1、初、中级无损检测技术资格人员-射线检测考题汇编是非判断题（在每题后面括号内打“X”号表示“错误”，画“”表示正确）1.当原子核内的中子数改变时，它就会变成另一种元素。（ ）2.原子核内的质子和中子的质量基本相等（ ）3.原子核内的质子和中子的质量是不同的（ ）4.电子与质子的电荷基本相等，符号相反（ ）5.电子与质子的电荷基本相等，符号相同（ ）6.原子核的自发转换并随之引起本身理化性质改变的现象称为放射性（ ）7.放射性不受外界任何物理、化学作用的影响（ ）8.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号，亦即是该元素原子核中的质子数（ ）9.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号，亦即是
2、该元素原子核外的电子数（ ）10.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号，亦即是该元素原子核中的中子数（ ）11.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号，亦即是该元素原子核中的质子数与中子数之和（ ）12.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号，亦即是该元素原子的质量（ ）13.原子的质量数就是原子核中质子与中子数的总和，通常表示在元素的左上角（ ）14.原子的质量数就是原子核中质子与中子数的总和，通常表示在元素的左下角（ ）15.原子的质量数就是原子的重量（ ）16.同位素就是原子序数相同而质量数不同的元素（ ）17.同位素就是原子序数相同而中子数不同的元素（ ）18.同位素的原
3、子核中有相同的质子数而中子数不同（ ）19.同位素的核外电子数相同（ ）20.同位素的化学性质基本相同（ ）21.半衰期就是某一元素的原子核经衰变至其原有原子核总数一半所需的时间（ ）22.放射性同位素的放射性活度是指其在单位时间内的原子衰变数（ ）23.放射性同位素的放射性比活度是指 1 克放射性元素的放射性活度（ ）24.使所透过的射线强度减半所需的某物质厚度称为该物质对该射线的半值厚度（ ）25.单位重量的放射性同位素在在单位时间内的原子衰变数称为该放射性元素的放射性比活度（ ）26.克镭当量是一种 放射性单位（ ）27.对不同种类的放射性同位素，高活度的同位素总是比低活度的同位素具有更
4、高的辐射水平。（ ）28.放射性同位素的原子核数目减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。（ ）29.在某种材料中，入射射线强度减少到原来一半所需要经过的距离称作该射线对该材料的半值层。（ ）30.放射性同位素的能量减少到原来一半所需要的时间称作半衰期。（ ）31.在某种材料中，放射性同位素的能量减少到原来一半所需要经过的距离称作对该材料的半值层。（ ）32.光子是以光速度传播的微小物质粒子。（ ）33.X 射线和 射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。（ ）34.硬 X 射线比软 射线传播速度快，所以硬 射线具有更高的能量。（ ）35.X 射线与可见光主要的区别仅仅是振动频率不同。（ ）3
5、6.连续 X 射线的能量与管电压有关，与管电流无关。（ ）37.连续 X 射线的能量与管电流有关，与管电压无关。（ ）38.标识 X 射线的能量与管电压，管电流均无关，仅取决于靶材料。（ ）39.X 射线管中电子的速度越小，则所发出的射线能量也就越小。（ ）40.与 60Co 相比， 137Cs 发出的 射线能量较低，半衰期较短。（ ）41.光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。（ ）42.随着入射光子能量的增大，光电吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。（ ）43.当射线能量大于 1.02MeV 至 2MeV 时，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。（ ）44.连续
6、 X 射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。（ ）45.当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的 1/8。（ ）46.连续 X 射线的有效能量是指穿透物质后，未被物质吸收的能量。所以穿透厚度越大，有效能量越小。（ ）47.波长相同的 射线和 射线具有相同的性质。（ ）48.人体对射线最敏感的是白血球。（ ）49.X 射线比 射线更容易吸收，所以 射线对人体有更大的危害性。（ ）50.照射量单位“库仑/千克”适用于任何射线（ ）51.当 X 或 射线源移去以后工件不再受辐射作用，工件本身也就没有辐射。（ ）52.被照体离焦点越近，Ug 值越大（ ）53.对于相同物体,易于透过的 X 射线其线质硬
7、,硬 X 射线比软 X 射线的波长短,衰减系数小,半价层厚( )54.X 射线穿透相同厚度的物体时,衰减系数 愈大,穿透率 I/I0愈小,X 射线的波长愈长 愈大,穿透物质的原子序数愈大 愈大,穿透物质的密度愈高 愈大( )55.对于相同物体,易于透过的 X 射线其线质硬,硬 X 射线比软 X 射线的波长短,衰减系数小,半值层厚（ ）56.管电流一定,提高管电压时,发生的连续 X 射线的线质不变,这时连续 X 射线强度同管电压成正比( )57.管电流一定,提高管电压时,发生的连续 X 射线的线质变软,这时连续 X 射线强度同管电压成正比( )58.管电压一定,管电流加大时,发生的连续 X 射线
8、的线质变软,这时连续 X 射线的强度同管电流的平方大致成正比( )59.管电压一定,管电流加大时,发生的连续 X 射线的线质变硬,这时连续 X 射线的强度同管电流的平方大致成正比( )60.将靶极金属改为原子序数较大的元素,而管电压和管电流都一定时,发生的 X 射线的线质不变,在这里连续 X 射线的强度同原子序数成正比( )61.硬 X 射线比软 X 射线传播的速度慢,但硬 X 射线的能量高（ ）62.硬 X 射线与软 X 射线传播的速度相同,但硬 X 射线的能量比软 X 射线高（ ）63.一种同位素(例如 60Co),它辐射出的射线能量是随时间推移而变的（ ）64.在光电效应中，光子并没有被
9、完全吸收,而在康普顿效应中则是光子完全被吸收（ ）65.年轻人和老年人相比更容易受到射线的危害，所以未满 18 岁者不得参与放射工作（ ）66.被照体离焦点越远，Ug 值越大（ ）67. 射线管的管电压是指阴极和阳极间的电压有效值（ ）68.新的或长期不用的 射线机，使用前要进行“训练”，其目的是提高射线管的真空度。（ ）69. 射线管在使用过程中冷却不良会影响管电压的稳定性（ ）70.在实际应用范围内，射线线质对胶片特性曲线的形状基本上无影响。（ ）71.在常用的 100400kV 射线范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度增大而增大（ ）72.铅箔增感屏比荧光增感屏增感作用大( )73.金属
10、陶瓷 射线管有抗震性强，管电流和焦点稳定性好，体积小的优点，而且真空度优于玻璃 射线管。（ ）74.在实际应用范围内，射线线质对胶片特性曲线的形状有很大影响（ ）75.胶片曝光的部分越多，耗费的显影液也越多（ ）76.X、 射线是电磁波，因为它的波长短，因而不可见（ ）77.X 和 射线虽然产生机理不同，但它们的传播速度相同（ ）78.放射性同位素 射线的能量经过几个半衰期后其能量也不会改变（ ）79.当 X 射线通过三个半值层后，其能量仅剩下最初的八分之一（ ）80.当 X 射线通过三个半值层后，其能量仅剩下最初的四分之一（ ）81.X 射线束的强度仅由打到钨靶上的电子数决定（ ）82.X
11、射线的发生电源是直流电，因而产生的是连续谱（ ）83.射线穿过试件时，其强度的减弱程度与试件的厚度和材质相关（ ）84.钴 60 比铱 192 具有较长的半衰期和较高的能量（ ）85.X 射线管中电子的数量越大，则发出的射线能量就越高（ ）86.放射性同位素的衰减与衰变不是一回事（ ）87.因为发生光电效应后光子即消失了，所以光电效应也叫光电吸收（ ）88.当光子经过康普顿效应后，通常不会产生二次射线（ ）89.当 X 射线通过三个半值层后，其强度仅为初始值的六分之一（ ）90.高速运动的电子同靶原子核的库仑场作用，电子失去的部分能量以光子的形式辐射出来，这种辐射称为韧致辐射，韧致辐射产生标识
12、 X 射线（ ）91.高速运动的电子同靶原子的轨道电子碰撞时，有可能将原子内层的一个电子击到未被电子填满的外层轨道上，其外层的电子向内层跃迁，以光子的形式辐射出多余的能量，这就产生了连续 X 射线（ ）92.用于无损检测的 X 和 射线，它们之间的主要区别在于：X 射线是韧致辐射的产物，而 射线是放射性同位素原子核衰变的产物；但 X 射线和 射线都是连续谱（ ）93.康普顿散射系数虽然与入射光子的能量无关，但入射光子的能量增大时，散射光子的方向越偏离入射光子的初始方向，对底片质量影响就越大（ ）94. 射线源经过两个半衰期后，它的射线能量不变（ ）95.打到靶上的电子数是决定 X 射线强度的唯
13、一因素（ ）96.管电压越高，X 光管中电子的速度就越大，辐射出的射线强度就越大（ ）97.放射性同位素的衰变与射线的衰减不是一回事（ ）98.半衰期是指射线能量衰减一半所需要的时间（ ）99.康普顿作用过程的特征是光子与电子碰撞时发生全部的能量转换（ ）100.将 X 光管的阳极靶材料由钼换成钨，其他条件不变，但产生的连续 X 射线的最短波长会发生改变（ ）101.将 X 光管的阳极靶材料由钼换成钨，其他条件不变，但产生的连续 X 射线的总强度会改变（ ）102.射线会受电磁场的影响（ ）103. 射线带负电， 射线带正电， 射线不带电（ ）104.X 射线的强度由阴极发射的电子数确定（ ）
14、105.X 射线的能量由撞击阳极靶的电子数确定（ ）106.采用较高的管电压透照工件时，也会获得较高的固有不清晰度（ ）107.降低管电压，可以降低胶片的固有不清晰度（ ）108.透照某一工件时，减少曝光量可以提高主因对比度（ ）109.厚度突变的缺陷要比厚度逐渐变化的缺陷在底片上产生的影像清晰度好（ ）110.一台 X 光机出厂时带有的曝光曲线可以一直用到该 X 光机报废为止（ ）111.同一型号的 X 光机可以使用同一曝光曲线（ ）112.由于 X 射线和 射线的产生机理不同，因此波长相同的 X 射线和 射线具有不同的物理性质（ ）113.当 射线通过四个半值层后，其能量为初始值的 1/1
15、6（ ）114.X 射线的能量是由 X 射线管中的管电流值决定的（ ）115.X 射线管的管电流就是灯丝电流（ ）116.中子流产生的生物效应比 射线小（ ）117.X 射线管的标称管电压是管电压的有效值（ ）118.工业射线检测最常用的 射线源是合成辐射源（ ）119.X 射线管中电子的动能在靶上大部分转换成 X 射线能，少部分转换成热能（ ）120.当管电压一定，管电流增大时，产生的连续 X 射线的线质不变、强度增加、波长不变（ ）121.当管电压一定，管电流增大时，产生的连续 X 射线的线质不变、强度降低、波长变长（ ）122.连续 X 射线的强度与 X 射线管灯丝电流的大小成正比（ ）
16、123.当管电流一定，管电压增大时，产生的连续 X 射线的线质变软、穿透能力增加、波长变长（ ）124.连续 X 射线的强度与靶材的原子序数成正比（ ）125.光量子能量是其辐射频率或波长的函数，其数学表达式为：E=h/v=h/c(式中：E-能量（eV）；h-普朗克常数；-波长（cm）；c-光速（3x10 10cm/s）；v-频率（Hz）)（ ）126.使穿透射线的强度衰减为入射线强度一半时的吸收体厚度称为半值层 T1/2，其数学表达式为：T 1/2=0.693/d（式中：d 为材料厚度）（ ）127.单色 X 射线束就是多种波长的 X 射线束（ ）128.单色 X 射线束是异种 X 射线束（
17、 ）129.若材质相同、放射强度相同而放射性比活度不同的两个不同的 射线源，其体积相同（ ）130.钴 60 放射源的剂量率在 1 米距离处、每居里、每小时的伦琴数为 1mR（ ）131.钴 60 放射源的剂量率在 1 米距离处、每居里、每小时的伦琴数为 1R（ ）132. 射线源的能量单位用居里（Ci）表示（ ）133.X 射线管有效焦点的大小直接影响管子的功率比（ ）134.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度，其表示单位为每小时多少伦琴（ ）135.表示辐射源的浓缩程度的物理量称为放射性比活度，其表示单位为每克多少居里（ ）136.某一放射性物质，其原子蜕变数在每秒为 3.7x1
18、010时，则其放射性强度为 1MeV（ ）137.某一放射性物质，其原子蜕变数在每秒为 3.7x1010时，则其放射性强度为 1Ci（ ）138.射线在材料中的衰减与射线源的距离平方成反比（ ）139.射线在材料中的衰减与材料的厚度成正比（ ）140.由于荧光物质具有直接吸收 X 射线而发出可见光的特点，从而达到增感的目的，这称之为光电效应（ ）141.由于荧光物质具有直接吸收 X 射线而发出可见光的特点，从而达到增感的目的，这称之为趋光效应（ ）142.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是随时间按指数变化的与强度成反比的量（ ）143.投射到胶片单位面积上的射线辐照量是射线辐照强度和时间的乘积
19、（ ）144.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为几何模糊度（ ）145.由于射线源的尺寸、射线源到被检件的距离、被检件到胶片距离等原因，在底片上显示缺陷的边缘轮廓可能发生缺乏完整的清晰度，这个由于几何原因引起的不清晰度称为图像投影模糊（ ）146.把钴 59 放入核反应堆中，它捕获了一个电子后变成钴 60（ ）147.把钴 59 放入核反应堆中，它捕获了一个质子后变成钴 60（ ）148.把钴 59 放入核反应堆中，它捕获了一个离子后变成钴 60（ ）149.把钴 59 放入核反
20、应堆中，它捕获了一个中子后变成钴 60（ ）150.为了提高曝光的经济效果，采用快速胶片代替慢速胶片，其后果是降低了图像分辨能力（ ）151.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了射线底片的黑度（ ）152.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了胶片的实际尺寸（ ）153.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了底片上的不清晰度（ ）154.射源尺寸、试件厚度和射源到试件的距离确定后，也就确定了射线底片上的对比度（ ）155.10Ci 的钴 60 源衰减到 2.5Ci，大约需要 10.6 年（ ）156.10Ci 的钴 60 源衰减到 2.5Ci，
21、大约需要 21.2 年（ ）157.计算连续 X 射线谱的最短波长，一般用的计算公式是： 0=V/12.4 式中： 0-最短波长（ ）；V-KV（ ）158.计算连续 X 射线谱的最短波长，一般用的计算公式是： 0=V/1240 式中： 0-最短波长（ ）；V-KV（ ）159.计算连续 X 射线谱的最短波长，一般用的计算公式是： 0=12.4/V 式中： 0-最短波长（ ）；V-KV（ ）160.计算连续 X 射线谱的最短波长，一般用的计算公式是： 0=12400/V 式中： 0-最短波长（ ）；V-KV（ ）161. 射线安全距离的计算公式是：R=(mt/60) 1/2 式中：R-离射源的
22、距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（ ）162. 射线安全距离的计算公式是：R=(60m/t) 1/2 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（ ）163. 射线安全距离的计算公式是：R=(60t/m) 1/2 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（ ）164. 射线安全距离的计算公式是：R=(60/mt) 1/2 式中：R-离射源的距离（米）；t-照射时间（小时）；m-射源强度（毫克镭当量）（ ）165.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=f 1b/d 式中：Ug-几何不清晰度；f 1-
23、物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（ ）166.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=f 1d/b 式中：Ug-几何不清晰度；f 1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（ ）167.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=db/f 1 式中：Ug-几何不清晰度；f 1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（ ）168.几何不清晰度的数学表达式为：Ug=f 1/db 式中：Ug-几何不清晰度；f 1-物体表面到射线源的距离；b-物体表面到胶片的距离；d-焦点大小（ ）169.1Ci=3.7x10-10Bq（ ）170.1 居
24、里=3.7x10 -10贝可（ ）171.微波辐射、红外辐射属于非电离辐射（ ）172.微波辐射、红外辐射属于电离辐射（ ）173.X 射线属于非电离辐射（ ）174.X 射线属于间接电离辐射（ ）175. 射线属于间接电离辐射（ ）176. 射线属于非电离辐射（ ）177.中子射线属于间接电离辐射（ ）178.中子射线属于非电离辐射（ ）179. 射线属于直接电离辐射（ ）180. 射线属于间接电离辐射（ ）181. 射线属于直接电离辐射（ ）182. 射线属于间接电离辐射（ ）183.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N 0e-t ，式中 N 为经过时间 t 后尚未衰变的原子数目，N
25、0为 t=o 时的原子数目， 为衰变常数（ ）184.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N 0et ，式中 N 为经过时间 t 后尚未衰变的原子数目，N 0为 t=o 时的原子数目， 为衰变常数（ ）185.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N 0e-2t ，式中 N 为经过时间 t 后尚未衰变的原子数目，N 0为 t=o 时的原子数目， 为衰变常数（ ）186.描述放射性衰变规律的数学表达式为：N=N 0e2t ，式中 N 为经过时间 t 后尚未衰变的原子数目，N 0为 t=o 时的原子数目， 为衰变常数（ ）187.X、 射线都属于电磁波，因而具有波动性和粒子性（ ）188.任何
26、放射性物质，在距离其 1 厘米处的照射率为 8.4R/h 时，其放射性强度即相当于 1mg 镭当量（ ）189.对于 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 1（ ）190.对于 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 1（ ）191.对于 X 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 1（ ）192.对于 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 10（ ）193.对于快中子射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 10（ ）194.对于 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 10（ ）195.对于 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 10（ ）19
27、6.对于 X 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 10（ ）197.对于 射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 1（ ）198.对于快中子射线，其剂量当量 D 中的线质系数 Q 值为 1（ ）199.放射性物质每秒发生 3.7x1010次原子衰变时的放射性活度就是 1 居里（ ）200.放射性物质每秒发生 3.7x1010次原子衰变时的放射性比活度就是 1 居里（ ）201.1 居里（Ci）相当于 1 克镭每秒的原子衰变数（ ）202.1 贝可（Bq）是指每秒钟有原子衰变一次的放射性活度（ ）203.制造低压 X 射线管窗口的材料一般是铝( )204.制造低压 X 射线管窗口
28、的材料一般是铜( )205.X 射线管阳极罩的作用是吸收一次电子( )206.在相同的管电压和管电流情况下,焦点尺寸越大,其焦点温度越高（ ）207.显影液呈碱性，定影液呈酸性（ ）208.显影液长期暴露在空气中时容易氧化而导致显影液浓度降低（ ）209.与射线照相法相比，荧光屏观察法的优点是检测速度快，可即时判别，但灵敏度较低，难以将缺陷永久记录保存（ ）210.在制作胶片特性曲线时，显影时间延长，会使胶片特性曲线形状变陡，且在坐标上的位置左移（ ）211.胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变好（ ）212.铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用（ ）213.对 射线，增感系数随射
29、线能量的增高而降低，对 射线来说也是这样，例如， 60Co的增感系数比 192Ir 小（ ）214.通常认为黑度是决定射线照相灵敏度的最主要因素（ ）215.射线照相主因对比度与入射线的强度能谱有关，与能谱无关（ ）216.用增大焦距的方法可减小射线照相固有不清晰度（ ）217.利用阴极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阳极侧小（ ）218.像质计灵敏度 1.8%，就意味着尺寸大于透照厚度 1.8%的缺陷均可被检出（ ）219.射线透照方向的选择，应尽可能使射线与缺陷垂直（ ）220.如怀疑背散射线影响清晰度，可在胶片背后放一铅字来验证背散射线的存在（ ）221.对某一曝光曲线的使用，应按照
30、与曝光曲线相同的条件实施，包括使用同一类型的胶片和相同的 射线机（ ）222.增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当降低射线能量（ ）223.射线透过有焊冠的焊缝后到达胶片上的散射比，大于透过厚度与焊缝相同的平板后到达胶片上的散射比（ ）224.如果胶片的 值小,底片上缺陷图像的对比度就低( )225.散射线对穿透射线的比率大时,底片上缺陷图像的对比度较差( )226.像质计灵敏度与缺陷探测灵敏度不是一回事( )227.像质计灵敏度等于缺陷探测灵敏度( )228.用像质指数表示的灵敏度称为像质计的相对灵敏度( )229.底片上缺陷的黑度大小要作为合格与否的依据( )230.选用高的管电压可以提高
31、底片对比度，从而提高射线检验灵敏度（ ）231.选用焦距越大越好（ ）232.较低能量（波长较长）的射线可在射线底片上得到较高的工件对比度（ ）233.使用 曝光曲线时，首先应知道在给定时期射线源的活度（ ）234.如果已知等效系数，用 X 射线曝光曲线来代替 射线曝光曲线，也能够求出曝光参数（ ）235.在底片上观察透度计金属丝时，应先从细丝端开始向粗丝方向观察（ ）236.在焊缝上摆放线条型像质计时，细线端应接近射线透照场边缘方向（ ）237.携带式 X 光机通常采用自整流式的半波整流，因而产生 X 射线的利用率比较高（ ）238. 射线机操作时高压升不上和高压跳闸是一回事（ ）239.X
32、 光管阳极靶材料用钨主要是因为其熔点低（ ）240.焊缝的焊冠越高，缺陷的检出就越容易（ ）241.在允许的能量范围内，为提高底片对比度，应尽可能选用能量较高的射线（ ）242.如果焊缝的焊冠较高或者厚度差较大，为使焊缝及其热影响区的黑度均在规定的范围内，也可适当提高射线能量( )243.壁厚为 16 毫米的压力容器采用钴 60 进行射线检验是适合的（ ）244.胶片的粒度是影响小缺陷可见性的重要因素( )245.荧光增感屏常常用于锅炉压力容器焊缝的射线检验（ ）246.当射源侧无法放置像质计时，也可将像质计放置在胶片侧来进行射线照相，其效果是一样的（ ）247.铅增感屏上的深度划伤在射线底片
33、上呈白色条痕（ ）248.荧光增感屏上的深度划伤在射线底片上呈黑色条痕（ ）249.识别界限对比度的值越小，发现小缺陷的能力越差( )250.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择 X 射线机时，焦点的有效面积应尽可能呈圆形（ ）251.为了获得高衬度和高清晰度的射线图像，在选择 X 射线机时，焦点的有效面积应尽可能呈方形（ ）252.当设计低压 X 射线管时，为了考虑到滤波、效率、散热等因素，X 射线管的窗口一般采用铍制成( )253.采用中子照相法时，其曝光方法是利用铅箔+X 射线胶片曝光（ ）254.一般采用钴 60 照射钢材时，适用的检查厚度范围在 50 毫米以内或其当量厚度（ ）
34、255.钴 60 的半衰期为 5.3 年，如该放射源已存放三年，则透照时的曝光时间应增加约57%（ ）256.铱 192 的半衰期为 75 天，若目前检验工件的最佳曝光时间为 20 分钟，则经过 150 天后，在相同的摄影条件下要达到同样的黑度，曝光时间需要 80 分钟( )257.假定管电压和曝光时间一定，在焦距 500 毫米和管电流 5 毫安的情况下可得到曝光适宜的底片，若把焦距增加到 1000 毫米，则应采用 20 毫安的管电流才能得到相同的曝光量()258.已知铱 192 源的放射性强度为 10 居里，在焦距 400 毫米时可得到正确的曝光量，若其他条件不变，把焦距增加到 800 毫米
35、，则要求更换放射性强度为 40 居里的新源( )259.对于管电压和管电流都不变的某一曝光量，当焦距从 1200 毫米减少到 800 毫米时，其曝光时间将从原来的 10 分钟缩短到 2.2 分钟（ ）260.已知铱 192 源在距离 1 米时的曝光时间为 60 分钟，如果把曝光时间缩短为 15 分钟，则需要将距离缩短到 0.1 米（ ）261.假设正确的曝光量为 20 毫安 4 分钟，如果管电流改为 10 毫安，则曝光时间就应该是8 分钟( )262.假设正确的曝光量为 20 毫安 4 分钟，如果管电流改为 10 毫安，则曝光时间就应该是6 分钟（ ）263.在胶片特性曲线上连接给定两点密度的
36、直线的斜率称为密度差（ ）264.根据胶片特性曲线上的斜率可以判别胶片的衬度( )265.通过尽量延长显影时间，可以起到降低底片衬度的作用（ ）266.利用机械测量法可以测定 X 射线管的焦点（ ）267.荧光增感屏比铅箔增感屏的增感作用大( )268.只要不超出几何不清晰度允许值，应使焦距尽可能长（ ）269.在 X 射线管窗口处加装滤光板可以滤掉波长短的 X 射线束，提供软的辐射线（ ）270.如果提高管电流，而管电压不变，射线束的穿透力有变化（ ）271.铅的密度是 11.4，钢的密度是 7.8，铅的密度约是钢的 1.5 倍，用 220KV 的 X 射线进行照相时，2.5mm 厚的铅吸收
37、相当于 30mm 厚钢的吸收，因此铅的吸收是钢的 16 倍（ ）272.关于底片清晰度，它与物体至胶片的距离成反比，与射线源至物体的距离成正比（ ）273.粒度大的 X 射线胶片其感光速度比粒度小的胶片慢（ ）274.强度一定的两种同位素源，若其放射性比活度值不同，则对放射性比活度值较高的源来说，其能量比放射性比活度值低的源大（ ）275.表达式：（毫安 x 时间）/距离平方，称之为曝光因子（曝光系数）( )276.在 X 射线管和胶片距离一半处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板，这是用来测定焦点的大致尺寸( )277.在试样周围放置铅板的目的是减少试样非曝光区域的散射线影响( )278.
38、X 射线照相时使用的电压值越高，其衬度越低( )279.胶片的增感因子在 40-400KV 之间的变化情况是随着电压的降低，增感因子越来越小（）280.胶片的增感因子在 40-400KV 之间的变化情况是相同的（ ）281.根据黑度 D 的定义，其数学表达式为：D=lg(L 0/L) 式中：L 0-透过底片前的光强度；L-透过底片后的光强度（ ）282.在胶片背面放一个“B”铅字，曝光后冲洗出来的底片上出现该铅字的影像，说明对背散射的防护不足( )283.工件内部如有一面积型缺陷，当该缺陷面与射线投照方向成 60夹角时，在底片上的影像最清晰（ ）284.把经显影后的胶片放入定影液中，胶片从原色
39、变到略有透明的时间称为通透时间( )285.220KV 的 X 射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为 1:1.4，若以 12mm 的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相，则该钢板的厚度应为 16.8mm( )286.220KV 的 X 射线对钢和铜进行射线照相，两者的厚度当量系数为 1:1.4，若以 12mm 的铜板进行射线照相时的曝光条件对钢进行射线照相，则该钢板的厚度应为 34mm（ ）287.定影液使用一段时间后，由于定影液成分被存放容器所沉淀，导致定影效果下降（ ）288.定影液使用一段时间后，由于定影液成分被底片吸收，导致定影效果下降（ ）289.在制作胶片特性曲线
40、时，如果增加显影时间，对胶片特性曲线无多大影响（ ）290.在制作胶片特性曲线时，如果增加显影时间，胶片特性曲线的形状不变，但向左移动（ ）291.采用高 KV 值 X 射线照相法的特点是能获得清晰度较好的底片（ ）292.采用高 KV 值 X 射线照相法的特点是能扩大被检测物的照射范围（ ）293.当采用低 KV 值 X 射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏（ ）294.当采用干板 X 射线照相法时，几乎所有的曝光均需要使用铅箔增感屏（ ）295.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用铅玻璃制成的( )296.一般用于荧光屏观察法的观察窗口是用有机玻璃制成的（ ）297.观察底片时要
41、注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为工件底部未加工的原因造成的( )298.观察底片时，要注意辨别胶片暗盒背面图像重叠在试样的图像上，因为它很可能是因为背散射的原因造成的( )299.由于 X 射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片上发生严重灰雾( )300.由于 X 射线在粗晶材料中可能发生衍射效应，因此散射的特殊表现形式是底片的分辨力差( )301.拍摄具有厚薄差异的试件时，为了同时得到不同厚薄处具有相同黑度的底片，一般可采用补偿泥或垫片摄影法( )302.用 X 射线进行照相时，如果要增加射线强度，应降低管电压( )303.用 X 射线进
42、行照相时，如果要增加射线强度，应降低管电流( )304.用 X 射线进行照相时，如果要增加射线强度，应增加管电流( )305.用 X 射线进行照相时，如果要增加射线强度，应加大焦距( )306.当 X 射线、 射线、可见光线或电子入射到胶片乳剂上时，在胶片乳胶的银层上发生一种变化，称之为潜像( )307.如果放射源的尺寸较大，为了获得质量较高的底片，可以考虑减少曝光时间( )308.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于胶片质量引起的( )309.射线照相时，底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域，这是由于侧面散射线引起的( )310.显影剂的溶液属于碱性溶液( )3
43、11.显影剂的溶液属于酸性溶液( )312.显影剂的溶液属于中性溶液( )313.定影液属于碱性溶液( )314.定影液属于酸性溶液( )315.定影液属于中性溶液( )316.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是暗盒边缘处漏光( )317.装在暗盒内而未经曝光的胶片边缘呈有淡黑色的原因是受到散射线照射( )318.底片上产生树枝状影像的原因是显影液温度过高( )319.底片上产生树枝状影像的原因是胶片的固有缺陷( )320.使用透度计的目的是要测量缺陷的位置和大小( )321.使用透度计的目的是要确定曝光条件( )322.线状透度计和孔型透度计相比较，线状透度计容易看得清( )3
44、23.线状透度计和孔型透度计相比较，两者都一样容易看得清( )324.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是局部涂乳剂( )325.工业射线检测使用的胶片与一般胶片之间最大的差别是不涂乳剂( )326.胶片经曝光后产生的潜影要经过显影后才能够被肉眼观察到( )327.胶片经曝光后产生的潜影在经过显影后也不能够被肉眼观察到( )328.确定胶片密度和胶片速度的方法是通过试验做绝对测量法确定( )329.胶片密度和胶片速度是无法比较与测定的( )330.未经射线曝光的胶片经暗室处理后，发现底片上存在模糊的淡黑色，这称之为胶片的散射灰雾度( )331.钢板厚度 15 毫米，双面焊冠之和为
45、5 毫米的焊接件，在底片上能发现最小直径为 0.4毫米的钢丝透度计，此时所达到的灵敏度即是 2%( )332.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般是放置在胶片盒上面( )333.在进行焊缝射线照相时，线型透度计一般可以任意放置( )334.在 X 射线照相时，在胶片暗盒的背面安置一块铅板，这块铅板应与胶片尽量贴紧，其目的是为了防止胶片受来自背面散射线的影响( )335.在 X 射线照相时，在胶片暗盒的背面安置一块铅板，这块铅板应与胶片尽量贴紧，其目的是为了支撑零件不使胶片弯曲( )336.对显影液添加补充液时，一般在添加的补充液量达到原来显影液量的 10 倍时，该显影液应该报废，而不应无限制地
46、添加补充液( )337.铅箔增感屏的表面划伤在底片上会产生黑色条纹( )338.铅箔增感屏的表面划伤在底片上会产生白色条纹( )339.铅箔增感屏与胶片之间的异物（如头发、纸屑等）在底片上会产生白色痕迹( )340.铅箔增感屏与胶片之间的异物（如头发、纸屑等）在底片上会产生黑色痕迹( )341.胶片置于铅屏间过久会产生灰雾( )342.金属荧光增感屏的构造是表面为透明的薄保护层，然后是荧光物质，再下面是金属箔，再下面是支撑物( )343.金属荧光增感屏的构造是表面为透明的薄保护层，然后是金属箔，再下面是荧光物质，再下面是支撑物( )344.金属荧光增感屏的构造是以荧光物质覆盖在金属箔之上( )
47、345.金属荧光增感屏的构造是以金属箔覆盖在荧光物质之上( )346.荧光增感屏的荧光物质粒度越粗，所发荧光强度越高，增感系数越大，影像质量越差()347.荧光增感屏较脆，不宜用于曲率过大的工件，以防在使用中折裂而在底片上产生假象()348.荧光增感屏的屏面应经常用酒精擦拭以保持屏面清洁( )349.荧光增感屏的屏面应经常用丙酮擦拭以保持屏面清洁( )350.荧光增感屏的屏面的清洁应绸布或脱脂棉等柔软物质沾肥皂水轻轻擦拭以保持屏面光亮( )351.荧光增感屏应避光保存和远离化学试剂，应避免直接受一次射线照射( )352.在 X 射线照相中使用滤波板可以提高底片的清晰度和宽容度，而在 射线照相中
48、使用滤波板则无意义( )353.在 X 射线照相中使用滤波板可以提高底片的清晰度和宽容度，在 射线照相中使用滤波板也有同样的效果( )354.胶片的暗室处理中，若显影不足，将会降低胶片的感光度和衬度( )355.胶片的暗室处理中，若显影过度，将会产生灰雾而降低胶片的衬度( )356.显影时间加长，会增大胶片的粒度( )357.管电压越高，透照出来的底片粒度也越大( )358.胶片速度越快，胶片粒度越大( )359.胶片的粒度大小直接影响影像的清晰度以及对底片的评判解释( )360.胶片的粒度大小与底片评判的信噪比无关( )361.胶片的粒度大小直接影响底片评判的信噪比( )362.胶片显影后进
49、入定影液前先在 3%冰醋酸水溶液中浸泡 30 秒钟的好处是避免胶片上的显影液带入定影液造成定影液过快失效，而且可以消除一些胶片上形成的灰雾( )363.定影时间约为通透时间的 2 倍( )364.定影时间就是通透时间( )365.胶片定影后即可在可见光下进行水洗( )366.整个胶片的处理过程度必须在暗室中进行，直至烘干程序时才能见光( )367.胶片定影后水洗的目的是除去残留在乳剂内被溶解了的银化合物( )368.底片上硫代硫酸钠的残留量大小影响底片的保存时间长短( )369.检测底片上硫代硫酸盐的残留量大小以判定底片保存性能的方法是硝酸银点试法( )370.检测底片上硫代硫酸盐的残留量大小以判定底片保存性能的方法是溴化银点试法( )371.胶片定影后的水洗用水最好用硬质水，而配制显、定影液则最好用软水( )372.胶片定影后的水洗用水最好用软质水，而配制显、定影液则最好用硬水( )373.底片黑度正常而衬度不够的原因可能是射线太硬( )374.底片黑度正常而衬度不够的原因可能是曝光过度而通过缩短显影时间来补偿( )375.底片
