合格。推 1、消除阻碍 SOT23 元器件边缘的其它元器件；7 SOT23 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 2.003、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；计4、2.00Kgf 判合格。推 1、消除阻碍 SOP5 I
4、C 元器件边缘的其它元器件；8 SOP5 IC 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 2.003、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；计4、2.00Kgf 判合格。推 1、消除阻碍 SOP6 IC 元器件边缘的其它元器件；9 SOP6 IC 推力 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验； 2.00计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；4、2.00Kgf 判合格。1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件；推力（两 推 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；10 晶体 力 2.50个脚） 计 3、检查元器件是否脱焊，记录元
5、器件脱焊的数值 ；4、2.50Kgf 判合格。1、消除阻碍 RF 连接器边缘的其它元器件；推力（六 推 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角进行推力试验；11 RF 连接器 力 3.00个脚）计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；4、3.00Kgf 判合格。第 1 页，共 2 页1、检查元器件是否为良品，将元器件平放于平台上 ；推 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行推力（两12微动开关 力 推力试验； 5.50个脚）计 3、检查元器件是否脱焊，记录元器件脱焊的数值 ；4、5.50 Kgf 判合格。推力 推 1、消除阻碍弹片式电池连接器元器件边缘的其它元器件；
6、13电池连接器 (两个触片/ 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行 8.00推力试验；两个脚) 计 3、检查元器件脱焊的力，8.00 Kgf 判合格。推力 推 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；14电池连接器 (两个触片/ 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行 3.00推力试验；三个脚） 计 3、检查元器件脱焊的力， 3.00Kgf Kgf 判合格。推力 推 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；15电池连接器 (三个触片/ 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行 3.00五个脚) 推力试验；计 3、检查元器件破裂的力，
7、3.00 Kgf 判合格。推力 推 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件；16电池连接器 （3PIN 刀 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行 6.00片式) 推力试验；计 3、检查元器件破裂的力， 6.00 Kgf 判合格。推力(小) 推 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；从插孔处17耳机插座 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行 8.00向后推 推力试验；备注：没 计 3、检查元器件脱焊的力， 8.00 Kgf 判合格。推力(小) 推 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件；从后向插18耳机插座 力 2、选用推力计，将仪器归零，3
8、0 度角（如图所示）进行 8.00孔处推 推力试验；备注：没 计 3、检查元器件脱焊的力， 8.00 Kgf 判合格。推力 1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。USB 插座 按照充电 推 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行19 插拔方向 力 6.00推力试验；推（有定 计 3、检查元器件脱焊的力，6.00 Kgf 判合格位柱）推力 1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。USB 插座 按照充电 推 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行20 插拔方向 力 5.00推力试验；推（无定 计 3、检查元器件脱焊的力，5.00 Kgf 判合格位柱）推力 推 1、将测试主板固定好，避免出现测试时有晃动现象。21T-Flash 卡座 按 T-Flash 力 2、选用推力计，将仪器归零，30 度角（如图所示）进行 5.50卡插拔方 推力试验；向推 计 3、检查元器件脱焊的力，5.5Kgf 屏蔽罩无变形判合格实验的时候，必须力量施加为渐进 （无冲击）， 并持续 10S。第 2 页，共 2 页
