1、HALT + ?7 HALT 是一种通过让被测物承受不同的应力，进而发现其设计上的缺限，以及潜在弱点的实验方法。HALT 的主要目的是通过增加被测物的极限值，进而增加其坚固性及可靠性。HALT 利用阶梯应力的方式加诸于产品，能够在早期发现产品缺陷、操作设计边际及结构强度极限的方法。其加诸于产品的应力有振动、高低温、温度循环、电力开关循环、电压边际及频率边际测试等。利用该测试可迅速找出产品设计及制造的缺陷、改善设计缺陷、增加产品可靠性并缩短其上市周期，同时还可建立设计能力、产品可靠性的基础数据及日后研发的重要依据。 ( M1 p+ l% z: L; E( _简单地说，HALT 是以连续的测试、分
2、析、验证及改正构成了整个程序，关键在于分析所有故障的根本原因。 0 F. U% i/ C) v$ M$ W2 _HALT 的主要测试功能如下： “ W! 0 , P2 G$ $ * 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来，并加以改善； 3 Q: y+ C/ F/ D% J m t# E* 了解产品的设计能力及失效模式； 2 W9 F S7 H) l ( Z M _# * 逐步施加应力直到产品失效或出现故障； 1 X L6 b8 U( u9 |( L* 采取临时措施，修正产品的失效或故障； ! _1 o* d, a, y! L _/ M2 E8 K f* S* 找出产品的基本操作界限和基本破坏界限
3、。 ( b. S ?4 N“ j0 |HASS 应用于产品的生产阶段，以确保所有在 HALT 中找到的改进措施能够得已实施。HASS 还能够确保不会由于生产工艺和元器件的改动而引入新的缺陷。 2 o/ k2 a* T2 q8 DHASS 包含如下内容： 3 b0 V! T! M3 x8 D/ F$ “ R+ G* 进行预筛选，剔除可能发展为明显缺陷的隐性缺陷； 9 Z i8 4 B7 M! K6 H, u5 4 * 进行探测筛选，找出明显缺陷； u2 E. m T; A* 故障分析； 8 6 B( o9 S9 h# y9 t* 改进措施。 6 I3 l* N5 i, N! u! E8 X! H
4、ALT E7 z$ N0 t$ X+ Z% H- i; R1 G此项试验分为低温及高温两个阶段应力。首先执行低温阶段应力，设定起始温度为 20，每阶段降温 10，阶段温度稳定后维持10min，之后在阶段稳定温度下执行至少一次的功能测试，如一切正常则将温度再降 10，并待温度稳定后维持 10min 再执行功能，依此类推直至发生功能故障，以判断是否达到操作界限或破坏界限；在完成低温应力试验后，可依相同程序执行高温应力试验，即将综合环境应力试验机自 20开始，每阶段升温 10，待温度稳定后维持 10min，而后执行功能测试直到发现高温操作界限及高温破坏界限为止。 ; m G) e# q s) q（2
5、）高速温度传导 8 C7 J/ l ! . H. j此项试验将先前在温度阶段应力测试中所得到的低温及高温操控界限作为此处的高低温度界限，并以每分钟 60的快速温度变化率在此区间内进行 6 个循环的高低温度变化。在每个循环的最高温度及最低温度都要停留 10min，并使温度稳定后再执行功能测试。检查待测物是否发生可回复性故障，寻找其可操作界限。在此试验中不需寻找破坏界限。 % Q0 L5 B4 7 z( C% X4 Q% R（3）随机振动 . p* F+ F. P1 _2 f1 G d9 G4 , C3 A# ?此项试验是将 G 值自5g 开始，且每阶段增加 5g，并在每个阶段维持 10min 后
6、在振动持续的条件下执行功能测试，以判断其是否达到可操作界限或破坏界限。8 , Z- M% l 9 I“ k（4）温度及振动合并应力 . o! q- J+ i: o3 , ?5 y Q此项试验将高速温度传导及随机振动测试合并同时进行，使加速老化的效果更加显著。此处使用先前的快速温变循环条件及温变率，并将随机振动自 5g 开始配合每个循环递增 5g，且使每个循环的最高及最低温度持续 10min，待温度稳定后执行功能测试，如此重复进行直至达到可操作界限及破坏界限为止。 3 6 Z, o* 5 j3 F4 T* S Y 对在以上四个试程中被测物所产生的任何异常状态进行记录，分析是否可由更改设计克服这些问题，加以修改后再进行下一步骤的测试。通过提高产品的可操作界限及破坏界限，从而达到提升可靠性的目的。 9 t6 T“ _0 R- m0 J2、HASS 8 s 7 # G（3）Production HASS : ?, ; N h+ J+ $ e 任何一个经过 Proof-of-Screen 考验过的HASS Profile 皆被视为快速有效的质量筛选利器，但仍须配合产品经客户使用后所回馈的异常再做适当的调整。另外，当设计变更时，亦相应修改测试条件。
