1、实验六 移位寄存器及其应用一、实验目的1、 掌握移位寄存器功能的测试方法2、 掌握 4 位双向移位寄存器的逻辑功能二、实验仪器及设备1、 EEL-II 型电工电子实验台2、 集成器件 74LS194三、实验内容1、 在数字实验箱中插入 74LS194，按图 6.1 接线V C C S 1 S 0D S RAD S LB C DG N DQ A Q B Q C Q DC RC P1 67 4 L S 1 9 41 5 1 41 31 2 1 11 091 2 3 4 5 6 7 8V C CS 1 S 0D S RAD S LBCDG N DQ A Q B Q C Q DC RC P逻辑电平显示
2、器数 据 开 关+ 5 v复位按钮S B单次脉冲7 4 L S 1 9 4图 6.1 74LS194 管脚排列图和逻辑功能测试图2、 接线完毕，检查无误后，进行基本功能测试复位： =0，电路复位，Q AQBQCQD=0000CR保持：CR 非=1，S 1=S0=0，Q AQD 状态不变使 =1，S 1、S 0（工作状态控制端）任意， CP=0 或 CP=1，则 QAQD 状态也不变表 6.1 74LS194 双向 4 位移位寄存器功能表复位 模式 串行 并行工作方式S1 S0时钟DSL DSR A B C DQA QB QC QD复位并行置数右移左移保持保持并行置数：置 =1，S 1=S0=1
3、0，数据输入端 DCBA 置为 0101，输入单次脉冲，则CRQDQCQBQA=0101，如果改变 DCBA 数据，再按单次脉冲，新数据将置入。右移位：置 =1，S 1=0，S 0=1，D SR=1，D SL=*，输入单次脉冲，则QA=1， QB=QAn，Q C=QBn，Q D=QCn左移位：置 =1，S 1=1，S 0=0，D SR=*，D SL=1，输入单次脉冲，则RQD=1， QC=QDn，Q B=QCn，Q A=QBn3、 循环右移应用如将上图中的 DSR 端接到 QD 端，并将寄存器 QDQA 置为 1000，且满足右移条件，在寄存器会右移一个“1” ，每 4 个时钟脉冲完成一次循环。4、 用 74LS194 组成 8 位移位寄存器原理如图 6.2 所示。S 1S 0D S RAD S LBCDQ A Q B Q C Q DC RC P7 4 L S 1 9 4S 1S 0D S RAD S LBCDQ A Q B Q C Q DC RC P7 4 L S 1 9 41 1 11 10 0S 0 S 1 S 2 S 3 S 4 S 5 S 6 S 7L 0 L 1 L 2 L 3 L 4 L 5 L 6 L 7移位方向逻辑状态显示器图 6.2 用 74LS194 组成 8 位移位寄存器原理图四、实验报告整理各项测试结果。
