1、List: Gray-Scale Test LCD Driver IC介绍 Leakage test open & short test,Gray Scale Test,Gray Scale Test,Gray Scale 测试目的以及原理 Gary Scale 测试即灰阶测试,主要是在Input 输入数据Code 下使Output 输出不同色 阶电压并判定各色阶电压是否在固定输出范围内的测试. 灰阶测试可以保证屏幕上各像素点不会产生色差的状况,芯片Bit 数决定灰阶数 6 Bit 芯片灰阶数量为 2*2*2*2*2*2 = 64阶,Gray Scale Test,灰阶数与Gamma Pin
2、间关系,Gray Scale Test,灰阶数与Gamma Pin 间关系,Gray Scale Test,数据Code输入LCD driver 可视为将数据输入Code 通过Gamma Pin 编码输出对应电压的芯片，数据输入方式通过若干周期的数据输入对应至各Output Pin 脚位置数据Code输入与Output的输出时序由EIO1，2以及CLK 决定,Gray Scale Test,测试Gray Scale Waveform波形测试时由Input使Output输出同阶Code，采集各Output判断输出是否在规格内,Gray Scale Test,测试Gray Scale Wavefo
3、rm波形每一阶会采IC 所有Output的输出，绿色为测试数据，红色为H-Limit，黄色为L-Limit,Gray Scale Test,测试Gray Scale Waveform波形各Output Pin输出电压状况也会细微的差异，所以为保证各像素点在同阶内不会有明显的色差，各Output Pin 的Devition也会做相关的测试,LCD Driver IC Introduction,LCD Driver IC Introduction,Source LCD Driver 基本电路介绍,LCD Driver IC Introduction,Source LCD Driver Functi
4、on Introduction,Gamma Pin 分正负极,主要是配合液晶分子翻转方向有关,IC 电源Pin 由电压源VDD和GND VSS 组成,由于IC各部分使用不同电路电源可能大于2根而是一组,Osel 决定芯片输出管脚数量为 384/360,R/L 决定输出的顺序,Single Pin 分正负极,主要Single Pin 使用的是差分信号输入,主要有RSDS ,LVDS ,Mini-LVDS,LCD Driver IC Introduction,Source LCD Driver Function Introduction 针对Source LCD Driver 我们可以直接把芯片看
5、成将功能复杂D/A转换器 假设IC Work 在Osel = H ,R/L = H的模式下,信号输入与输出入下图:,Source LCD Driver 对应至TFT-LCD 面板输出Single Pin 直接设定各Dots 的透光率使屏幕产生刷新,每个Pixel由R,G,B三个Dot 组合而成,按此颗举例的LCD Driver IC,是工作在Output 384 模式下使用8ea Source Driver IC ,而Output 360模式是For 宽屏使用,例如:14 宽屏1280*800 使用10ea Source Driver IC,LCD Driver IC Introduction
6、,Gate LCD Driver 基本电路介绍,LCD Driver IC Introduction,Gate LCD Driver Function Introduction Gate Driver 功能相对简单只是按时钟信号对各输出脚位做按顺序升压选通的功能,LCD Driver IC Introduction,Gate LCD Driver 对应至TFT-LCD 面板输出Gate Driver 直接连接在纵向,Gate Driver Output 256Pin时,1024*768 屏幕使用的3ea Gate Driver,LCD Driver IC Introduction,Source
7、 & Gate Driver 配合TFT-LCD 电路Source Driver 负责Dot 色彩的选择,Gate Driver 选择刷新的哪一行,Driver IC 间时序的配合由LCD Control 输入时钟信号决定时序,此部分皆在IC 的Input Side 实现,LCD Driver IC Introduction,Leakage Test Method,Leakage Test Method,Leakage 定义: Leakage 通常指漏电流之现象,某种意义上与Short 的状况类似,也分单根Pin Leakage (对地或对电源Pin),也分Pin to Pin 的Leakag
8、e,只是Short 出现时基本上单Pin与Short 的部分不存在阻抗,但Leakage 指相连的两部分有一定阻抗的状况导致分流,Leakage 测试方法 Input Pin Leakage : 对电源Pin Leakage IIH , 对地Pin Leakage IIL Input Signal Pin Leakage: Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH , Pull-Down Pin 对地Pin Leakage IIH ,GAMMA Leakage 测试是Pull Up/Down 两种测试方法的结合 Output Pin Leakage:对电源Pin Leaka
9、ge IOZH , 对地Pin Leakage IOZL,Leakage Test Method,Input Pin Leakage Test(对电源Pin /对地/Pin to Pin),Leakage Test Method,Input Leakage 电路模拟(IIL) (对电源Pin /对地) IIL测试被测Pin 接地,正常状况在被测Pin 基本无电流流过(下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流) 当被测Pin与电源Pin有阻抗且小于525K时电流小于 -10uA,一般测试SPEC 为-10uA,Leakage Test Method,被测Pin无异常模拟电路,被测Pin与电源P
10、in出现阻抗模拟电路,Input Leakage 电路模拟(IIL) (Pin to Pin) 被测Pin 接0V ,其他 Input 接 5.25V = VDD , 出现 Pin to Pin 的Leakage 时仍然会出现量测值 -10uA的状况(阻抗小于525K状况),Leakage Test Method,Input Leakage 电路模拟(IIH) (对电源Pin /对地) IIL测试被测Pin 接 5.25V,正常状况在被测Pin 基本无电流流过(下图是由于二极管负反馈导致出现出现微量电流) 当被测Pin与地有阻抗且小于525K时电流小于 -10uA,一般测试SPEC 为-10u
11、A,Leakage Test Method,被测Pin无异常模拟电路,被测Pin与电源Pin出现阻抗模拟电路,Input Leakage 电路模拟(IIL) (Pin to Pin) 被测Pin 接5.25V ,其他 Input 接 0V , 出现 Pin to Pin 的Leakage 时仍然会出现量测值 -10uA的状况(阻抗小于525K状况),Leakage Test Method,Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH 上拉Pin 是在IC 内部被测Pin 与电源Pin 间本来就有固定阻值的电阻,如下图:被测试Pin 与电源Pin 间有 200K的阻抗,正常测试的
12、结果电流大约在-26uA,当Pin对电源Pin Leakage 时会出现电流变小的状况 -30uA,Leakage Test Method,Pull-Up Pin 对电源Pin Leakage IIH 当 Leakage 阻抗在1K时,电流出现变化由-26uA-5.28mA,SPEC 设定为 -30uA,Leakage Test Method,Pull-Down Pin 对电源Pin Leakage IIH 当 Leakage 阻抗在1K时,电流出现变化由26uA-5.28mA,SPEC 设定为 30uA,Leakage Test Method,GAMMA Leakage 测试 GAMMA P
13、in 结构是在两根GAMMA Pin 间都有不同Ratio 的阻抗造成GAMMA Pin 电压不同,用于灰阶计算,GAMMA Pin Leakage 测试为Pull Down/Up Leakage 测试的结合,Leakage Test Method,Open & Short Test Method,Open & Short Test Method,Contact TEST OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) Using A DC Test Unit(工程模式测方法) CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PIN(工程模式测方法) CON
14、TACT TEST OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) USING A PROGRAMMABLE LOAD(量产测试跑Pattern方法),Contact Test OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) Using A DC Test Unit,Signal Pin 线路结构Signal Pin 一端通过二极管接Power Pin, P极 Signal Pin 一端通过二级管接GND, N极 部分产品 Signal Pin只有 N极或P 极良率100%不需要做测试,P极,N极,Contact Test OF SIGNAL PINS (I
15、nclude LCD PIN) Using A DC Test Unit,Signal Pin Test Using DC Unit (ISVM)测试时需将Power Supply Pin 置0V或Open ,GND Pin 接地 测试P 极二极管通路时,一般加100uA电流,用电压表量测压降通常在0.60.7V 测试N极二极管通路时,一般加-100uA电流,用电压表量测压降通常在-0.60.7V 除被测Pin需置0V,否则会干扰Short 测试,Contact Test OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) Using A DC Test Unit,Signal
16、Pin Open Test Result当IC出现Open 时候测试结果为钳制电压(避免出现大阻抗产生大电压) 2V或-2V 当P 极和N极同时 Open Fail Tape 内/外引脚断裂的可能较大,Contact Test OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) Using A DC Test Unit,Signal Pin Short Test Result当IC出现Short 时候测试结果为0V,由于出现二极管被两段被连通的状况,0.7V压降不存在 Pin To Pin Short 被测Pin与其他Pin Short ,由于其他Pin直接置成0V,所以被测Pi
17、n量测电压仍然为0V,CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PIN,Power Supply Pin 线路结构Power Supply Pin 通过二级管接GND 大部分产品Power Supply Pin 不测试Open/Short,由于出现Open/Short 所有的项目将Fail,CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PIN,Power Supply Pin Using DC Unit (VSVM)除被测Pin需置0V,否则会干扰Short 测试 测试时在被测Pin上加电阻和电源(负向电源),测试二极管负载电压,CONTACT TE
18、ST OF THE POWER SUPPLY PIN,Power Supply Pin Test Result当出现Open 时候测试结果为 Vs 电压(电压表阻抗很大会抢大部分电压负载),CONTACT TEST OF THE POWER SUPPLY PIN,Power Supply Pin Test Result当IC出现Short 时候测试结果为0V,由于出现二极管被两段被连通的状况,0.7V压降不存在 Pin To Pin Short 被测Pin与其他Pin Short ,由于其他Pin直接置成0V,所以被测Pin量测电压仍然为0V,CONTACT TEST OF SIGNAL PI
19、NS (Include LCD PIN) USING A PROGRAMMABLE LOAD,Power Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOAD除被测Pin需置0V,否则会干扰Short 测试 使用 Programmable Load 测试速度比DC (MDC/UDC)单元测试速度大幅提高,测试结果数值比对使用Pattern方式,CONTACT TEST OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) USING A PROGRAMMABLE LOAD,Power Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOAD VT
20、 =2V,实际是对被测Pin加100uA电流,压降为0.6V,CONTACT TEST OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) USING A PROGRAMMABLE LOAD,Power Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOAD VT =-2V,实际是对被测Pin加-100uA电流,压降为-0.6V,CONTACT TEST OF SIGNAL PINS (Include LCD PIN) USING A PROGRAMMABLE LOAD,Power Supply Pin Using A PROGRAMMABLE LOAD 实际测试中运用 相邻Pin VT打至不同的电压档位,对相邻Pin输入100uA/-100uA 电流,测试Open/Short的部分 单根Pin的Open量测值仍然为Clamp 电压,Short量测值为0V Pin To Pin Short 测出为0V,比较容易查找到Pin To Pin 异常 相邻Pin电流 Loading 的数值为等值反向,Pin to Pin Short,end,
