1、题号 试题名称：X 荧光光谱分析 试题量 共计： 题 命题人姓名：命题人部门 题 目 选项号 备选项 答案1 无损检测 12 破坏性检测 03 相对检测 01X 射线荧光光谱分析是一种（ A ）技术，可对贵重物品进行表面扫描。4 绝对检测 01 较高 02 较低 13 为零 02利用 X 荧光光谱分析轻元素困难的主要原因之一是轻元素的荧光产额（ B ）。4 非常高 01 光栅 02 棱镜 03 分光晶体 13X 射线荧光光谱仪的分光器件为（ C ）。4 透镜 01 铬 02 铑 13 铍 04S4 PIONEER 型 X 射线荧光光谱仪 X 光管靶材为（B ）。4 钨 01 波长与能量成正比
2、02 波长与能量没有联系 03 波长与能量成反比 15波长与能量的关系是（ C ）4 以上说法不对 01 能量的单位 12 光的强度单位 03 波长的单位 06keV 是（ A ）的单位4 频率的单位 01 散射 02 反射 03 折射 07荧光光谱仪中分光晶体利用了光的（ D ）特性4 衍射 11 253 02 235 13 255 08一般分析仪器对室温的要求是（B ）4 无特殊要求 01 02 13 09分析仪器的数据统计中经常会遇到的标准偏差的计算方法为（B）4 010 kcps 是指（B） 1 能量的单位 02 光的强度单位 13 波长的单位 04 频率的单位 01 前者有分光器件，
3、后者没有 12 前者有检测器，后者没有 03 前者激发源，后者不需要 011波长色散与能量色散 X 射线荧光光谱仪在结构上的区别是（）4 前者没有分光器件，后者有 01 内层电子的跃迁 12 外层电子的跃迁 03 分子的振动和转动 012X 射线荧光的产生是由于（A ）4 以上都有 01 元素范围从铍 (Be)到铀 (U) 12 元素范围从锂 (Li)到铀 (U) 03 元素范围从钠 (Na)到铀 (U) 013X 射线荧光光谱分析的元素范围（4 元素范围从碳 (C)到铀 (U) 01 5s 02 10s 03 15s 114目前我公司树脂环压片法的保压时间为（）4 20s 01 33%+67
4、% 02 67%+33% 13 50%+50% 015我实验室目前常用的 Li2B4O7 和 1LiBO2 的比例是（）4 25%+75% 01 冷却光管 12 冷却检测器 03 冷却高压发生器 016S4 PIONEER 内水冷机的作用是（）4 冷却分光晶体 01 六个月 02 一年 13 两年 017X 射线荧光光谱仪的检定周期是（）4 由使用单位决定 01 流气正比计数器 02 闪烁计数器 13 光电倍增管 018X 射线荧光光谱测定重元素时采用的检测器为（）4 红外探测器 01 流气正比计数器 12 闪烁计数器 03 光电倍增管 019X 射线荧光光谱测定轻元素时采用的检测器为（）4
5、红外探测器 01 标准偏差 02 极差 03 误差 020在数据分析中常用的 RSD 值表示（ D ）。4 相对标准偏差 11 较高 02 较低 13 为零 021利用 X 荧光光谱分析轻元素困难的主要原因之一是轻元素的荧光产额（ B ）。4 过高 01 200W 02 1000W 03 4000W 122布鲁克公司生产的 S4PIONEER 型 X 射线荧光光谱仪使用的光管功率为（ ）。4 8000W 01 5%Au+95%Pt 12 10%Au+90%Pt 03 15%Au+85%Pt 023熔制玻璃片时通常使用的铂金坩埚成分为（）4 100Pt 01易与单质金属形成合金，影响其性能 12
6、 能熔化金属 03 污染坩埚 024铂金坩埚在高温时不可接触单质金属的原因是（）4 划伤坩埚 01 加入稀释剂对样品进行稀释。 02 采用熔片分析。 03 采用内标法进行分析。 025 下列那些方法不能减小基体效应（ ）。4采用尽可能多的标样来制作工作曲线，使元素的分析范围变宽。 11 氩气 02 氦气 03 甲烷 126以下哪种气体可以作为流气计数器中的淬灭气体（）4 氮气 01一种元素对应一条特征谱线，一条谱线对应多种元素 12在一定的条件下，元素的特征谱线的强度与元素的浓度线性对应。 03一条特征谱线的能量与这条谱线的波长有关，与谱线的强度无关 027下列关于特征谱线的描述不正确的是（
7、）。4谱线的波长越短，能量越高，穿透能力越强。 01 棱镜 02 光栅 03 分光晶体 128X 射线荧光光谱仪的分光器件为（）4 狭缝 01 nm 12 Hz 03 cps 029以下为波长单位的是（）4 kev 030 S4 PIONEER 型 X 射线荧光光谱仪的真空度 1 800 02 1000 03 1100 1要求为（）4 1200 01 波长色散 12 能量色散 13 固定道 031X 射线荧光光谱仪根据色散方式可分为（）两种类型。4 扫描道 01 光电倍增管 02 闪烁计数器 13 流气正比计数器 132X 射线荧光光谱中的检测器为（ BC 4 红外探测器 01 10%氩气 0
8、2 90%甲烷 03 90%氩气 133P10 气体的主要成分为（）4 10%甲烷 11 压环法 12 直接压片法 13 镶边法 134常用的压片方法有（）4 样品杯法 11 多点扣背景法 02 单点扣背景法 13 两点扣背景法 135获取谱峰净强度的方法通常主要有（）4 以上都有 01 标准化法 12 内标法 13 标准加入法 136常用的实验校正方法有（）4 外标法 01 经验影响系数法 12 理论影响系数法 13 基本参数法 137常用的数学校正方法有（）4 标准化法 01 样品的均匀性 12 结构差别 13 表面污染及表面粗糙度 138固体样品的主要误差来源有（）4 样品表面变质 11
9、 粒度效应 12 矿物效应 13 样品的偏析 139粉末样品的主要误差来源有（）4 样品吸湿和氧化 11 可以消除矿物效应 12 可以消除粒度效应 140 玻璃熔片法的优点有（）3 减小共存元素的干扰 14 可使用试剂配制标准样品 11 NaCl 02 LiBr 03 KNO3 141以下可以用作熔融玻璃片的氧化剂的有（）4 LiNO3 11 KI 12 NaBr 13 LiF 142以下可以用作熔融玻璃片的脱膜剂的有（）4 NH4I 11 电热型 12 燃气型 13 高频感应型 143目前制备玻璃片的主要熔样设备有（）三种类型4 组合型 01 温度控制采用间接方式 12坩埚温度受其在感应线圈
10、中的位置影响较大 13 有一定量的电磁辐射 144高频感应熔炉的缺点有（）4主要是坩埚底部加热样品，熔体温度不够均匀 11 A 级 12 B 级 13 一级 045依据现行检定标准为 JJG-810-1993，技术性能可分为（）两级4 二级 01 单点校正 12 两点校正 13 多点校正 046X 射线荧光光谱仪的校正可分为（）两种方式4 定期校正 01 校正样品必须包括所有的检测元素 12 各元素应具有足够高的含量 13 校正样品的物理、化学性要稳定 147X 射线荧光光谱仪以校正样品的要求（）4 校正样品要便于保存 11 固体 12 液体 13 粉末 148X 射线荧光光谱仪可以分析的样品类别有（）4 气体 01 铍窗有毒 12 铍窗非常薄易坏 13 铍窗带电 049在清理样品室时要避免碰到 X 射线光管的铍窗，因为（ ABD ）4 铍窗不能修复 11 初级准直器 12 次级准直器 13 粗准直器 050准直器根据安放位置可分为（ AB ）4 细准直器 0
