1、0 自动控制原理实验一、典型环节的模拟研究一. 实验要求1 了解和掌握各典型环节模拟电路的构成方法、传递函数表达式及输出时域函数表达式。2 观察和分析各典型环节的阶跃响应曲线，了解各项电路参数对典型环节动态特性的影响。二典型环节的方块图及传递函数三实验内容及步骤在实验中欲观测实验结果时，可用普通示波器，也可选用本实验机配套的虚拟示波器。如果选用虚拟示波器，只要运行 LABACT 程序，选择自动控制菜单下的线性系统的时域分析下的典型环节的模拟研究实验项目，再选择开始实验，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始即可使用本实验机配套的虚拟示波器（B3）单元的 CH1 测孔测量波形。具体用法参见用户手册中
2、的示波器部分。1)观察比例环节的阶跃响应曲线典型比例环节模拟电路如图 1 所示。该环节在 A1 单元中分别选取反馈电阻 R1=100K、200K 来改变比例参数。图 1 典型比例环节模拟电路典型比例环节的传递函数：单位阶跃响应：实验步骤： 注：S-ST 不能用 “短路套”短接！（1 ）将信号发生器（B1 ）中的阶跃输出 0/+5V 作为系统的信号输入（U i）（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（U o） 。注：CH1 选 1档。时间量程选4档。（4 ）运行、观察、记录：按下信号发生器（B1）阶跃信号
3、按钮时（ 0+5V 阶跃） ，用示波器观测 A6 输出端（U o）的实际响应曲线 Uo（t） ，且将结果记下。改变比例参数（改变运算模拟单元 A1 的反馈电阻 R1） ，重新观测结果, 其实际阶跃响应曲线见表 1。2)观察惯性环节的阶跃响应曲线典型惯性环节模拟电路如图 2 所示。该环节在 A1 单元中分别选取反馈电容 C =1uf、2uf 来改变时间常数。图 2 典型惯性环节模拟电路典型惯性环节的传递函数：单位阶跃响应：实验步骤： 注：S-ST 不能用 “短路套”短接！（1 ）将信号发生器（B1 ）中的阶跃输出 0/+5V 作为系统的信号输入（U i）（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：（
4、3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（U o） 。注：CH1 选 1档。时间量程选4档。（4 ）运行、观察、记录：按下信号发生器（B1）阶跃信号按钮时（ 0+5V 阶跃） ，用示波器观测 A6 输出端（U o）的实际响应曲线 Uo（t） ，且将结果记下。改变时间常数（改变运算模拟单元 A1 的反馈电容 C） ，重新观测结果，其实际阶跃响应曲线见表 1。3)观察积分环节的阶跃响应曲线典型积分环节模拟电路如图 3 所示。该环节在 A1 单元中分别选取反馈电容 C=1uf、 2uf 来改变时间常数。图 3 典型积分环节模拟电路典型积分环节的传递函
5、数：单位阶跃响应：实验步骤：注：S-ST 用短路套短接！（1 ）为了避免积分饱和，将函数发生器（B5 ）所产生的周期性方波信号（ OUT） ，代替信号发生器（B1）中的阶跃输出 0/+5V 作为系统的信号输入（U i）：a将 S1 拨动开关置于最上档（阶跃信号） 。b信号周期由拨动开关 S2 和“调宽”旋钮调节，信号幅度由“调幅”旋钮调节，以信号幅值小，信号周期较长比较适宜（周期在 0.5S 左右，幅度在 2.5V 左右） 。（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（Uo ） 。注：CH1 选 1档。时
6、间量程选4档。（4 ）运行、观察、记录：用示波器观测 A6 输出端（U o）的实际响应曲线 Uo（t） ，且将结果记下。改变时间常数（改变运算模拟单元 A1 的反馈反馈电容 C） ，重新观测结果，其实际阶跃响应曲线见表1。4)观察比例积分环节的阶跃响应曲线。典型比例积分环节模拟电路如图 4 所示.。该环节在 A5 单元中分别选取反馈电容 C=1uf、 2uf 来改变时间常数。图 4 典型比例积分环节模拟电路典型比例积分环节的传递函数：单位阶跃响应：实验步骤：注：S-ST 用短路套短接！（1 ）为了避免积分饱和，将函数发生器（B5 ）所产生的周期性方波信号（ OUT） ，代替信号发生器（B1）中
7、的阶跃输出 0/+5V 作为系统的信号输入（U i）：a将 S1 拨动开关置于最上档（阶跃信号） 。b信号周期由拨动开关 S2 和“调宽”旋钮调节，信号幅度由“调幅”旋钮调节，以信号幅值小，信号周期较长比较适宜（正输出宽度在 0.5S 左右，幅度在 1V 左右）（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（U o） 。注：CH1 选 1档。时间量程调选2档。（4 ）运行、观察、记录：用示波器观测 A6 输出端（U o）的实际响应曲线 U0（t） ，且将结果记下。改变时间常数（改变运算模拟单元 A5 的反馈反
8、馈电容 C） ，重新观测结果，其实际阶跃响应曲线见表 1。由于虚拟示波器（B3）的频率限制，在作比例积分实验时所观察到的现象不明显时，可适当调整参数。调整方法如下：将 R0=200K 调整为 R0=430K 或者 R0=330K，以此来延长积分时间，将会得到明显的效果图。 （可将运算模拟单元 A5 的输入电阻的短路套（ S4）去掉，将可变元件库（A7 ）中的可变电阻跨接到 A5 单元的 H1 和 IN 测孔上，调整可变电阻继续实验。 ）在作该实验时，如果发现有积分饱和现象产生时，即构成积分环节的模拟电路处于饱和状态，波形不出来，请人工放电。放电操作如下：B5 函数发生器的 SB4“放电按钮”按
9、住 3 秒左右，进行放电。5)观察比例微分环节的阶跃响应曲线典型比例微分环节模拟电路如图 5 所示。该环节在 A2 单元中分别选取反馈电阻 R1=10K、20K 来改变比例参数。图 5 典型比例微分环节模拟电路典型比例微分环节的传递函数：若 则：单位阶跃响应：实验步骤：注：S-ST 用短路套短接 !（1 ）为了避免积分饱和，将函数发生器（B5 ）所产生的周期性方波信号（ OUT） ，代替信号发生器（B1）中的阶跃输出 0/+5V 作为系统的信号输入（Ui）：a将 S1 拨动开关置于最上档（阶跃信号） 。b信号周期由拨动开关 S2 和“调宽”旋钮调节，信号幅度由“调幅”旋钮调节，以信号幅值小，信
10、号周期较长比较适宜（正输出宽度在 70ms 左右，幅度在 400mv 左右） 。（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（Uo ） 。注：CH1 选 1档。时间量程选2档。（4 ）运行、观察、记录：用示波器观测 A6 输出端（ Uo）的实际响应曲线 Uo（t）,且将结果记下。改变比例参数（改变运算模拟单元 A1 的反馈电阻 R1） ，重新观测结果，其实际阶跃响应曲线见表 1.。 注意：该实验由于微分的时间太短，如果用虚拟示波器（B3）观察，必须把波形扩展到最大（4 档） ，但有时仍无法显示微分信号。因此
11、，建议用一般的示波器观察。6)观察 PID（比例积分微分）环节的响应曲线PID（比例积分微分）环节模拟电路如图 6 所示。该环节在 A2 单元中分别选取反馈电阻 R1=10K、20K 来改变比例参数。图 6 PID（比例积分微分）环节模拟电路典型比例积分环节的传递函数：单位阶跃响应：实验步骤：注：S-ST 用短路套短接！（1 ）为了避免积分饱和，将函数发生器（B5 ）所产生的周期性方波信号（ OUT） ，代替信号发生器（B1）中的阶跃输出 0/+5V 作为 PID 环节的信号输入（Ui）：a将 S1 拨动开关置于最上档（阶跃信号） 。b信号周期由拨动开关 S2 和“调宽”旋钮调节，信号幅度由“
12、调幅”旋钮调节，以信号幅值小，信号周期较长比较适宜（正输出宽度在 70ms 左右，幅度在 400mv 左右） 。（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（U o） 。注：CH1 选 1档。时间量程选2档。（4 ）运行、观察、记录：用示波器观测 A6 输出端（U o）的实际响应曲线 Uo（t） ,且将结果记下。改变比例参数（改变运算模拟单元 A2 的反馈电阻 R1） ，重新观测结果。其实际阶跃响应曲线见表1.。注意：该实验由于微分的时间太短，如果用虚拟示波器（B3）观察，必须把波形扩展到最大（/ 4 档）
13、 ，但有时仍无法显示微分信号。因此，建议用一般的示波器观察。（本节中所有实验图形都是由 TEK 数字示波器观察得到的，仅供参考） 。表 1-1 典型环节的跃响应曲线实验二、二阶系统瞬态响应和稳定性一实验要求1. 了解和掌握典型二阶系统模拟电路的构成方法及型二阶闭环系统的传递函数标准式。2. 研究二阶闭环系统的结构参数-无阻尼振荡频率 n、阻尼比 对过渡过程的影响。3. 掌握欠阻尼二阶闭环系统在阶跃信号输入时的动态性能指标 Mp、t p、t s 的计算。4. 观察和分析典型二阶闭环系统在欠阻尼，临界阻尼，过阻尼的瞬态响应曲线，欠阻尼二阶闭环系统在阶跃信号输入时的动态性能指标 Mp、t p、t s
14、 值，并与理论计算值作比对。二实验原理及说明图 7 是典型二阶系统原理方块图。图 7 典型二阶系统原理方块图型二阶系统的开环传递函数：（1）型二阶系统的闭环传递函数标准式：（2）自然频率（无阻尼振荡频率）：阻尼比：（3）有二阶闭环系统模拟电路如图 8 所示。它由积分环节（A2）和惯性环节（A3）构成。图 8 典型二阶闭环系统模拟电路图 8 的二阶系统模拟电路的各环节参数及系统的传递函数：积分环节（A2 单元）的积分时间常数 Ti=R1*C1=1S惯性环节（A3 单元）的惯性时间常数 T=R2*C2=0.1S该闭环系统在 A3 单元中改变输入电阻 R 来调整增益 K，R 分别设定为 10k、40
15、k、100k 。模拟电路的各环节参数代入式（1） ，该电路的开环传递函数为：其中：模拟电路的开环传递函数代入式（2） ，该电路的闭环传递函数为：模拟电路的各环节参数代入式（3） ，该电路的自然频率、阻尼比和增益 K 的关系式为：当 R=100k， K=1 =1.58 1 为过阻尼响应，当 R=40k， K=2.5 =1 为临界阻尼响应，当 R=10k， K=10 =0.5 01过阻尼 100K1临界阻尼40K10K4K01欠阻尼2K表 2-2 改变惯性环节时间常数（积分时间常数 Ti1，惯性环节增益K25 ，R4K ，C 12u）超调量 MP 峰值时间 tp 调节时间 ts 参数项目反馈电容C
16、2 增加（ A3）惯性环节时间常数T自然频率 n（计算值）阻尼比（计算值）测量值测量值测量值（ 减少） 计算值 计算值 计算值1u2u01欠阻尼3u表 2-3 改变积分环节时间常数 (惯性时间常数 T0.1，惯性环节增益K25 ，R4K ，C 21u)超调量 MP 峰值时间 tp 调节时间 ts 参数项目反馈电容C1 减小（ A2）（ 减少）积分环节时间常数Ti自然频率 n（计算值）阻尼比（计算值）测量值计算值测量值计算值测量值计算值2u01欠阻尼 1u图 9 动态性能各测量参数测量参数定义：峰值时间 tp：指响应超过其终值到达第一个峰值所需的时间。调节时间 ts：指响应到达并保持在误差带内所
17、需的最短时间。超调量 MP ：指响应的最大偏离量 h(tp)与终值 h（）比的百分数，即%10)(htMpP实验三、二阶闭环、开环系统的频率特性曲线二阶闭环系统一实验要求1 研究二阶闭环系统的结构参数-自然频率（无阻尼振荡角频率） n、阻尼比 对对数幅频曲线和相频曲线的影响。2 了解和掌握二阶闭环系统中的对数幅频特性 L() 和相频特性 () ，实频特性Re() 和虚频特性 Im()的计算。3 了解和掌握欠阻尼二阶闭环系统中的自然频率 n、阻尼比 、谐振频率 r 和谐振峰值 L( r)的计算。4 观察和分析欠阻尼二阶闭环系统的谐振频率 r、谐振峰值 L( r)，并与理论计算值作比对。二实验原理
18、及说明被测系统的方块图见图 9。图 9 被测系统方块图图 9 所示被测系统的闭环传递函数： （1 ）以角频率 为参数的闭环系统对数幅频特性和相频特性为：（2）以角频率 为参数的闭环系统实频特性和虚频特性为：（3）（4 ）本实验以实验二二阶系统瞬态响应和稳定性中二阶闭环系统模拟电路为例，该系统由积分环节（A2 单元）和惯性环节（ A3 单元）构成，令积分时间常数为 Ti，惯性时间常数为 T，开环增益为 K，可得：二阶闭环系统的频率特性为： （5 ）对数幅频特性表达式为： （6 ）对数相频特性表达式为： （7 ）以式（6）和（7）可绘出该闭环系统的对数幅频特性曲线和相频特性曲线（波德图）实部和虚部
19、表达式为：（8 ）实频特性：（9 ）虚频特性：（10 ）以式（9）和（10 ）可绘出闭环系统的幅相特性曲线（奈奎斯特图） 。自然频率： 阻尼比： （11 ）谐振频率： 谐振峰值：（12）频率特性测试电路如图 10 所示，其中惯性环节（A3 单元）的 R 用元件库 A7 中可变电阻取代。图 10 二阶闭环系统频率特性测试电路图 10 二阶闭环系统模拟电路的各环节参数：积分环节（A2 单元）的积分时间常数 Ti=R1*C1=1S，惯性环节（A3 单元）的惯性时间常数 T=R3*C2=0.1S。 开环增益 K=R3/R设开环增益 K=25（R=4K）各环节参数代入式（11） ，得： n= 15.81
20、= 0.316再代入式（12） ，得：谐振频率： r= 14.14谐振峰值：L( r) = 4.44注 1：根据本实验机的现况，要求构成被测二阶闭环系统的阻尼比 必须满足式（13 ） ，否则模/数转换器（B8 单元）将产生削顶。即 （13 ）注 2：实验机在测试频率特性时，实验开始后，实验机将按序自动产生 0.5Hz16Hz 等多种频率信号，当被测系统的输出 C(t) 60mV 时将停止测试。三实验内容及步骤在实验中欲观测实验结果时，应运行 LABACT 程序，选择自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析实验项目，分别选择二阶系统，再选择开始实验就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始即可使用本实
21、验机配套的虚拟示波器（B3 ）显示波形。本实验将数/模转换器（B2）单元作为信号发生器，产生的超低频正弦信号的频率从低到高变化（0.5Hz16Hz） ，施加于被测系统的输入端 r(t)，然后分别测量被测系统的输出信号的对数幅值和相位，数据经相关运算后在虚拟示波器中显示。实验步骤： 注：S-ST 不能用 “短路套”短接！（1 ）将数/模转换器（B2 ）输出 OUT2 作为被测系统的输入。（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：用示波器观察系统各环节波形，避免系统进入非线性状态。观察闭环对数幅频、相频曲线和幅相曲线该曲线已增添了多个频率点。在界面上方将显示该系统用户点取的频率点的、L 、 、Im
22、、Re 等相关数据，填入表 2-2；实验结果可与式（ 5）（10 ）的理论计算值进行比对。表 2-2谐振频率 r ，谐振峰值 L( r)的测试：实验机在测试频率特性时，实验开始后，实验机先自动产生 0.5Hz16H 等多种频率信号，在示波器的界面上形成闭环对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图） 。然后提示用户用鼠标直接在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点（为了教育上的方便，本实验机选取的频率值 f，以 0.1Hz 为分辨率，例如所选择的信号频率 f 值为 4.19Hz，则被认为 4.1 Hz 送入到被测对象的输入端） ，实验机将会把鼠标点取的频率点的频率信号送入到
23、被测对象的输入端，然后检测该频率的频率特性。检测完成后在界面上方显示该频率点的频率和相关数据，同时在曲线上打十字标记 。如果增添的频率点足够多，则频率特性曲线将成为近似光滑的曲线。鼠标在界面上移动时，在界面的左下角将会同步显示鼠标位置所选取的角频率 值。在闭环对数幅频曲线中用鼠标在曲线峰值处点击一下，待检测完成后，就可以根据十字标记测得该系统的谐振频率 r，谐振峰值 L( r)；实验结果可与式（12 ）的计算值进行比对。注：用户用鼠标只能在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点，无法在幅相曲线的界面上点击所需增加的频率点。二阶开环系统一实验要求1研究表征系统稳定程度的相位裕度 和幅值穿
24、越频率 c 对系统的影响。2了解和掌握二阶开环系统中的对数幅频特性 L() 和相频特性 () ，实频特性Re() 和虚频特性 Im()的计算。3了解和掌握欠阻尼二阶开环系统中的相位裕度 和幅值穿越频率 c 的计算。4观察和分析欠阻尼二阶闭环系统波德图中的相位裕度 和幅值穿越频率 c，并与理论计算值作比对。二实验原理及说明由于型系统含有一个积分环节，它在开环时响应曲线是发散的，因此欲获得其开环频率特性时，还是需构建成闭环系统，测试其闭环频率特性，然后通过公式换算，获得其开环频率特性。二阶开环系统的频率特性为：（14 ）对数幅频特性表达式为：（15 ）对数相频特性表达式为：（16 ）以式（15）和
25、（16 ）可绘出该系统的开环对数幅频特性曲线和相频特性曲线（波德图）实部和虚部表达式为：（17 ）实频特性：（18 ）虚频特性：（19 ）以式（18）和（19 ）可绘出该系统的开环幅相特性曲线（奈奎斯特图） 。计算欠阻尼二阶闭环系统中的幅值穿越频率 c、相位裕度 ：幅值穿越频率：（20 ）相位裕度：（21 ） 值越小，M p%越大，振荡越厉害； 值越大，M p%小，调节时间 ts 越长，因此为使二阶闭环系统不致于振荡太厉害及调节时间太长，一般希望：30 70 （22 ）本实验以二阶闭环系统为例，得： c=14.186 =34.93 （23 ）本实验所构成的二阶系统符合式（22）要求。三实验内容
26、及步骤被测系统模拟电路图的构成如图 4 所示。 （同二阶闭环系统频率特性测试构成）在实验中欲观测实验结果时，应运行 LABACT 程序，选择自动控制菜单下的线性控制系统的频率响应分析-实验项目，选择二阶系统，再选择开始实验就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始即可使用本实验机配套的虚拟示波器（B3）显示波形。用户如选择了二阶系统，则虚拟示波器上先弹出闭环频率特性界面，点击开始，待实验机把闭环频率特性测试结束后，再在示波器界面左上角的红色开环或闭环字上双击，将在示波器界面上弹出开环/闭环选择框，点击确定后，示波器界面左上角的红字，将变为开环然后再在示波器界面下部频率特性选择框点击（任一项） ，在示波
27、器上将转为开环频率特性显示界面。在 开环频率特性界面上，亦可转为闭环频率特性显示界面，方法同上。在频率特性显示界面的左上角，有红色开环或闭环字表示当前界面的显示状态。实验步骤： 注：S-ST 不能用 “短路套”短接！（3 ）运行、观察、记录：用示波器观察系统各环节波形，避免系统进入非线性状态。观察开环对数幅频、相频曲线和幅相曲线在界面上方将显示该系统用户点取的频率点的 、L、I m、R e 等相关数据，填入表 2-3；实验结果可与式（22）（27）的理论计算值进行比对。表 2-3幅值穿越频率 c ，相位裕度 的测试：实验机在测试频率特性时，实验开始后实验机先自动产生 0.5Hz16H 等多种频
28、率信号，在示波器的界面上形成开环对数幅频、相频特性曲线（伯德图）和幅相曲线（奈奎斯特图） 。然后提示用户用鼠标直接在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点， （为了教育上的方便，本实验机选取的频率值 f，以 0.1Hz 为分辨率，例如所选择的信号频率 f 值为4.19Hz，则被认为 4.1Hz 送入到被测对象的输入端） ，实验机将会把鼠标点取的频率点的频率信号送入到被测对象的输入端，然后检测该频率的频率特性。检测完成后在界面上方显示该频率点的频率和相关数据，同时在曲线上打十字标记 。如果增添的频率点足够多，则频率特性曲线将成为近似光滑的曲线。鼠标在界面上移动时，在曲线的左下角将会同步显
29、示鼠标位置所选取的角频率 值。在开环对数幅频曲线中，用鼠标在曲线 L()=0 处点击一下，待检测完成后，就可以根据十字标记测得系统的幅值穿越频率 c ；同时还可在开环对数相频曲线上根据十字标记测得该系统的相位裕度 。实验结果可与式（10）和（11 ）的理论计算值进行比对。注 1：用户用鼠标只能在幅频或相频特性曲线的界面上点击所需增加的频率点，无法在幅相曲线的界面上点击所需增加的频率点。注 2：由于本实验机采用的模数转换器 AD0809 分辨率（8 位）的局限，造成了信号幅度测量误差。这误差对闭环系统特性的测量影响不大；但是在计算和绘制开环对数幅频、相频曲线和幅相曲线时，这误差就影响大了，反映到
30、特性曲线上，感觉不平滑。注 3：频率点如选择在 0.1Hz0.4Hz 时，模数转换器 AD0809 分辨率（8 位）的局限及被测系统的离散性将带来较大的误差，其数据仅供参考。实验四、线性系统的校正（选）一实验要求1 掌握系统校正的方法（串联超前校正） ，根据期望的时域性能指标设计校正装置。2 观察和分析未校正系统和校正后系统的响应曲线。二实验原理及说明图 9 是未校正系统的原理方块图。图 9 未校正系统的原理方块图二阶系统（型）闭环传递函数标准式：（14 ）超调量 ： ；调节时间 ： （15 ）自然频率： ；阻尼比： （16 ）按图 9 设计的模拟电路如图 12 所示，它由积分环节（A2）和惯
31、性环节（A3）构成。图 12 的模拟电路的各环节参数：积分环节（A3 单元）的积分时间常数 Ti=R*C2=0.25S，惯性环节（A5 单元）的惯性时间常数 T1=R2*C1=0.5S， K1=R2/R1=5开环传递函数： （17 ）以上参数代入式（17）和（14）得系统闭环传递函数： （18 ）从式（15）和（16 ）计算可得到图 12 二阶系统的自然频率、阻尼比、超调量和调节时间：自然频率 n =6.32 ； 阻尼比 = 0.158 ； 超调量 MP= 60% ； 调节时间 t s = 4 S；要求设计校正装置，使系统满足下述性能指标： Mp 25%；t s 1SMp 25% 和 ts 1
32、S 代入（式 16） ，可得到： n 10， 0.4超前（微分）校正网络模拟电路如图 10 所示，其标准式为： （19 ）其时间常数 T1、T 2 和开环增益 K 计算式为：（20）为了构建成加入校正网络后的系统，仍然能符合式（14）的二阶系统（ 型）闭环传递函数标准表达式，令式（19）的分子（1+T 1S）与式（17）分母中的（1+0.5S ）相等，则 T1= 0.5。令 K=1，C=5u，R 11=R12=R 代入式（20） ，得：按系统性能指标要求，根据式（16）计算求 T2：按 Mp25% 计算时，得：T 20.2；按 ts1S 计算时，得：T 20.078；取 T20.05根据式（2
33、0）计算可得：R 13= 10K，R=R 11=R12= 180K，R 10=360K，得图 10 校正网络模拟电路。图 10 超前（微分）校正网络模拟电路图 10 校正网络的开环传递函数： （21 ）把超前（微分）校正网络串联入图 9，得图 11。图 11 加入校正网络后系统的方块图图 11 的校正后系统闭环传递函数： （22 ）从（22 ）计算可得到图 11 校正后系统的超调量和调节时间为：超调量 ： ；调节时间 ： ；计算结果满足设计要求。三实验内容及步骤如果选用虚拟示波器，只要运行 LABACT 程序，选择自动控制菜单下的线性系统的校正与状态反馈下的线性系统校正实验项目，再选择开始实验
34、，就会弹出虚拟示波器的界面，点击开始即可使用本实验机的虚拟示波器（B3）单元的 CH1 测孔测量波形。具体用法参见实验指导书第二章虚拟示波器部分。1测量未校正系统的性能指标未校正系统的模拟电路图见图 12。图 12 未校正系统的模拟电路图实验步骤： 注：S-ST 不能用 “短路套”短接！（1 ）用信号发生器（B1 ）的 阶跃信号输出 和幅度控制电位器构造输入信号（Ui）：B1 单元中电位器的左边 K3 开关拨下（GND） ，右边 K4 开关拨下（0/+5V 阶跃） 。阶跃信号输出（B1-2 的 Y 测孔）调整为 2V（调节方法：调节电位器，用万用表测量 Y 测孔） 。（2 ）安置短路套、联线，
35、构造模拟电路：（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A6 单元信号输出端 OUT（C(t)） 。注：CH1 选 X1档。（4 ）运行、观察、记录：按下信号发生器（B1）阶跃信号按钮时（ 0+5V 阶跃） ，用示波器观察 A6 单元信号输出端 C(t)系统阶跃响应，测量并记录超调量 MP，峰值时间 tp 和调节时间 ts。响应曲线波形详见表 3 中。在作该实验时，如果发现有积分饱和现象产生时，即构成积分或惯性环节的模拟电路处于饱和状态，波形不出来，请人工放电。放电操作如下：B5 函数发生器的 SB4“放电按钮”按住 3 秒左右，进行放电。2测量校正系统的性能指标校正后系
36、统模拟电路见图 13。实验步骤：注：S-ST 不能用 “短路套”短接！（1 ）用信号发生器（B1 ）的 阶跃信号输出 和幅度控制电位器构造输入信号（Ui）：B1 单元中电位器的左边 K3 开关拨下（GND） ，右边 K4 开关拨下（0/+5V 阶跃） ，阶跃信号输出（B1-2 的 Y 测孔）调整为 2V（调节方法：调节电位器，用万用表测量 Y 测孔） 。（2 ）安置短路套、联线，构造模拟电路：（3 ）虚拟示波器（B3 ）的联接：示波器输入端 CH1 接到 A3 单元信号输出端 OUT（C(t)）。注：CH1 选 X1档。（4 ）运行、观察、记录：按下信号发生器（B1）阶跃信号按钮时，用示波器观察 A3 单元信号输出端 C(t)系统阶跃响应，测量并记录超调量 MP，峰值时间 tp 和调节时间 ts。响应曲线波形详见表 3 中。在作该实验时，如果发现有积分饱和现象产生时，即构成积分的模拟电路处于饱和状态，波形不出来，请人工放电。放电操作如下：B5 函数发生器的 SB4“放电按钮”按住 3 秒左右，进行放电。图 13 校正后系统模拟电路3具体参数及响应曲线表 3 具体参数及响应曲线
