1、第六章练习题一 判断题1、工件厚度较大时，选择大晶片直径的探头可获得高灵敏度2、表面粗糙度增加时，声阻抗大的耦合剂回波下降慢3、双晶探头移动方向应与隔声层平行4、无论采用何种缺陷评定方法，评定尺寸可能都小于实际缺陷尺寸5、同声程、同波高，衰减系数大的材料中的缺陷当量比衰减系数小的材料中的当量缺陷小6、用粗糙的工件底面调灵敏度检测得出的缺陷比光滑底面调灵敏度检测得出的缺陷当量小7、用绝对灵敏度测长法测得的缺陷指示长度大于用半波高度法测长8、在实心圆柱体检测时，在二次底波之后不会出现三角回波9、用带切槽 R50 半圆试块按声程调扫描线时，反射波出现在50mm、150mm、250mm10、按水平调扫
2、描线后，如钢声速不变，探头温度升高时，实际检测时显示的缺陷水平距离比工件中缺陷水平距离小11、容器 B 类缝在外超探时，缺陷距入射点表面弧长比仪器上显示的水平距离小12、单面焊缝用 K2 探头超声检测时，更易发现未焊透13、当探头频率不准时，工件厚度在 3N 以外时，用试块比较法缺陷当量大小误差比用计算法误差大14、同声程、同波高，确定缺陷当量大小时，表面粗糙的缺陷比缺陷实际尺寸偏小15、焊缝检测时，出现反射波，当水平距离在探头侧焊缝时，是焊角回波二、选择题1、一般来说，在频率一定的情况下，在给定的材料中，横波探测缺陷要比纵波灵敏，这是因为（）A.横波比纵波的波长短 B.横波质点振动的方向比缺
3、陷更为灵敏 C.在材料中横波不易扩散 D.横波比纵波的波长长 2、窄脉冲探头一般是( ):A.灵敏度较低的探头 B.宽带探头C.盲区小探头 D.以上都对3、为了给 tg=2.5 的斜探头设计一个适合 1:1 水平定位法，并使得第一次回波前沿出现在第三格，第二次回波前沿出现在第九格的半圆试块，该试块的半径应是 A（a）：a.32.3mm b.42.5mm c.67.4mm d.以上都不是 4、在有底波出现的直探头探伤中，缺陷一次回波的显示情况可能有（） A 出现在第一次底波之前 B 出现在第一次底波之后 C 没有缺陷回波，只有底波降低或消失D 以上都有可能 5、厚度均为 400mm 但材质衰减不
4、同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（2mm 平底孔） ，在 300 处发现相同波高的缺陷，则（）：A 两个缺陷当量相同B 衰减大的锻件中缺陷当量小C 衰减小的锻件中缺陷当量小 D 不一定 三、计算题1、钢包耳轴 直径 150 长 420mm,衰减系数为 0.01dB/mm 2.5MHZ c=5900m/s 探头的 N=20， （底面为一凹面）A、问用大平底调 2 灵敏度时，比平板上调是高了还是低了？B、如在工件上 300 处有一缺陷波高比试块上 200 处 2 反射波高 40dB。试块材料中衰减不计，试块与工件耦合差 4dB，求缺陷当量大小？2、一工件厚 420mm，衰减系数为 0.01dB
5、/mm ，用 f=2.5MHZ探头检测 c=5900m/s，N=20。 在 200mm 处发现一缺陷波，波高为 40% ，此时衰减器读数比 420mm 处的 2 平底孔反射波（基准波高 80%）增加 40dB，求缺陷当量大小？3、斜探头检测时，如同一深度，相同尺寸的人工反射体，采用不同 K 值的探头检测衰减系的相同材料时，是 K 值大的回波高还是 K 值小的回波较高？说明理由。S1S2，声束扩散衰减量大，吸和散射衰减量大，所以 K 值小的回波较高，所以厚板检测时采用小 K 值4、用 K=2 斜探头检测铝工件，但用 CSK-IA 按深度 1：1 调扫描线，当仪器显示一缺陷的深度为 40时，缺陷的实际深度为多少？（横波声速 钢 3220m/s 铝 3080m/s）5、用 K 2 探头在实验室（温度 25）用 CSK-IA 按深度 1：1调扫描线，室外探伤时探头温度为 40， （20有机玻璃的声速为 2730m/s,有机玻璃的声速每 1下降 4m/s，钢的声速不变）。探伤时仪器显示一缺陷深度为 40，实际深度为多少？
