1、 HeLeeX E3-3D 规格书 SPECIFICATION 深圳市禾苗分析仪器有限公司 Shenzhen Heleex Analytical Instrument Co.,Ltd. 能量色散 X 射线荧光光谱仪 Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer - 1 - HeLeeX E3-3D 是一款 高性能能量色散型 X 射线荧光光谱仪（ EDXRF)，在仪器结构、功能、软件上都进行了全面优化。 采用 小光斑设计 ，针对各种 PCB 板、插针等样品的小测试点精确定位，避免材质干扰； 双 C 型样品仓设计， X 射线下照式，激光对焦精确
2、定位 ，对于大型、异形不平整样品，无需拆分，可直接测试；全自动化样品台设计 ，仪器操作更简单。 HeLeeX E3-3D 简介： 应用领域 ： 各种接插件中镀层测试 仪器重量： 60kg 供电电源： AC220V/ 50Hz 最大功率： 330W 工作温度： 15-30 相对湿度： 85%，不结露 各种 PCB 板中镀层测试 常见镀层 常见镀层 五金行业镀层测试 常见镀层 其它类型样品镀层测试 常见镀层 - 2 - 1、 仪器特点 1.1 全自动化样品台 三维 X、 Y、 Z 步进电机控制系统，结合摄像头管理，通过软件控制实现样品移动。 1.2 X 射线下照式，激光对焦 X 射线下照式设计，激
3、光对焦，对于形状不规则样品，无需拆分，可直接测试。 - 3 - 1.3 小光斑设计 最小光斑仅 0.1mm，可对小测试点精确定位，避免干扰；可根据客户需求，快速选配 0.1mm、 0.3mm、 0.7mm、 3.0mm 准直器。满足样品中不同大小点测试需求。 1.4 测试时间灵活性调节 不同材质类型的样品所需要的最佳测量时间不同，可根据样品类型及客户对精度的要求设置测量时间的长短。常规镀层测试最外层误差优于 5%，次外层优于 10%。 - 4 - 多种样品仓尺寸，满足各种规格样品测试需求！ Medium: 外形尺寸 ： 800mm360mm385mm(H) 样品仓尺寸 ： 520mm288mm
4、70mm(H) Large: 外形尺寸 ： 800mm360mm545mm(H) 样品仓尺寸 ： 520mm288mm230mm(H) 1.5 多规格样品仓 1.6 X-Ray 探测器 HeLeeX E3-3D 采用美国原装全进口一体式 X-123 半导体 X 射线探测器，其先进的半导体制冷技术，高峰背比（信噪比），超高计数率，优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点， 超越其他品牌或同品牌的组装探测器 。 HeLeeX E3-3D 标准配置 独创双 C型样品仓设计，可测试无限宽、高样品。 - 5 - 2、 软件特点 E3 Workstation 是禾苗仪器专用版权的配套使用软件，界 面简洁、层
5、次清晰、操作简单。配备中、英双软件操作界面。 2.1 功能界面清晰、简洁 2.2 数据安全性 E3 Workstation 具有数据及系统信息的一键备份、一键恢复功能，可简单快速的备份、恢复仪器所有数据，从而保证测试系统的完整性和安全性。 2.3 X 射线谱图对比 E3 Workstation 具有 X 射线谱图对比功能，方便用户进行材料中元素成分、含量差异对比功能。 菜单栏 工具栏 样品图像 样品台控制栏 分析进程 样品信息 分析信息 分析结果 测量控制 探测器信息 状态栏 其它信息 - 6 - 2.4 丰富的软件算法 E3 Workstation 具有 3 种定量方法、 6 种分析方法以及
6、 6 种分析单位，从而保证测试数据精准度，满足各种测试需求。 - 7 - 2.5 丰富的结果管理系统 E3 Workstation 具有多种报告模板样式（用户也可自行编辑修改优化），且具有 EXCEL、 WORD、 PDF 三种报告格式。多点，多次数据统计，轻松计算最大值、最小值、平均值、标准偏差。软件根据用户设置的合格限值自动判断测试结果是否合格。 - 8 - 名称 参数 备注 X 射线探测器 美国 Amptek X-123 Si-PIN: Be 窗厚度 :1mil 晶体面积 :25mm 2 信号处理系统 :DP5 最佳分辨率 :145eV 整体原装进口 X 射线管 输出电压： 050kV
7、灯丝电流： 02mA 最大功率： 50W 靶 材： Mo Be 窗厚度： 0.2mm 使用寿命： 2 万小时 仪器配备光管自动老化、预热系统，延长光管使用寿命。 高压电源 输出电压： 050kV 灯丝电流： 02mA 最大功率： 50W 8 小时稳定性： 0.05% 移动平台 移动范围： X 轴： 70mm Y 轴： 100mm Z 轴： 48mm 最小距离： 5um 移动速度： 10mm/S 摄像头 微焦距 免驱动 500 万像素高清摄像头 高清摄像头，还具备放大功能，当样品含有杂质或由几个部分组成时，可以通过 CCD 管理器精确定位测量位置。通过样品仓上的透明玻璃门，可以随时俯视观察正在测
8、试中的样品。 光路系统 多种滤光片、准直器自动切换 0.1mm、 0.3mm、 0.7mm、3.0mmX 射线光斑 根据用户应用实际需求配置或定制 X 射线光斑。 基于 FPGA 技术多功能控制系统 开关电源 进口高性能开关电源 散热风扇 进口低噪声、大风量风扇 3、 仪器配置 - 9 - 序号 名称 规格 数量 1 计算机 联想高端商务电脑 1 台 2 打印机 佳能彩色喷墨打印机 1 台 最高分辨： 4800x1200dpi 3 加密狗 1 个 4 ERM-EC681K 进口标准片 1 片 5 ERM-EC680K 进口标准片 1 片 6 校正片 纯银 1 片 7 样品盒 木质 1 个 8
9、样品杯 专用定制 2 个 9 测试专用薄膜 XRF 专用测试膜 1 卷 10 手套 棉 2 双 11 剪刀 不锈钢 1 把 12 产品手册 1 本 13 仪器操作流程图 2 张 14 仪器保修卡 1 张 15 仪器培训合格证 经考核后颁发 1 本 /员 16 O 型圈 5 个 17 保险丝 5 个 18 防尘网 5 片 19 干燥剂 2 包 20 鼠标垫 1 个 注：仪器配件由于升级、优化或应用领域的不同，配件型号和数量可能有所不同。 4、 外围配置 - 10 - 5、 产品保修及售后服务 为客户免费提供操作培训服务。 整机二年保修，全国联网售后保修 ,终身提供技术服务支持。 产品终身包修（用
10、户仅需承担部件成本费） 保修期内的非人为因素仪器损坏，免费维修。 标准响应时间： 4 小时响应， 24 小时内预约上门服务， 24 小时技术支持。 终身免费提供软件升级服务。 6、 丰富的标准物质数据库 部分美国、德国、韩国、日本进口 Au、Ag、 Cu、 Sn、 Zn、 Ni、Pd、 Ti、 Pb 等镀层标准物质 美国进口两大品牌镀层标准片证书 - 11 - 7、 仪器资质 - 12 - 附表：常见覆盖层测量的典型测量范围 覆盖层 基体 近似厚度范围 m In 铝 铜 0100.0 00.004 镉 铁 060.0 00.0024 铜 铝 030.0 00.0012 铜 铁 030.0 00
11、.0012 铜 塑料 030.0 00.0012 金 陶瓷 08.0 0.00032 金 铜或镍 08.0 0.00032 铅 铜或镍 015.0 00.0006 镍 铝 030.0 00.0012 镍 陶瓷 030.0 00.0012 镍 铜 030.0 00.0012 镍 铁 030.0 00.0012 钯 镍 040.0 00.0016 钯 -镍合金 镍 020.0 00.0008 铂 钛 07.0 00.00028 铑 铜或镍 050.0 00.002 银 铜或镍 050.0 00.002 锡 铝 060.0 00.0024 锡 铜或镍 060.0 00.0024 锡 -铅合金 铜或镍
12、 040.0 00.0016 锌 铁 040.0 00.0016 注 1：在整个范围内测量不确定度不是恒定的，而且靠近每个范围两端会增大。 注 2：所给定的范围是近似的，而且主要取决于接受的测量不确定度。 注 3：如果同时测量表层和中间层，由于荧光 X 射线光束的各种相互作用，即表层会吸收中间层的荧光，那么各覆盖层材料可测量范围会发生变化，例如测量在铜上的金和镍时，若金覆盖层厚度超过 2.0 m，则无足够的荧光保证镍层高误差测量。 注 4：当进行厚度大于 0 m（如铜或镍上的金： 0.005 m）覆盖厚度测量过程中，测量仪应显示仪器规定的测量不确定度。这就必须了解测量范围的下限。 - 13 - 安全 环保 诚信 尊重 协作 深圳市禾苗分析仪器有限公司 Shenzhen Heleex Analytical Instrument Co.,Ltd. 全国统一咨询热线： 400-800-9363 产品咨询： 0755 86219363/86218321 技术支持： 0755 86219375 邮箱： 网站： 地址：深圳市南山南头关口二路智恒战略新兴产业园（原安乐工业区） 27 栋 2 楼
