1、 德国标准 2002 年 9 月 焊接无损检验 熔化焊接透视检验 德文本 EN 1435: 1997 + A1:2002 DIN EN 1435 ICS 25.160.40 DIN EN 1435 : 1997-10 代用品 欧洲标准 EN 1435 ：1997 具有德国标准的地位，包括所增添的修改部分 EN 1435/A1 ：2002 在内 ， 修改是由欧洲标准化委员会（CEN ）分别进行的。 国家标准前言 包括修改部分在内的欧洲标准 （ “焊 接无损检验” ） 是在欧洲标准化委员会技术委员会 121/ 分会 （SC ） 5 中在 德国强化协作下制定的。 材料检验标准委员会 （NMP ） 的
2、 “透 视检验和辐射保护” NMP 822 工作委员 会对德国协作负责。 与德文版有关的欧洲标准修改部分 EN 1435/A1 的修改 和校正仅列 入本延续版本。 修改 对 DIN EN 1435 ：1997-10 做了如下修改： a) 与德文本相关的修改是由欧洲标准 EN 1435 ：1997/A1：2002 而编入的； b) 编定附录 ZA 。 c) 按照 “合同合伙人之间的规定” 的文本或类似文本不再允许使用， 而用一种适当文本代之。下接第 2 页 共 32 页 EN已登记注册德意志联邦共和国标准化研究所（DIN）的材料试验标准委员会（NMP ） 德意志联邦共和国标准化研究所（DIN）的
3、焊接技术标准委员会（NAS ） 德 意志联 邦共 和国标准 化研究 所 （DIN ）已登 记注册研 究所。 每种复制 方式均 应予以证 明。 只 有在柏林 已登记 注册的德 意志联 邦 共和国标准化研究所（DIN ）书面对允许才可复制。 标准通过 10772 本报特约记者林博依特出版有限公司独家出售。 标准文件号 DIN EN 1435:200209 价格限度 14 合同号：2314 DIN EN 1435 ：2002-09 早期版本 DIN 1914：1935-08 DIN 54111 ：1954-08x DIN 54111-1 ：1973-11，1977-03 ，1988-05 DIN E
4、N 1435 ：1997-10 EN 1435 欧洲标准 1997 年 10 月 +A1 2002 年 5 月 ICS 25.160.40 德文本 焊接无损坏检验 熔化焊接透视检验 （本标有修改 A1 ：2002） 本欧洲标准是于 1997 年 8 月 2 日由 EN （欧洲标准化委员会）采用的。 修改 A1 是于 2002 年 5 月 5 日由欧洲标准化委员会（CEN ）采用的。 欧洲标准化委员会成员有义务遵守欧洲标准化委员会和欧洲电工标准化委员会 （CEN/CENELEC ）议事规程，在此议事规程中规定了一些条件，在此条件下，对欧洲标准应提供 国 家标准地位，而无任何修改。 本欧洲标准是由
5、欧洲标准化委员会以三种正式文本 （德文、 英文、 法文） 制定的。 另一种语言的 文本，只要作为一名欧洲标准化委员会成员负责任地将其译成本国语言并通知管理中心，就有与正式 文本相同的合法地位。 欧洲标准化委员会成员是下述各国的国家标准化研究所， 即： 比利时、 丹麦、 德国、 芬兰、 法国、 希腊、爱尔兰、冰岛、意大利、荷兰、挪威、奥地利、葡萄牙、瑞典、瑞士、西班牙、捷克共和国、 英国。 CEN 欧洲标准化委员会 中央秘书处：布鲁塞尔 B-1050，Stassart 路 36 号 2002 CEN 所有使用权，无论以何种方式及何种方法在 欧洲标准（EN ）标准号：1435：1997+A1 ：2
6、002 D 全世界范围都得留待国家级成员去做，版本所有，不得翻印。 EN 1435 ：1997+A1：2002（D ） 目录 前言 A1 3 1. 使用范围 4 2. 标准指示 4 3. 概念 4 4. 射线照相技术 5 5. 概论 5 5.1 电离辐射保护 5 5.2 表面预处理和检验时间点 6 5.3 在透视图上的焊缝位置 6 5.4 透视图分布情况 6 5.5 标记 6 5.6 胶片重叠 6 5.7 图象质量试样（BPK ）的方式和位置 6 5.8 图象质量的评估 7 5.9 最小图象质量数值 7 5.10 人员评定 7 6. 透视图象拍照用的所推荐的操作方法 7 6.1 拍照安置 7
7、6.1.1 概论 7 6.1.2 在检验对象前的射线源和对侧的胶片（见图 1 ） 8 6.1.3 在检验对外部的射线源以及在检验内部的胶片（见图 2 至图 4 ） 8 6.1.4 在检验对象内部的射线源、中央射线源以及在检验对象内部的胶片（见图 5 至图 7 ） 9 6.1.5 在检验对象内部的射线源、离心射线源以及在检验对象外部的胶片（见图 8 至图 10 ） 10 6.1.6 椭圆形技术（见图 11 ） 10 6.1.7 垂直技术（见图 12） 11 6.1.8 在检验对象上部射线源以及在另一侧上的胶片（见图 13 至图 18） 11 6.1.9 不同材料厚度的技术（见图 19） 12 6
8、.2 电子管电压和射线源的选择 13 6.2.1 X 射线辐射器 13 6.2.2 其他射线源 13 6.3 胶片系统和拍照薄膜 14 6.4 辐射器定位 16 6.5 减少散射 16 6.5.1 滤光器和光阑 16 6.5.2 避免散射 16 6.6 射线源检验对象的距离 16 6.7 单个曝光最大范围 18 6.8 透视图象变黑 18 6.9 处理 19 6.10 观测条件 19 7. 检验报告 19 附录 A （标准的）对焊圆焊缝足够检验用的所推荐拍照数 21 附录 B （标 准的）图象质量最小数 26 附录 ZA （参数）该欧洲标准的章节与基本要求或 EU 规程的其他规定有关 32 E
9、N 1435 ：1997+A1：2002（D ） 前言 本文件 EN 1435 ：1997 是 由欧洲标准化委员会技术委员会 CEN/TC 121 “ 焊接”组制定的，设有 DS 秘书处。 本欧洲标准或是通过发表一篇相同的论文或是以赞同此文的方式获得国家标准的地位，最迟至 1998 年 2 月，必须在 1998 年 2 月之前撤销可能抵触的国家标准。 本文件是在欧洲委员会和欧洲自由贸易区授于欧洲标准化委员会 （CEN ） 的委托下制定， 并促进 EU 规范的基本要求。 与 EU 规范的关系见参考附录 ZA ，该附录系本文件的组成部分。 根据欧洲标准化委员会/ 欧洲电工标准化委员会 （CEN/C
10、ENELEC ） 议事规 程， 以下各国的国家标 准化研究所有义务采用上述欧洲标准：比利时、丹麦、德国、芬兰、法国、希腊、爱尔兰、冰岛、意 大利、卢森堡、马尔他、荷兰、挪威、奥地利、葡萄牙、瑞典、瑞士、西班牙、捷克共和国和英国。 前言 A1 对欧洲标准 EN 1435 ：1997 的修订 本 EN 1435 ：1997/A1：2002 是由欧洲标准化委员会技术委员 会 CEN/TC 121“焊接”组制定的，设有 DS 秘书处。 上述欧洲标准或是通过发表一篇相同论文或是以赞同此文的方式获得国家标准的地位，最迟至 2002 年 11 月，必须在 2002 年 11 月之前撤销可能与之抵触的国家标准
11、。 对本欧洲标准 EN 1435 ：1997 的修 订本 EN 1435 ：1997/A1：2002 是在 由欧洲委员会和欧洲自由 贸易区授于欧洲标准化委员会 （CEN ） 的委托框架下制定的， 并促进 EU 规范的基本要求， 与 EU 规 范的关系见参考性附录 ZA ，该附录系本修订本的组成部分。 附录 A 和附录 B 是标准式。 1. 使用范围 本标准对目标透视检验确定基本规则， 从而以经济方式达到足够的可比较的结果。 上述规则以普 通赞许的预定方法和基础理论为依据。本标准可用以透视检验金属材料的熔化焊接。本标准用以焊接 板材和电子管， 除传统意义外， 在本标准中， 其他圆柱体， 如压力管
12、道， 锅炉水鼓和压力缸也可称 “管 子” 。本标准可与 EN 444 协调起来。 本标准对显示没有规定允许性极限。 若规程允许较低的检验技术，所达到的质量比严格使用本标准时要显著地低。 2. 标准指示 上述欧洲标准通过注明日期或未注明日期的引用包括来自其他出版物的规定。 在文中各个章节上 引用上述标准内容，出版物随后列出，若注明日期的内容通过修改或增订而予以增补，若注明日期的 内容通过修改或增订而予加补，在此指示中仅把以后的修改或增订部分置入本欧洲标准。在未注明日 期的指示中，适用的是涉及出版物的最新版本（包括修订本） 。 EN 444 ，无损检验金属材料 X 射线和 r 射线透视检验基础。
13、EN 462-1 ， 无 损检验透视拍照图象质量第 1 部分： 图象质量试样 （线材截段） ， 图象质量数值测定。 EN 462-2 ，无损检验透视拍照图象质量第 2 部分：图象质量试样（阶段/ 孔） 、图象质量测定。 EN 462-4 ，无损检验透视拍照图象质量第 4 部分、图象质量数值和图象质量表实验测定。 EN 473 ，无损检验人员的评定和证明，一般基础。 EN 584-1 ，无损检验透视检验工业胶片第 1 部分：工业透视检验胶片系统的分类。 EN 584-2 ，无损检验透视检验工业胶片第 2 部分：借助基准值控制胶片外侧。 EN 25 580 ，无损检验工业射线照相观测仪最小要求（I
14、SO 5580：1985） 。 3. 概念 以下概念适用于上述欧洲标准的应用： 以下定义适用于本标准： 3.1 额定厚度，t 仅指基础材料额定壁厚、制造偏差可忽视不计。 3.2 透视厚度，w 材料厚度沿射线方向按额定厚度计算，在多层壁透视中，透视厚度按额定厚度计。 3.3 检验对象胶片的距离，b 沿中央射线方向在检验对象面向射线源侧与胶片间之距离。 3.4 射线源量，d X 射线管的射线性同位素或焦点量。 3.5 射线源胶片的距离（FFA） 沿辐射方向在射线源与胶片之间的距离。 3.6 射线源检验对象的距离，f 沿中央射线方向在射线源与检验对象面向射线源侧之间的距离。 3.7 直径，De 电子
15、管外公称直径。 4. 射线照相技术的分类 射线照相技术分为两个等级： A 级：基本技术 B 级：改进的检验技术 若 A 级为非敏感性，则采用 B 级技术。 可用比 B 级好的技术，并在规范中允许在所有适用检验参数的规定下规定比 B 级好的技术。 必须在规范中规定选用射线照相技术。 在技术上若对 B 级不能 遵守尺寸所示的检验条件，如射线源类型或射线源检验对象的距离 f ， 则允许在规范中规定按 A 级选用检验条件。 感光度损失必须均衡， 其方法是把最小变黑度增大到 3.0 ， 或选用反差较高的胶片系统。 由于以此方式对 A 级所达到的较高感光度， 允许考虑按 B 级检验所 透视 检验区段。若利
16、用大大减小检验安置（按 6.1.3 和 6.1.4）用 的射线源胶片距离（FFA） （按 6.6 ） ，这 是不当的。 5. 概论 5.1 电离辐射保护 警告人体或肢体以 X 射线或 r 射线曝光对健康极为不利。 在使 用 X 射线辐射或放射性辐射器时， 必须注意法定要求。 当使用电离辐射时，必须严格遵守当地安全准则，国家安全准则或国际安全准则。 5.2 表面预处理和检验时间点 通常表面预处理并不需要， 然而当表面差错或涂层差错造成识别误差的困难时， 则需将表面弄平 或去除涂层。 若别无规定，必须在最新制造阶段之后，例如，在打磨或热处理之后进行透视检验。 5.3 在透视图象上的焊缝位置 若透视
17、图象未表示焊缝增强，则需在焊缝每侧加上吸附性高的符号。 5.4 透视图象上的分布 在应透视的检验对象的每个区域上， 必须加上符号。 若有可能， 则需在检验区外部的透视图象上 示出上述符号的插图。因此，保证明确分布检验区段。 5.5 标记 必须在检验对象上加上耐久的标记，以便精确地对每个透视拍照限制位置。 若材料类型和/ 或其运转条件不许采用耐久性标记，则允许用精确的草图说明位置。 5.6 胶片重叠 若用两个胶片或许多胶片进行检验， 则需使胶片重叠。 必须保证全部检验区段用插图示出， 这点 需通过在检验对象上吸附性较高的标记材料加以证明，这种材料在每个胶片上呈现。 5.7 图象质量试样（BPK
18、）的类型和位置 图象质量必须通过使用图象质量试样（BPK ） （按 EN 462-1 或 EN 462-2 ）加以证明。 首先，需将 所用的图象 质量试样置 入待检验区 中间的面向 射线源的检 验对象侧（ 部） ，并置于焊 缝旁的基本（母体）材料上。图象质量试样必须紧贴在检验对象的表面上。上述试样需置于均匀厚度 区，该厚度 是以胶片的 均匀光学密 度（变黑现 象）示其特 性。对于图 象质量试样 （BPK ）需 注意以 下 两种情况： a) 当采用线材截段图象质量试样 （DrahtstegBPK ） 时， 线材 必须定向， 与焊缝相垂直， 对 其位置来说， 必须保证线材长度至少 10 mm ，
19、置于均匀变黑区， 通常在与焊缝相邻的基本 材料上具有变黑现象， 当按 6.1.5 和 6.1.6 透视拍照 时， 图象质量试样与线材一起横放在管 轴线上，该试样与线材不应置入焊缝图象。 b) 当使用阶段/ 孔图象质量试样时， 该试样必须如此置放， 以致所需的孔数紧贴于焊缝上 。 当按 6.1.5 和 6.1.6 透视拍 照时， 所采用的图象质量试样或可放入面向射线源的侧部， 或可放入面 向胶片的侧部。若图象质量试样未按上述条件置放，则图象质量试样可置入面向胶片的侧部，图象质 量用与图象质量试样的比较拍照至少测定一次，该图象质量试样置入面向射线源的侧部，在用第二个 图象质量试样作比较拍照时，该试
20、样在同样条件下置入面象胶片的侧部。然而，在双壁透视拍照时， 若图象质量试样置入面向胶片的侧部，上述检验则有必要，在此情况下，应参阅附录 B 中的各表。 当图象 质量 试样置 入面 向胶片 的侧 部时， 需将 字母“F ”置 于图象 质量 试样近 旁， 并述于 试验 报 告。 若保证同样检验对象和同样检验区的透视图象是以同样拍照技术和同样处理技术制备的， 并在图 象质量数值中无有差别期待，则无必要在每次拍照中证明图象质量。在此情况下，应在规范中规定图 象质量证明范围。 当透视拍照直径为 200 mm 或以上尺 寸并具中夹射线源的射线管时，应置放三个均布于范围内的 图象质量试样。于是，摄有图象质量
21、试样图象的胶片视为代表性而置于全范围内。 5.8 图象质量的评估 胶片需按 EN 25580 研 究 。最小线材数或最小孔数是可测定的，在透视图象胶片中可区别是这个 或那个。 若线材在其长度至少为 10 mm 的均匀变 黑区内看起来相当清楚， 该线材的照片则视为可以识 别。 若在此阶段/ 孔一图象质量试样中， 有两个直径相同的孔， 这两个孔还可区别， 因此， 阶 段可以认 为可看得见的。 所获得的图象质量需在透视检验报告中予以阐明。在每种情况下，需将所采用的试样予以说明， 正如在图象质量试样（BPK ）中所示那样。 5.9 最小图象质量数值 在附录 B 中的表 B.1 至表 B.12 表明 钢
22、铁材料用的最小图象质量数值。至于其他材料，允许在规 程中规定上述要求或有关要求。这些要求需按 EN 462-4 确定。 5.10 人员评定 按此标准进行无损检验的人员需按 EN 473 或者同 样在重要工业领域的适当阶段予以评定和证明。 6. 透视图象拍照用所推荐的操作方法 6.1 拍照安置 6.1.1 概论 通常按 6.1.2 至 6.1.9 使用透视技术。 按图 11 的椭 圆形技术 （双层壁/ 双图象） 不应用于外径 De100 mm ， 壁厚 t8 mm 、 焊缝宽 度De/4 。 约处于 90 的图象对于 t1De0.12 是够用了。两个焊缝图象的间距大约需与焊缝宽度相符。 当 De
23、 100 mm 时，若 执行椭圆形技术并不合适，则允许按 6.1.7 （见 图 12）采用 垂直技术。在 此情况下，需要 3 张约处于 120 或 60 的照片。 在按图象 11, 13 和 14 进 行检验安置时，射线倾角需尽可能地调小，并应如此调整，以致两个焊 缝图象避免重叠，射线源到检验对象的距离 f 在 6.6 观测 下尽可能的小。图象质量试样（BPK ）用一 个铅字 F 近置于胶片上。 例如，由于对象几何图形或材料厚度不同，允许规定其他透视技术。在 6.1.9 条 中，对此情况仅 举一例。为了减小相同地段的曙光时间，不许采用多片技术。 注释： 在附录 A 中， 对于所需的透视图象推荐
24、最小的数字， 以便在圆焊的全周长上获得足够完美 无缺的检验。 6.1.2 检验对象前的射线源和对侧的胶片（见图 1 ） 。 说明 S 射线源 F 图层（胶片） 图 1 平焊缝和单壁透视拍照安置（f 、b 、t 见章节 3 ） 6.1.3 在检验对象外面的射线源以及在检验对象内部的胶片（见图 2 至图 4 ） 图 2 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 图 3 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 （凹焊缝） 图 4 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 （凸焊缝） 6.1.4 在检验对象内部的射线源，中央射线源以及在检验对象外部的射线源（见图 5 至图 7 ） 。 图 5 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 图
25、6 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 （凹焊缝） 图 7 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 （凸焊缝） 6.1.5 在检验对象内部的射线源，离心射线源以及在检验对象外部的胶片（见图 8 至图 10） 。 图 8 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 图 9 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 （凹焊缝） 图 10 弯曲检验对象单壁透视的拍照安置 （凸焊缝） 6.1.6 椭圆形技术（见图 11 ） 图 11 弯曲检验对象双壁透视（双图象）的拍照安置， 用以评估双壁（在检验对象外部的射线源和胶片） 6.1.7 垂直技术（见图 12） 图 12 弯曲检验对象双壁透视的拍照安置用以评估双壁（在检验对象外部的射线源和
26、胶片） 6.1.8 在检验对象外部的射线源和另侧上的胶片（见图 13 到图 18） 图 13 弯曲检验对象双壁透视（单图象）的拍照安置，用以评估胶片近壁。图象质量试样置胶片附近 图 14 双壁透视（单图象）的拍照安置 图 15 直线焊缝双壁透视（单图象）的拍照安置 图 16 弯曲检验对象双壁透视（单图象）的拍照安置，用以评估胶片附近的壁 图 17 角焊缝透视的拍照安置 图 18 角焊缝透视的拍照安置 6.1.9 不同材料厚度的技术（见图 19） 图 19 多（胶）片技术 6.2 电子管电压和射线源的选择 6.2.1 X 射线辐射器 为了获得极佳的误差探测能力，电子管电压应尽量低。电子管电压的最
27、大值示于图 20。 至于通过检验对象所透视的区域而产生厚度变化的若干应用可对预先规定方法作一修改， 这样则 可采用高一点的电压，但应注意的是，若过分提高电子管电压，则会导致误差探测能力损失。对于钢 来说，提高量不应大于 50 kV ，钛不得大于 40 kV ，铝不得大于 30 kV 。 图示说明： 1 铜/ 镍及其合金 2 钢 3 钛及其合金 4 铝及其合金 图 20 X 射线辐射器的最大电子管电压可达 500 kV （视所透视的厚度和材料而定） 6.2.2 其他射线源 超过 1 兆电子伏的 r 射线辐射器的 X 射线辐射器所透视的厚度之允许范围示于表 1 。 表 1 钢、铜和镍基合金极限电能
28、约为 1 兆电子伏特的 r 射线辐射器 和 X 射线辐射器的检验对象厚度范围 所透视的厚度 w(mm) 射线源 A 级 B 级 Tm 170 w 5 w 5 Yb 169 a 1 w 15 2 w 12 Se 75 b 10w 40 14w 40 Ir 192 20 w 100 20w 90 Co 60 40w 200 60w 150 电能由 1 兆电子伏特到 4 兆电子伏特的 X 射线 30w 200 50w 180 电能 4 兆电子伏特以上到 12 兆电子伏特的 X 射线 w 50 w 80 电能 12 兆电子伏特以上的 X 射线 w 80 w 100 a 对于铝和钛，材料所透视厚度为 1
29、0mmw70mm （A 级用） ，25mmw55mm （B 级用） b 对于铝和钛，材料透视厚度 35mm w 120mm （A 级用） 。 若规范允许，则 Ir 192 值可减小到 10mm ，Se 75 值可减小到 5mm 。 在薄壁钢检验对象中 Se 75, Ir 192 和 Co 60 r 射线 产生透视图象， 其误差探测能力很低， 象用适当 技术利用 X 射线而产生的那种能力。 由于有关手工操作和可接受性的 r 射线源的优点， 表 1 对 上述其 中每个 r 射线源给出厚度范围，当 X 射线使用困难时，可利用厚度范围，当足够的图象质量达到时， 则允许更大的壁厚范围以供规定的应用。 若
30、产生 r 射线透视图象，不许将 10% 源的定位时间加给总曝光时间。 6.3 胶片系统和拍照薄膜 应将按照 EN 584-1 的胶片系统等级用于透视检验。 至于不同射线源在表 2 和表 3 中表示胶片系统等级。 当使用拍照薄膜时， 则需在胶片与薄膜之间获得较好的接触。 这可利用真空包装的胶片或以表面 压力来达到的。 对于不同射线源来说，在表 2 和表 3 中表示所推荐的拍照薄膜。 如达到所要求的图象质量，则可确定其他拍照薄膜的厚度。 表 2 钢、铜和镍基合金透视检验的胶片系统等级和金属薄膜 胶片系统等 级 a 金属薄膜式样和厚度 射线源 透视厚度 w A 级 B 级 A 级 B 级 X 射线辐
31、射器电压 100kV 无或 0.03mm 以下的铅制前薄 膜和后薄膜。 X 射线辐射器电压100 kV 到 150 kV C3 在 0.15mm 以下的铅制前薄膜 和后薄膜。 X 射线辐射器电压150 kV 到 250 kV C5 C4 0.02mm 到 0.15mm 的铅 制前后 薄膜 Yb 169 w250kV 到 500kV w50mm C5 C5 0.1mm 到 0.2mm 的铅制前薄膜 b SE 75 C5 C4 0.02mm 到0.2mm 的铅制后 薄膜 0.1mm 到 0.2mm 的铅 制前 后 薄 膜 0.02mm 到 0.2mm 的铅制 b 前薄膜 0.1mm 到.2mm 的
32、铅制薄膜 b Ir 192 C5 C4 0.02mm 到 0.2mm 的后薄膜。 w 100mm C4 Co 60 w100mm C5 C5 0.25mm 到 0.7mm 的钢制 铜制前 后薄膜 c w 100mm C3 电能由 1 兆民子管伏特到 4 兆电子管伏特的 X 射线 w100mm C5 C5 0.25mm 到 0.7mm 的钢制 或铜制 前后薄膜 c w 100mm C4 C4 100mm300mm C5 C5 在 1mm 以下 的铜制、钢制或钽 的薄膜d ， 在 1mm 以下的 铜制或 钢制后薄膜。在 0.5mm 以下的 钽制 d 后薄膜。 w 100mm C4 100mm300
33、mm C5 C5 在 1mm 以下的钽制前薄膜 在 0.5mm 以下的钽制后薄膜 a 亦可采用较高级胶片系统等级。 b 在检验对 象与胶片之间添加一个 0.1mm 的铅制 薄膜时， 允许采用带有 0.03mm 以下 的前薄膜的制造 厂家包装之胶片。 c 在 A 级亦可采用 0.5 到 2.0mm 的铅制薄膜。 d 若规范允许在 A 级中可采用 0.5 到 1mm 的铅制薄膜。 e 按协定可采用钨制薄膜。 表 3 胶片系统等级和铝、钛金属薄膜 胶片系统等级 a 射线源 A 级 B 级 金属薄膜的式样和厚度 X 射线辐射器的电压150 kV 到 无有或在 0.03mm 以下的铅制前薄膜以及在 0.15mm 以下的铅制后薄膜。 X 射线辐射器的电压150 kV 到 250 kV 0.02mm 到 0.15mm 的铅制前后薄膜。 X 射线辐射器的电压250 kV 到 200 kV 0.1mm 到 0.02mm 的铅制前后薄膜
