1、TRI 三端电容极性测试1.三端电容极性测试原理是电解电容的负极与外壳间的阻抗远比正极外壳间的阻抗小，因此可以在电容的正负间施加一直流电压 0.2V，并量测电容的外壳电压值，由此电压值可以判断出电容反插或缺件；2.由于必须量测外壳电压，故只有直立式电解电容才能检测；3.图一为直立式电解电容的等效电路；4.图二为电容正常时的检测电路示意图，量到电容外壳电压为 Vo1；5.图三为电容反插时的检测电路示意图，量到电容外壳电压为 Vo2；6.图四为电容缺件时的检测电路示意图，量到电容外壳电压为 Vo3；7.图五为电容外壳电压 Vo1、 Vo2、Vo3 的比较图，由于 R1Vo2，Vo1Vo3，因此可以
2、轻易的判断出电容是否有反插或缺件。 图一：直立式极性电解电容等效电路 图二：电容正常 图三：电容反插（Vo2Vo1） 图四：电容缺件（Vo3Vo1）图五：电容外壳电压比较图 电容极性测试程序说明测试程序： PartName Act_V Std_V Hlim% Llim% Mode Type Hip Lop Dly G-P1 CE1 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 5CE11 0.2 0.001V -1 20 18 PX 11 13 0 15 说明：测试原理为从 HIP 送 source voltage,然后从 GP1 读量测值，由于缺件或反插，其量测值很低（接过 0） ，
3、所以只比较下限，上限 Dont care。 Act_V ：Source voltage,建议值为 0.2VStd_V ：Sense Voltage(Threshold),依寮际 DEBUG 后决定HLIM ：固定为 1（Dont care）Llim ：建议值为 20，可依实际 DEBUG 后决定Mode ：固定为 8 或 18（适用于防爆电容）Type ：固定为 PXHip ：电容负端（source pin）Lop ：电容正端Dly ：依实际 DEBUG 决定GP1：Sense Pin 3. 除错规则：将 Hip/Lop 相同的电容放在一起，例如 CE1、CE2、CE3 的 Hip 及 Lop
4、 都是 1 及 3，所以测试程序如下： PartName Act_V Std_V Hlim% Llim% Mode Type Hip Lop Dly G-P1CE1 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 5CE2 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 7CE3 0.2 0.12V -1 20 8 PX 1 3 0 9 CE4 0.2 0.15V -1 20 8 PX 20 21 0 22CE11 0.2 0.001V -1 20 18 PX 11 13 0 15 CE12 0.2 0.001V -1 20 18 PX 11 13 0 17 DEBUG 时可交换
5、HIP 及 LOP 比较量测值，以决定较佳之 Threshold(Std_V);缺件量测值显示为1，反向MODE 18 量测值为负值，Mode 8 则低于 Threshold*(1-下限%)若交换 Hip 及 Lop 量测值差异不大可调整 Delay time 或 Source voltage(Act_V)若交换 Hip 或 Lop 量测值皆很低，可能是第三端接触问题，可先检查第三端是否接触正常或待测电容有歪斜，可用换针或扶正待测电容方式解决治具制作时第三端选用测试针，需考考虑相同位置用料的高度差异，以免造成接触不良或刺穿待测物的问题三端电容量测是用来检测缺件及反向，无法检测错件可利用量测分析工具（Hot Key F12）,决定较佳 Threshold,Delay time 从轴为量测值，横轴为 Delay tine,红线表示正常时曲线，蓝线为勾选改变高低点的反向曲线。
