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原子力显微镜.pptx

上传人:hskm5268 文档编号:8600744 上传时间:2019-07-05 格式:PPTX 页数:17 大小:1.81MB
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1、原子力显微镜简介,原子力显微镜(AFM):通过检测样品表面和探针之间的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质,STM与AFM,优点:,能提供真正的三维表面图 样品准备简单,样品导电与否都能测试 操作环境不受限制,既可以在真空,也可以在大气中进行 可以对所测区域的面粗糙度值进行统计,原子力显微镜的结构与原理,工作模式,扫描运动方向和数据点的采集,原子力显微镜三维精确测量,剪切模式和敲击模式示意图,误差:,针尖- 样品卷积效应,样品因素针尖磨钝或污染,原子力显微镜的新应用,气/液两用型原子力显微镜,喇曼一原子力显微镜(Raman-AFM),基于探针增强喇曼散射效应(TERS), 能够 在原子与

2、分子尺度研究材料的喇曼特性。 它通过产生定域的表面等离子态(LSP)来把原本非常弱的喇曼信号增强。,在针尖顶端实现等离子共振的方法: 1.改变激发光的频率 2.调整针尖的共振频率,测试装置,电化学原子力显微镜(EC-AFM),四电极微探针局域电导率测量,参考文献,Application of Atomic Force Microscopy in the Study of Polysaccharide,Agricultural Sciences in China 2009, 8(12): 1458-1465 Atomic force microscope for accurate dimensi

3、onal metrology,A.D. Mazzeo et al. / Precision Engineering 33 (2009) 135149 EC-AFM investigation of reversible volume changes with electrode potential in polyaniline,P.R. Singh et al. / Journal of Electroanalytical Chemistry 625 (2009) 1626 A comparison of vertical scanning interferometry (VSI) and a

4、tomic force microscopy (AFM) for characterizing membrane surface topography,I. Koyuncu et al. / Journal of Membrane Science 278 (2006) 410417 原子力显微镜原理与应用技术,现代仪器 原子力显微镜与表面形貌观察,广西物理,Vol . 28 No. 2 2007 气/液两用型原子力显微镜及其应用研究,光学仪器,Vol. 30 , No. 5,2008 喇曼一原子力显微镜的研究进展,红外,Vol. 30 , No. 5,2009 基于原子力显微镜的四电极微探针局域电导率测量技术,机械工程学报,Vol . 45 No.4,Apr. 2009,Thanks for your attention!,

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