DIN EN ISO 2808 C.doc

1、DIN EN ISO 2808 涂料和清漆 漆膜厚度的测定前言译文 略简介a)b)c)d)1 范围本国际标准描述了一些测量基材上涂层厚度的方法。方法确定了对以下内容的描述：湿膜厚度，干膜厚度，未固化喷塑涂层厚度。参考 现有的单 个标准。否则将细节描述方法。本方法的综述参见附录 A，适用 领域现有的标准和精度被列入 单个方法。此国际标准也定义了关于膜厚的术语。国际标准也定义了关于膜厚确定的术语。2 术语参考文件以下参考文件时此文件应用时必不可少的。作为参考，仅有那些引用版本适用。 对于更新的参考，那么将参考文件的最新版本（包括任何修正过的申请）。ISO463，几何学产品技术规范（GPS）尺寸测量

2、设备机械度盘式指示器的设计和度量衡学特点。ISO 3611, 外部测量的千分卡尺ISO 4618:2006, 色漆和清漆术语和定义ISO 8503-1, 在喷涂油漆和相关产品之前对钢铁底材的准 备-喷砂清洁钢铁底材的表面粗糙性特点部分 1：ISO 表面型材比较仪 （对研磨喷砂清洁表面的评估）的规范和定义3 术语和定义鉴于本文件的目的，ISO4618 和以下给出的术语和定义适用。3.1 底材将要喷涂涂层的表面ISO 4618 ：20063.2涂层施加在底材上的单层货多层的连续的涂层材料层ISO 4618:20063.3膜厚底材表面和涂层膜表面之间的距离。3.4湿膜厚度刚刚喷涂上的湿膜材料的厚度，

3、在喷涂后立刻测量。3.5干膜厚度当涂层硬化后，表面的涂层的厚度3.6未固化喷塑涂层的厚度刚喷涂的塑粉的厚度，喷塑后从喷塑烤房出来前测量的塑粉材料的厚度。3.7相关表面区域 1）覆盖的或即将被涂层覆盖的部件的一部分，即涂层的适用性和/或外观很重要的那部分。3.8试验区域 1）相关表面区域的代表部分，将在此部分进行协议次数的单次测量。3.9测量区域 1）进行单次测量的区域3.10最小局部膜厚 1）在特定试验样品的相关表面上的局部膜厚的最低值3.11最大局部膜厚 1）在特定试验样品的相关表面上的局部膜厚的最高值3.12平均膜厚 1）试验区域的所有单次干膜厚度的算数平均值，或膜厚重量分析的测定值。3.

4、13校准测量可追溯校准标准的受控核文件程序，验证结果在测量仪器的陈述的准确性范围内。备注 初始校准是通过仪器生产商或或通过有资质的实验室控制环境下使用的文件程序按照文件程序进行的。此初始校准将常常通过用户在常规间隔期内进行验证。在校准过程中使用的标准为综合测量的组合不确定性少于仪器的不准确性。1) 本特性的测量仅仅要求对膜厚测量的延伸评估；参 见条款 8（试验报告），项点 k）和 I）3.14验证用户使用的相关标准进行的准确性检查。3.15参考标准已知厚度的样品对比用户的测量值，可验证测量仪器的准确性。备注 参考标 准可能为涂层厚度标准。如果通过签订合同方的协议，那么试验样品的部分可以用来作为

5、特殊工作的膜厚标准。3.16测量仪器的厚度读数的矫正操作要符合相关的参考标准。备注 按照厚度标准和在垫片上调整绝大多数的测量仪器，镀层厚度和垫片已知。3.17准确性厚度标准的测量数值和准确数值之间的一致性。4 湿膜厚度的确定4.1 概述附录 A 给出湿膜厚度确定的使用方法概述。4.2 机械方法4.2.1 原则在所有机械方法中，测量仪器的部件通过涂层接触底材表面，并且涂层表面同时（参见图1）或随后（参见图2 和图3 ）接触 仪器的另一部分。湿膜厚度即 为两个接触点之间的高度差，可以直接读出。4.2.2 应用领 域此机械定律适用于所有膜-底材组合。测量进行的区域的底材至少应平整。单个平面的曲率应是

6、可以允许的（例如，管道的内表面和外表面）4.2.3 概述破坏性和非破坏性方法的分类取决于：a)涂层材料的流变性质；b)测量仪器的接触面和涂层材料之间的湿接触的自然状 态；c)厚度 测量是否是会导致涂层不适用于本来的使用目的。由于可能存在于仪器和底材之间的颜料粒子不会包括在内，所有的机械方法都有一个系统错误：显示的膜厚会比实际膜厚要小至少颜料粒子的平均直径。如果使用车轮量规（方法1B，参 见 4.2.5），轮子可能会被涂层材料弄湿。如果没有， 这代表了更进一步的系统错误，可能会导致被夸大的读数，和以下功能：-涂 层材料的表面张力和流变性质；-轨距的材料-车轮旋转的速度。4.2.4 方法 1A-齿

7、轮检查量规4.2.4.1 仪器的描述齿轮检查量规是由防腐蚀材料制成的平板，在边缘带有齿轮（参见图1）平板角落的参考齿轮定义了沿着内齿轮分布的基线，给出一列渐进序列的间隙缺口。每个齿上都标记有指定的间隙数值。市场有售最大厚度的齿形检查量规一般为2000m，最小增量一般为5 m.关键词1 底材2 涂层3 焊接接触点4 齿轮检查量 规图 1-齿轮检查量规的示例4.2.4.2 程序确保齿干净且没有被损坏。将齿形检查量规放置在凭证的样块表面上，以便齿可以垂直于表面平面。保持充分的时间，确保在一开量规前涂层能湿润量规的齿。如果样块有一个曲面，齿形检查量规的放置应平行于曲率轴。测量厚度取决于测量时间。涂层厚

8、度应在喷涂后尽快测量。备注：被涂层材料湿润的齿的最大差距读数即为湿膜厚度。4.2.5 方法 1B-车轮量规4.2.5.1 仪器的描述车轮量规包括一个由坚硬的防腐蚀钢铁之城的轮，带有三个凸出的轮缘。（参见图2）两个轮缘打磨成同样的直径，并设置成和轮轴共中心。第三个轮缘的直径稍小，且偏心。其中一个外缘具有刻度，从同心边缘各自凸出的地方到偏心轮可以读数处。具有两种版本：版本 1 的偏心 边缘位于同心 边缘之间。版本 2 的偏心 边缘位于同心 边缘外， 临近期中的一个。备注 不想版本 1，版本 2 的设计允许湿膜厚度的无 -视差读数市场有售最大厚度的车轮量规一般为1500m，最小增量一般为2 m.关键

9、词1 底材2 涂层3 偏心边缘4 车轮量规图 2车轮量规的示例4.2.5.2 程序用大拇指和食指捏住车轮量规的轮轴，将偏心边缘压在表面最大读数的点上。如果样块有一个曲面，车轮量规轴的放置应平行于曲率轴。在一个方向上滚动车轮量规，将其从表面上提起，当偏心轮还被涂层材料湿润时，很快 读出最高读数。清洁量规，并在一个方向上重复清洁。计算这些读数的算术平均数来计算湿膜厚度。厚度测量的结果取决于时间测量。应在喷涂后尽快测量此厚度。为了在结果中最小化表面的张力，观察油漆怎么样湿润偏心轮，在接触的第一个点处记录天平读数。仅仅可能有两种版本的车轮量规。4.2.6 方法 1C-度盘式指示器4.2.6.1 仪器和

10、参考标准4.2.6.1.1 度盘指示器（参见图 3）机械度盘式量规符合ISO 463的要求，电子度盘式量规一般可将测量精确到5m （机械度盘式量规）或1m （电子度盘式量规）或者更好。此量 规 可有模拟信号或数字信号显示。 度盘式量规的下面有两个等长的与可动活塞等距放置的接触针，三者成一条直线。调整螺钉用于精密调整活塞在导向道上的位置。关键词1 底材2 涂层3 活塞图 3-度盘式指示器的示例4.2.6.1.2 量规零位调整的参考标准要求使用一块平整的参考板对量规进行零位调整。参考板应包括一个平整的玻璃板，其平面度公差不得超过 1 m（参见 ISO11011）.4.2.6.2 程序在参考板上，将

11、测量尖调整到刚刚接触到板，以便 归零指针式量规。将柱塞螺旋回零位。将指针式量规的接触针放回样品上，以便他们能够垂直于基材表面，小心地将塞柱旋下，直到测量尖刚刚接触的涂层材料。膜厚测量的结果取决于测量的时间。应在喷涂涂层后尽快测量其厚度。从量规上直接读出湿膜厚度。4.3 重量分析方法4.3.1 原则喷涂涂层的厚度的计算方式为：用涂层的质量除以涂层密度，再除以涂层表面面积。湿膜厚度，tw，单位为微米，按照以下等式 计算其中m0为没有喷涂涂层的样块质量，单位为克；m 为喷 涂过涂层的样块质量，单位为克 ；A 为涂 层表面面积，单位为 平方米；为喷涂的液 态涂层材料的密度，单位为克/毫升。备注 喷涂液

12、态涂层材料的密度可以按照 ISO2811-1，ISO2811-2，ISO2811-3，ISO2811-4来确定。4.3.2 应用领 域重量分析原则通常都是用，除非液态涂层材料中具有大量的挥发性强的的物质。4.3.3 概述使用重量分析的原则确定整个覆盖土城区域的湿膜厚度的平均值。在喷涂图层时，样品的反面应覆盖保护，以免由于在样块背面喷上涂层导致测量误差。在称重喷涂后样块前， 应将其备件的保护层去掉。4.3.4 方法 2-通过质量的差异4.3.4.1 仪器要求天平能够称量 500g 到接近 1mg 的重量。4.3.4.2 程序首先称量喷涂涂层的样块和没有喷涂涂层的样块质量，然后使用等式（1）来计算

13、湿膜的厚度。4.4 激光光热法4.4.1 原则膜厚通过向涂层辐射热波的时间和探测到重新发射波（热波或超声波）的时间差来确定。（参见图4）不论涉及到何种类型的励磁或探测方法，所有的光热方法使用同样的原则：用热量的形式将周期性或具有脉冲的能量引入样品，然后他侧局部温度的增加。将测量的时间差和在固定条件下仪器测量已知膜厚获得的数值比较（激发能，脉冲持续时间，励磁频率，等）（参见4.4.4.2）关键词1 底材2 涂层3 重新放射的 热辐射4 涂层的辐射吸收（取决于涂层的厚度和涂层材料）5 热辐射6 热波7 超声波8 表面形变图 4在光热厚度测量中辐射和样块之间的相互作用显示表面形变4.4.2 应用领

14、域光热原则基本适用于所有膜-基材组合。也可以用于确定多层涂层中的其中一层的厚度，条件是多层涂层中的每一层应可通过它们的热传到新和反射性能充分区分。要求最小底材厚度为使用测量系统（参见4.4.4.1.1 ）和膜-底材组合的作用。4.4.3 概述破坏性或非破坏性方法的分类取决于涂层的目的。涂层吸收的热能可能因为本地产生的热效应而对涂层产生影响。4.4.4 方法 3使用热性能确定4.4.4.1 工具和涉及标准4.4.4.1.1 测量体系在涂层材料上产生热波并且探测样品加热部位的热影响有各种各样的方法（参见 EN 15042-2）。热辐 射源（例如：激光源，发光二极管，白炽灯）主要用于涂层的励磁系统。

15、将使用以下探测方法：对重新散发热辐射的探测（光热辐射）；对折射率改变的探测（上述测量区域的受热空气）焦热电探测（热流动测量）4.4.4.1.2 涉及标准基于校准目的，要求准备具有不同吸收性能和膜厚范围的参考样块。 （参见 EN 15042-218）4.4.4.2 校准校准测量系统， 对于每个膜基板（特别是每个涂层材料）使用参考样块（参见 4.4.4.1.2）4.4.4.3 程序按照生产商的指示，操作仪器，并 测量膜厚。5 干膜厚度的确定5.1 概述附录 A 给出了确定干膜厚度使用方法的总述。5.2 机械方法5.2.1 原则千分刻度盘或度盘式指示器（方法 4A，参 见 5.2.4）用于测量膜厚，

16、即总厚度（基材+膜）和基材厚度的差。有两种确定膜厚的方法a) (破坏性)测量分别在移除涂层前和移除涂层后进行。首先在制定测量区域测量其总厚度，然后移除测量区域的涂层，随后测量基材的厚度。b)（非破坏性）测量分别在喷涂涂层前和喷涂涂层后 进行。首先测量基材厚度，然后喷涂涂层，随后在同一测量区域测量其总厚度。计算两个读数的差数，得出的即为膜厚。深度计（方法4B，参见5.2.5）或表面光度仪（方法 4C，参见5.2.6 ），通过计算带膜基材高度和裸露基材高度的差，来确定膜厚。备注：仅有“移除涂层” 变量适用于深度计或表面光泽度仪（方法 4B 和 4）5.2.2 应用领 域机械原则基本适用于所有膜-基

17、材组合。在机械器具使用地方的基材和涂层应该足够硬，防止测量尖端造成漆面凹痕，进而出现不准确的读数结果。千分刻度盘或度盘式指示器（方法4A）适用于测量柱形 样品（如，电线，管道）的圆形横截面的膜厚。表面光度仪（方法 4C）被作为出现争议后的参考方法。5.2.3 概述在不同的“喷涂涂层” 上，应使用带有标签孔的样块来确保基材厚度的确认，并且应在同样一处地方来确认总体厚度。备注1 更倾向于不同的 “喷涂涂层”，以便防止塑料基材（绝大多数情况下使用的基材）不会再没有引起损坏的条件下被暴露。在不同的“喷涂涂层”上，测量区域上应划有圆圈并有标识。应小心地完全去除测量区域的涂层，而不会造成基材机械或化学上的

18、损坏。在喷涂涂层前， 应使用胶带部分覆盖基材，以便获得清晰的两层。如果使用深度计和表面光度计（方法4B和4C ），在测量区域没有被移除的涂层应保持完好。如果使用表面光度计（方法 4C），基材之 间的侧翼和膜表面 应充分定义。如果基材很坚硬（例如，玻璃），涂层应使用机械方法移除，但是不那么 坚硬的基材（例如，钢材），涂层应使用溶剂或涂层清洗剂的化学方法移除。备注2 如果是不那么 坚硬的基材，例如钢材，应使用10mm直径的空心钻切穿漆膜，或者使用溶剂或涂层清洗剂的化学方法来去除。所有被接触或测量的表面（涂层，基材，样块的反面）应保持清洁，且没有涂 层的渣滓残余。5.2.4 方法 4A通过厚度的不同

19、5.2.4.1 工具描述5.2.4.1.1 千分尺千分尺应该能够最近测量 5um。应该安装一个棘齿，以便限制主 轴上的力施加在试验表面上。版本 1-固定在架子上带有平面测量面的千分尺头被夹在带有平坦的基板的坚固架子上，架子的高度应可以调整。测量面应和基板的顶部平行对齐。版本 2 手持式（参 见图 5）这种仪器的一般术语名称为外径千分尺，尽管它还被称为千分卡尺（参见 ISO3611）。千分尺应符合 ISO3611 的要求。轴和铁砧的测量面应为平面，并且互相平行。图 5外部千分尺5.2.4.1.2 千分表机械千分表（符合 ISO463 的要求）的测量精确度应为 5um，电子千分表的测量精确度应为1

20、um，或者更好。此千分表上应安装可以提起测量尖端的装置。测量尖端的形状应该按照测量涂层材料的硬度来选择（硬材料使用球形端，软材料使用平面端）版本 1固定在架子上千分表被夹如图 6 所示的架子上。如果使用平面划针端，那么测量表面应平行于基板的顶部。图 6安装在指甲上的度盘式量规版本 2手持式此千分表上安装有一个把手。配置这个用来提起插塞的装置，以方便可以用一只手操作厚度及。铁砧的可更换端应位于可移动测量端的对面。 应该按照试验材料的硬度来选择测量尖端的形状（硬材料使用球形端，软材料使用平面端）图 7膜厚仪 关键词 1 表孔5.2.4.2 程序按照 5.2.3 准 备样品，以便“移除涂层” 和“喷

21、涂涂层”（参见 5.2.1）。操作所有仪器，使得样品的涂层侧或即将喷涂涂层侧能够分别面向轴（千分尺，参见5.2.4.1.1）或接触元件（千分表，参 见 5.2.4.1.2）。当使用夹在架子上的仪器时（5.2.4.1.1 和 5.2.4.1.2，每种情况的版本 1），将样块放置在底板上。当使用手持式类型（）5.2.4.1.1 和 5.2.4.1.2，每种情况的版本 2），持住样块，抵住安装好的测量尖端。备注 5.2.4.1.1 和 5.2.4.1.2 中指定的仪器把手，每种情况的版本 2，可以夹在支架上，使操作更容易。在移除漆膜（“涂层移除” ）或喷涂漆膜（涂层喷涂）后，重复第二次测量的程序。执

22、行每个操作，以便：当使用 5.2.4.1.1 中描述的千分尺时，轴应该抵住试验表面，直到棘齿被激活。当使用 5.2.4.1.2 中描述的千分表示， 应使用弹簧负载接触元件的尖端小心地接触表面。膜厚即为总体厚度和底材厚度的读数差。5.2.5 方法 4B-深度计5.2.5.1 工具涉及标准5.2.5.1.1版本 1-千分尺深度计（参见图 8）此类型的千分尺的测量精确度应可达到 5um，或更好。千分尺 应安装棘齿以便限制解除元件施加在底材上的力。有一个平坦底面放置在涂层表面，作为参考平面。关键词：1 底材2 涂层3 接触元件4 底面5.2.5.1.2 版本 2转盘式深度计符合 ISO463 要求的机

23、械千分表的测量应精确到 5um，电子千分表的测量应精确到 1um，或更好。千分表上应有一个平坦底面放置在涂层表面上，作为参考平面。关键词1 底材2 涂层3 接触元件5.2.5.1.3 工具调零的参考标准平坦参考面要求工具调零。参考面应包括平坦的玻璃板，其平面度公差不得超过 1um（参见ISO11011）5.2.5.2 程序从测量区域移除涂层。使用参考面（5.2.5.1.3）检查零点使一起归零。然后：a)当使用千分深度计，将底面放置的涂层表面，以便轴要在暴露面以上，将轴上的螺钉拧紧，直至尖端接触到基材，棘齿启动。b)当使用表盘深度计，将接触元件放置在暴露基材和底面 /(或接触针）在涂层表面上（如

24、果工具是带有接触针的类型，那么应确保样品表面正常）膜厚应可以直接读出（如果需要，由于任何归零错误更正）。5.2.6 方法 4C-表面型材扫描5.2.6.1 工具描述本仪器包含穿越划针连接到合适的放大设备和记录设备。为了测量膜厚，一起应用来记录涂层和底材之间形成的台阶剖面（由于移除部件上的涂层）（参见图 10）。使用可自由移动的划针来测量粗糙度或剖面，其中应选择划针尖的弧度来配合基材和膜表面的粗糙度。备注：可以利用视觉或听觉进行测量。 （例如：和样块没有任何接触）图 10表面型材扫描仪关键词1 底材2 涂层3 划针尖4 天平5 控制杆5.2.6.2 程序准备 5.2.3 中指定的 样块。使用恰当

25、的 监控器和绘图 机来扫描和记录测量区域的表面剖面。以下因素会反过来影响读数：没有充分清洁的表面计量系统的颤动使用了不恰当的划针尖记录的膜表面轨迹（上部的线）和记录的基材表面轨迹（下面的线）平均高度即为参考线。测量肩部中间点的参考线之间的距离即为膜厚。5.3 重量分析方法干膜厚度，t d (单位为 mm)，通过没有喷涂的样品的质量和喷涂过样品的质量差来计算，利用以下等式：（2）其中m0是没有涂层的样块质量，单位为 g；m 是喷 涂涂层的样块质量，单位为 g；A 为喷 涂涂层的面积，单位 为平方米；0是应用干膜材料的密度，单位为 g/毫升。备注 涂层材料的干膜密度影通过 ISO3233 来确定。

26、5.3.2 应用领 域重量分析方法一般适用。5.3.3 概述使用重量分析方法产生整个涂层表面的干膜厚度的平均值。特别是对于喷涂涂层的样块，样块的反面应被覆盖，防止由于样块背面的油漆（过度喷涂）导致测量错误。5.3.4 方法 5通过质量的不同5.3.4.1 仪器要求天平可以称重 1mg 到 500g 的重量。5.3.4.2 程序对没有涂层的样块进行称重，然后喷漆，干燥后重新称重。使用等式（ 2）计算干膜厚度。5.4 光学方法5.4.1 原则在横截面方法中（方法 6A，参 见 5.4.4），沿着平面打磨/切割样块，以便可以直接使用显微镜来测量膜厚（参见图 11）关键词1 底材2 涂层 13 涂层

27、24 涂层 3使用楔式切割的方法（方法 6B，参 见 5.4.5），使用切割工具在指定的角度对涂层表面进行指定尺寸的切割（参见图 12）。膜厚， t，使用一下等式来计算：t=b*tan (3)其中b 为切割的凸出部分的一半宽度（从边缘到底材），使用显微镜确定为切割角度。图 12对称切割， 圆锥孔，有坡度的切割关键词1 底材2 涂层3 对称切割4 圆锥孔5 斜切可以使用特殊的刀片在涂层表面切出对称的楔形切口（图 12 No.3 ），使用特殊的钻孔器切出圆锥形孔（图 12 No.4），使用铣刀切出斜切口（图 12 No。5）。5.4.2 应用领 域光学原则基本适用于所有的膜-基材组合。多层涂层的单

28、层厚度也可以测量，只要各个层之间可以充分的区分开来。如果使用横截面或楔形切割的方法，基材应有可以切割横截面，钻孔或切割的性能。如果出现争议，横截面的方法（方法6A ，参见5.4.4）被认为是仲裁方法。5.4.3 概述使用楔形切割方法的样块应该凭证（参见，备注5.4.5.2）。如果涂 层材料是有弹性的，那么横截面/楔形切割可能导致形变，进而导致测量出来的结 果无效。可通过在切割前冷却样块的方法了减少上述影响。如果有易碎和/或没有良好粘接的涂层，分层的膜层 可能会导致很难确定涂层和基材之间的真正界面。可能会导致读数的错误。544 方法 6A横断面测量5.4.4.1 类型 1-通过打磨5.4.4.1

29、.1 仪器与材料5.4.4.1.1.1 打磨抛光机用来制备金相的设备合适5.4.4.1.1.2 包埋剂使用对油漆涂层无有害效应且可以无缝隙包埋的冷凝固树脂。5.4.4.1.1.3 打磨抛光介质使用水磨砂纸， 例如 280，400，和 600 目，合适的金刚石研磨膏或类似的研磨膏。5.4.4.1.1.4 测量显微镜需要一个有合适的照明系统可以提供最佳图像对比度的显微镜。选择的放大率应使视场相当于膜厚的 1.5-3 倍。目镜或者光电测试设备应能使 测量精度至少达到 1m.5.4.4.1.2 流程将试样或者试样的代表性样本嵌入到树脂中（5.4.4.1.1.2）。 用打磨抛光机（5.4.4.1.1.1

30、 ）沿着平面到涂层表面的方向对试样或者试样样本进行湿磨.用更精细等级的磨料重复此程序。用显微镜测量暴露涂层的厚度。5.4.4.2 类型 2-通过切割5.4.4.2.1 仪器5.4.4.2.1.1 切割机需要一个横移或者旋转式切片机， 此切片机需要有合适几何角度硬质合金刀片和一个固定器，将试样夹在指定位置。5.4.4.2.1.2 测量显微镜需要一个有合适的照明系统可以提供最佳图像对比度的显微镜。选择的放大率应使视野相当于膜厚的 1.5-3 倍。目镜或者光电测试设备应能使 测量精度至少达到 1m.5.4.4.2.2 程序将试样或者从试样中取出的样本夹在显微镜的固定装置上，沿着平面切割到涂层表面。使

31、用显微镜测量暴露涂层的厚度。5.4.5 方法 6B-楔形掏槽5.4.5.1 仪器5.4.5.1.1 综述楔形掏槽方法需要切片机和测量显微镜。一个设备要同时包含这两个仪器。5.4.5.1.2 切片机需要一个特殊的带有可更换刀具的仪器以便在规定的角度制造精确的切口。切割工具（刀片， 特殊的涂层钻孔器 或者铣刀）应该 由碳化硅材料制成 有精确贴地切割器两翼。 合适的几何形状保证精确的楔形掏槽标准的切割角度在= 5,7 (tan= 0,1) 到= 45 (tan= 1)的范围之内。5.4.5.1.3 测量显微镜需要一个 50 倍放大率带有照明工具的 显微镜。目镜 可测量到 20 m。5.4.5.2 程

32、序毡制粗头笔标记试样，颜色为与测量区域对比鲜明的颜色。 此标记穿过切口和内孔。 切口和内孔穿过底材。用标记定位切口或内孔，用显微镜测量投射的半宽度， b, 使用方程式（3 ）计算膜厚（见 5.4.1）注意 方程式（3 ）不能用在曲面上。但是修改后的计算公式能用在曲面的圆锥孔上。5.5 磁测法5.5.1 综述对于大多数电磁式干膜测厚仪，在测量之前进行检查是非常必要的。在涂层可能的厚度范围内按照厂家说明书进行的检定。5.5.2 原理膜厚度通过磁场与金属底材的交互作用进行测量。通过将一个磁体从涂层去除所需的力（方法 7A， 见 5.5.5）或者磁场改变（方法 7B， 7C 和 7D，见 5.5.6，

33、 5.5.7 和 5.5.8）来测定膜厚。5.5.3 应用范 围磁测法应用于金属底材的涂层。方法 7A， 7B 和 7C， 底材必须是铁磁的， 7D 是非铁磁的。涂层的性质必须是这样的即：在仪器接触涂层表面时读值不能无效5.5.4 综述仪器制造的磁场会被下列因素影响 底材的几何性能（尺寸，曲度和厚度） 底材材料的性质（例如，透磁率，导电性和因预处理造成的性质） 底材的粗糙度 其他磁场（底材的残余磁性和外部磁场）5.5.5 方法 7A- 拉伸式磁性干膜测厚仪5.5.5.1 仪器说明此仪器包含一个磁体用来测量膜厚， 方法是通过测量磁体与底材之间的吸引力（见图 13a 和 13b）注意 图 13a

34、所示仪器可以用在任何位置。图 13b 因为重力作用只用于一个方向。1 底材2 涂层3 磁体4 数值范围5 弹簧图 13 拉伸式磁性干膜测厚仪5.5.5.2 程序将带有磁体的仪器放在涂层上。沿垂直于涂层表面的方向将磁体从涂层提起。通过测定将磁体从试样表面拉起所需的力可以测出膜厚。5.5.6 方法 7B-磁通表5.5.6.1 仪器说明此仪器包含一个磁体，通过磁体磁场的的变化测定膜厚，磁场的改变由底材造成。用霍 尔探测器测定磁场（见图 14）1 底材2 涂层3 霍尔部件4 磁体U 霍尔电压I 控制电流图 14-霍尔探测器5.5.6.2 程序将仪器垂直放在涂层上。直接从刻度盘上读取膜厚或者按照制造商的

35、说明计算膜厚。5.5.7 方法 7C-磁感应仪5.5.7.1 仪器说明此仪器包含一个电磁体，通过在接近铁磁底材时磁场的变化来测定膜厚（见图15）。 电磁体会产生一个低频率交变电磁场（(LF, 例如从 60 Hz到400 Hz) （见ISO2178 3).1. 底材2. 涂层3. 铁磁芯4. 交变电磁场（LF）5. 测量信号6. 电流图15-磁感应仪原理5.5.7.2 程序将仪器垂直放在涂层上。通过磁通量的变化计算膜厚度。5.5.8 方法7D-涡流表5.5.8.1 仪器说明此仪器包含一个电磁体，通过因导电底材涡流导致的磁场变化来测定膜厚（见图16）。 电磁体会产生一个高频率交变电磁场（HF, 例如. 0,1 MHz to 30 MHz）（见ISO2360 4).