1、1下面是赠送的合同范本，不需要的可以编辑删除！教育机构劳动合同范本 为大家整理提供，希望对大家有一定帮助。一、_ 培训学校聘请_ 籍_ (外文姓名)_ (中文姓名)先生/女士/小姐为_ 语教师，双方本着友好合作精神，自愿签订本合同并保证认真履行合同中约定的各项义务。二、合同期自_ 年_ 月_ 日起_ 年_ 月_ 日止。三、受聘方的工作任务(另附件 1 )四、受聘方的薪金按小时计，全部以人民币支付。五、社会保险和福利：1.聘方向受聘方提供意外保险。(另附 2 )2.每年聘方向受聘期满的教师提供一张_ 至_ 的来回机票( 金额不超过人民币_ 元整)或教师凭机票报销 _ 元人民币。2六、聘方的义务：
2、1.向受聘方介绍中国有关法律、法规和聘方有关工作制度以及有关外国专家的管理规定。2.对受聘方提供必要的工作条件。3.对受聘方的工作进行指导、检查和评估。4.按时支付受聘方的报酬。七、受聘方的义务：1.遵守中国的法律、法规，不干预中国的内部事务。2.遵守聘方的工作制度和有关外国专家的管理规定，接受聘方的工作安排、业务指导、检查和评估。未经聘方同意，不得兼任与聘方无关的其他劳务。3.按期完成工作任务，保证工作质量。4.遵守中国的宗教政策，不从事与专家身份不符的活动。5.遵守中国人民的道德规范和风俗习惯。八、合同的变更、解除和终止：1.双方应信守合同，未经双方一致同意，任何一方不得擅自更改、解除和终
3、止合同。2.经当事人双方协商同意后，可以变更、解除和终止合同。在未达成一致意见前，仍应当严格履行合同。3.聘放在下述条件下，有权以书面形式通知受聘方解除合同：a 、受聘方不履行合同或者履行合同义务不符合约定条件，经聘方指出后，仍不改正的。b 、根据医生诊断，受聘放在病假连续 30 天不能恢复正常工作的。4.受聘方在下述条件下，有权以书面形式通知聘方解除合同：a 、聘方未经合同约定提供受聘方必要的工作条件。b 、聘方未按时支付受聘方报酬。九、本合同自双方签字之日起生效，合同期满后即自行失效。当事人以方要求签订新合同，必须在本合同期满 90 天前向另一方提出，经双方协商同意后签订新合同。受聘方合同
4、期满后，在华逗留期间的一切费用自理。3十、仲裁：当事人双方发生纠纷时，尽可能通过协商或者调解解决。若协商、调解无效，可向国家外国专家局设立的外国文教专案局申请仲裁。本合同于_ 年_ 月_ 日在_ 签订，一式两份，每份都用中文和_ 文写成，双方各执一份，两种文本同时有效。聘方(签章)_受聘方(签章)_签订时间： 年 月 日二手房屋买卖合同范本由应届毕业生合同范本卖方：_( 简称甲方)身份证号码：_买方：_( 简称乙方)身份证号码：_根据中华人民共和国经济合同法 、 中华人民共和国城市房地产管理法及其他有关法律、法规之规定，甲、乙双方在平等、自愿、协商一致的基础上，就乙方向甲方购买房产签订本合同，
5、以资共同信守执行。第一条 乙方同意购买甲方拥有的座落在_市_区_拥有的房产(别墅、写字楼、公寓、住宅、厂房、店面)，建筑面积为_平方米。( 详见土地房屋权证第_号)。第二条 上述房产的交易价格为：单价：人民币_元/平方米，总价：人民币_元整(大写：_佰_拾_万 _仟_佰_拾_元整) 。本合同签定之日，乙方向甲方支付人民币_元整，作为购房定金。第三条 付款时间与办法：41、甲乙双方同意以银行按揭方式付款，并约定在房地产交易中心缴交税费当日支付首付款(含定金)人民币_拾_万_仟_佰_ 拾_元整给甲方，剩余房款人民币_元整申请银行按揭(如银行实际审批数额不足前述申请额度，乙方应在缴交税费当日将差额一
6、并支付给甲方)，并于银行放款当日付给甲方。2、甲乙双方同意以一次性付款方式付款，并约定在房地产交易中心缴交税费当日支付首付款(含定金)人民币_拾_万_仟_佰 _拾_元整给甲方，剩余房款人民币_元整于产权交割完毕当日付给甲方。第四条 甲方应于收到乙方全额房款之日起_天内将交易的房产全部交付给乙方使用，并应在交房当日将_等费用结清。第五条 税费分担甲乙双方应遵守国家房地产政策、法规，并按规定缴纳办理房地产过户手续所需缴纳的税费。经双方协商，交易税费由_方承担，中介费及代办产权过户手续费由_方承担。第六条 违约责任甲、乙双方合同签定后，若乙方中途违约，应书面通知甲方，甲方应在_日内将乙方的已付款不记
7、利息)返还给乙方，但购房定金归甲方所有。若甲方中途违约，应书面通知乙方，并自违约之日起_日内应以乙方所付定金的双倍及已付款返还给乙方。第七条 本合同主体1.甲方是_共_人，委托代理人_即甲方代表人。2.乙方是_，代表人是_。第八条 本合同如需办理公证，经国家公证机关_公证处公证。第九条 本合同一式份。甲方产权人一份，甲方委托代理人一份，乙方一份,厦门市房地产交易中心一份、_公证处各一份。第十条 本合同发生争议的解决方式：在履约过程中发生的争议，双方可通过协商、诉讼方式解决。第十一条 本合同未尽事宜，甲乙双方可另行约定，其补充约定经双方签章与本合同同具法律效力。第十二条 双方约定的其他事项：出卖
8、方(甲方)：_ 购买方 (乙方)：_5身份证号码： _ 身份证号码： _地 址：_ 地 址：_邮 编：_ 邮 编：_电 话：_ 电 话：_代理人(甲方)：_ 代理人 (乙方)： _身份证号码: _ 身份证号码： _鉴证方：鉴证机关：地 址：邮 编：电 话：法人代表：代 表：经 办 人：日 期： 年 月 日鉴证日期：_年_月_日第 6 章脉冲反射法超声检测通用技术超声波检测通用的技术：探测条件、耦合与补偿、仪器的调节、缺陷的定位、定量、定性。基本步骤：a. 检测前的准备 ;6b. 仪器、探头、试块的选择;c. 仪器调节与检测灵敏度确定;d. 耦合补偿;e. 扫查方式;f. 缺陷的测定、记录和等级
9、评定;g. 仪器和探头系统复核。6.1 检测面的选择和准备1. 检测面的选择原则：当一个确定的工件存在多个可能的声入射面时，首先要考虑缺陷的最大可能取向。根据缺陷的可能取向，选择入射超声波的方向，使声束轴线与缺陷的主反射面接近垂直。检测面的选择应该与检测技术的选择相结合。多个检测面入射检测：变形过程使缺陷有多种取向；单面检测存在盲区；单面检测灵敏度不能在整个工件厚度范围内实现时。例如：锻件：缺陷大多平行与表面，通常采用纵波垂直入射检测，检测面可选为与锻件流线相平行的表面；棒材：入射面为圆周面，纵波检测位于棒材中心区的、延伸方向与棒材轴向平行的缺陷，横波检测位于表面附近垂直于表面的裂纹，或沿圆周
10、延伸的缺陷。2. 检测面的准备：保证检测面能提供良好的声耦合。6.2 仪器和探头的选择正确选择仪器和探头对于有效地发现缺陷，并对缺陷定位、定量和定性是至关重要的。实际检测中根据工件结构形状、加工工艺和技术要求选择仪器与探头6.2.1 检测仪器的选择探伤要求仪器性能定位要求高 水平线性误差小定量要求高 垂直线性好，衰减器精度高大型零件检测 灵敏度余量高，信噪比高，功率大 7发现近表面缺陷和区分相邻缺陷能力强 盲区小，分辨率好室外现场检测重量轻，显示屏亮，抗干扰能力强，便携式6.2.2 探头的选择根据被检对象的形状、声学特点和技术要求来选择探头。选择包括：探头的型式、频率、带宽、晶片尺寸和横波斜探
11、头 K 值。1.探头型式：一般根据工件形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择，使声束轴线尽量与缺陷垂直。纵波直探头：波束轴线垂直于探测面。主要用于检测与检测面平行或近似平行的缺陷。横波斜探头：通过波型转换来实现横波检测。主要用于检测与检测面垂直或成一定角度的缺陷。纵波斜探头：利用小角度的纵波进行检测，或在横波衰减过大的情况下，利用纵波穿透能力强的特点进行斜入射纵波检测。双晶探头：探测薄壁工件或近表面缺陷。聚焦探头：用于水浸探测管材或板材。2.探头频率超声波检测频率范围为 0.510MHz，选择频率时应考虑的因素：检测灵敏度：检测灵敏度约为 1/2，频率高可提高检测灵敏度。分辨力：频率高，脉
12、冲宽度小，分辨力高。声束指向性： ，频率高，半扩散角小，声束指向性好，能量集中，检测灵Dsin1.20敏度高，相对的检测区域小。近场区长度： ，频率高，近场区长度增加。4N衰减： s=C2Fd3f4，频率高，衰减增加，信噪比下降。缺陷反射指向性：对于面积状缺陷，频率太高会形成显著的反射指向性，超声波不是近于垂直入射到面状缺陷上，检出率降低。频率的高低对检测有较大影响，实际检测中要全面分析考虑各方面的因素，合理选择8频率以取得最佳平衡。对于小缺陷、厚度不大的工件，晶粒较细的锻件、轧制件和焊接件，一般选择较高频率（2.510MHz） ；对于大厚度工件、高衰减材料选择较低频率（0.52.5MHz）
13、。3. 探头带宽宽带探头：脉冲宽度较小，深度分辨率好，盲区小，灵敏度较低；窄带探头：脉冲较宽，深度分辨率变差，盲区大，灵敏度较高，穿透能力强。4. 探头晶片尺寸晶片面积500mm 2，圆晶片25mm，选择晶片尺寸时应考虑的因素：晶片大小影响：声束指向性、近场区长度、近距离扫查范围、远距离缺陷检出能力。（1） 声束指向性： ，晶片尺寸大，半扩散角小，声束指向性好，超声波Dsin1.20能量集中，对声束轴线附近的缺陷检出有利。 。（2） 近场区长度： ，晶片尺寸大，近场区长度增加，对检测不利。4N2（3） 扫查范围：晶片尺寸大，辐射超声波能量大，探头未扩散区扫查范围大，发现远距离缺陷能力增加。大晶
14、片探头：提高检测效率，检测厚工件时有效发现远距离的缺陷；小晶片探头：检测小工件时提高缺陷定位、定量精度，检测表面不太平整或曲率较大工件时减少耦合损失。5. 横波斜探头 K 值：横波检测中，斜探头 K 值影响缺陷检出率、检测灵敏度、声束轴线方向，一次波的声程。实际检测，工件厚度较小时，应选用较大 K 值，工件厚度较大时，应选用较小 K 值。焊缝检测中，K 值的选择应考虑可能产生的与检测面的角度，并保证主声束能扫查整个焊缝截面。检测根部未焊透应考虑端角反射率问题。6.3 耦合剂的选用6.3.1 耦合剂9超声耦合：超声波在检测面上的声强透射率。耦合剂作用：排除探头与工件表面之间的空气，使超声波有效的
15、传入工件，达到检测的目的。6.3.2 影响声耦合的主要因素1. 耦合层厚度：厚度为 /4 的奇数倍时，透声效果差；为 /2 的整数倍或很薄时，透声效果好。2. 工件表面粗糙度：对声耦合有明显的影响，要求工件检测面 Ra6.3m，见图 6-2。3. 耦合剂声阻抗：对耦合效果有较大的影响，见图 6-2。4. 工件表面形状：平面耦合效果最好，凸曲面次之，凹曲面最差。曲率半径大，耦合效果好。6.4 纵波直探头检测技术6.4.1 检测设备的调整调整内容：a.仪器的扫描速度调整； b.检测灵敏度调整。调整目的：保证在确定的检测范围内发现规定尺寸的缺陷，并确定缺陷的位置和大小。1. 时基线的调整调整目的：a
16、.使时基线显示的范围足以包含需检测的深度范围；b.使时基线刻度与在材料中声传播的距离成一定比例，以便准确测定缺陷的深度位置。调整内容：a.根据所需扫描声程范围确定时基扫描线比例；b.零位调节，将声程零位设置在所选定的水平刻度线上。调整方法：根据检测范围，利用已知尺寸的试块或工件上的两次不同反射波，通过调节仪器的扫描范围和延迟旋钮，使两个信号的前沿分别位于相应的水平刻度处。注意：调节扫描速度用的试块应与被检工件具有相同的声速。2.检测灵敏度的调整10检测灵敏度：在确定的声程范围内发现规定大小缺陷的能力。一般根据产品技术要求或有关标准规定要求。调整目的：发现工件中规定大小的缺陷，并对缺陷定量。调节
17、方法：试块调整法和工件底波调整法。（1）试块调整法：根据工件的厚度和对灵敏度的要求选择相应的试块。将探头对准试块上的人工反射体，调整仪器，使示波屏上人工反射体的最高反射回波达到基准高度。注意问题：工件厚度 x3N 或不能获得底波情况时，较为适宜。试块表面状态和材质衰减是否与被检工件相近，应考虑两者的差异引起的反射波高差异值，并对灵敏度进行补偿。（2） 工件底波调整法：根据工件底面回波与同深度的人工缺陷（如平底孔）回波分贝差 dB 为定值的原理进行的。dB 理论计算公式： （x3N ）2ffBDlg0P2l式中：x 工件厚度，mm；Df 要求探出的最小平底孔尺寸，mm。注意问题：只能用于厚度 x
18、3N 的工件，要求工件具有平行底面或圆柱底面，且底面光洁干净。3.传输修正值的测定在利用试块调节检测灵敏度时，当工件表面状态和材质衰减与对比试块存在差异时采取的一种补偿措施。测定方法：通过试块的底波与工件底波进行比较，取其比值的分贝值。要求：试块与工件均有相互平行的大平底表面。测定方法：（1） 试块和工件厚度相同：使试块的一次底面回波 B1 和工件的一次底面回波 B2 达到同一基准高度时的11衰减器读数为 V1（dB）和 V2（dB） 。dB=V 1-V2(衰减型)dB=V 2-V1(增益型)（2） 试块和工件厚度不同：按上述步骤测得 dB，再测得试块与工件的声程不同引起的底波高度的分贝差 V
19、3： jxlg20式中：x 工件厚度，mm；xj 试块厚度，mm。传输修正值为：dBV 3。4.工件材质衰减系数的测定目的：在检测大厚度工件的情况下，用计算法调整灵敏度和评定缺陷当量时，计算材质衰减引起的信号幅度差。方法：在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位测定第一次底面回波（B 1或 Bn）幅度和第二次底面回波（B 2或 Bm）幅度为同一基准高度时的衰减器读数的 dB 差值，按下列公式计算衰减系数 。（1） 当 x3N 时： ；)n(x2/)mlg0(n （2） 当 x3N 时： 6B216.4.2 扫查扫查：移动探头是声束覆盖到工件上需检测的所有体积的过程。扫查方
20、式：探头移动方式、扫查速度、扫查间距。扫查灵敏度：为了保证缺陷的检出，防止因耦合不稳使缺陷显示幅度过低而漏检，扫查时将调整好的一起灵敏度在再增益 46dB。（1） 扫查方式：按探头移动方向、移动轨迹来描述。考虑：声束覆盖范围和根据受检工 件的形状、缺陷的可能取向和延伸方向，尽量使缺陷能够重复显现，并使动态波形容易判别。全面扫查：对工件全部体积进行扫查，探头在整个检测面上沿一定方向移动，12移动时相邻的间距需保证声束有一定的重叠量。局部扫查：以间隔较大的间距进行扫查，或只扫查工件的某些部位。分区扫查：体积大、形状复杂的工件，将工件分成几个部分（区）分别进行扫查。双晶探头检测时，扫查方式需要考虑扫
21、查方向与隔声层方向平行或垂直进行。（2） 扫查速度：探头在检测面上移动的相对速度。扫查速度的上限与探头的有效声束宽度和重复频率有关。扫查速度 v 为： nDf式中：D 探头的有效直径f 重复频率n 一般取 3 以上的数值（3）扫查间距：相邻扫查线之间的距离。根据探头的最小声束宽度来衡量。探头有效声束宽度的测定方法：6.4.3 缺陷的评定评定内容：缺陷位置 缺陷平面位置和埋藏深度。缺陷尺寸 缺陷回波幅度、当量尺寸、延伸长度（或面积）的测量。1. 缺陷位置的确定（1） 缺陷平面位置的确定（2） 缺陷埋藏深度的确定2. 缺陷尺寸的评定（1）回波高度法：根据回波高度给缺陷定量的方法。1）缺陷回波高度法
22、：在调定的灵敏度下，缺陷回波峰值相对于荧光屏垂直满刻度的百分比，或用回波峰值下降或上升至基准高度所需衰减（或增益）的分贝数来表示缺陷回波的高度。2）底面回波高度法：地面回波高度的降低的多少与缺陷的大小有关。 B/BF法：在一定的检测灵敏度条件下，用无缺陷时的工件底面回波高度 B 与有缺13陷时的工件底面回波高度 BG相比较来确定缺陷相对大小的方法。 F/BF法：用缺陷回波的高度 F 与缺陷处工件底面回波的高度 BG相比较来确定缺陷相对大小的方法。 F/B 法：用缺陷回波的高度 F 与无缺陷处工件底面回波的高度 B 相比较来确定缺陷相对大小的方法。优点：不需要对比试块和复杂的计算，可利用缺陷的阴
23、影对缺陷大小进行评价有助于检测因缺陷形状、反射率等原因使反射信号较弱的大缺陷。缺点：不能明确地给出缺陷的尺寸，位考虑缺陷深度、声束直径等对检测结果的影响。不适用于对形状复杂而无底面回波的工件进行检测。（2） 当量评定法：将缺陷的回波幅度与规则形状的人工反射体的回波幅度进行比较的方法。适用于面积小于声束截面的缺陷的尺寸评定。缺陷的当量尺寸：缺陷与规则形状的人工反射体的埋深相同，反射波高相等，则称该人工反射体的反射面尺寸为缺陷的当量尺寸。注意：通常情况下实际缺陷的实际尺寸要大于当量尺寸。1）试块对比法：将缺陷波幅度直接与对比试块中同声程的人工反射体回波幅度相比较，两者相等时以该人工反射体尺寸作为缺
24、陷当量。注意：采用试块对比法给缺陷定量时，要保持检测条件（试块的材质、表面粗糙度和形状、缺陷和平底孔的埋深、所用的仪器、探头和对探头施加的压力等）相同。如果缺陷和平底孔的埋深不同，则可用两个埋深与之相近的平底孔，用插值法进行评定。优点：明确直观，结果可靠，不受近场区的限制。缺点：要制作一系列含不同声程不同直径人工缺陷的试块。2）当量计算法：根据超声检测中测得的缺陷回波与基准波高（或底波）的分贝差值，利用各种规则反射体的理论回波声压公式进行计算，求出缺陷当量尺寸的定量方法。注意：计算法应用的前提是缺陷位于 3 倍近场长度以外。14平底孔回波声压公式： （x3N）2fS0FP大平底回波声压公式：
25、（x3N）S0B不同直径与距离平底孔，其回波声压间的分贝差值为： 1221xdlg4xd20lgB若考虑材质衰减引起的声压随距离的变化： )x(2xdlg40xd20lg11221 不同距离的平底孔与大平底回波声压间的分贝差值为：若考虑材质衰减引起的声压随距离的变化：测出缺陷回波高度与基准平底孔回波高度之比的分贝差 ，计算缺陷dB的当量尺寸： 40)x(2dBjj1x测出缺陷回波高度与大平底回波高度之比的分贝差 ，计算缺陷的当dB量尺寸： D20)x(dB21xd不考虑材质衰减时，衰减系数 为 0。3）AVG 曲线法：纵波直探头检测时，可用平底孔 AVG 曲线确定缺陷当量。通用 AVG 曲线、
26、实用 AVG 曲线。原理：与当量计算法相同，测出缺陷回波幅度相对于某一基准反射体回波幅度的分贝值，根据测得的分贝值，在曲线上查出缺陷的当量尺寸。基准工件的底面回波或试块上的规则反射体回波。21xlg0B)x(x2dl Bf115（3）缺陷延伸长度的测定：对于面积大于声束截面或长度大于声束截面直径的缺陷，可根据可检测到缺陷的探头移动范围来确定缺陷的大小。缺陷的指示长度：按规定的方法测定的缺陷长度。与缺陷的实际长度有一定的差别。测定原理：根据缺陷的最大回波高度降低的情况和探头移动的距离来确定缺陷的边界范围或长度。1）相对灵敏度测长法：以缺陷的最高回波为相对基准。沿缺陷的长度方向移动探头，降低一定的
27、 dB 值来测定缺陷的长度。a. 6dB 法：扫查过程中缺陷发射波只有一个高点情况；b. 端点 6dB 法：扫查过程中缺陷发射波有多个高点情况。2）绝对灵敏度测长法：在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷的长度方向左右移动，当缺陷波高降低到规定位置时，将探头移动的距离作为缺陷的指示长度。3）端点峰值法：扫查过程中缺陷发射波有多个高点情况，将缺陷两端反射波极大值之间探头移动的距离作为缺陷的指示长度。6.4.4 非缺陷回波的判断1. 迟到波：当纵波直探头置于细长工件或试块上时，扩散纵波波束在侧壁产生波型转换（纵波横波，横波纵波） ，最后经底面反射回探头出现的回波。2. 61反射：当探头置于直角三角形
28、工件上时，若纵波入射角 与横波反射角 的关系为：=90会出现位置特定的反射波。3. 三角反射：纵波直探头径向检测实心圆柱时，扩散声束在圆柱面上形成三角反射路径出现的多个反射回波。4.探头杂波：5.工件轮廓回波：166. 侧壁干涉波（1）侧壁干涉对检测的影响（2）避免侧壁干涉的条件：2Wa 46.5 横波斜探头检测技术6.5.1 检测设备的调节1. 探头入射点和折射角的测定2. 扫描速度的调节：声程调节法、水平调节法、深度调节法。（1）声程调节法：示波屏上的水平刻度值 与横波声程 x 成比例。：x=1：n（2）水平调节法：示波屏上的水平刻度值 与反射体的水平距离 l 成比例。:l=1：n（3）深
29、度调节法：示波屏上的水平刻度值 与反射体的深度 d 成比例。:l=1：n3.距离 波幅曲线的制作和灵敏度调整距离波幅曲线：相同大小的反射体随探头距离的变化其反射波高的变化曲线。绘制：根据时基线调节的三种方法，按相应的方法进行绘制。4. 传输修正值的测定和补偿传输修正值：包括试块和工件两者间材料的材质衰减以及工件表面粗糙度和耦合状态引起的表面声能损失。（1） 单探头测定法：采用和工件相同厚度试块测定。（2） 双探头测定法：斜入射检测用一发一收的双探头测定。1）工件与试块的厚度相同2）工件厚度小于试块厚度3）工件厚度大于试块厚度6.5.2 扫查17四种基本扫查方式：前后、左右、转向和环绕扫查。前后
30、左右扫查用于发现缺陷的存在；左右扫查用于缺陷横向长度的测定；转向扫查和环绕扫查确定缺陷的形状。6.5.3 缺陷的评定缺陷的评定包括：缺陷的水平位置和垂直深度的确定以及缺陷尺寸的评定。缺陷的水平位置和垂直深度：根据缺陷反射回波幅度最大时，在时基线上缺陷回波的前沿位置所读出的声程距离或水平、垂直距离，再按已知的探头折射角计算得到的。缺陷的尺寸：通过测量缺陷发射波高与基准反射体回波波高之比，以及测定缺陷的延伸长度来进行评定的。1. 平面工件的缺陷定位工件中缺陷的位置由探头的折射角和声程来确定或由缺陷的水平和垂直方向的投影来确定。三种横波扫描速度调节方法（声程、水平、深度）相对应的缺陷定位方法。（1）
31、 按声程调节扫描速度时一次检测波： Lf = xf sin = n fsindf = xf cos = n f cos二次检测波： Lf = xf sin = n f sindf = 2T xf cos = 2T n f cos（2） 按水平调节扫描速度时一次检测波： Lf = n f K dfff二次检测波： Lf = n f nT2 dfff （3）按深度调节扫描速度时18一次检测波： Lf = Kn f df = n f 二次检测波： Lf = Kn f df = 2T nf 2.圆柱曲面工件的缺陷定位沿轴向检测，缺陷定位与平面相同；沿周向检测，缺陷定位与平面不同，分外圆和内壁检测两种情
32、况：（1）外圆周向探测：外圆周向探测圆柱面时，缺陷的位置由深度 H 和弧长 L 来确定。当探头从圆柱曲面外壁作周向检测时，弧长 L 总比水平距离 l 值大，但深度 H 总比 d 值小。（2）内壁周向探测：内壁周向探测圆柱面时，缺陷的位置由深度 h 和弧长 l 来确定。当探头从圆柱曲面内壁作周向检测时，弧长 L 总比水平距离 l 值小，但深度 H 总比 d 值大。（3） 最大探测壁厚：当用采用横波斜探头从外圆周向检测筒体工件时且波束轴线与筒体内壁相切时，对应的壁厚为最大探测厚度 Tm，工件壁厚超过该厚度值时，超声波束将扫查不到内壁。不同 K 值探头最大检测壁厚 Tm 与工件外径 D 之比 Tm/
33、D 为：)K1(2)sin1(2DTm23. 缺陷定量：缺陷回波幅度和指示长度。回波幅度测定：依据规则反射体的回波幅度与缺陷尺寸的关系，常用实测距离波幅曲线进行评定。(1) 测长法：相对灵敏度法、绝对灵敏度法和端点峰值法。(2) 缺陷自身高度的测定1) 端部最大高度法2) 6dB 法193) 横波端角反射法4) 横波串列双探头法5) 端点衍射波法4.非缺陷回波的判定（1） 工件轮廓回波（2） 端角反射波（3） 探头杂波（4） 表面波（5） 幻象波（6） 草状回波（7） 焊缝中的变形波（8） “山”形波6.6 影响缺陷定位、定量的主要因素6.6.1 影响缺陷定位的主要因素1. 仪器的影响：发射脉
34、冲频带宽度、接收系统频宽、电噪声、分辨率等。2. 探头的影响（1） 声束偏离（2） 探头双峰（3） 斜楔磨损3. 工件的影响（1） 工件表面粗糙度（2） 工件材质：声速和内应力（3） 工件表面形状（4） 工件边界（5） 工件温度（6） 工件中缺陷情况：缺陷方向影响。4. 操作人员的影响20（1） 仪器时基线比例调节（2） 入射点、K 值测量（3） 定位方法不当6.2.2 影响缺陷定量的主要因素1. 仪器及探头性能的影响（1）频率的影响： B2fB2fBf xDclg0xlg0（2）衰减器精度和垂直线性的影响（3）晶片尺寸的影响（4）探头 K 值的影响2. 耦合与衰减的影响（1）耦合的影响：耦合剂的声阻抗和耦合剂厚度，试块和工件表面耦合状态不同的情况。（2）衰减的影响：材质的衰减量 =2 x3. 工件几何形状和尺寸的影响试件底面形状、底面与探测面的平行度、底面的粗糙度；侧壁干涉。5. 缺陷的影响（1） 缺陷形状的影响（2） 缺陷方位的影响（3） 缺陷波的指向性（4） 缺陷表面粗糙度的影响（5） 缺陷性质的影响（6） 缺陷位置的影响6.7 检测纪录和报告6.7.1 检测纪录目的:为工件无损检测质量评定(编发检测报告）提供书面的依据 ,并提供质量追踪所需21要的原始资料.内容6.7.2 检测报告
