1、X 射线荧光仪器分析误差的来源X 射线光谱分析仪的好坏常常是以 X 射线强度测量的理论统计误差来表示的，BX 系列波长色散 X 射 线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素，在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X 射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面：1采样误差：非均质材料样品的代表性2样品的制备：制样技术的稳定性产生均匀样品的技术3不适当的标样：待测样品是否在标样的组成范围内标样元素测定值的准确度标样与样品的稳定性4仪器误差：计数的统计误差样品的位置灵敏度和漂移重现性5不适当的定量数学模型：不正
2、确的算法元素间的干扰效应未经校正 颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大，在多元素体系中，已经证明一些元素的强度与吸收和增强效应有关，这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一些元素的强度减小。图 1 列举了强度与研磨时间的关系： 粒度的减小，引起铁、硫、钾的强 度减小，而使 钙、硅的 强度增加。 随着粒度减小至某一点，强度趋于稳定。 较低原子序数的元素的强度随粒度的减小有较大的变化。 矿物效应图 2 中样品为用不同矿物配成的水泥生料。标为“I”的样品是用石灰石、页岩和铁矿石配成的。标为“F”的样品含有相同的石灰石和 铁矿石，但硅的来源是用砂岩代替了页岩。两组原料用同一设备处理，用同一研磨机
3、研磨，每一个 样品约有 85%通过 200 目。 图 2 表明这种强度浓度上的变化首先反映了硅的来源不同， “I”的硅来自 页岩， “F” 的硅来自砂岩。然而两 组样 品的进一步研磨指出这仅仅是一个粒度效应问题。图 3 表明在全部样品经研磨机粉研到 325 目（44m）以后，两组样品的实验点均落在同一曲线上。 元素间吸收增强效应任何材料的定量 X 射线荧光分析要求元素的测量强 度与其百分含量成正比，在岩石和矿物（由两种或两种以上矿物的组合）这类复杂的基体中，由于试样内其它元素的影响，元素的强度可能不直接与其含量成正比。一般认为，多元素体系中这种非线性是由元素间效应引起的。元素间效应可以是增强效应或吸收效应，也可以是同时包括这两种效应。仍以 图 2、图 3 实验为例，图 4 表明通过简单的研磨可以改进 CaO 的分析结果。图 5 表明校正钾对钙的干扰后，两组样品的实验点均落在同一曲线上。
