1、文件编号：TT-WI-Q-012版 本：1.0IC（集成电路）检验规范日 期：2004-2-15一、 检验标准根据 MIL-STD-105E 正常单次二级水准随机抽样，MAJ=0.65，MIN=1.0二、 检验项目及相关质量要求1、首先认真核对料盘（包装袋）上的标识，IC 上的丝印是否与 BOM 单一致。2、根据物料清单或技术资料检验其外观尺寸及型号。3、IC 外表应无破裂、损伤等现象。4、检查印刷文字（包括料号、制造日期、制造厂商、脚位标记等） ，文字印刷有否错误、漏件、方向是否正确、歪斜、偏移、字体是否清晰等不良现象。5、IC 锡面、接脚间不得有连脚、凹陷损坏，锡面不得有污物、残留杂物、氧
2、化等现象。6、检查切脚、弯脚，不得有断脚、裂脚情形。7、如果客户有特别要求则要测试 IC 的功能10、注意 IC 的供电电压与丝印：检查外观，注意元件外露脚应无氧化现象和引脚撞弯现象，不能有上锡现象。A、曾有客户提供的 IC 出现过引脚氧化和引脚撞弯及使用旧 IC（旧的不良率高）现象，主要原因是包装问题（因包装 IC 的塑料管过大，在运输过程中造成重叠，撞弯 IC 脚） ，对管装 IC 要重点检查。核 准：_ 审 核：_ 制 表：_文件编号：TT-WI-Q-012版 本：1.0IC（集成电路）检验规范日 期：2004-2-15B、解码板上的解码 IC，应注意：2 声使用 AE、EE、CE ；5
3、.1 声道使用BE、FE 、DE。微码：29F800 供电为 5V；29L800T 29LV800 供电为3.3V（具体情况请参照联络单。代用情况：1131 代有 1191；5654 代用 5954；5608 代用 6208；1196 代用8746、8714、8725、8726 可同时代用，内存 A43L0161AV-7S 不良率较高。C、庆德 IC 经常出现有氧化和用错料现象，应特别注意字母 HC、LC 不可代用（例：74HC123 和 74LC123） 。有的 IC 丝印型号一样，但所用的机型不一样，它的内部程序是不一样，检查时一定要注意有无标识清楚，尤其是在一次来料中的几种机型时，一定弄清楚并知会品管课相关人员，插件 IC 一定要试装，另：庆德发料曾打错 IC 型号，导致领错 IC，检查时要以 BOM 单为准。IC 上的每一个数字和字母都是非常重要的，一旦发现有不同的现象，要联络客户确认后才可以使用。三、 检验工具：目视，特别情况下进行测试四、 附 件：BOM 、样板、相关技术资料、顾客要求
