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集成电路测试仪相关资料.doc

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资源描述

1、集成电路测试仪一、概述:集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备,集成电路的分类很多,主要大的分类有数字集成电路和模拟集成电路等,按集成电路的分类,集成电路测试仪也可以分为:数字集成电路测试仪和模拟集成电路测试仪。按功能分类:可以分为集成电路功能测试仪和集成电路参数测试仪;按形式分:便携式集成电路测试仪和台式集成电路测试仪。功能测试:是对集成电路的功能进行判定,看是否功能失效。参数测试:是对集成电路的各项参数进行测试,看测试读取的参数是否符合 ic 的设计要求。市场上常见的便宜的集成电路测试仪大多是功能测试,由于参数测试仪的生产成本较高,一般参数测试仪的价为都在几万,价位的高低一般取决

2、于参数测试的精度。二、型号举例:1、ICT-33C 数字 IC 测试仪 参考价格:4776 元ICT-33C+数字 IC 测试仪 参考价格:5220 元主要功能 器件好坏判别:当不知被测器件的好坏时,仪器可判断其好坏。 器件型号判别:当不知被测器件型号时,仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 器件老化测试:当怀疑被测器件的稳定性时,仪器可对其进行连续老化测试。 器件代换查询:仪器可显示有无逻辑功能一致、引脚排列一致的器件型号。 内部 RAM 数据修改:ICT?/FONT33C 可从键盘对自己内部 RAM 中的数据进行随机修改。 EPROM、EEPROM 器件读入: ICT?/FONT33C 可将

3、 64K 以内的EPROM、EEPROM 器件内的数据进行读入并保存。 EPROM、EEPROM 器件写入: ICT?/FONT33C 可将内部 RAM 中的数据写入到64K 以内的 EPROM、EEPROM 器件中,并自动校验。 可 测 器 件(1300 多种) CMOS40 系列:103 种。 CMOSMC140 系列:103 种。CMOS45 系列:60 种。 CMOSMC145 系列:60 种。 光耦合器系列:133 种。 TTL74/54 系列:714 种。 TTL75/55 系列:82 种。数码管系列:0.5 吋共阳001 ;共阴002;0.3 吋共阳003 ;共阴004;0.7

4、吋共阳005;共阴006。 常用 RAM 系列:2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128 EEPROM 系列:2816 2817 2864 28256 28040 29101 EPROM 系列:2716 2732 2764 27128 27256 27512 微机外围电路系列:8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 68

5、40 8718 8728 Z8OCTC(8O2) 常用单片机系列:8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752 其他系列:2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160) DG201 MC14161(40161) MC14162(401

6、62) MC14163(40163) TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD75062、SIMI-100IC 测试仪 参考价格:12160 元测试范围及测试品种:28Pin 54 系列; 74 系列; 4500 系列;4000 系列;RAM 256K BITEPROM 64K BITC00 系列;产品主要性能:在功能测试的基础上 测试器件的输入端注入电流。测试器件的功耗电流。 测试器件的输入端交叉漏电流。 查找未知芯片型号。 测试器件的输出端:三态“及”OC“ 门。 可以单次测试,也可以循环测试。测试器件的输出负载电流。 可自动识别 74 系列

7、中的 CMOS(如:74C,74HC,74HCT 等) 。测试模式:模式 O:全组合参数测试。 模式 1-C:操作与模式 O 相同,但各有其不同的测试参数数值。模式 D:任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。 模式 E:自检。内容包括计算机部分,显示,键盘及测试管脚电路。模式 F:自编程测试. Simi-100 数字集成电路多值逻辑测试仪测试电源拉偏状态下,输出电平加载测试。对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时,完成真值表功能测试。真值表功能测试的同时,完成“三态” (高阻状态)漏电流测试。对 IC 输入电流、功耗电流测试。输入漏电流及交叉漏电流测试。测试过程无须人工干预。用户可以自

8、选测试模式,使用方便、操作简洁。可自动识别 74 系列中的 CMOS 器件。可以查找未知 IC 的型号。3、英国 AT-256 全品种集成电路测试仪 此款测试仪除具能实现上述几款机器的测试功能外,几乎可以测试所有的集成电路芯片,另外还具备检测元器件是否为拆机件,假冒件的功能,并可选配配各种器件检测转接板(可以检测所有封装类型的器件) ,并能和电脑通讯实现测试报告的生成,能将测试数据生成报表或者是 PDF 文档资料方便对比查阅。但是此款检测仪价格比较昂贵。三、对比结果结合公司的实际情况和对上述几款集成测试的性能、价格综合比较,ICT-33C+ 数字 IC 测试仪属于性价比比较高的一款产品,建议公司购买一台来加强 IQC 对集成电路元器件的检测,以边更好的保证公司产品的质量。

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