,温度对IV测试的影响,组件工艺部,2,目 录,一、温度对组件电性能的影响 二、测试仪对温度的补偿 三、温度对组件测试结果的影响 四、不同温度下组件功率测试对比数据,3,March 11, 2019,一、温度对组件电性能的影响,正常测试温度为252，随着温度的升高，开路电压急剧降低，短路电流略微增大，整体转换效率降低,4,March 11, 2019,二、测试仪对温度的补偿,在不同温度下测试，测试仪对组件功率进行补偿例（以260W多晶组件温度由25升至26为例） ：P=260+（26-25）*260*（-0.43%/）=258.882W即：功率为260W的组件，温度升高1后功率降低1.118W，测试仪会对该组件补 偿1.118W。,5,March 11, 2019,三、温度对组件测试结果的影响,6,March 11, 2019,四、不同温度下组件功率测试对比数据,
