第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,5.3 介质损失因数的测量,仪器： 西林电桥（QS1） 自动抗干扰电桥用途： 用于发现电气设备整体性绝缘缺陷,第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,QS1型电桥原理,Cx,Rx,CN,R3,R4,C4,第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,令,C4单位是微法,第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,结论：,C4的读数就是tan数值 （例如：C4=0.006uF,tg=0.6%),第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,QS1电桥的反接线,采用反接线,有时，试品主绝缘有一侧和地相连，不能断开，正接线无法测量。,第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,西林电桥反接线,第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,tan测量的影响因素,外界电磁场的干扰； 温度的影响； 试品电容量的影响； 试品表面泄漏电流的影响。,IX,IX,第五章 电气设备绝缘试验（一）,2019/8/15,倒相法消除电场干扰,两次介损和电容的测量结果分别为：tg1，C1tg2，C2 实际介损和电容量计算：,
