1、第三章 放大器 1. 概述2. 谱仪放大器的放大节3. 谱仪放大器中的滤波成形4. 通用谱仪放大器5. 高能量分辨高计数率谱仪放大器（反堆积放大器）6. 快放大器7. 弱电流放大器,1. 概述一.放大器在测量系统中的作用放大、成形（滤波成形、基线恢复、堆积拒绝技术）图3.1.1图3.1.2,二.谱仪放大器的框图介绍图3.1.3 (滤波成形、基线恢复、堆积拒绝),三.基本参量及测量方法1.增益及其稳定性A/A （ A/A/0.01、 ) 增益测量方法：图3.1.4,定义：用阶跃电压或上升时间足够小，宽度足够宽的矩形脉冲作为输入信号，在一定成形电路常数下，输出幅度/输入幅度。,增益稳定性测量,2.
2、线性积分非线性 10-3、10-4 （其中：Vomax 指实际输出特征与理想特征最大偏差，Vomax指最大输出额定信号幅度）,积分非线性直接影响到能量刻度误差及使峰位发生偏移,2.线性微分非线性,实际测量到的放大器输出特性曲线上某处的斜率，即放大器的实际放大倍数。,3.噪声和信噪比示波器观察 Vno=0.2Vnp/A超高频毫伏计 Vno=1.13Vn/A4.幅度过载特征:截止、饱和过载恢复时间(抗过载性能)：在给定过载程度的条件下，放大器输出波形回到基线并保持在基线附近最大额定输出电压1%的一个小带内。测量装置：图3.1.8,5.计数率过载特性信号堆积造成谱线严重畸变：谱峰展宽，峰位移动，假峰
3、。测量装置：,6.上升时间放大节上升时间tWtM ； tM T0 ； tWtM T tM ）二. 单元电路功能介绍 1. 线形门 （图3.5.2） 2. 模拟展宽电路 （图3.5.3） 3. 逻辑展宽电路 （图3.5.4） Tip:监察周期三. 堆积拒绝电路（判断堆积是否发生和含弃堆积信号） 方框原理图（图3.5.5） 工作原理图（图3.5.6）四. 死时间校正和允许最高计数率 1.Tip内再有信号输入，扣去这些时间 2. 得到最大输出计数率的允许最高计数率为1/ tw 堆积拒绝电路的效果（图3.5.9）,一. 堆积拒绝方法堆积(时间间隔T ):前沿堆积_图3.5.1(a) 后沿堆积_图3.5.1(b),二. 单元电路功能介绍 1. 线形门 （图3.5.2）,2. 模拟展宽电路 （图3.5.3）3. 逻辑展宽电路 （图3.5.4）,Tip:监察周期,三. 堆积拒绝电路（判断堆积是否发生和含弃堆积信号）方框原理图（图3.5.5）,工作原理图（图3.5.6）,四. 死时间校正和允许最高计数率 1.Tip内再有信号输入，扣去这些时间 2.得到最大输出计数率的允许最高计数率为1/tw 堆积拒绝电路的效果（图3.5.9）,
