1、在ftp:/202.38.246.199:2100/上的相关资料文件夹下载 NanoScope_Analysis_v140r3sr2.exe AFM图像离线分析软件， 之后双击左键安装软件。,从FTP上下载的数据最好不要保存在桌面上，有时会打不开， 可以放在C、D、E盘的根目录下， 或存放于文件路径不含非英文字符的目录中。,软件安装,数据存放,AFM测试的数据后缀是.000等，在电脑上有时会显示为压缩文件， 实际是源文件，需要用AFM的离线分析软件NanoScope_Analysis打开,Win 7系统安装软件时需要安装 .net framework 4.0，其中一个可用的下载地址： http
2、:/ 1阶（1st）,2阶(2nd)，3阶(3rd),确定后，执行,平滑图像,0阶平滑对应平面内高度值移动； 1阶平滑对应斜面拉平； 2阶平滑对应曲面拉平。 高阶平滑内包含低阶平滑的内容。请根据自己 样品的特性选择选择相应阶数。,如果样品上有明显过高的非基底特征，如下图中亮点，需要使用遮蔽框将这些位置遮蔽后（点右键画框），再execute，或将flatten Z thresholding direction设置为Z=或Z，将Mark excluded data设置为Yes，设定Flatten Z threshold %值，使非基底部分被遮蔽后，再execute，之后将Mark excluded
3、 data设置为No，即可完成操作。,未遮蔽的flatten效果,遮蔽后flatten效果，无阴影拖尾,执行后，图片变成这样。,生成三维图片按钮,右键点在色度条上出现color scale后，左键选择可更改图像颜色,点击后，生成的三维图片,有色系和颜色区间等选项可选,背景颜色选项,三个坐标轴显示选项,设定完各项参数后，点Export导出三维图,参数设定区域,更改高度条起始点： 将高度条起始点从负值改为零。 Commensadjust image colormodify data scale-,按需要更该参数后，点export， 命名后保存,输出彩色二维图像（颜色深浅代表高度）,点击sectio
4、n，进行图片上特征位置高度、宽度等尺寸分析,高度宽度分析,用鼠标左键在样品图像区域拖一条线，右侧坐标图中就会出现这条线上相应位置高度的折线图，左键拖动折线图中两条 竖直虚线的位置，就可以改变图像区域与虚线颜色相同的相应十字叉的位置。将十字叉定位准确后，在图像下方的三色条框中 读出相应颜色十字叉定位的数值。例如，下图中蓝色十字叉标记的线上读出被测试样品的高度为4.816 nm（vertical distance栏）； 红色十字叉标记的线上，可读出目标颗粒的宽度为30.503nm （horizontal distance栏）；,基底线,样品线,被测试颗粒,在图像区域点击右键，出现如下对话框，点ex
5、port可输出做过标记的图片,同样，在折线图区域点右键， 选择export graphic（输出被激活折线图像图片） /XZdata（输出被激活折线数据txt文档）。,点击右键，copy text,输出此框数据。,读取粗糙度,读取Rq，Ra,注意： 用该软件计算得到的粗糙度值仅仅是在该软件 设定的程序下的结果，软件设定算法可以在相应 窗口下按F1帮助键，弹出的相应窗口中有功能说明。 如果需要，图像可以在0阶或1阶平滑后计算粗糙度。,整幅图像的粗糙度值,选定区域的粗糙度值， 若没有选定区域，这两个值为0,点击右侧browse files,选定目标文件， 在未进行平滑的原始文件上 点击右键，出现如下对话框， 选择export ASCII，可以输出图像上 每个数据点的高度值（进针位置的高度 被默认为0）。该组数据可根据测试者需要， 采用特定的统计方法得出所需的粗糙度等值。 如需输出矩阵形式将输出数据的列数设置为扫描线 条数。,打开软件后按F1键，可弹出介绍软件详细功能的网页，未在本PPT中介绍到的内容，请详细阅读网页内容。,友情提示,文中未明确提出的地方，一般默认用左键操作。 以上内容，如有错漏请指出。,
