1、 民用核安全设备无损检验人员 考试大纲 民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会 二 一 年十月 1 前 言 本考试大纲由民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会依据 民用核安全设备无损检验人员资格管理规定（HAF602及民用核安全设备无损检验人员考核与资格鉴定管理办法组织编写，包括资格鉴定考核中“笔试” 、 “实践操作考试”和“综合技术能力考试”所涉及的全部内容，共 9 篇 76 章。本考试大纲是组织民用核安全设备无损检验人员培训和资格考试的依据。 本考试大纲参与编写的人员有（按姓氏笔画排序） ：万志坚、王文之、王存杰、王京深、王跃辉、卞雪飞、左畅、冯明全、许贵平、毕炳荣、朱伟青、刘波、任新
2、阁、汤国祥、李苏甲、辛宏斌、花家宏、杨炯、杨建鸿、张克斌、张忠虎、张建军、张继龙、林戈、苟峰、周大禹、唐月明、钱红蕾、聂勇、袁骊、崔广余、梅德松、谢双扣、蔡军等。 本考试大纲的最终解释权在民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会。 民用核安全设备无损检验人员资格鉴定委员会 2010 年 10 月1 目 录 第一篇 无损检验概论 1 第一章 无损检验概论 I 级考试大纲 1 第二章 无损检验概论 II 级考试大纲 2 第三章 无损检验概论 III 级考试大纲 3 第二篇 超声检验技术 4 第一章 超声检验通用技术 I 级考试大纲 4 第二章 超声检验通用技术 II 级考试大纲 7 第三章 超声检
3、验通用技术 III 级考试大纲 11 第四章 超声检验核安全设备专业技术 I 级考试大纲 15 第五章 超声检验核安全设备专业技术 II 级考试大纲 17 第六章 超声检验核安全设备专业技术 III 级考试大纲 19 第七章 超声检验技术 I 级操作考试大纲 21 第八章 超声检验技术 II 级操作考试大纲 22 第九章 超声检验技术 III 级操作考试大纲 23 第十章 超声检验综合技术能力 III 级考试大纲 24 第三篇 射线检验技术 25 第一章 射线检验通用技术 I 级考试大纲 25 第二章 射线检验通用技术 II 级考试大纲 28 第三章 射线检验通用技术 III 级考试大纲 31
4、 第四章 射线检验核安全设备专业技术 I 级考试大纲 34 第五章 射线检验核安全设备专业技术 II 级考试大纲 35 第六章 射线检验核安全设备专业技术 III 级考试大纲 36 第七章 射线检验技术 I 级操作考试大纲 37 第八章 射线检验技术 II 级操作考试大纲 38 第九章 射线检验技术 III 级操作考试大纲 39 第十章 射线检验综合技术能力 III 级考试大纲 40 第四篇 涡流检验技术 41 第一章 涡流检验通用技术 I 级考试大纲 41 第二章 涡流检验通用技术 II 级考试大纲 43 第三章 涡流检验通用技术 III 级考试大纲 46 第四章 涡流检验核安全设备专业技术
5、 I 级考试大纲 48 2 第五章 涡流检验核安全设备专业技术 II 级考试大纲 50 第六章 涡流检验核安全设备专业技术 III 级考试大纲 52 第七章 涡流检验技术 I 级操作考试大纲 54 第八章 涡流检验技术 II 级操作考试大纲 55 第九章 涡流检验技术 III 级操作考试大纲 56 第十章 涡流检验综合技术能力 III 级考试大纲 57 第五篇 磁粉检验技术 58 第一章 磁粉检验通用技术 I 级考试大纲 58 第二章 磁粉检验通用技术 II 级考试大纲 61 第三章 磁粉检验通用技术 III 级考试大纲 64 第四章 磁粉检验核安全设备专业技术 I 级考试大纲 67 第五章
6、磁粉检验核安全设备专业技术 II 级考试大纲 68 第六章 磁粉检验核安全设备专业技术 III 级考试大纲 69 第七章 磁粉检验技术 I 级操作考试大纲 70 第八章 磁粉检验技术 II 级操作考试大纲 71 第九章 磁粉检验技术 III 级操作考试大纲 72 第十章 磁粉检验综合技术能力 III 级考试大纲 73 第六篇 渗透检验技术 74 第一章 渗透检验通用技术 I 级考试大纲 74 第二章 渗透检验通用技术 II 级考试大纲 76 第三章 渗透检验通用技术 III 级考试大纲 79 第四章 渗透检验核安全设备专业技术 I 级考试大纲 81 第五章 渗透检验核安全设备专业技术 II 级
7、考试大纲 82 第六章 渗透检验核安全设备专业技术 III 级考试大纲 83 第七章 渗透检验技术 I 级操作考试大纲 84 第八章 渗透检验技术 II 级操作考试大纲 85 第九章 渗透检验技术 III 级操作考试大纲 86 第十章 渗透检验综合技术能力 III 级考试大纲 87 第七篇 泄漏检验技术 88 第一章 泄漏检验通用技术 I 级考试大纲 88 第二章 泄漏检验通用技术 II 级考试大纲 90 第三章 泄漏检验通用技术 III 级考试大纲 92 第四章 泄漏检验核安全设备专业技术 I 级考试大纲 94 第五章 泄漏检验核安全设备专业技术 II 级考试大纲 96 第六章 泄漏检验核安
8、全设备专业技术 III 级考试大纲 98 3 第七章 泄漏检验技术 I 级操作考试大纲 100 第八章 泄漏检验技术 II 级操作考试大纲 101 第九章 泄漏检验技术 III 级操作考试大纲 102 第十章 泄漏检验综合技术能力 III 级考试大纲 103 第八篇 目视检验技术 104 第一章 目视检验通用技术 I 级考试大纲 104 第二章 目视检验通用技术 II 级考试大纲 106 第三章 目视检验通用技术 III 级考试大纲 108 第四章 目视检验核安全设备专业技术 I 级考试大纲 110 第五章 目视检验核安全设备专业技术 II 级考试大纲 111 第六章 目视检验核安全设备专业技
9、术 III 级考试大纲 113 第七章 目视检验技术 I 级操作考试大纲 114 第八章 目视检验技术 II 级操作考试大纲 115 第九章 目视检验技术 III 级操作考试大纲 116 第十章 目视检验综合技术能力 III 级考试大纲 117 第九篇 核安全及民用核安全设备基本知识118 第一章 核安全及民用核安全设备基本知识 I 级考试大纲 118 第二章 核安全及民用核安全设备基本知识 II 级考试大纲 120 第三章 核安全及民用核安全设备基本知识 III 级考试大纲 1221 第一篇 无损检验概论 第一章 无损检验概论 I 级考试大纲 1. 无损检验基础 1.1 无损检验的定义与意义
10、 1.1.1 无损检验定义（A） 1.1.2 无损检验的重要性（B） 1.1.3 无损检验的产生与发展（C） 1.2 无损检验的特征 1.2.1 现代无损检验的特点（B） 1.2.2 无损检验的应用特点（C） 1.3 无损检验的应用阶段 1.3.1 制造与安装中的原材料与零件检查（A） 1.3.2 设备与装置的在役检查（C） 2. 无损检验方法 2.1 无损检验方法分类 2.1.1 表面检验（B） 2.1.2 体积检验（B） 2.2 常规检验方法 2.2.1 方法原理（C） 2.2.2 方法要点（C） 2.2.3 主要优越性（B） 2.2.4 主要局限性（C） 3. 材料、加工工艺及缺陷 3.
11、1 材料分类 3.1.1 金属（B） 3.1.2 非金属（C） 3.1.3 金属材料的力学性能（C） 3.2 材料加工及缺陷 3.2.1 铸造（C） 3.2.2 锻造（C） 3.2.3 轧制（C） 3.2.4 焊接（A） 3.3 热处理概念 （C） 3.4 使用过程中产生的缺陷 3.4.1 腐蚀（B） 3.4.2 疲劳（B） 3.4.3 磨蚀（C） 2 第二章 无损检验概论 II 级考试大纲 1. 无损检验基础 1.1 无损检验的定义与意义 1.1.1 无损检验定义与内涵（A） 1.1.2 无损检验的重要性（B） 1.1.3 无损检验需求与方法开发（C） 1.2 无损检验的特征 1.2.1 现
12、代无损检验的特征（A） 1.2.2 无损检验的特点与应用（B） 1.3 无损检验的应用阶段 1.3.1 在产品设计阶段的应用（C） 1.3.2 制造与安装中的检查（A） 1.3.3 设备与装置的在役检查（B） 2. 无损检验方法 2.1 无损检验方法分类 2.1.1 表面检验（B） 2.1.2 体积检验（B） 2.1.3 测量技术（C） 2.2 常规检验方法 2.2.1 方法原理（A） 2.2.2 方法要点（B） 2.2.3 主要优越性（B） 2.2.4 主要局限性（C） 2.3 缺陷检出概率与风险 2.3.1 检验系统产生的测量误差（B） 2.3.2 危险缺陷漏检的风险（A） 2.3.3 多
13、种检验技术应用与缺陷综合评价（B） 3. 材料及加工工艺 3.1 材料与材料性能 3.1.1 黑色金属（B） 3.1.2 非金属（C） 3.1.3 金属材料力学性能 a.铁碳平衡相图（C） b.金属材料的强度、 硬度、 塑性和韧性 （A） 3.2 材料评定 3.2.1 材料性能测量（C） 3.2.2 断裂力学初步知识（C） 3.3 材料加工 3.3.1 铸造（C） 3.3.2 锻造（C） 3.3.3 轧制（C） 3.3.4 焊接 a.焊接方式（B） b.焊缝坡口及焊缝（A） 3.4 热处理（B） 4. 缺陷产生机理与缺陷特征 4.1 原材料中的常见缺陷（A） 4.2 焊缝中的常见缺陷（A） 4
14、.3 热处理等工艺中出现的缺陷（A） 4.4 使用过程中产生的缺陷 4.4.1 腐蚀（A） 4.4.2 疲劳（A） 4.4.3 磨蚀（C） 4.4.4 过载（C） 4.4.5 脆性断裂（B） 3 第三章 无损检验概论 III 级考试大纲 1. 无损检验基础 1.1 无损检验的定义与意义 1.1.1 无损检验定义与内涵（A） 1.1.2 无损检验的重要性与经济性（B） 1.1.3 无损检验的需求与方法开发（A） 1.2 无损检验的特征 1.2.1 现代无损检验的特征（A） 1.2.2 无损检验的特点与应用（A） 1.3 无损检验的应用阶段 1.3.1 在产品设计阶段的应用（B） 1.3.2 制造
15、与安装中的检查（A） 1.3.3 设备与装置的在役检查（B） 2. 无损检验方法 2.1 无损检验方法分类 2.1.1 表面检查（B） 2.1.2 体积检查（B） 2.1.3 测量技术（B） 2.2 常规检验方法 2.2.1 方法原理（A） 2.2.2 方法要点（A） 2.2.3 主要优越性（A） 2.2.4 主要局限性（C） 2.3 缺陷检出概率与风险 2.3.1 检验系统产生的测量误差（B） 2.3.2 危险缺陷漏检的风险（A） 2.3.3 多种检验技术应用与缺陷综合评价（B） 3. 材料及加工工艺 3.1 材料与材料性能 3.1.1 金属 a.黑色金属（A） b.有色金属（B） 3.1.
16、2 非金属（C） 3.1.3 金属材料力学性能 a.铁碳平衡相图（B） b.金属材料的强度、硬度、塑性和韧性（A） 3.2 材料评价 3.2.1 材料性能测量（C） 3.2.2 断裂力学初步知识（B） 3.3 材料加工 3.3.1 铸造（B） 3.3.2 锻造（B） 3.3.3 轧制（B） 3.3.4 焊接 a.焊接方式（A） b.焊缝坡口及焊缝（A） 3.4 热处理 （B） 4. 缺陷产生机理与缺陷特征 4.1 原材料中的常见缺陷（A） 4.2 焊缝中的常见缺陷（A） 4.3 热处理等工艺中出现的缺陷（A） 4.4 使用过程中产生的缺陷 4.4.1 腐蚀（A） 4.4.2 疲劳（A） 4.4
17、.3 磨蚀（B） 4.4.4 过载（C） 4.4.5 脆性断裂（B）4 第二篇 超声检验技术 第一章 超声检验通用技术 I 级考试大纲 1. 无损检验概论（见第一篇第一章） 2. 超声检验的物理基础 2.1 振动与波动 2.1.1 机械波的产生与传播（A） 2.1.2 波长、频率和波速（A） 2.1.3 次声波、声波和超声波（B） 2.2 超声波 2.2.1 波的类型 a.纵波和横波（A） b.表面波（B） c.平面波和球面波（B） 2.2.2 超声波声速 a.固体介质中的声速（A） b.液体介质和气体介质的声速（A） c.影响声速的因素（C） d.声速测量（C） 2.2.3 超声场的特征值
18、a.声压（B） b.声强（C） c.声阻抗（C） d.分贝（A） 2.2.4 波的迭加、干涉和衍射（C） 2.3 超声波的特性 2.3.1 超声波垂直入射在单一平面上的反射与透射（A） 2.3.2 超声波倾斜入射 a.波型转换（A） b.反射与折射（A） c.第一、第二和第三临界角（A） 2.4 超声波的衰减 2.4.1 扩散衰减（A） 2.4.2 散射衰减（B） 2.4.3 吸收衰减（C） 2.5 声场与规则反射体的回波声压 2.5.1 活塞波的声场 a.波源轴线上的声压分布（C） b.波指向性和半扩散角（A） c.未扩散区与扩散区（B） 2.5.2 规则反射体的回波声压 a.平底孔回波声压
19、（B） b.大平底面回波声压（B） c.长横孔回波声压（B） 2.5.3 平底孔与大平底回波声压之间的关系（B） 3. 超声仪器、探头和试块 3.1 超声波仪器 3.1.1 超声波探伤仪概述 a.仪器功能（A） b.仪器的分类（B） 3.1.2 A 型脉冲反射式仪器的一般工作原理 a.仪器方框图及各部分的作用（B） b.仪器调整（A） c.仪器维护（B） 3.1.3 数字式超声探伤仪的特点（B） 3.2 超声波探头 3.2.1 晶片的压电效应（B） 3.2.2 探头的种类和结构 a.直探头（A） b.斜探头（A） c.双晶探头（C） d.聚集探头（B） 3.3 试块 3.3.1 试块的分类 a
20、.标准试块（A） b.对比试块（A） 3.3.2 试块的作用 a.确定检验系统的灵敏度（A） b.测试仪器和探头的性能（B） c.评判缺陷在工件中的位置（B） d.评判缺陷的当量大小（B） 3.3.3 试块的要求和维护 5 a.标准试块与对比试块的要求（C） b.试块使用与维护（C） 3.4 常用耦合剂及其要求 （A） 3.5 仪器和探头的性能及其测试 3.5.1 仪器的性能及其测试 a.垂直线性及测试（B） b.水平线性及测试（B） c.动态范围及测试（C） 3.5.2 探头的性能及测试 a.探头主声束偏离与双峰（C） b.斜探头的入射点（前沿长度） （A） c.斜探头的折射角（A） 3.5
21、.3 仪器和探头的综合性能及其测试 a.灵敏度余量（A） b.盲区与始脉冲宽度（B） c.分辨率（B） d.信噪比（B） 4. 超声检验方法 4.1 概述 4.1.1 按原理分类 a.脉冲反射法（A） b.穿透法（B） 4.1.2 按波型分类 a.纵波法（A） b.横波法（A） c.表面波法（C） 4.1.3 按探头数目分类 a.单探头法（A） b.双探头法（B） c.多探头法（C） 4.1.4 按探头接触方式分类 a.直接接触法（A） b.液浸法（B） 4.1.5 按显示方式分类 a.A 型显示（A） b.B 型显示（B） c.C 型显示（C） 4.2 表面耦合的补偿 （B） 4.3 超声仪
22、的调节 4.3.1 扫描速度的调节 a.纵波扫描速度的调节（A） b.横波扫描速度的调节（A） 4.3.2 灵敏度的调节 a.试块调整法（A） b.工件底波调整法（A） 4.4 缺陷定位和定量 4.4.1 缺陷定位 a.直探头检验（A） b.斜探头检验（B） 4.4.2 缺陷定量 a.当量法（A） b.测长法（A） c.底波高度法（B） 4.5 影响缺陷定位和定量的主要因素 4.5.1 影响缺陷定位的主要因素 a.仪器的影响（C） b.探头的影响（C） c.操作人员的影响（A） d.缺陷形状、取向和性质的影响（B） 4.5.2 影响缺陷定量的主要因素 a.仪器及探头性能的因素（C） b.耦合与
23、衰减的影响（C） c. 缺陷形状、取向和性质的影响（B） d.操作人员的影响（A） 4.6 非缺陷回波的判别 （C） 5.超声检验技术应用及标准 5.1 检验条件准备 5.1.1 文件 a.工艺卡的作用和主要内容（C） b.工艺卡规定的检验过程（A） 5.1.2 检验系统 a.检验系统的构成（C） b.系统校准及检验中的校验（B） 5.1.3 被检件 a.检验区域识别（A） b.扫查区域的表面准备（B） 5.2 超声检验技术应用 5.2.1 焊接接头超声波检验 a.焊接接头中的常见缺陷（B） b.探测条件的确认（B） 6 c.扫描速度的调节（B） d.距离波幅曲线的绘制（A） e.扫查方式（B
24、） f. 缺陷位置和尺寸测定（A） 5.2.2 锻件检验 a.锻件中的常见缺陷（C） b.检验方法（C） c.探测条件的确认（C） d.扫描速度和灵敏度调节（B） e.缺陷位置和尺寸测定（A） 5.2.3 铸件检验 a.铸件中的常见缺陷（C） b.铸件检验的特点（C） 5.2.4 板材检验 a.板材常见缺陷（C） b.检验方法（A） c.扫查方式（A） d.探测范围和灵敏度调整（B） e.缺陷的识别与测定（A） 5.2.5 管材检验的特点（B） 5.3 标准 JB/T 4730 总则和超声检验 5.3.1 一般要求 a.检验范围（A） b.检验人员（C） c.探伤仪器和探头的性能（B） d.检
25、验一般方法（C） e.校准（B） f.缺陷记录（A） 5.3.2 超声检验方法要求 a.板材检验（A） b.焊接接头检验（A） c.厚度测量（C） 7 第二章 超声检验通用技术级考试大纲 1. 无损检验概论（见第一篇第二章） 2. 超声检验的物理基础 2.1 振动与波动 2.1.1 机械振动的一般概念（A） 2.1.2 谐振动（A） 2.1.3 阻尼振动（C） 2.1.4 机械波的产生与传播（A） 2.1.5 波长、频率和波速（A） 2.1.6 次声波、声波和超声波（A） 2.2 超声波 2.2.1 波的类型 a.纵波、横波和表面波（A） b.板波（C） c.平面波、柱面波和球面波（B） d.
26、连续波和脉冲波（B） 2.2.2 超声波声速 a.固体介质中的声速（A） b.液体介质、气体介质的声速（A） c.板波声速（C） d.影响声速的因素（B） e.声速测量（A） 2.2.3 超声场的特征值 a.声压（A） b.声强（A） c.声阻抗（A） d.分贝及其应用 分贝声压表达式和声强表达式（A） 常用分贝值和声压比值的关系（A） 分贝应用（B） 2.2.4 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（B） 2.3 超声波的特性 2.3.1 超声波垂直入射 a.单一平面的反射与透射（A） b.薄层介面的反射与透射（B） c.声压往复透射率（B） 2.3.2 超声波倾斜入射 a.波型转换与反射、折射
27、及第一、第二和第三临界角（A） b.声压反射率（A） c.声压往复透射率（B） d.端角反射（A） 2.4 超声波的聚焦与发散 2.4.1 声压距离公式 a.球面波声压距离公式（C） b.柱面波声压距离公式（C） 2.4.2 平面波在曲界面上的反射与折射 a.平面波在曲界面上的反射（B） b.平面波在曲界面上的折射（B） 2.4.3 球面波在曲界面上的反射与折射 a.球面波在曲界面上的反射（C） b.球面波在曲界面上的折射（C） 2.4.4 球面波在平界面上的反射与折射 a.球面波在单一平界面上的反射（C） b.球面波在单一平界面上的折射（C） 2.5 超声波的衰减 2.5.1 衰减的原因 a
28、.扩散衰减（A） b.散射衰减（A） c.吸收衰减（A） 2.5.2 衰减方程与衰减系数 a.衰减方程（B） b.衰减系数（B） c.衰减系数的测定（B） 2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1 纵波发射声场 a.活塞波声场 声轴上的声压分布（A） 指向性和半扩散角（A） 未扩散区与扩散区（A） 近场区（B） b.矩形波源辐射的纵波声场 声轴上的声压分布（B） 指向性和半扩散角（B） 未扩散区与扩散区（B） 2.6.2 聚焦发射声场 a.液浸聚焦和接触式聚焦（B） 8 b.焦距计算（C） 2.6.3 规则反射体的回波声压 a.平底孔回波声压（A） b.大平底面回波声压（A） c
29、.长横孔回波声压（C） d.短横孔回波声压（C） e.球孔回波声压（C） f.圆柱曲底面回波声压（C） 2.6.4 各类规则反射体回波声压之间的关系 a.平底孔与大平底（A） b.短横孔与大平底（C） c.长横孔与大平底（C） 3. 超声仪器、探头和试块 3.1 超声波仪器 3.1.1 超声波探伤仪概述 a.仪器的功能（A） b.仪器的分类（B） 3.1.2 A 型脉冲反射式仪器的一般工作原理 a.仪器电路的方框图（B） b.仪器主要组成部分（B） c.仪器主要功能键的作用及其调整（A） d.仪器的维护（B） 3.1.3 数字式超声探伤仪 a.数字式超声探伤仪的特点（B） b.数字式超声探伤仪
30、的发展（C） 3.1.4 超声波测厚仪的功能与应用（B） 3.2 超声波探头 3.2.1 晶片 a.压电效应（A） b.压电材料的主要性能参数（B） 3.2.2 探头的种类和结构 a.直探头（A） b.斜探头（A） c.双晶探头（A） d.聚集探头（A） e.其它探头（C） 3.3 试块 3.3.1 试块的分类 a.标准试块（A） b.对比试块（A） 3.3.2 试块的作用 a.确定检验系统的灵敏度（A） b.测试仪器和探头的性能（A） c.评判缺陷在工件中的位置（A） d.评判缺陷的当量大小（A） 3.3.3 试块的要求和维护 a.标准试块与对比试块的要求（A） b.试块的维护（B） 3.3
31、.4 国内外试块的了解（C） 3.4 常用耦合剂及其要求（A） 3.5 仪器和探头的性能及其测试 3.5.1 仪器的性能及其测试 a.垂直线性及其测试（A） b.水平线性及其测试（A） c.动态范围及其测试（A） 3.5.2 探头的性能及其测试 a.探头主声束偏离与双峰（A） b.斜探头的入射点（A） c.斜探头的 K 值和折射角（A） 3.5.3 仪器和探头的综合性能及其测试 a.灵敏度余量（A） b.盲区与始脉冲宽度（B） c.分辨率（A） d.信噪比（A） 4.超声检验方法 4.1 概述 4.1.1 按原理分类 a.脉冲反射法（A） b.穿透法（B） c.共振法（C） 4.1.2 按波型
32、分类 a.纵波法（A） b.横波法（A） c.表面波法（B） d.板波法（C） 4.1.3 按探头数目分类 a.单探头法（A） b.双探头法（A） c.多探头法（C） 4.1.4 按探头接触方式分类 9 a.直接接触法（A） b.液浸法（A） 4.1.5 按显示方式分类 a.A 型显示（A） b.B 型显示（B） c.C 型显示（C） d.D 型显示（C） 4.2 仪器与探头的选择 4.2.1 仪器的选择（B） 4.2.2 探头的选择 a.探头类型（A） b.探头频率（A） c.晶片尺寸（A） d.斜探头折射角（A） 4.3 耦合与补偿 4.3.1 影响声耦合的主要因素（A） 4.3.2 表面
33、耦合损耗的测定和补偿 a.耦合损耗的测定（B） b.补偿方法（A） 4.4 超声仪的调节 4.4.1 扫描速度的调节 a.纵波扫描速度的调节（A） b.横波扫描速度的调节（A） 4.4.2 灵敏度的调节 a.试块调整法（A） b.工件底波调整法（A） 4.5 缺陷定位和定量 4.5.1 缺陷定位 a.直探头检验（A） b.表面波检验（B） c.横波平面检验（A） d.横波曲面检验（B） 4.5.2 缺陷定量 a.当量法（A） b.测长法（A） c.底波高度法（A） 4.6 影响缺陷定位和定量的主要因素 4.6.1 影响缺陷定位的主要因素 a.仪器的影响（A） b.探头的影响（A） c.工件几何
34、形状和尺寸的影响（A） d.操作人员的影响（A） e.缺陷形状、取向和性质的影响（A） 4.6.2 影响缺陷定量的主要因素 a.仪器及探头性能的因素（B） b.耦合与衰减的影响（B） c.工件几何形状和尺寸的影响（B） d. 缺陷形状、取向和性质的影响（A） e.操作人员的影响（A） 4.7 缺陷的性质分析 （B） 4.8 非缺陷回波的判别 （B） 5. 超声检验技术应用及标准 5.1 检验条件准备 5.1.1 文件 a.工艺卡编制要点（A） b.检验规程与标准应用（A） 5.1.2 检验系统 a.检验设备及系统的构成（B） b.系统校准及检验中的校验（A） 5.1.3 被检件 a.确定检验区
35、域（A） b.扫查区域的表面准备（B） 5.2 超声检验技术应用 5.2.1 焊接接头超声波检验 a.焊接接头中的常见缺陷（A） b.检验方法概述（A） c.探测条件的选择（A） d.扫描速度的调节（A） e.距离波幅曲线的绘制（A） f.扫查方式（B） g.缺陷位置和尺寸测定（A） 5.2.2 锻件检验 a.锻件中的常见缺陷（A） b.检验方法概述（B） c.探测条件的选择（B） d.扫描速度和灵敏度调节（A） e.缺陷位置和尺寸测定（A） 5.2.3 铸件检验 a.铸件中的常见缺陷（B） b.铸件检验的特点（B） 10 5.2.4 板材检验 a.板材常见缺陷（B） b.检验方法（A） c.
36、缺陷的判别与测定（B） 5.2.5 管材检验 a.管材中的常见缺陷（B） b.检验方法（A） 5.3 标准 JB/T 4730 总则和超声检验 5.3.1 一般要求 a.检验范围（A） b.检验人员（B） c.探伤仪器和探头的性能（B） d.检验一般方法（B） e.校准（A） f.缺陷记录、评定及报告（A） 5.3.2 超声检验方法要求 a.锻件检验（A） b.焊接接头检验（A） c.厚度测量（A） 11 第三章 超声检验通用技术 III 级考试大纲 1. 无损检验概论（见第一篇第三章） 2.超声检验的物理基础 2.1 振动与波动 2.1.1 振动的一般概念（A） 2.1.2 谐振动（A） 2
37、.1.3 阻尼振动（B） 2.1.4 机械波的产生与传播（A） 2.1.5 波长、频率和波速（A） 2.1.6 次声波、声波和超声波（A） 2.2 超声波 2.2.1 波的类型 a.纵波、横波和表面波（A） b.板波和爬波（B） c.平面波、柱面波和球面波（B） d.连续波和脉冲波（B） 2.2.2 超声波声速 a.固体介质中的声速（A） b.液体介质和气体介质的声速（A） c.影响声速的因素（A） d.声速测量（B） 2.2.3 超声场的特征值 a.声压（A） b.声强（A） c.声阻抗（A） d.分贝及其应用 分贝声压表达式和声强表达式（A） 常用分贝值和声压比值的关系（A） 分贝应用（A
38、） 2.2.4 波的迭加、干涉、衍射和惠更斯原理（A） 2.3 超声波的特性 2.3.1 超声波垂直入射 a.单一平面的反射与透射（A） b.薄层界面的反射与透射（A） c.声压往复透射率（B） 2.3.2 超声波倾斜入射 a.波型转换与反射、折射及第一、第二和第三临界角（A） b.声压反射率（A） c.声压往复透射率（B） d.端角反射（B） 2.4 超声波的聚焦与发散 2.4.1 声压距离公式 a.球面波声压距离公式（A） b.柱面波声压距离公式（C） 2.4.2 平面波在曲界面上的反射与折射 a.平面波在曲界面上的反射（B） b.平面波在曲界面上的折射（B） 2.4.3 球面波在曲界面上
39、的反射与折射 a.球面波在曲界面上的反射（C） b.球面波在曲界面上的折射（C） 2.4.4 球面波在平界面上的反射与折射 a.球面波在单一平界面上的反射（C） b.球面波在双平界面上的反射（C） c.球面波在平界面上的折射（C） 2.5 超声波的衰减 2.5.1 衰减的原因 a.扩散衰减（A） b.散射衰减（A） c.吸收衰减（A） 2.5.2 衰减方程与衰减系数 a.衰减方程（A） b.衰减系数（A） c.衰减系数的测定（A） 2.6 超声波发射声场与规则反射体的回波声压2.6.1 纵波发射声场 a.活塞波源辐射的纵波声场 声轴上的声压分布（A） 指向性和半扩散角（A） 未扩散区与扩散区（
40、A） 近场区（B） b.矩形波源辐射的纵波声场 声轴上的声压分布（B） 指向性和半扩散角（B） 未扩散区与扩散区（B） 2.6.2 聚焦发射声场 a.液浸聚焦和接触式聚焦（A） 12 b.焦距和焦柱计算（A） 2.6.3 规则反射体的回波声压 a.各类规则反射体的回波声压 平底孔回波声压（A） 大平底面回波声压（A） 长横孔回波声压（B） 短横孔回波声压（B） 球孔回波声压（B） 圆柱曲底面回波声压（C） b.各类规则反射体回波声压之间的关系 平底孔与大平底（A） 短横孔与大平底（B） 长横孔与大平底（B） 3. 超声仪器、探头和试块 3.1 超声波仪器 3.1.1 概述 a.仪器的功能（B）
41、 b.仪器的分类（B） 3.1.2 A 型脉冲反射式仪器的一般工作原理 a.仪器电路的方框图（B） b.仪器主要组成部分的作用（B） c.仪器主要功能键的作用及其调整（A） d.仪器的维护（C） 3.1.3 数字式超声探伤仪 a.数字式超声探伤仪的特点（B） b.数字式超声探伤仪的发展（C） 3.2 超声波探头 3.2.1 晶片 a.压电效应（B） b.压电材料的主要性能参数（B） 3.2.2 探头的种类和结构 a.直探头（A） b.斜探头（A） c.双晶探头（A） d.聚集探头（A） e.其它探头（C） 3.3 试块 3.3.1 试块的分类 a.标准试块（A） b.对比试块（A） 3.3.2
42、 试块的作用 a.确定检验系统的灵敏度（A） b.测试仪器和探头的性能（A） c.评判缺陷在工件中的位置（A） d.评判缺陷的当量大小（A） 3.3.3 试块的要求和维护 a.标准试块与对比试块的要求（B） b.试块使用与维护（B） 3.4 常用耦合剂及其要求 （A） 3.5 仪器和探头的性能及其测试 3.5.1 仪器的性能及其测试 a.垂直线性及其测试（A） b.水平线性及其测试（A） c.动态范围及其测试（C） d.衰减器精度及其测试（C） 3.5.2 探头的性能及其测试 a.探头主声束偏离与双峰（B） b.斜探头的入射点（A） c.斜探头的折射角（A） 3.5.3 仪器和探头的综合性能及
43、其测试 a.灵敏度余量（B） b.盲区与始脉冲宽度（B） c.分辨率（B） d.信噪比（B） 4. 超声检验方法 4.1 概述 4.1.1 按原理分类 a.脉冲反射法（A） b.穿透法（A） c.共振法（C） 4.1.2 按波形分类 a.纵波法（A） b.横波法（A） c.表面波法（A） d.板波法（C） 4.1.3 按探头数目分类 a.单探头法（B） b.双探头法（B） c.多探头法（B） 4.1.4 按探头接触方式分类 13 a.直接接触法（B） b.液浸法（B） 4.1.5 按显示方式分类 a.A 型显示（A） b.B 型显示（B） c.C 型显示（B） d.D 型显示（B） e.P 型显示（B） 4.2 仪器与探头的选择 4.2.1 仪器的选择（A） 4.2.2 探头的选择 a.探头形式（A） b.探头频率（A） c.晶片尺寸（A） d.斜探头折射角（A） e.其它探头（B） 4.3 耦合与补偿 4.3.1 影响声耦合的主要因素（A） 4.3.2 表面耦合损耗的测定和补偿 a.耦合损耗的测定（B） b.补偿方法（B） 4.4 超声仪的调节 4.4.1 扫描速度的调节 a.纵波扫描速度的调节（A） b.横波扫描速度的调节（A） 4.4.2 灵敏度的调节 a.试块调整法（A） b.工件底波调整法（A） 4.
