1、1. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
2、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .射线检查标准指南 1此标准出版代号为 A 580/A 580M，规定后紧接的数字表示采用年份，如发生了修订则为最近一次修订的年份。括号中的数字表示最近再次批准的年份。上标的 表示对上次修订或再次批准进行的编辑性修改。此标准由美国国防部各局批准使用。1. 范围1.1 此指南 2 涵盖了在工业射线胶片记录中使用的符合要求的 X 射线和伽马射线射线检查，列出了更合适的操作，但未深入讨论其技术背景。此指南还附有其他协会的若干教科书和标准文件，以便读者查询关于此主题的其他信息。1.2 此指南涵盖的内容有：检查的材
3、料，射线检查的技术和产生方法，放射胶片的选择、冲洗、观察和储存，检查结果的保留，以及可供参考的射线照相文件的书目。注 1更多的信息参见指南 E 999，规范 E 1025，试验方法 E 1030 和 E 1032。1.3 分析和验收标准 此指南未包含分析和验收标准，但列出了关于铸件和焊接可供参考的射线照相文件。验收-拒绝标准代号现被认为是对产品规范认可的一部分，并且通常是生产商和购买者之间的一种契约性的协议。1.4 安全守则 此文件未涉及个人对 X 射线和伽马射线的防护问题。要查阅关于射线照相此重要方面的信息，请参考辐射防护与测量国家委员会(National Committee on Radi
4、ation and Measurement)、美国联邦记事(Federal Register)、美国能源研究发展局(US Energy Research and Development Administration)、国家标准局(National Bureau of Standards)这些机构现行的文件，如有州和地方的规定，也请参考之。关于辐射安全的具体信息请查阅 NIST 手册 ANSI 43.3，21 联邦法规(CFR) 1020.40，协议状况(agreement states)请查阅 29 CFR 1910.1096，或州的规定。_1 此指南由 ASTM 管辖无损检测的 E 07 技
5、术委员会审查，并由管辖辐射（X 射线和伽马射线）方法的分委员会 E07.01 直接负责。现行版本批准于 2004 年 1 月，出版于 2004 年 2 月。最初批准于 1952 年。上次批准于 2000 年，名为 E 94-00。2 美国机械师工程学会(ASME)锅炉和压力容器规程的应用参见此规程第五节相关指南 SE-94。. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
6、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .1.5 此标准的主旨并非针对所有的安全问题，而是针对和其使用相关的安全问题。在使用此标准之前，使用者有责任建立合适的安全和健康规范，并确定这些规定的适用性。 （参见 1.4。 ）1.6
7、 若文中出现某无损检测(NDT)局，此局须符合标准 E 543 要求。2. 参考文件2.1 美国材料与试验协会 (ASTM)标准 ： 3E 543，实施无损检验的评定机构规范E 746，工业射线照相影像系统的相关图象质量特性曲线的测试方法E 747，辐射用线型像质计的设计、制造和材料分类规范E 801，电子装置射线照相测试的质量控制规范E 999，工业射线照相胶片冲洗的质量控制指南E 1025，辐射用孔型像质计的设计、制造和材料分类规范E 1030，金属铸件的射线照相检查试验方法E 1032，焊接件的射线照相检查试验方法E 1079，透射密度计的校准规范E 1254，射线照片和未曝光工业射线照
8、相胶片的储存指南E 1316，无损检测术语E 1390，用于观察工业射线照相的照明装置使用指南E 1735，曝光于 4 至 25Mv 的 X 射线辐射的工业射线照相胶片的相对影象质量的测定方法E 1742，射线照相检查规范E 1815，工业辐射影像系统分类的试验方法_3 若须参考 ASTM 标准，请访问 ASTM 网站，www.astm.org ，或联系 ASTM 客户服务邮箱， serviceastm.org。关于ASTM标准年鉴卷相关信息，请参考 ASTM 网站上标准的文件提要页面。版权所有：ASTM 国际， 100 Barr Harbor Drive, PO Box C700, West
9、 Conshohocken, Pennsylvania 19428, USA. 中国标准化研究院(CNIS)根据 ASTM授权协议发布。CNIS 电话：86 10 58811350代 号2版权所有：ASTM 国际， 100 Barr Harbor Drive, PO Box C700, West Conshohocken, PA 19428-2959, United States.2.2 美国国家标准学会 (ANSI) 标准 ：PHI.41，档案记录用聚酯类片基银-明胶型胶片规范 4PH2.22，确定暗室照明安全时间的方法 4PH4.8，测量硫代磺酸盐的亚甲基蓝法和测量胶片、板和感光纸残留的化
10、学物质的银密度法 4T9.1，成像媒体（胶片）银-明胶型稳定性规范 4T9.2，成像媒体胶片、板和感光纸冲洗后归档于盒子和储存容器中 42.3 联邦标准：联邦第 21 号法规，1020.40，柜式 X 射线系统的安全要求 5联邦第 29 号法规，1910.96，电离辐射（X 射线，射频(RF)等） 52.4 其他文件NBS 手册 ANSI N43.3，使用最大强度为 10MeV6 的非医用 X 射线和伽马密封放射源的基本辐射安全装置。 63. 术语3.1 定义 此指南中使用的各术语的定义，请参考术语 E 1316。4. 意义和使用4.1 在现有的射线拍照技艺中，记录媒体为工业射线照相胶片时，此
11、指南基本适用于其可用材料、胶片冲洗和技术。4.2 局限性 此指南未考虑非胶片记录媒体或读出装置特殊的优点和局限性，如感光纸、磁带、静电射线照片、荧光透视和电子图像强化装置。尽管指南中引用了在合适情况下对普通金属铸件和焊接中代表性断裂处鉴定和评级可能使用的文件，但并未试图建立任何材料或生产工艺的验收标准。只有得到并维持所有技术如几何形状、胶片、滤波、观察照片等的细节效果，射线照相的敏感度和分辨率才能保持稳定。5. 射线照片的质量5.1 为了得到优质的射线照片，必须至少考虑下列各项。各项的具体信息在此指南中有进一步说明。5.1.1 辐射源（X 射线或伽马射线） ，5.1.2 电压选择（X 射线）
12、，5.1.3 辐射源面积（X 射线或伽马射线） ，_4 美国国家标准学会(ANSI)处有售，地址 25W. 43rd St., 4th Floor, New York, NY 10036.5 美国政府印刷局文件总管理处有售，地址 732N. Capitol St., NW, Mail Stop: SDE, Washington, DC 20401.6 美国商务部国家技术情报服务处(NTIS) 处有售，地址 5285 Port Royal Rd., Springfield, VA 22161.5.1.4 消除散射辐射的途径和方法，5.1.5 影像系统级别，5.1.6 辐射源与胶片距离，5.1.7
13、 像质计(IQIs)，5.1.8 屏和滤波器，5.1.9 零件的几何形状或组件的构造，5.1.10 识别和定位标记，和5.1.11 射线照相的质量水平。. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
14、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .6. 射线照相质量水平6.1 像质计(IQI)的设计和制造信息参见规范 E 747、E 801、E1025 和 E 1742。6.2 射线照相质量水平通常需达到 2%（采用孔型 IQI时需达到 2-2T） ，除非购买者和制造商间就高于或低于此的值达成一致。当被检体对比度为 2%时，通过 IQI的设计和应用（规范 E 1025，表 1） ，可检出 2-1T、
15、2-2T 和 2-4T 三个质量水平。其他检测水平可见规范 E 1025，表 1 中列出。应根据产品的服务需求指定检测水平。指定质量水平为 2-1T、1-1T 和 1-2T 时须特别小心，首先确定此质量水平在射线照相中能维持。注 2质量水平第一个数字指 IQI 厚度占样品厚度的百分数，第二个数字指 IQI 孔的直径是透度计厚度 T 的倍数，必须在射线照片上可见到 IQI 孔。6.3 若无与被测材料的放射成像性类似材料制成的IQI，则可以使用尺寸合适但具有更低吸收的材料制成的 IQI。6.4 材料的质量水平须与规范 E 1025 的 2-2T 级别相等才需使用线型 IQI，除非购买者和制造商间就
16、高于或低于此的质量水平值达成一致。规范 E 747 的表 4 给出了一系列各种孔型 IQI 和在板型 IQI 上 1T、2T 和 4T 的孔对应的 EPS 的钢丝直径。如果需要，规范 E 747 的附录 X1 给出了计算其他等值的等式。7. 能量选择7.1 X 射线的能量影响图像质量。总体来讲，使用的辐射源能量越低，射线照相能达到的对比度就越高。但其他因素，如几何形状和散射条件可能会抵消高分辨率的潜在优点。在一特定的能量水平下，对一系列为半衰减层倍数的厚度用特定的 X 射线仪或伽马射线源进行射线拍照，都可达到可接受的质量水平。在任何情况下，射线照片上都必须注明具体的 IQI（透度计）质量水平。
17、通常，X 射线仪能量为 100kV 至 500kV 时，在材料厚3度为 2.5 到 10 个半衰减层(HVL)范围内时能得到满意的结果（见表 1） 。X 射线仪能量为 1 至 25kV 时，在某些情况下此范围可以扩大两倍，主要因为散射减小。表 1 常见能量对应的钢 HVL 典型厚度，以英寸 mm表示能量 厚度，英寸mm120kV150kV200kV250kV400kV(Ir 192)1MV2MV(Co 60)4MV6MV10MV16MV 及以上0.102.50.143.60.205.10.256.40.358.90.5714.50.8020.31.0025.41.1529.21.2531.81
18、.3033.08. 射线照相等效系数8.1 某材料的射线照相等效系数是指换算为吸收相同的某“标准”材料（常为钢）的厚度，此材料厚度须乘以的倍数。表 2 列出了一些更常见金属的射线照相等效系数，人为规定钢的系数值为 1.0。此系数可以用来：8.1.1 决定辐射源对除钢以外的材料的实用厚度限值，和8.1.2 由其他金属的照射技术决定某一金属的照射量因子。9. 胶片9.1 很多工业射线照相的胶片能满足射线照相的需要。然而，选择胶片确定的规则很难公式化，因为这还取决于各用户的需求。用户的某些需求如下：射线照相质量水平，曝光时间，还有各种价格因素。现已有若干方法评估图像质量水平（参见试验方法 E 746
19、，规范 E 747和 E 801） 。具体产品信息可从生产商处获得。9.2 有很多工业射线照相胶片满足质量水平和产品需求。试验方法 E 1815 给胶片生产商提供了一种影像系统的分类方法。影像系统由胶片和相应的胶片冲洗系统组成。用户可从胶片生产商处获得射线照片所用影像系统的分类表。可根据试验方法 E 1815 中提供的方法进行胶片分级。试验方法 E 1815 中还提供了关于影像系统分类的具体细节。ANSI 标准 PH1.41，PH4.8，T9.1和 T9.2 提供了胶片生产的具体细节和需求。10. 滤波器10.1 定义 滤波器是设置在辐射源和胶片之间的均质的材料层。10.2 目的 滤波器是为了
20、吸收初级辐射中较软组分，因而有下列一项或几项实用优点：10.2.1 降低散射辐射，因而提高对比度。10.2.2 降低底切酌(undercutting)，因而提高对比度。10.2.3 降低有厚度变化的零件的对比度。10.3 放置 滤波器常常放置在以下两个位置之一10.3.1 离辐射源尽可能近，这样能尽量减小滤波器尺寸，且使滤波器更好阻挡住对胶片的散射辐射。10.3.2 在样品和胶片之间，能优先吸收样品发出的散射辐射。须注意铅箔和其他金属屏（参见 13.1）具有此功能。10.4 滤波器厚度和材料 滤波器厚度和材料根据下列因素变化：10.4.1 进行射线照相的材料。10.4.2 进行射线照相的材料的
21、厚度。10.4.3 进行射线照相的材料厚度的变化。10.4.4 使用辐射源的能谱。10.4.5 所需改进（增强或减弱对比度） 。可以计算得或根据经验决定滤波器厚度和材料。11. 屏蔽11.1 屏蔽或阻挡（围住样品或用吸收材料覆盖薄的断面）有助于减少散射辐射。这些材料也能使不同截面的吸收相等，但较薄截面细节损失可能会很高。. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
22、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .表 2 某些金属近似的射线照相等效系数（以钢为参照）能量水平金属100kV 150kV 220kV 250kV 400kV 1MV 2MV 4 到 25MV 192Ir 60Co镁铝铝合金
23、钛铁/所有钢材铜锌黄铜Inconel 合金 XMonel 合金0.050.080.101.01.51.70.050.120.140.541.01.61.41.41.40.080.180.180.541.01.41.31.31.31.21.01.40.711.01.41.31.31.30.91.01.11.21.30.91.01.11.11.30. 91.01.21.21.01.30.350.350.91.01.11.11.11.30.350.350.91.01.11.01.01.34锆铅铪铀2.414.02.314.02.012.014.020.01.712.016.01.59.012.01.
24、05.03.04.01.02.51.02.73.91.24.012.61.02.33.4. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
25、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
26、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
27、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .12. 背散射防护12.1 可以通过将射线束限定在最小的工作截面内和在胶片后放置铅来降低背散射作用。在某些情况下，可以在背面设置铅屏，或使暗盒或底片夹背面含铅，这两项合起来或其中之一足以防护背散射辐射。在其他情况下，还需要在暗盒或底片夹后另设铅防
28、护加以补充。12.2 若对背散射辐射防护是否充分还有任何疑问，暗盒或底片夹背后须贴上一个特征性符号（常常为一 1/8 in.3.2mm厚的字母 B） ，以常规方式拍照的射线照片上也应有此符号。若在射线照片上此符号的图像比背景淡，则表明对背散射辐射的防护不足，需要另加防范。13. 屏13.1 金属箔屏 ：13.1.1 铅箔屏常常用在直接接触胶片的情况，并且，根据它们的厚度和试样的组分，能量低到 90kV 也会形成增强效应。另外，任何屏放置在胶片前都可有滤波的功能（第 10 节） ，能优先吸收样品发出的散射辐射，进而提高了射线照相的质量。因此，铅屏的厚度选择，或任何其他金属屏的厚度选择，都基于同样
29、的考虑，10.4 中已列出提要。不考虑铅屏是否减少了射线拍照的曝光，或因而需要加大曝光这些情况，它确实减少了到达胶片的散射。为了避免屏造成图像不清晰，曝光过程中铅屏和胶片须紧密接触。13.1.2 任何时候如果铅箔屏能提高射线照相质量和透度计敏感度这两项或其中之一，须使用合适厚度的铅箔屏。在对薄或轻的合金材料进行射线照相时，特别是使用低千伏电压时，须仔细选择前置铅屏的厚度，以防止滤波过度。通常，在对 1/4 in.6.35mm或厚度更小钢板用 125kV 以下电压进行射线照相时，使用0.005 in.前置或后置铅屏对曝光没有益处。但在穿透较厚钢截面时，因为需要较高的电压，这时对曝光就有重要益处。
30、除了增强效果外，后置的铅屏可作为对背散射辐射的防护（见第 12 节） ，它们的厚度仅有这一项重要功能。给定材料的厚度越大，则穿透它需要更强的辐射能量，这时习惯上增加铅屏的厚度。当用于射线照相的辐射源为铱-192 时，其前置铅屏的最小厚度应为 0.005 in.0.13mm，为钴 -60 时最小厚度应为0.010 in.0.25mm。13.2 其他金属屏材料：13.2.1 氧化铅屏与铅箔屏作用方式相似，不同之处：氧化铅屏与铅箔屏厚度的等效系数约为 0.0005 in.0.013mm。13.2.2 铜屏较铅屏而言似乎吸收和增强作用较小，但在射线照相的能量高于 1MV 时似乎能提供更好的敏感度。13
31、.2.3 金、钽或其他重金属屏，可以在铅不能使用的情况下使用。13.3 荧光屏 若要图像质量得到提高，可能需要使用荧光屏。为了将图像不清晰度降到最低，需要选择合适的荧光屏。特定荧光屏产品的技术信息可从生产商处获得。荧光屏的成功使用需要胶片和屏之间良好接触且屏保持清洁。荧光屏使用的其他信息列在附录 X1 中。13.4 屏的保护 对屏的操作须小心，避免造成凹痕和划伤、沾上污垢，或在活性表面沾上油脂。铅屏上的油脂和皮棉可用一种溶剂去除。荧光屏的清洁须根据生产商的建议。显出物理性损伤的屏须丢弃。 14. 射线照相图像质量14.1 射线照相图像质量 是一个量化术语，用以描述射线照相显示受检部位缺陷的能力
32、。如图 1 所示，射线照相图像质量有三个基本组成部分。在考虑射线照相某一特定技术或应用时，每一组分都很重要，在下文中将会简略讨论之。14.2 在一张射线照片上两个不同区域的 射线照相对比度 是指两区域影片密度的区别。如图 1 所示，射线照相对比度的程度取决于被检体对比度和胶片对比度这两个因素。14.2.1 被检体对比度 是指一件样品上两个选定部位传导的 X 射线或伽马射线的强度比。被检体对比度取决于样品的性质（材料类型和厚度） 、使用的辐射能量（光谱组成、硬度或波长） 、以及散射辐射的强度分布，而和时间、电流毫安数或辐射源强度（居里） 、辐射源距离以及影像系统的特点无关。14.2.2 胶片对比
33、度 是指影像系统特征曲线的斜率（坡度） 。胶片对比度取决于胶片类型、冲洗方法和影片密度量，还取决于曝光时是否使用了铅屏或荧光屏。对大多数实际用途而言，胶片对比度和波长、辐射到达5胶片的分布无关，因而也和被检体对比度无关。更多信息请参考试验方法 E 1815。14.3 射线照相胶片因局部密度变化而产生粒状的感觉（例如，用带有0.0039 in.0.1mm的小孔的显象密度计测量即可感受到） ， 影像系统颗粒度 即为对其的客观度量。观察者看到密度近似均匀的区域中局部密度的微小变化时（即洗出的射线照片上不规则银沉积的视觉印象） ，有一种主观的感受，颗粒即描述了观察者面对斑. . . . . . . .
34、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
35、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
36、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .射线照相图像质量射线照片对比度 影像系统颗粒度 射线照片清晰度被检体对比度 胶片对比度 固有不清晰度 几何不清晰度受下列因素影响：*样品吸收不同（厚度、组成、密度）*辐射波长*散射辐射受下列因素影响减弱或增强*屏蔽或光阑*滤波器*铅屏*Potter-Bucky 光阑受下列因素影响：*胶片类型*显影程度（显影液类型、显影时间、温度和显影液活力、摇晃程度）*影片密度*屏类型（即荧光屏、铅屏、或未使用屏）*感光乳剂中颗粒大小和分布*冲洗条件（显影液类型和
37、活力、显影液温度等）*屏类型（即荧光屏、铅屏、或未使用屏）*辐射质量（即能量水平、滤波等）*曝光量（即强度、剂量等）受下列因素影响*屏与胶片接触程度*胶片总厚度*单面或双面感光乳剂*辐射质量*屏类型和厚度（荧光屏、铅屏或未使用屏）受下列因素影响*焦点或辐射源物理面积*辐射源距胶片距离*样品厚度变化的干扰*样品或辐射源的运动图 1 影响射线照片图像质量的变量. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
38、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .驳的随机图样的此种感受。颗粒的程度不会影响结果图像的射线照相总的空间分辨率（以线对/mm 等表示） ，也常和曝光几何排列（exposure geomet
39、ry arrangements）无关。颗粒度受使用的屏、屏与胶片接触和胶片的冲洗条件的影响。更多关于感知的详细信息请参考试验方法 E 1815。14.4 射线照相清晰度 是指图像（包括图像轮廓和细节）的清晰度。射线照相清晰度与影像系统固有不清晰度和射线照相曝光几何排列（几何不清晰度）无关，见图 1所示。固有不清晰度 (Ui)是胶片-屏系统内因几何因素造成的可视细节的程度，这些因素包括胶片-屏接触程度、屏厚度、胶片乳剂总厚度、是否两面都涂有乳剂、使用辐射的质量（波长等）以及屏的类型。固有不清晰度和曝光几何排列不相关。14.4.1 几何不清晰度 (Ug)决定了由 “聚焦”曝光排列产生的可视细节程度
40、，此曝光排列包括辐射源与胶片的距离、对象与胶片的距离和焦点面积几个因素。图2(a)绘出了这些情况。几何不清晰度由下列等式算出：Ug=Ft/d0 (1)式中：Ug = 几何不清晰度，F = 辐射源最大投射范围，t = 样品接近辐射源测距胶片的距离，以及d0 = 辐射源至对象距离注 3d0 和 t 测量单位须相同，则 Ug 和 F 单位相同。注 4图 3 中给出了决定 Ug 的列线图（英寸磅单位制） 。图 4中给出公制单位的列线图。例：条件：辐射源到对象距离(d 0)=40 in.，辐射源面积(F)=500 mils，和样品辐射源测到胶片距离(t)=1.5 in.用直线连接 F 标尺上的 500m
41、ils 和 t 标尺上的 1.5 in.。标出连线与中轴线的交点(P)。连接 d0 标尺上的 40 in.与 P 点（图 3 中为实线）并延伸之与 Ug 标尺相交，此连线与 Ug 标尺的交点即给出以密耳为单位的几何不清晰度，此例中为 19 密耳。由于 F 指辐射源面积，对于一个给定的辐射源常常是定值，因此 Ug 值常由 d0 /t 的比值决定。几何不清晰度(U g)对射线照相质量有重要影响，因此辐射源至胶片的距离(SFD)的选择很重要。几何不清晰度(Ug)等式，即等式 1，提供了相关信息和指导，以及决定几何不清晰度值的方法。在建立射线照相技术时，不清晰度的量或度必须降到最低。6. . . .
42、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .
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