1、实验八 门电路、触发器及其应用,一、实验目的1检测集成与非门及集成触发器的基本逻辑功能。2了解集成触发器的应用。,实验八 门电路、触发器及其应用,二、实验设备1. GOS-6051型二踪示波器2.直流稳压电源3.万用表4. SDZ-2 数字电子技术实验箱5.函数信号发生器6.元器件(74LS74 74LS76 74LS00 74LS175 74LS20),GOS-6051型二踪示波器,GOS-6051 前面板,显示器控制,垂直控制,水平控制,触发控制,SDZ-2 数字电子技术实验箱,6路译码显示,电源开关,5V电源,12V电源,4路逻辑开关,基准频率,16路数据开关,16路电平指示,秒脉冲,可
2、调脉冲,实验区,滤波电容,注：COM1与COM2不相关,4路拨码盘,元件区,74LS00二输入与非门,74LS20四输入与非门,74LS74型双D触发器,74LS76型双JK触发器,74LS175四D触发器,三、 实验内容,1. 测试与非门的逻辑功能将与非门的输出端接状态显示发光二极管，与非门的输入端接逻辑电平开关，接通与非门的电源，观察与非门的逻辑功能，并记录。2. 观察与非门的控制特性如图8-7连接电路。将电子技术实验箱提供的1024Hz基准频率送入与非门输入端 ，控制端Y接逻辑电平开关，当控制端Y分别加上逻辑电平0和1时，用示波器同时观察输入、输出波形，比较二者的相位，体会控制端作用。,实验内容,3. 利用T触发器测试D、J-K触发器将D触发器、J-K触发器按图8-8接成T触发器，测试T触发器功能，作出T触发器的状态转换表。用这方法可以判别集成块74LS175各D触发器和集成块74LS76各J-K解发器的好坏。,实验内容,4. 竞赛抢答电路电路如图8-9所示。图中F1为4D触发器74LS175，其内部结构和外引线如图8-4所示，它具有公共置零端和公共CP端。F2为双四输入与非门74LS20中的一个四输入与非门，74LS20的内部结构和外引线如图8-2。抢答器电路中的CP时钟脉冲源由实验箱中的1k10k时钟脉冲代替。连接电路并进行操作，观察抢答器的工作情况。,竞赛抢答电路,
