1、半导体器件与集成电路抗静电放电(ESD)设计培训讲讲讲 师师师 介介介 绍绍绍 : 罗老师，可靠性研究分析中心高级工程师，博士,主要从事微电子产品失效模式、失效机理、可靠性试验和评价技术、可靠性设计等方面的研究，承担或参加了多项国家科研项目，曾获省、部级科技进步奖多项。多次完成微电子失效元器件的失效机理分析及其失效预防措施研究，在微电子产品的可靠性试验评价和设计方面具有丰富的经验，在公开技术刊物和学术会议上发表多篇论文。课程对象：从事半导体器件及集成电路的电路设计、工艺设计以及产品质量检测和可靠性分析（失效分析）的技术人员【主办单位】中国电子标准协会【协办单位】深圳市威硕企业管理咨询有限公司课
2、程收益：了解系统的静电基础知识，先进静电控制原理与技术，如何通过设计避免静电的危害。了解系统学习静电防护在电子产品设计方面的应用及与案例经验分享，具体讲解如何开展电子产品 ESD 设计，如何通过实验进行 ESD 防护的验证。课程大纲：第 1 章 电子元器件抗 ESD 损伤的基本原理 1.1 静电的产生和来源1.2 静电放电模式1.3 静电放电失效1.4 静电损伤的特点第 2 章 CMOS 电路抗 ESD 设计技术2.1 CMOS 电路 ESD 失效模式和机理2.2 CMOS 电路 ESD 可靠性设计策略2.3 CMOS 电路 ESD 设计辅助工具TLP 测试技术2.4 CMOS 电路 ESD 保护电路设计第 3 章 电路系统的抗 ESD 设计3.1 概述3.2 电子设备 ESD 损伤途径及其保护电路设计 3.3 PCB 的抗 ESD 设计3.4 外接 TVS 管的 ESD 保护第 4 章电子设备的静电防护设计措施4.1 电子设备制造防静电技术要求4.2 建立静电安全工作区4.3 安全工作区的静电检测4.4 全面的静电防护和设计
