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气相色谱仪一般故障现象原因及排除措施.ppt

上传人:暖洋洋 文档编号:1657747 上传时间:2018-08-16 格式:PPT 页数:38 大小:117.50KB
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资源描述

1、气相色谱仪一般故障现象、原因及排除措施,市政环境工程学院 陈忠林,进样后不出峰,没有载气:检查气路、测柱后流量;是否气瓶无气;是否气路系统堵塞或柱头堵或柱进水。 FID灭火:确定,关氢气,检查,重新开氢气并点火。 注射器漏气或堵塞:检查、修理或更换。 进样口橡胶垫漏气:更换。 柱连接松动漏气:检漏并紧固。,进样后不出峰,气化室温度低样品未气化:调整气化室温度。 双柱系统中,进样时弄错柱子。 记录器信号输入线接错:重新接线。 检测器或放大器电压供给问题:检查供电。,保留值正常但灵敏度太低,进样技术差,样品漏失:重复进样练习,提高进样操作技术。 进样量太少:确认并逐渐增加进样量。 注射器漏气或堵塞

2、:检修或更换。 载气系统有漏气:检查进样橡胶垫、柱接头等。 衰减过分:减少衰减。 TCD桥流太低:增加桥流 检测器无电压供给:检查并供电。,保留值增加、灵敏度低,注射器漏气:检修或更换。 注射口橡胶垫漏气:更换橡胶垫。 柱温降低:检查柱温并排除故障。 载气流速降低:检查载气系统是否堵塞,检查气瓶压力是否太小,增加载气流速。,出反峰,TCD电源接反:改变电源接线后观察是否故障消失。 记录仪信号输入线接反:改正记录仪信号输入接线。 双柱系统中,进样时弄错柱子:改变进样口。 样品注射到有毛病的柱上:更换合适的色谱柱。,恒温操作中基线不规则漂移,仪器放置位置不当:仪器不应放置在热源和空气调节风扇附近以

3、及易受气流和环境温度变化影响的地方。 仪器没有很好接地:确保仪器和记录器接在很好的地线上。 载气漏气:检查有无漏气点。 柱固定相流失:老化柱子。高灵敏度下适当有些柱流失使基线漂移是允许的。,恒温操作中基线不规则漂移,TCD池体污染:清洗池体。 柱出口到检测器的连接管污染:清洗。 检测器温度没有稳定:确认温度稳定后进样。 载气调节阀有毛病或操作不当:确认载气供气是否正常。 FID的氢气和空气比例不当或调节阀有问题:检查气体流量并确保适当流速。,恒温操作中基线不规则漂移,TCD检测元件有问题:更换热导池元件。 FID放大器失灵:检修。 记录器失灵:拆去记录仪输入导线,用一段铜线把记录仪输入短路,若

4、基线仍然如此,则是记录仪故障。 TCD电源供给部件失灵:检修或更换。,恒温时基线向一定方向漂移,检测器温度有变化或未达平衡:检查温度。 系统漏气,柱后流量减小( TCD ):采用392-588KPa压力检漏。 TCD元件失灵:更换检测器。 TCD桥流电源失灵:检修或更换。 离子化检测器的放大器失灵:检修。,基线正弦波漂移(周期较短),载气流调节有问题:检修或更换。 载气源压力太低使调节器工作不正常:检修或更换。 柱箱温度保护控制调得太低:柱箱温度保护设定必须高于所要使用的温度。 检测器恒温箱隔热有缺陷:确保恒温箱保温良好。 检测器恒温箱或柱箱温控失灵:检修或更换。,程序升温时基线上升,柱固定相

5、流失:预先老化色谱柱。 双柱操作中两个柱流速不平衡:调节平衡两柱流速。 色谱柱污染:预先老化色谱柱。,程序升温时基线不规则变化,色谱柱固定相流失:老化色谱柱或降低柱使用温度。 色谱柱污染:重新老化色谱柱。,基线不回零,记录器零点调节不对:重新调节记录器零点。 TCD平衡未调节好:重新调节池平衡。 TCD稳压电源坏:检修或更换。 固定相流失严重本底信号太大:更换柱流失低的色谱柱。 检测器污染:清洗检测器。 放大器失灵:检修。,基线不回零,记录仪接线错误:检查接线,注意信号线和屏蔽线的接法。 记录仪故障:检修记录仪(同前)。,基线出现不规则尖刺,载气不纯净:净化载气(连接净化管)。 填充柱填充物松

6、动:使色谱柱填充紧密。 电子部件有接触不良处:重新按压、轻敲有关电子部件,确定接触不良位置,检修。 电源电压波动大:检测供电是否良好,必要时选用稳压电源。,基线出现不规则尖刺,开关门、风扇等引起大气压的迅速改变:将仪器放置在不易受环境变化影响的地方,并注意不要把仪器放在热源和空调风扇附近。 灰尘或异物进入FID火焰里:气体净化、吹洗检测器。 检测器或信号线污染、绝缘性不好:用适当溶剂清洗检测器绝缘部件或信号线接触点。 TCD稳定电源失灵:检修或更换。 FID放大器失灵:检修或更换。,基线有规则出现尖刺或小峰,载气气路中有气泡或冷凝液:加热气路驱除冷凝液。 FID氢气发生气来的水污染氢气管路:除

7、去管路中的水或更换过滤器。 电源有规则起伏:加接稳压电源。 氢火焰离子化检测器有冷凝水:升高FID 温度除水。,基线噪声太大,柱污染或固定相大量流失:重新老化柱子。 载气被污染:更换过滤器,加强净化。 载气流量太大:降低载气流量。 载气流路漏气:检漏并修理。 接头松动:紧固接头。 接地不好:改进接地地线。 开关接触点沾污:清洁被污染触点。,基线噪声太大,气化室脏:清洗气化室、更换硅胶垫。 FID氢气流速太高或太低:检测并调整氢气流速。 FID空气流量太高或太低:检测并调整。 FID空气和氢气污染:更换或再生过滤器。 FID检测器离子头有冷凝水:升高检测器温度除水。 检测器输出信号线污染:清洗或

8、更换。,基线噪声太大,离子化检测器绝缘零件脏:用适当溶剂清洗。 离子化检测器底座、电极和盖脏:用适当溶剂清洗。 氢焰头漏气:紧固或换垫圈。 TCD检测器脏:清洗TCD。 TCD热丝坏:更换热丝。 TCD桥流不稳:修理桥流线路。,拖尾峰,进样技术差:进样练习,提高技术。 柱温太低:提高分析柱箱温度,但不能超出固定相最高使用温度。 气化室脏:清洗。 气化温度太高或太低:调节到合适的温度。 使用了不合适的柱使样品与固定相或载体发生相互作用:更换合适的柱。换用高固定相含量的柱或极性更大的固定液、惰性更大的载体。 同时出两个峰:改变操作条件或更换色谱柱。,前突峰(伸舌峰),进样技术欠佳:进样练习,提高技

9、术。 柱超负荷,即在柱内径和长度一定时,进样量太大:减少进样量。 样品在系统中冷凝:适当升高气化室、色谱柱和检测器温度。 载气流速太低:适当提高载气流速。 进样口气化温度太低:升高进样口温度,以缩短气化时间。,前突峰(伸舌峰),分离不好,两个风同时出现:改变操作条件(如降低柱温等),必要时更换色谱柱。 进样口污染:清洗进样口。 试样与固定相中载体有作用:换用惰性载体或增加固定液含量。,峰分不开,进样技术差:重复进样,提高技术。 柱温太高:降低柱温。 柱太短:增长色谱柱。 柱液流失柱失效:更换色谱柱。 载气流量太大:减少载气流量。 柱不合适,选择的固定相和载体不合适:选用不同色谱柱。,圆顶峰(馒

10、头峰),载气漏气严重:检漏并处理。 进样量过大,超出检测器线性范围:减少进样量。 记录仪灵敏度太低:适当调节记录仪灵敏度。 检测器污染:清洗检测器。,平顶峰,超过记录仪量程范围:改变记录仪量程或减小进样量。 检测器静电计输入达到饱和:减少进样量或减小放大器灵敏度。 记录仪故障:检修。,怪峰(正常峰之外所出现的峰),前一次进样的高沸点物质流出:加长进样间隔时间,待所有峰流出后再进样。 载气不纯,其中杂质在柱温低时凝聚,柱温高时流出:更换或再生净化管。 液体样品中的空气峰:尽量驱除气泡。 注射溶剂后从柱上洗脱下来的记忆峰:使用多种溶剂或调整柱子。 样品分解:降低分析温度或更换柱子。,怪峰(正常峰之

11、外所出现的峰),样品被污染:清洗样品瓶、进样器或更换样品或将样品净化。 样品与载体或固定相作用:更换不同柱。 进样口硅胶垫沾污物流出:高于操作条件下老化进样垫或更换。,出峰后基线突然降至正常基线以下,进样量太大:减小进样量。 样品中含氧量太多,超过助燃空气:用惰性气体稀释样品。 氢气或空气中断:重新调节氢气或空气。 载气流速太高:确定适当的载气流速。 FID火焰喷嘴脏:清洗。 由于压力波动,氢气发生器被反冲关闭:重新调节氢气发生器,检查气路。,在峰后出现负的尖端,ECD被沾污:清洗ECD。 ECD负载过大:减少进样量或稀释试样。,大拖尾峰,柱温太低:适当升高柱温。 气化温度过低:适当升高气化室

12、温度。 样品被沾污(特别是被样品容器的橡皮帽所沾污):把样品容器塞包裹一层金属箔或使用不被溶解的容器塞(如玻璃、聚乙烯等)。,基线出现正向、负向毛刺,电源干扰:查找并排除电源干扰。 记录仪滑线电阻局部接触不良:清洗记录仪滑线电阻。 插接线接触不良:检查并插接牢固。 接地不良:检查使机壳接地良好。,基线抖动,记录仪灵敏度过高:调整记录仪灵敏度和阻尼。 TCD24V直流电源问题:检修电源。,基线波动(周期较长),风扇马达振动,影响气流不稳:检修风扇。 检测器控温精度差:检修检测器控温,加强保温。 仪器周围空气波动大:减少环境空气流动。 稳压阀不稳:检修稳压阀。 感温铂电阻迟钝:用HF腐蚀铂电阻玻璃外套。,基线短周期规则或不规则波动,检测器恒温箱绝热不良:检修恒温箱。 检测器恒温箱温控失效:检修温控系统使达到精度要求。 柱箱温控失效:检修柱箱温控系统。 载气流速控制失效:修理稳压阀或针形阀。 载气钢瓶压力太低:检查更换。,基线严重漂移并有波动,固定相流失:增加柱老化时间,降低柱温。 难挥发组分逐渐流出:选择或更换合适色谱柱。 TCD热丝元件沾污:清洗或更换钨丝。,氢焰基线毛刺,氢焰灵敏度太高:调整灵敏度。 气流不稳,火焰跳动:调整氢气和空气流量。 FID的三种气流速失调:按比例调节三种气体流速。,

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