X线头影测量,X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去,X线头影测量的主要应用,1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错合畸形的矫治设计 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计,描图 软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒磨牙,常用的x线头影测量标志点,3,8,8,9,常用的基准平面,1前颅底平面 2眼耳平面 3Bolton平面,常用的测量平面,1颅底平面 2腭平面 3合平面,1下颌角点与颏顶点间的连线(Go-Gn) 2通过颏下点与下颌下缘相切的线条 3下颌下缘最低部的切线,1下颌升枝平面 2Y轴 3面平面,常用的硬组织测量项目,SNA角,SNB角,ANB角,面角,22,Y轴角,下颌平面角,颌凸角,上颌长,翼上颌裂-蝶鞍点,下颌长,髁突后切线_蝶鞍点,上中切牙角,下中切牙角,上中切牙凸距,上中切牙凸距,下中切牙凸距,下中切牙凸距,1全面高 2上面高 3下面高,Downs分析法,谢 谢!,
