千分尺校验操作说明

1、千分尺操作培训教材,Simao Yang Education Group Co.Ltd,www.YS-U.com,一.用途目的,用途: 直接量测外形、外径。 量具名称 :电子千分尺，刻线千分尺。 量具规格 : 0 25 MM25 50 MM 50 75 MM 解析度: 0.001 MM 或 0.00005 INCH 工作温湿度: 溫度20 5, 相對濕度45%90%.,二.千分尺的基本结构(一),尺架,测砧,测微螺杆,微分筒,显示屏,隔热装置,置零按钮,电源开关按钮,公英制转换按钮,数据锁定按钮,二.千分尺的基本结构(二),尺架,测砧,测微螺杆,微分筒,显示屏,隔热装置,置零按钮,电源开关按钮,公英制转换按钮,数据锁定按钮,棘轮,固定座,置零按钮,。

2、千分尺的使用 千分尺的读书方法 千分尺操作说明书 千分尺使用说明书 1 各部名称 1 数显千分尺 2 刻度显示千分尺 2 刻度读取方法 1 数显千分尺 测量值 直接读出所显示的数据 2 刻度显示千分尺 测量值 主轴刻度 副轴刻度 根据如下图所示的主轴和副轴放大图 说明如下 1 首先读出副轴边缘在主轴上的刻度 在下图中 由于其边缘在主轴上处于7和7 5之间 所以主轴刻度是7mm 2 读取和主轴刻度基。

3、卡尺和千分尺MSA操作介绍,2015-5-21,基本概念/术语,1测量：是以确定量值为目的的一组操作，是指赋值给具体事物以表示它们之间关于特殊特性的关系。2量具：任何用来获得测量结果的设备，经常用来指用在生产车间的设备，包括用来测量合格/不合格的设备。3测量系统：用来对被测特性赋值的操作、程序、量具、设备、软件以及操作人员的集合；用来获得测量结果的整个过程。,4.重复性( Reproducibility ) ：由一个作业员使用相同量具测量同一产品某一特性之差异。指EV设备变差 5.再现性(Repeatability)：由不同的作业员用同一量具测量同一件产品。

4、基础量具使用,目录,一、卡尺（普通卡尺带表、数显、游标、深度卡尺、齿厚卡尺、内沟槽卡尺）二、千分尺（外径千分尺、内径千分尺，深度千分尺、螺纹千分尺、公法线千分尺、多测头千分尺）,一、卡尺的使用,卡尺的种类 (普通卡尺),带表卡尺,数显卡尺,游标卡尺,常用卡尺分类 普通卡尺（带表、数显、游标卡尺）、深度卡尺、齿厚卡尺、内沟槽卡尺等。,卡尺种类(深度卡尺),卡尺的种类（游标卡尺）,注意此处的长度 如：0-300的游标卡尺为1cm,齿厚游标卡尺,卡尺结构,卡尺结构,卡尺结构,刀口内量爪,尺框,紧固螺钉,数字显示器,尺身,深度测量杆,深度。

5、千分尺操作 培训教材,主讲：杨富琴,一.用途,用途: 直接量测外径、内径、厚度。读数分类:数显千分尺，刻线千分尺。量具规格 : 0 25 MM25 50 MM 50 75 MM等精度: 0.001 MM 或 0.00005 INCH,二、千分尺类型,千分尺类型,三.数显式千分尺025MM的基本结构(一),尺架,测砧,测微螺杆,微分筒,显示屏,隔热装置,置零按钮,电源开关按钮,公英制转换按钮,数据锁定按钮,三.刻度式千分尺025MM的基本结构(二),尺架,测砧,测微螺杆,微分筒,显示屏,隔热装置,置零按钮,电源开关按钮,公英制转换按钮,数据锁定按钮,棘轮,固定座,置零按钮,显示屏,锁紧扭,三.刻度式千。

6、螺旋测微器/外径千分尺操作方法,1.简 介 2.使用方法 3.数据读取 4.零位校准 5.注意事项,目 录,1.0,简 介,一、外径千分尺简介外径千分尺常简称为千分尺，它是比游标卡尺更精密的长度、直径测量仪器，它的规格依25mm间格行程划分的，如我们常用的是：025mm，2550mm，50 75mm，75-100mm，100-125mm等我们现使用的多数为微米外径千分尺主要刻度值001mm分辨刻度为0.001mm 二、外径千分尺结构,1.尺架 2.测砧 3.测微螺杆 4.隔热装置 5.锁紧装置 6.固定套管 7.微分筒 8.测力装置,1.0,简 介,1.尺架 2.测砧 3.测微螺杆 4.隔热装置 5.锁紧装置 6.固定。

7、慈 溪 市 惠 尔 电 器 有 限 公 司千 分 尺/卡 尺 内 部 校 准 操 作 规 程编号：HE/QM0411-2013设备名称 32 块组合量块 设备编号 HE/QM20160520使用单位 品质部/实验室 操作员 廖启炳目的：为确保千分尺、卡尺精密度符合要求，及经常保持正常状态，以验证产品品质，使仪器能事前保养重于事后故障维修。范围：适用于本公司所有千分尺、卡尺维护与校验（含外借）均适用。职责：1、品质部试验操作员廖启炳负责对全公司所有千分尺、卡尺进行内部校准，内校人员廖启炳经过专业的千分尺、卡尺校准操作培训；2、内校人员正确使用量块标准并负责。

8、Page 1 of 1,WIT,测量面的表面粗糙度，要求Ra0.05u，与0.05的粗糙度样块进行比较,Micrometer Calibration Working Instruction,文件标号(Document No.): SHCH1105 文件版本(Document Rev): 00 日期(Date): Aug-12- 2011,Micrometer Calibration Working Instruction,测量面的平面度： 测量时把平晶放在被测表面上且与被测表面形成一个很小的楔角 以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面且平晶与被测表面间的间隙很小则由平晶测量面P 反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P 发生。