1、5.1.4 进样速度的选择 为了更好地控制进样量，往往在雾化器前加装一个蠕动泵。通过调整蠕动泵的转速，调整进样速度。进样速度快，能增大待测元素在等离子体炬中的浓度，提高发射强度，尤其对低发射功率下中等能量原子发射强度有显著提高，此外，高进样量对等离子体炬有冷却作用，可降低背景发射。但高进样量，会使雾化器的雾化效果变差，即易形成大颗粒雾滴，使背景噪音增加，还会使样品消耗增加。因此，对低能量和中能量的原子谱线，最佳进样速度一般为1.52.0 mL/min，而,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,1,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,2,离子和高能原子发射线的进样速度一
2、般为1.01.5 mL/min。在单道扫描型光谱仪中，计算机软件一般有专门程序，通过扫描不同功率、进样速度、各种气体的流量等，使发射强度最强，同时使背景值最低，并且可保留这些参数，在测试时，只要选定了测定元素的测试谱线，这些参数被同时选定。这就大大方便了分析测试。,5.1.5 测试谱线的选择 ICP-AES测试谱线的选择与原子吸收一样，首先应选择最灵敏线，还要避免样品中其它元素的谱线干扰。 5.2 干扰及其校正 一般来说，ICP光谱分析所受到的干扰是比较少的，但仍然存在。在制定分析方法时，应逐项考虑。ICP光谱分析中的主要干扰分为三类：物理干扰、电离干扰和光谱干扰。在原子吸收光谱分析中比较严重
3、的化学干扰，在ICP-AES中并不严重。这是因为ICP光源中6000 K以上的高温可以将几乎所有化合物解离，更不用说在此温度下形成新的化合,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,3,物。 5.2.1 物理干扰及其校正 由于样液的物理性质的不同，如表面张力、粘度、密度、酸度等不同引起测试结果的不同，这类干扰叫做物理干扰。 5.2.1.1 样液的物理性质 样液的表面张力、粘度、密度等的不同直接影响雾化效率和气溶胶颗粒的大小。对于没有用蠕动泵控制进样量的ICP光谱仪，粘度和密度还影响进样量。溶液的成分，含盐量影响着溶液的物理特性。随着含盐量的增加，溶液的提升量急剧减少。因此，在配制溶液时
4、，在保证测试时有足够的发射强度前提下，尽可能使溶液稀一,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,4,些。对于含量很低的元素或很容易变粘的溶液，如Zn、Mg盐溶液，可采用基体匹配或标准加入法测试。 5.2.1.2 酸效应 酸在等离子体炬中消耗一部分能量，使得元素的发射谱线强度下降。酸的种类和量的不同，消耗的能量也不同。不同种类的无机酸对谱线强度的影响按下述排列依次增强：HClHNO3 H3PO4H2SO4。为减少酸效应，在溶样时，应尽量采用HCl。但事实上往往很多样品只采用HCl难以完全消解，必须采用其它酸，如H2SO4、HClO4、H3PO4等，有时还须采用几种酸配合消解。在这种情况
5、下消解完全之后应蒸去所有酸，再用HCl配成,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,5,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,6,与标准溶液含酸量一致的样品溶液。但如果用HCl配制时产生沉淀(如Ag盐)或在赶其它酸时会产生不溶物，就只能采用其它酸，如HNO3，不过标准溶液也必须换成与样品溶液相同的酸，如HNO3，而且含量也应该一致。ICP对样品的要求是必须是真溶液，为防止溶液在配制和保存过程中出现浑浊和沉淀，标准溶液和样品溶液都应含有少量酸，一般为26%的HCl。只要标准溶液和样品溶液含有的酸种类和含酸量一致，就可以校正酸效应。 5.2.2 电离干扰及其校正电离干扰要分成
6、两个侧面来看待。由于ICP光源温度很高，有些元素的离子发射谱线与原子发射,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,7,谱线相当，甚至强于原子发射谱线。所以在测试时有时会选择离子发射谱线。 5.2.2.1 对原子发射谱线的干扰 一些易电离的元素，如碱金属，在ICP光源中的电离度比原子吸收光源大。减少电离干扰的办法就是减小发射功率。一般元素在测试时发射功率为11501350 w，碱金属的发射功率一般为950 w。另一个办法就是加入易电离的其它元素如K等。尽管如此，仍有大量钠原子被电离。测试效果不如火焰原子发射。对于一般元素，由于大量Ar原子被电离，电子密度大，所以易受电离干扰的元素比原子
7、吸收中少很多。如较易电离的Ca、Cr等就比原子吸收少很多。若加入少量易电离的元素，电离干扰可基本被消除。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,8,5.2.2.2 对离子发射谱线的干扰 电离干扰对离子发射谱线的影响很大，而且易电离元素含量越高，干扰越严重。如7000g/mL的Na对Ca的393.4nm谱线的干扰相当严重，而对Ca的422.7nm的谱线无影响，因为前者为离子谱线。等离子体的温度对电离干扰也有很大影响。随着观察高度的增加，电离干扰明显增加。这是因为随着观察高度的增加，等离子体的温度逐渐降低，Ar的电离度降低，抑制电离干扰的能力降低。一般来说，增加功率、降低载气流量、降低
8、观察高度，其目的就是提高等离子体温度，降低电离干扰。另外，基体匹配和标准加入法也能校正电离干扰。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,9,5.3 光谱干扰及其校正 ICP光谱分析中的光谱干扰比火焰类光源和AAS法严重，也是ICP-AES中影响最大的干扰，光谱干扰有背景干扰和谱线干扰。 5.2.3.1背景干扰 产生背景干扰的主要原因是黑体辐射、韧致辐射和复合辐射所形成的连续辐射。其中韧致辐射占主要成分。产生背景干扰的另一个原因是氩气不纯(N2、CO2和水蒸气等)所带来的一系列分子谱线，CN、CO、NO、CH、NH等。另外，分光系统的不完善，出现杂散光，也会造成背景值的提升，随着技术
9、的进步，这部分的干扰已降至可以忽略不计，但随着仪器的老化，这部分的干扰,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,10,会逐渐显现出来。背景干扰的结果会造成背景的简单抬升或背景的斜坡漂移。前者是分析谱线两边的基线向上提升，幅度相同。后者是分析谱线两边的基线向上提升，不过幅度不同。对于背景干扰，可采用扣背景的方法解决。当使用固定通道的ICP光量计时，连续背景可采用动态背景矫正器进行背景校正。它是一块石英折射片，在入射狭缝处以较高频率来回移动，分析谱线两侧的背景强度，再从分析谱线中扣除。由于谱线的复杂性，用这种方法并不都能获得好的效果。对有些元素效果较好，对另一些元素效果较差，甚至还不如没
10、有校正的好。在顺序扫描型ICP光谱仪和摄谱仪中，扣背景的方法较多。一般方法是，测量,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,11,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,13,谱线两侧背景值相同，只需测量一侧的背景就可以了。 5.2.3.2谱线干扰 由于原子发射谱线比吸收谱线多得多，如有的过渡金属元素可达数千条谱线。每条谱线都有一定的宽度。因此出现谱线干扰的可能性大大增加。谱线干扰也可分为直接谱线重叠和复杂谱线重叠。前者是分析线和干扰线完全重叠。后者为分析线和两条或两条以上干扰线重叠。判断是否出现会谱线干扰的办法有两种。一种是查找图谱或谱线库。早期的ICP-AES光谱仪会带
11、有各种元素的发射谱线、谱图及干扰元素的谱线等信息的工具书。选择谱线时可作参考，但查阅起来费时费力。现行的ICP-AES光谱仪都是由,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,14,电脑操作，在其软件设置了谱线库，只要选种某一两侧背景的强度，取其平均值作为背景值。若谱线元素，就会立即出现其最常用谱线，选定了谱线，又会马上显示可能出现的干扰元素及谱线。使用起来非常方便。在实际测试中，往往出现这种情况，在谱线库中表明样液中的元素对某条测试谱线没有干扰，但实际测定时，还是有较大的干扰。判断是否出现会谱线干扰的另一种方法是，测定时在谱线附近的光谱窗口内进行波长扫描，若谱线对称尖锐，说明没有谱线干
12、扰。若谱线不规则就可能存在干扰。尽管进行波长扫描费时、费样、费气，但有无干扰一目了然。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,15,存在干扰 没有干扰,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,16,避免谱线干扰的最好办法就是选择无干扰的谱线。但对于固定通道的光量计，可采用干扰等效浓度法校正。所谓干扰等效浓度就是利用干扰元素所造成的分析元素浓度与干扰元素的浓度的比值，即干扰因子，然后从分析结果中扣除由于干扰造成的浓度的增加值，从而得到无干扰的分析数据。如地质样品中用205.55 nm谱线测定Cr时，大量的Fe会产生干扰。可以利用已知的Fe对Cr的干扰因子： K=(0.2g
13、/mL)/(1000g/mL) =0.0002 即1000g /mL的Fe元素会引起测定Cr时的测定值增加0.2g/mL，假定溶液中含有500g/mL的Fe元素，则造成Cr测定值增加5000.0002=0.1 g/mL。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,17,在测定Cr时应扣除这0.1g/mL。若没有数据查，可先配制不含Fe的Cr标准溶液，再测定含已知浓度Fe的相同浓度Cr溶液的浓度，计算干扰增加的浓度，计算干扰因子K。采用这种方法时，必须将干扰元素浓度一一测出。 以上所述基本是针对单个元素测试所言的，对全谱直读光谱仪而言，由于测试速度快，每个元素可选择多条谱线，通过比较不同
14、谱线的测试值，结果比较接近，可以认为他们都没有受到干扰；结果相差较大，可以认为测试值较大的谱线受到某些干扰，予以剔除。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,18,第六节常见的测试方法,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,19,6.1标准溶液系列法标准系列法的操作过程是，首先预计需测试的样品溶液的最高浓度，确定标准溶液系列的最高浓度，再配置较稀的几个标准溶液，组成标准溶液系列。一般对于原子吸收，标准溶液应为35个；对于ICP-AES，由于线性范围很宽，可以少一些，甚至只用两个。要求最高浓度标准溶液的浓度要在标准曲线的线性区域，并比最高样品溶液的浓度高，其余的标准溶液浓
15、度基本按等差下降。在测试时，首先由低到高依次测定标准溶液，作浓度对光强度或吸光值的标准曲线。再逐个测定样品溶液的光强度或吸光值，在标准曲线上查的对应的浓度，现在,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,20,采用电脑，可直接给出测定的浓度值，最后根据制备样品溶液与原样品的稀释倍数关系计算出原样品中测定元素的含量。标准溶液系列法可有效地消除测试时较低背景值对测定结果的影响。因为虽然我们在测试样品溶液时将背景值一并计入，但在配制样品溶液时也要配制一个空白溶液，其介质、溶剂以及测试时的测试条件与样品溶液一样，因而背景都一样。测试时对样品空白溶液也要进行测试，其测试值不仅包含了介质、溶液中可
16、能存在的元素污染，也包含了背景值。在计算时将样品溶液测试值逐个减去空白溶液的测试值，就可以准确计算,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,21,出样品溶液中待测元素的含量。 标准系列法是测试中最简单的方法。如果样品的基体很少，也是水溶液，样品溶液和标准溶液的粘度、表面张力、密度等应该是相同或相近的，测试结果应是可靠的。但是如果试样溶液和标准溶液存在粘度、表面张力、密度等的差异，用标准溶液系列法就难以保证测定结果的准确，因为两者的雾化效率不一样。 6.2基体匹配法 为了消除或减少上述的这种差异，在标准溶液中加入样品溶液的其它主要成分，使标准溶液的组成与样品溶液尽量一致，就可以克服两者
17、存在的粘度、表面张力、密度等差异。这就是基体匹配法。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,22,基体匹配法除了上述不同外，其余的所有标准溶液配制、样品溶液配制和测试都与标准系列法相同。如测定Fe样品中杂质的含量时，在标准溶液系列中加入与样品溶液同样浓度的Fe。由于Fe元素谱线非常复杂，经常是背景值很高，在标准溶液中加入相同浓度的Fe，使标准溶液的背景值与样品溶液的背景值一致，就可有效地抵消背景干扰。又如测定Zn及其化合物中杂质时，由于Zn的浓度对溶液的粘度影响很大，高浓度的Zn样品粘度大，雾化效率低，常使测定结果偏低。在标准溶液中加入相同浓度的Zn，使标准溶液的粘度与样品溶液的粘
18、度一致，会大大改善测定结果。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,23,采用此法之前必须知道其基体的成分以及含量。但即使这样还有两个局限性：一、加入的基体不能含有待测元素，这一点较难做到。因为有些样品本来就很纯，其待测元素的含量微乎其微，要在标准溶液中加入大量基体，又不带入待测元素，这就要求加入的基体的纯度远远高于样品，至少要高出一个数量级。二、如果样品的成分很复杂，如岩石，污泥，生活污水等，即使知道它们的成分和含量，也不能在标准溶液中一一添加这些成分，必须另寻它法。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,24,6.3标准加入法 标准加入法也称标准增量法。适用的前提是
19、，在检测的浓度范围内浓度与吸光度或发射强度必须严格遵守线性关系。方法是，配制多个(通常四个以上)组成浓度完全相同的样品溶液，分别在每个样品溶液中加入不同浓度的标准溶液，使加入的标准溶液的浓度分别为C1、C2、C3、C4、，然后测定每份溶液的吸光度，分别记为A1、A2、A3、A4、，最后作CA的吸收曲线。由于吸光度与待测元素的浓度是线性关系。作出的应是一条直线。实际上Ai对应该是Ci+Cx，所以将直线反推到A=0时的浓度应为-Cx。这个Cx便是样品中待测元素的浓度。但是由于在测试中除了待测元素参与了吸,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,25,2019/5/12,感耦等离子体原子发
20、射光谱分析,26,收，背景也参与了吸收，并且不像常规测试那样在作标准曲线时予以消除，因此在测试时一定要扣背景，除非已知背景可以忽略。此法的优点是直接将标准加入样品溶液中，不必知道样品的物理性质和基体组成，缺点是背景值直接参与了计算，尽管在测试时对背景进行了扣除，但扣除背景采用的波长并不是测定元素含量的波长，对于背景值随波长变化较大，或存在谱线干扰的情况，不能采用该法。 另外，该法不能抵消在配制溶液时引入的试剂干扰，还必须配制一份空白溶液，在计算最终含量时扣除。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,27,6.4 内标法尽管基体匹配法和标准加入法能较好地修正溶液的粘性、雾化效率等的影
21、响，但对于测试时仪器性能随时间的变化对测试结果的影响(漂移)。在样品溶液和标准溶液中都加入相同浓度的内标元素，在测试时，既测待测元素又测内标元素，可以矫正溶液的粘性、雾化效率以及仪器漂移等的影响。方法是，假定在每一份溶液中测定内标的值为Xi，计算每一份的校正系数Ai=Xi/X1，再将每一份待测元素的测试值除以相对应的校正系数，便可得到校正后的测试值。因为在所有溶液中内标元素的浓度是相同的，若测得的值发生改变则很可能是由于溶液的粘性、雾化效率以及仪器漂移等引起的。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,28,采用内标法要注意： a). 内标元素与待测元素的测试谱线应尽量靠近， b).
22、 内标元素与待测元素不能有化学、物理干扰和光谱干扰， c). 样品中不能含有内标元素，或含有的内标元素与加入的内标元素相比可以忽略不计。 d). 内标法不仅能校正粘度，表面张力的物理干扰、还能校正仪器漂移等物理因素引起的干扰，但不能校正化学干扰和光谱干扰。 加入内标有两种办法：一种是在配制标准溶液和样品溶液时都加入相同浓度的内标元素。另一种办法是，标准溶液和样品溶液的配制跟,一般标准溶液系列法没有区别，只是在测试时在蠕动泵上另辟一条通道，专门用于添加内标溶液，在蠕动泵之后用三通将样品溶液通道和内标溶液同道合并并混合在输入雾化器，称之为在线加内标。该方法方便，简单。内标法测定时往往采用在线加内标
23、。6.5 平行样法 在测试样品时，采用同样方法制备多个样品溶液并测试，若结果不一致，可认为数据不行，应找出原因重做；若结果相近，在排除方法误差后可认为数据可靠。若有些数据相近，个别偏差较大，在剔除偏差较大的数据后，剩下数据可认为可靠。这是进行分析测试的常用方法。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,30,6.6 评价测试结果的好坏 6.6.1加标回收法 样品处理阶段对测试的影响也是不能忽视的环节，为了验证样品处理阶段对测试结果有无影响，可在样品处理之前另做一份样品并加入一定量的标准，测试之后计算标准的回收率。,若回收率在一定的范围内，通常为90110%，可认为结果准确；若过低，说
24、明样品在处理过程中有损耗，如挥发或沉淀等；若过高，说明有正干扰。有时为了验证仪器测试准确度也可采用该法，在测,回收率=,加入标准测得的量-没加标准测得的量加入标准的量,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,31,试之后加入标准再测一遍，看看是否能测出加入的值。 6.6.2平行样法 平行样法也可衡量测试结果的可靠性 6.6.3带标准物质法 标准物质是由国家标准物质管理中心制作的由多家国家权威检测部门经过反复测试的物质。再采购标准物质时会带有各种主要元素含量的证书。在制备样品溶液时，按照同样方法制备一份与样品成分相近的标准物质溶液，若标准物质溶液的测试结果与证书上给出的结果一致，证明测
25、试全过程可靠，样品测试结果正确，否则另想办法。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,32,6.6.4 计算不确定度(了解) 有的样品要求给出测试结果的可靠范围。 对测量不确定度的量化评定和表示，国际社会正在致力建立一套国际统一、各行各业通用的准则，以便于国际上对测量和实验成果的相互利用和交流。目前已经获得国际公认的主要原则有三点： 量结果的不确定度一般包含若干分量，这些分量可按其数值的评定方法归并成A、B两类，A类是指对多次重复测量结果用统计方法计算的标准偏差， B类是指用其他方法估计的近似相当于标准,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,33,偏差的值； 如果各分量
26、是独立的，测量结果的合成标准不确定度是各分量平方和的正平方根； 根据需要可将合成标准不确定度乘以一个包含因子k(取值范围23)，作为展伸不确定度，使测量结果能以高概率(95以上)包含被测真值。 A类和B类不确定度分量的评定方法 1).采用统计方法评定的A类不确定度分量uA 对于多次重复测量的物理量，用平均值X作为测量结果，把平均值的标准偏差作为测量结果标准不确定度的A类分量：,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,34,有时约定，测量次数在5次以下(含5次)时，为了保证标准不确定度的置信水平，应把标准偏差SX乘以t0.68因子作为测量结果的A类不确定度，即 uAt0.68Sx 2)
27、采用其他方法评定的B类不确定度分量uB 对于用其他方法估计的不确定度分量统称为B类分量。一般说来，在对可定系统误差进行消减或修正后，列出观察值的全部误差因素并作出不确定度估计。这对于初学者是一件相当困难的事，需要在实践中不断积累经验。以下几个方面的误差来源可,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,35,以作为实验误差分析的思路。 (1)仪器误差。任何量具、标准器、指示仪表等，都有一定的准确度等级，也就是说它们的标称值、分度值或指示值都具有一定误差。一些仪器、仪表的灵敏程度也有限度，告诉的信息只是某种变化量已小到它们的灵敏度以下。(2)原理方法误差。即因测量方法不完善，或所用公式的近
28、似性，或在测量公式中没有得到反映而实际起作用的某些因素都会对测量产生误差。 (3)环境误差。系由于实际环境条件不满足规定条件而产生的误差。环境条件包括温度、湿度、气压、振动、电磁场、光照度等以及这些因素的空间不均匀性和时间不稳定性等。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,36,(4)个人误差。即测量人员主观因素和操作技术所引起的误差。例如计时响应的超前或滞后、位置对准等在测量中表现出观测误差、估读误差和视差等。(5)调整误差。由仪器装置的调整(包括水平、垂直、平行、准直、零点等)未达到规定要求所引起的误差。在全面分析误差因素时，要注意到通常只有一、二种因素对测量结果影响比较大，而
29、其他影响较小的因素可以忽略。在本门课程中约定测量不确定度的B类分量主要由仪器误差引起。仪器极限误差可直接用仪器的示值极限误差或允许极限误差表示。在没有仪器,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,37,准确度资料情况下也可采用仪器的最小分度值作为仪器极限误差。在某些测量中测量的极限误差远大于仪器极限误差，可根据实际情况估计极限误差，例如在杨氏模量实验中用钢卷尺测量光杠杆镜面到标尺的距离时，由于卷尺弯曲、对准、水平保持等问题，测量的极限误差会远大于钢卷尺本身的仪器极限误差。 为了从极限误差计算出接近于标准偏差置信概率的不确定度B类分量uB，可将除以与仪器误差分布特性有关的常数K，即uB
30、/K。对于正态分布K=3，对于均匀分布K ，对于其他分布可在有关专著中查到K值。确定仪器误差属于何种分布需要有丰富的实验经验。为了便于教学，本课程约定,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,38,仪器误差均按均匀分布近似处理，即uB/ 需要指出，A类和B类不确定度分量只说明不确定度数值评定的方法不同，它们并不对应于随机误差和系统误差的类型。所以把A类不确定度分量理解为对随机误差的处理和把类不确定度分量理解为对系统误差的处理是不妥当的。 2测量结果的合成不确定度A类和B类不确定度分量是以标准不确定度形式(标准差和近似标准差)给出的，如果它们互相独立，则测量结果的合成不确定度u可表示为
31、,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,39,最终的测量结果则表示为,在某些工程技术领域需要用高置信概率的展伸不确定度表达测量结果。展伸不确定度U可以用标准不确定度u乘以包含因子K获得，即UKu。包含因子的取值在23之间，一般情况下可简化为当取2时，相应的置信概率约为95；当取3时，相应的置信概率约为99。 本课程约定，在对一些电学量进行一次测量时，采用高置信概率不确定度表示测量结果，其B类不确定度uB等于仪器的极限误差仪，即 uB仪,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,40,第七节 制样技术,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,41,现在大多数ICP光
32、谱的定量分析都是测定水溶液中元素的含量，因此，首先必须对样品进行处理，制成含有一定浓度待测元素、一定酸度的水溶液。ICP-AES虽然不像ICP-MS要求那么高，但毕竟测试的浓度基本在g/mL数量级上，为了避免在制备样品溶液过程中出现含量丢失或污染，必须有一套较严格处理方法。其中包括对涉及的容器具的选择、洁净处理，不同纯度试剂的选择，样品的处理等等。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,42,7.1容器 玻璃容器价格低廉，不变形，易洗净，耐除HF以外的强酸，能耐一定温度，是湿法消解中最常用的容器。湿法消解样品(即加酸)或直接用水溶解样品往往就是在玻璃容器中进行的。定容、溶液转移或稀
33、释过程中也常常采用玻璃器皿。但玻璃容器不耐碱和HF，在处理含有这些试剂的样品溶液时，必须采用耐碱和HF的聚四氟乙烯塑料容器或其他塑料容器。另外，玻璃容器有吸附作用或溶出作用(如Na元素)，在长时间保存溶液时也不能采用，而应采用聚乙烯等塑料容器。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,43,聚四氟乙烯塑料能耐酸碱，因此若样品需要碱性溶液或需加入HF消解时，必须使用聚四氟乙烯塑料烧杯，因为碱性溶液或HF能腐蚀玻璃。消解完全后，原来是碱性溶液应该用酸中和并调整成酸性溶液，原来是HF消解的，应蒸干，再用少量HCl赶一次，调整成酸性溶液。 盛放样品溶液的最好容器是聚四氟乙烯塑料容器。但聚四氟
34、乙烯塑料容器有价格昂贵、不耐高温、容易变形、导热性差、旧容器不易洗净等缺点，因此常常与其它材质的容器配合使用，如玻璃容器，聚乙烯容器等。而聚乙烯等塑料容器也有吸附作用，如对Au等。因此，两种容器应针对不同元素区别对待。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,44,若须采用高温灼烧或熔融时，必须用到坩埚。根据耐高温或耐腐蚀的不同，必须用到不同材质的坩埚，如石英坩埚、瓷坩埚、镍坩埚、铂坩埚、刚玉坩埚、石墨坩埚等。 瓷坩埚耐高温，价廉，是高温灼烧经常采用的坩埚，但不耐碱，因为其主要成分是SiO2和Al2O3。 石英坩埚易洗净，同样因为其主要成分是SiO2，耐高温性不如瓷坩埚和铂坩埚，也不
35、耐碱。 镍坩埚能耐碱，但不耐太高的温度，也不能熔融酸性化合物。 铂坩埚能耐一般的酸碱，也能耐高温，但不耐王水和熔融的碱金属、碱土金属氧化物，价格昂贵。 究竟采用何种材质的容器应依需要而定。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,45,7.2洁净处理 所有涉及到的器皿，除镍、铂坩埚外，都应该用1:1 HNO3煮沸半小时，不能蒸煮的器皿，如聚乙烯容器、量筒、容量瓶、移液管等，必须用1:1 HNO3浸泡24小时以上。再用自来水洗尽，最后用蒸馏水和去离子水清洗至少三遍。 7.3试剂 所有的试剂，包括固体试剂和液体试剂都必须优级纯以上，尤其是使用量较大的HCl和HNO3。所有用水都必须是二级
36、水(去离子水)或更纯的水。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,46,7.4保存 所有溶液，包括标准溶液和样品溶液，都应该现配现测。若不能马上测定的，应该防止容器对待测元素的吸附。有的元素必须用塑料容器储存，有的元素必须用玻璃容器储存。 7.5样品的处理 在物质成分的分析测定中，样品处理的好坏和仪器测定得是否准确，是影响测试结果两个重要因素。往往样品处理的过程比仪器测定更重要。样品的种类繁杂，成分各种各样。在进行样品处理之前，应根据样品的不同种类，不同成分，需测定的不同元素、含量大小，选择不同的分析方法。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,47,对于一些较为常见的
37、物质及常规的成分分析测定，通常有国家颁布的标准分析方法。这些分析方法已经经过实践检验，是成熟的分析方法。测试结果准确，精度较好，测试结果容易获得大家的公认。若完全按照国家标准方法测试，测定单位又是经过国家计量认证，这些测试结果可以直接由国家法律机关作为证据使用，当然，测试单位也应为测试结果的准确性承担法律后果。因此，在选择测试方法时应首选国家标准测试方法。但是，由于这些标准方法需经过有较高资质的分析测试单位采用不同方法的多次分析测定、筛选，再由国家颁布。因此，对于一些特定物质的分析测定，特别是新材料、新,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,48,产品的分析测定，往往没有标准的方法
38、可依，必须自寻一套分析方法。若是工厂、研究单位送来的样品，应向他们索要他们认可的分析方法。若他们不能提供，或有的分析方法不被他们认可，可在国标的基础上，根据主要成份和测定元素的性质进行合理的修改，使其达到分析测定的要求。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,49,选定了处理方法后，就要做溶(熔)样前的准备，包括容器的选择，容器洁净处理，再根据已选定的处理方法称取合适重量的样品、或量取合适体积的液体样品进行溶(熔)样，一般情况下，要做到彻底溶样(按已有的标准方法处理除外)，即处理后的样品溶液应是清澈透明，不能是悬浊液或乳浊液，更不能有沉淀。否则很可能出现测定结果偏低。溶样完成后按最
39、后定容体积的约4%(v/v)加入HCl，定容。需测定元素的在样品中的大致含量和测定时的含量要求，需要稀释的样品溶液在稀释时同样要加入4%(v/v) HCl，以保证在测试时的酸度一致。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,50,由于样品的复杂性，不可能对每一种样品都能做到一次成功。有些样品即使很好处理，也难免会出现偏高或偏低的测定结果，下面仅仅是介绍样品处理的一般规律。更好的处理和测试结果须经历不断的探索，反复比较。 7.5.1液体样品首先应了解液体样品的基体，即主要成分，选择处理方法。若样品是水溶液，基体比较单一，测定元素含量合适，一般只需加入14%HCl即可。若测定元素含量太高
40、或太低，也只需适当稀释或浓缩。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,51,若样品是一般小分子有机溶液，一般将其蒸干，再加入少量HNO3消解，除去有机残留物，赶尽HNO3后，定容成4%HCl溶液。若溶液中有机物用HNO3不易除尽，可加几滴HClO4。HClO4具有很强的氧化性，且沸点较高，不仅能氧化HNO3不易氧化的有机物，还能防止在HNO3即将蒸干时由于温度急剧升高而炭化，炭化后的样品很难再用湿法完全消解。但由于HClO4氧化性很强，若样品中有机物较多，高温下与HClO4后会因剧烈反应而发生爆炸，应特别注意。有机物氧化完后，加强热赶尽HClO4(白烟冒尽)，若测定的元素为Se,A
41、s等易挥发的元素，则只能加热到刚好冒白烟，保留HClO4。若样品为大分子有机聚合物或高分子有机物，如石,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,52,油制品，食用油，蜂蜜等，应先将样品置坩埚内，在电热板上蒸去液体成分，再加入几滴H2SO4炭化，再放入马弗炉内600C左右灼烧，直到残渣变白，冷却后取出，再用少量酸洗出。若样品为污水，很可能含有硅的化合物，就需要采用聚四氟乙烯烧杯溶样，加入少量HF使其生成SiF4加热挥发而除去。HF是剧腐蚀、剧毒的试剂，操作时必须在通风橱中进行，并戴橡皮手套。若不慎沾上，应立即用水冲洗，严重时去医院，不能耽搁。HF蒸气更具毒性，不仅直接腐蚀呼吸道，还会直
42、接透过皮肤进入肌肉、骨骼，产生胀痛，过几天后会自然消失，但长期受HF毒害，会出现氟骨病，即骨骼变形。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,53,若测定样品中低氧化态硫的含量，由于加入酸后，低化合态硫会生成H2S或H2SO3而挥发，处理前加入饱和溴水，放置30分钟后，再加入逆王水(HNO3HCl = 31)，使低化合态硫氧化为硫酸盐。低温碱熔(400C)也是一个不错的选择。 7.5.2固体样品(粉末样品)固体样品应首先变为粉末样品，以便迅速消解完全。金属样品可采用钻、刨、削等，取其碎屑。但要防止受污染。土壤、岩石样品可用球磨机球磨，也可用玛瑙研磨。样品粉碎后要过100目以上筛，筛余
43、物再磨，再过筛，直至全部都能通过筛子。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,54,粉末样品可参照液体样品选择处理方法，根据样品性质决定采用湿法消解还是高温碱熔，是否需要去硅等等，设计溶样方案。 土壤、岩石、矿石、炉渣、煤灰等样品往往含有硅，应采用高温碱熔法溶解硅，或在聚四氟乙烯烧杯中加HF除硅，否则将不能完全溶解。 高温碱熔，往往采用NaOH， 670C灼烧20分钟或Na2CO3+Na2O2，980C灼烧20分钟两种方法，灼烧冷却后，再用20%HCl洗出，浓缩，定容。 高温碱熔可用于测定Si，Al等元素，但由于引入了大量NaCl，样品含盐量大大增加，而且加入的NaOH、Na2O2
44、、Na2CO3等试剂的纯度难以保证，,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,55,往往会使测定结果偏高。另外碱熔操作烦琐，所用的容器多，不到万不得已一般不采用。对于生物样品(动物器官组织、植物、中草药等)，可采用加酸浸泡的办法，再加HClO4去除残余有机物，再加酸溶解。也可在马弗炉中灼烧除碳。铁制样品中往往含有C，在冶炼过程中形成的碳化物很难用HNO3或HCl溶解完，采用硫磷混酸往往取得较好的效果，但处理完后须将硫磷混酸赶尽。,样品的前过程是一个繁琐的过程，尤其是对天然样品更是如此，有时需要几种方法配合使用才能得到合乎测试需要的样品溶液。样品的前过程也是关系到测试结果准确与否的关键
45、环节。每一步都需要小心翼翼。7.6标准溶液的配制ICP光谱分析中，必须重视标准溶液的配制，原因有：不正确的配制方法将导致系统偏差，介质和酸度不合适会产生浑浊和沉淀，造成雾化器堵塞或进样量改变，,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,57,元素分组不当会引起元素间谱线干扰， 试剂和溶剂纯度不够会增加空白值、检出限变差和误差增大。由于ICP-AES能够进行多元素同时测定(全谱直读)或连续测定(单道扫描)，为发挥ICP-AES的优势，提高测试速度，应该配制混合标准溶液。但为了避免引入干扰，储备标准溶液最好单独配制，标明配制元素的浓度、由何物质配制，介质及浓度、配制时间。测试时根据上述分组
46、及以下因素考虑分组： 为使标准储备溶液能保存尽可能长的时间 ，多数元素的标准储备溶液都加入不同的介质，如,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,58,HCl，HNO3，H2SO4，Na2CO3，NaOH等，有的还是混合介质，如HF+HCl，HCl+HNO3等。在配制时，若这些介质之间或介质与测定元素会发生反应，就不能配在一起。如Ag、Bi、Pb、Tl就不能与含HCl介质的标准储备溶液混合。又如Ti常常是由TiOSO4配制的，在配制混合标准溶液时应注意SO42-可能与其它离子反应。有些标准储备溶液是碱性介质，而样品溶液是酸性介质，为防止酸效应对测试结果的影响，往往将标准溶液配制成酸性
47、，但必须现配现用，如Si、W、Mo标准溶液等。 有些标准储备溶液虽然是酸性介质，但酸含量很高，有的甚至120 %(v/v)，而样品溶液的酸含,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,59,量一般为14 %(v/v)，因此标准溶液也必须配制成含酸14 %(v/v)，同样必须现配现用，如Sn等。多数元素的标准储备溶液采用的是其单质或氯化物、硝酸盐、硫酸盐等化合物配制的。因此不会引入其它元素的干扰，但有些元素的标准储备溶液采用的是其酸盐配制的，如S、P、W、Mo、Si等，有时采用它们的Na盐或K盐配制的，因此它们的标准溶液就不能用作测定Na或K等。有些购买的标准溶液没有注明由何物质配制，最
48、好只能单独配制。,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,60,思考题： 1. 哪些因素能够影响等离子炬焰的环状结构？分别是怎样影响的？形成环状结构对测试有什么益处？ICP-AES有哪些优点？ 2. ICP炬管一般需通入三种气流，它们分别叫什么名字？分别进入炬管的的什么部位？起什么作用？ 3. ICP火焰分为几个区域？颜色如何？温度如何分布？ 4. 形成ICP光源的光谱背景有哪几种？它们是怎样产生的？ 5. 中阶梯光栅有何特点？为什么分辨率高？中阶梯光栅对工作环境有何要求(要求恒温)？ 6. 固体检测器有哪些种类？其特点如何？ 7. ICP光谱仪有哪些类型？全谱直读型光谱仪在,2019/5/12,感耦等离子体原子发射光谱分析,61,组成上与其他种类的仪器有何不同？ 8. ICP光谱分析有哪几种干扰？产生的原因是什么？如何消除？ 9. 如何选择合适的分析条件？影响分析结果的主要因素有哪几个？ 10.AAS和ICP-AES的工作曲线都会出现向下弯曲的情况，请问产生的原因是什么？ 11. 常见的测试方法有哪些？他们分别适用于那些样品，它们能减少或消除哪些方面的干扰或偏差？怎样消除或减少干扰或偏差的？12. 基体匹配和标准加入法是两种常见的测试方法。试简述这两种测试方法的适用范围、制样和测试过程。,
