1、毕业设计( 论文)外文资料翻译院 （系）： 光电信息系 专 业： 光电信息工程 班 级： B080105 姓 名： 王杨杨 学 号： B08010521 导 师： 汪桂霞 出 处： 附 件： 1 原文 2 翻译 2012 年 3 月 30 日使用积分球测量反射仪器非线性 摘要一个直径 235 毫米样本球体内部已被用于漫反射测量。在 NIST 的条件下测试仪器在测量过程中的非线性这一部分已与一组 80.99（3） ，0.8,0.4,0.2,0.1，0.05 标称反射待测物进行比较。这些测量已在 3 种不同情况下重复试验有 18 个月之多。这些测量结果的分析表明，仪器非线性幅度达两至三倍的标准偏差
2、时测量反射率小于 0.4 的待测物。相对于这套三部件的 NIST 标准的 0.99 反射校准量具，这里描述了一种标准工作校准的不确定性的估计方法。引言我们最近已有一个新的，更大的积分球，最大安全负载调整漫反射率的测量过程 。这样做有助于我们研究非线性过程中重复测量一定数量的校准标准反射率与广泛的反射率的值与标准 0.99 反射率的标准进行观察和对比。漫反射的测量方法分光光度计和光学配置如图 1 所示。运动的光束从球体的开口进入球体射到球壁上。 测量过程中所用的在球体口处的是常规安装并且在测量墙辐射 （样品墙或 SW 比例光球时，当光束投射到人工制品时，同样的光束上也会投射于球壁的特定区域。通常
3、假设所有部件的整合球体形成一个真正的几何球体，所有内部表面表现为朗伯反射镜的反射带。做通常的假设，积分球的所有部分，形成一个真正几何球面和所有内部表面反射 Pr 级朗伯反射的表现。参考标准 r 的反射 P 级比较确定的待测物1 E 的第一个脚注表示样品（x）或参数（R） ，第二个脚注表示辐照样品的初始端口（P）或球壁（W） 。在新西兰式漫反射目前基于一组八个 50 毫米，由 NIST 校准的 Spectralon 直径光盘，并指定 N99 的12，N99 的3，N80，N40，N20 ，N10 ， N05。 杂散光对通过测量样品端口 SW 的开启并安装一个黑色的镜子来通过的这个端口 450 约
4、 200 毫米做出了解释。假设光束可能会对待测物体的一个组成部分和一个小样品口围绕球体内部的杂散，并表示 SW 样品口的开启，样品安装，参考安装的 S，Qx 和 Qr 分别，产生反射作为样本 x 对校准与几个主要标准几个待测物测量重复 k 序列软件配给的主要标准测量（I = 1n）测量的工艺品软件配给 Qjk（J = 1j） 其次是最后一个主要标准和确定的软件比 k 和 k+1 以上运行的主要标准为平均 Pik测量反射区的样本 j 在运行 K，相对比的平均值照亮整个样本，表示统一性和不确定性Ujk。运行 K 和校准获得的 N 标准方程（2）对每个值平均每个被确定为人工制品 j 反射 Xjk 这
5、超过了 K 平均运行，以确定每个人工制品 j 的反射率在校准的反射率值的主要标准的相关书面处理其反射率与不确定性等于作为R0Ri,R0 值团结完全相关的组件在其校准的不确定性，和 Ri 的值等于他校准的反射率值等于不相关不相关的不确定性诠释的不确定性校准标准 i。 X j 中运行的 K 平均所得的样本 J，像往常一样区分测量方程获得的灵敏度系数确定的反射，不确定性。观察到非线性价值工具这是所有的惯例,但发射率的最精确的测量是以一个高反射率(-0.99)的标准来衡量的。但是在反射测量的不确定性显着降低，因为任何一个积分球的实际执行违反中获得一个真正的球体或球体的基本方程的假设时参考待测物，有一个
6、类似规模的测试下待测物的反射平坦的端口1。 然后问题是:在什么范围内样品壁辐射率(SW 比)从待测物线性依赖高反射率的关系出发吗?这已经过测试,由套的测量四次在 18 个月的 8 个主要的参考标准,实际上我们已经有了测量了 N80,对 N05 个样品的意思,这三个 N99 样品结果与 NIST 的校正值相比前者的价值。任何显著差异必须出现在我们的来源可以是任何非线性测量程序或说的自相矛盾的时候,NIST 的校准。表 1 显示测量 SW/ R 比（ SW 比例划分的 NIST 校准的反射，pt 即（Erp/ Erw）/ pr）的光谱手段 照射的人工制品上的面积为 16 毫米14 毫米。SW/ R
7、 比接管了在20 纳米的间隔测量手段范围在 360 纳米至 820 纳米，每个波长的三次测量皆在不同时间完成。每个波长预估两个标准的不确定性。首先是来自三个测量标准偏差，包括仅在我们的观察的波动 SW 的比例，是适合使用连续数据集比较 SW/ R 比。 “CSU-A来源于此谱的平均标准偏差如表 1 所示。第二包括幅度 0.0005 在 NIST 反射不确定性的随机成分和来源于此谱平均标准差是 CSU-B 所示 表 1。SW/ R 比率（粗体）值，定义为 SW 信号比（与信号的比例，除以入射光与球体光）由 NIST 校准的反射率的四种情况下的八个参数。数据源于多光谱手段 360 纳米至 820
8、纳米之间。不确定性 CSU-A 和 CSU-B 被定义于文本中。在相同的被测物的连续数据集之间波动的可能原因是大型数据集内的 10 至 40 倍，包括建立所得到的一个略有不同的区域，球壁反射改变的可能性和变化中的被测物。 其中第一第二即为Wall 的效应连结。SW/平均比例为 0.99 待测物正常化 SW/ R 比，这些影响，即在墙上的变化则可以排除。这些正常化比率，实际上是通过对三向 NIAT-calibtated 反射的0.99 待测物的平均校准确定的反射率。表 2。此标准化比值为 30.99 待测物的值，是墙上效应稳定，一旦被移除，则会显示出在 10 以上三个运行（在这些类似待测物的任何
9、变化，是他们的共同所有，然而，由正常化删除）波动或 1 至 3 的部分。这减少 10 倍-20 倍的 SW/ R 比 10 的波动表明，时间或空间的墙面反射率的变化有助于-0.02数据集之间波动。 SW/比率为低反射，在 1000 超过 0.3 至 2 部分波动正常化没有太大的提高，超出由 10 至 30 倍的数据集内的波动。 表 2 SW/ R 的比值，有效反射率的确定校准对三个 0.99 待测物的 NIST 校准反射率的平均值，此种不同情况下的 8 个参数。数据光谱手段超过 360 纳米至 820 纳米。不确定性 CSU-a 是在重复测量的数据集内的 SW 比的波动 观测到的非线性（测量反
10、射率该待测物的比较类似的反射）如图 2 所示，用相结合标准估计的不确定性NIST 变化测量几种偏差随机效应，空间的不均匀性和 NIST 的非线性校正的校准待测物。数值小但可复写非线性 0.99 待测物远小于其校准的不确定性，显然其偏见反映在他们校准真正的细微差异中。对于更低的反射率值而言，通常实践中对 0.99 反射效果的人工制品的校准值比通过校准获得的对像值高 1.8。 图 2 仪器非线性定义为测量的比例进行比较,反射率与标准的物品相似的反射。参考文献1. CLARE, J. F. Comparison of four analytic methods for the calculation of irradiance in integrating spheres. J. Opt. Soc. Am.A，1998, 15, 3086-30962. National Institute of Standards and Technology, Report of Calibration of Spectral Reflectance Factor for Diffuse Reflectance Standards Test No. 844/265215-01 (NIST, Washington, 2001)
