1、 超声波探伤作业指导书1 适用范围 本作业指导书母材厚度在6mm200mm的风力发电机组塔架全熔化焊对接焊接接头的超声检测。2 引用标准 NB/T47013.3-2015承压设备无损检测-第3部分：超声检测 NB/T47013.3-2015承压设备无损检测-第1部分：通用要求 GB/T11259-2008 超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法 JB/T9214-2010A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能 测试方法 JB/T10061-1999A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件 JB/T10062-1999超声波探伤用探头性能测试方法 3 试验项目及质量要求 3.1 试验项目：风力发电机塔
2、筒，塔架焊缝6mm-200mm 内部缺陷超声波探伤。3.2 质量要求 3.2.1 检验等级的分级焊缝质量分级：评定指标根据由缺陷引起的反射波幅（所在区域区、区、区）、单个缺陷指示长度、多个缺陷指示长度L；根据质量要求检验等级分、三个级，I级最高。 3.2.2 焊缝质量等级及缺陷分级如下表所示：3.2.3 探伤比例 探伤比例按GB/T 19072-2003技术规范要求执行3.2.4 检验区域的选择3.2.4.1 焊缝的超声波检测应在焊缝及探伤表面经外观检查合格后方可进 行，应划好检验区域，标出检验区段编号。 3.2.4.2 检验区由焊接接头检测区宽度焊接接头检测区厚度表征。3.2.4.3 焊接接
3、头检测宽度应是焊缝本身加上焊缝熔合线两侧各10mm确定。V型坡口对接接头检测区示意图如下：3.2.4.4 对接接头检测区厚度应为工件厚度加上焊缝余高3.2.4.5超声波检测应覆盖整个检测区域。若增加检测探头的数量或者增 加检测面(侧)还不能完全覆盖，应增加辅助检测，包括其他无损检测方法。3.2.5 焊接接头检测面的准备3.2.5.1 探头移动区宽度a、探头移动区域宽度应能满足检测到整个区域。如图所示b、采用一次反射法扫查探伤时，探头移动区应大于等于1.25P: “ P=2KT ”或“ 2Ttan ”，式中： P-跨距，mm； T-母材厚度，mm； K-探头K值； -探头折射角（） c、采用直射
4、法探伤时，探头移动区域应大于0.75P。3.2.5.2 检测面应清除焊接飞溅、铁屑、油垢、油漆及其它外部杂质，以免影响超声波耦合。检测面表面应平整光滑，检测面与探头楔块底面或保护膜间隙 不应大于0.5mm，其表面粗糙度Ra应小于等于25m3.2.5.3 去除余高的焊接，应将余高打磨到与临邻近母材平齐。保留余高焊缝，如焊缝表面有咬边，较大的隆起和凹陷等也应进行适当修磨，并做圆滑过渡以免影响检验结果的评定。3.2.6 检测频率与K值的选用3.2.6.1 焊缝对接接头检验频率：一般在2-5MHZ的范围内选择，特殊情况下，可选用低于2MHZ区或高于2.5MHZ的检验频率，但必须保证系统灵敏度的要求。频
5、率选定如图所示：3.2.6.2 K值的选用a、一般情况可参照表中规定选择，在条件允许时，应尽量采用较大K值b、采用一次反射法检测时，K值的选取应尽可能使主声束与检测面向对的底面法线夹角在3570之间，当选用两种以上K值探头检测时，应至少有一个探头满足要求。4 仪器、试块、耦合剂、探头4.1 探伤仪4.1.1探伤仪性能采用A型脉冲反射式超声波型探伤仪，其工作频率范围为0.510MHz仪器至少在荧光屏满刻度的80%的范围内呈线性显示。探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档不大于2dB,其精度为任意相邻12dB的误差在1dB以内，最大累计误差不超过1dB。水平线性误差不大于1%，垂直线
6、性误差不大于5%。本公司采用的是TUD9100超声波探伤仪4.1.2 数字式超声波探伤仪TUD9100主要技术参数：检测范围 025000mm、声速范围 40020000m/s、增益范围 0dB110dB显示延迟 -20s+3400s、探头零偏 0s99.99s工作频率 0.515MHz、电噪声水平 10探头阻尼 100、150、200、500、重复频率 102000Hz灵敏度余量 62dB（深200mm，2 平底孔）、分 辨 力 40dB（5P14）线性抑制 080%（数字抑制）、垂直线性误差 3%水平线性误差 0.1%、动态范围 32dB脉冲类型 方波、脉冲强度 多级可调、脉冲宽度 自动匹
7、配/ 501000ns4.1.3 TUD9100超声波探伤仪操作方法将仪器探头线连接在探伤仪上，使用单探头时，探头线可以直接到仪器顶部任何一个探头插座上。开机启动仪器。按“基本”键进入到基本功能组主菜单，并调节“仪器检测范围等参数在“调校”键，进入到调校功能主菜单。调节“探头类型”、“探头频率”、“探头前沿”、“晶片尺寸”，等参数在校准中调节“材料声速”、探头零偏、一点声程、二点声程，等参数。待各参数调节，调校准确无误后即可进行检测工作。4.1.4 超声波设备的使用与保养4.1.4.1 超声波设备时用注意事项a、一起关机后必须挺5秒以上方可再次开机，不可重复开关机b、避免强力震动、冲击和强磁场
8、干扰c、不要长期放置于高温、高湿、有腐蚀气体的环境中d、按键操作不宜用力过猛，不宜用沾有油污、泥水的手直接操按键e、仪器出现故障时，不要轻易拆卸，应以设备厂家及时联系4.1.4.2 超声波设备的保养与维护a、设备使用完毕，应对设备的外表进行清洁，然后放置与室内干燥通风处。b、探头连接接线切忌扭曲重压，在插拨连接线时应抓住插头根部c、为保护设备及电池，每个月至少开机通电1.5h，并给电池充电以免设备中重要元件受潮、电池过放电影响电池的使用寿命。d、设备在搬动过程中，应避免摔跌，强烈震动、强烈撞击和雨、雪等淋湿。e、禁止用具有溶解性的物质擦拭设备外壳。4.2 试块4.2.1标准试块4.2.1.1标
9、准试块的基本要求标准试块应采用与被检工件声学性能相同或相近的材料制成，制作时应确认材质均匀,无杂质，无影响使用的缺陷。标准试块外形加工的平行度，垂直度与尺寸精度均应经过严格检验并符合JB/T7913-1995超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法 中的相关规定。本条采用的标准是试块为CSK-A。4.2.1.2标准试块的用途a、校验超声波探伤仪的水平线性，垂直线性和动态范围：用25mm或100mm尺寸b、调节基线比例和探测范围：用25mm和100mm尺寸c、测定直探头与超声波探伤仪组合的远场区分辨力：用85mm，91mm，100mm尺寸。d、测定直探头与超声波探伤组合的盲区：用50mm有机玻璃
10、圆弧至两侧的距离5mm和10mm的位置测定。e、测定直探头与超声波探伤仪组合的最大穿透能力：用50mm有机玻璃底面的多次反射波测定f、测定斜探头的入射点：用R50，R100圆弧面g、测定斜探头的折射角度或K值：用50mm或1.5mm孔测h、测定斜探头的声束偏斜角：用直角棱边测定i、测定斜探头在深度方向的分辨力，用40mm，44mm，50mm台阶园柱孔。4.2.2 对比试块4.2.2.1 对比试块的基本要求在不同的标准下选择相应的对比试块，其制作与标准试块的要求保持一致。本条采用的对比试块为CSK-A和CSK-A试块。4.2.3试块使用原则4.2.3.1 CSK-A，CSK-A和CSK-A试块适
11、用于检测面曲率半径大于等于250mm的焊接接头超声波检测。4.2.3.2 CSK-A，CSK-A试块试用工件壁厚范围6mm200mm的焊接接头4.2.3.3 对于工件厚度范围在8mm120mm的焊接接头超声波检测可采用CSK-A试块，但应对灵敏度进行适当调整予以CSK-A试块保持一致。4.2.3.4 对于不同工件厚度的对接接头进行检测时，试块厚度的悬着应有较大工件厚度确定，扫查灵敏度和质量分级由薄侧工件厚度确定。4.2.4 试块的维护4.2.4.1 相同型号的试块应有适当的部位编号，以防混淆。4.2.4.2 试块在使用和搬运过程中注意保护，防止测试面损伤。4.2.4.3 使用试块应注意清除反射
12、体内的油污和锈蚀。常用沾油布将锈蚀部位抛光，或用适合的去锈剂处理。4.2.4.4 注意防止试块锈蚀，使用后停放时间较长是，要涂适当的防锈剂。4.2.4.5 注意防止试块变形，避免火烤，较薄的试块防止重压4.3.耦合剂4.3.1 耦合剂的作用应选用适当的液体或模糊状物作耦合剂。耦合剂应具备有良好透声性和适宜流动性，不应对材料和人体有损伤作用。同时应便于检验后清理。4.3.2 典型耦合剂典型耦合剂为水、机油、甘油和化学浆糊。在试块上调节仪器和产品检验应采用相同的耦合剂。4.3.3 耦合剂满足的要求4.3.3.1 能润湿工件和探头表面，流动性，黏度和附着力适当，不难清洗4.3.3.2 声阻抗高，透声
13、性能好。4.3.3.3 来源广，价格便宜。4.3.3.4 对工件无腐蚀，对人体无害，不污染环境。4.3.3.5 性能稳定，不易变质，保质期长。4.4 探头4.4.1 对接接头焊缝检测时采用单晶横波斜探头其频率和K值应满足3.2.6.1和3.2.6.2中的要求，其基本性能应满足下表要求，列表如下：4.4.2 探头K值选用原则4.4.2.1 使声束能扫查到整个焊缝截面4.4.2.2 使声束中心线尽量与主要缺陷垂直4.4.2.3 保证有足够的检测灵敏度5 仪器、探头、曲线的调校5.1 仪器与探头的调节5.1.1 垂直线性仪器的垂直线性是指仪器显示屏上的波幅与探头接收的信号之间成正比的程度。垂直线性的
14、好坏影响缺陷定量的精度。垂直线性好坏常以垂直线性误差来判断。5.1.2 垂直线性误差测试步骤1 将超声波探伤仪的“抑制”调节到“0”，“衰减器”保留一定余量（30db）2 直探头置于CSK-A试块上，对准25mm底面，并用压块恒定压力3 调节仪器室试块上某次底波位于显示屏中间位置，并达到满波幅100%，但不饱和，记为“0”db4 调节“衰减器”，每次衰减2db，并记下相应波高，知道底波消失5 运用公式计算垂直线性误差，公式如下：D=（|d1|+|d2|）% 式中d1：实测值与理想值得最大正偏差d2: 实测值与理想值得最大负偏差6 将说的数值填入下表，衰减量db 0 2 4 6 8 10 12
15、14 16 18 20 22 24绝对H反射波高度实测 相对%理想波高% 100 79.4 63.1 50.1 39.8 31.6 25.1 19.9 15.8 12.6 10 7.9 6.3偏差%注：表中 1.绝对H : 绝对波高H2.相对%：相对波高% ，其计算公式为：实测相对波高=Hi(衰减db后波高)/Ho(衰减0db是波高)100%3.理想相对波高计算公式：理想相对波高%=10-20lg（Hi(衰减db后波高)/Ho(衰减0db是波高)）100%5.1.3 水平线性仪器的水平线性是指仪器显示屏上时基线显示的水平刻度与实际声程之间成正比的程度，或者说是显示屏上多次底波等距离的程度。水平
16、线性主要取决扫描锯齿波的线性。水平线性好坏直接影响定位准确性。水平线性的好坏常用水平线性误差来表示。5.1.4 水平线性误差测试1 将直探头置于CSK-A上，对准25mm厚的大平底面2 调“微调”，“水平”，“脉冲位移”旋钮，是显示屏出现五次底波，B1-B5，且是B1前沿对准屏幕2.0基线，B5前沿对准10.0基线。3 记录B2,B3,B4与水平刻度基线4.0，6.0，8.0的偏差值a2，a3，a44 运用公式计算水平线性误差=|amax|/0.8b100%式中： amax a2，a3，a4 中的最大值b 显示屏水平满刻度值5.1.5 衰减器精度调节衰减器精度影响着缺陷定量的准确性，准确测定衰
17、减器精度应采用标准衰减器进行比较，但是现场难以实现，检测人员可以用简易方法，大致测出衰减器的精度。5.1.6 衰减器精度测试1 使2平底孔的最大反射波高为适当高度（如：80%），记为H12 使同声程的4的平底孔的最大反射波出现在屏幕上，衰减12db，记为H2.3 运用公式估算衰减器误差,公式如下：N（db）=20lg（H1/H2）JB/T9214-1999A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能 测试方法中规定，任意相邻12db误差小于等于1db。5.2 横波探头的校准5.2.1 横波斜探头入射点L0的校准1 在CSK-A试块25mm宽的检测面上涂上耦合剂，然后再R100弧面的圆心附近前后平稳移动，
18、找到圆弧面的最高反射波。用尺测量探头段部至R100端面的距离L，则入射点至探头前端的距离L02 运用公式 L0=100-L 计算求得3 入射点测量应进行三次，取平均值，误差小于0.5mm5.2.2 横波斜探头K值的校准a、 将探头对准50，1.5孔的圆弧面平稳的前后移动，当主声束扫查至圆弧面且其延长线通过圆心时，找到50，1.5孔的圆弧面的最高反射波，此时测量探头前端部至试块段部距离L。b、 运用公式 K= (L+ L0 -35)/30 计算求得c、不同折射角（K值）选取测量面 当 折 射 角 为 34 66时 ， 探 头 放 在 距 50远 面 处 ， 使 用 50mm孔 进 行 测 定 。
19、 当 折 射 角 为 60 75时 ， 探 头 放 在 距 50近 面 处 ， 使 用 50mm孔 进 行 测 定 。 当 折 射 角 为 74 80时 ， 探 头 放 在 距 1.5近 面 处 ， 使 用 1.5mm孔 进 行 测 定 。5.3 基线扫描的确定 5.3 扫描基线 荧光屏时基线刻度可按比例调节为代表缺陷的水平距离，深度h或声程S。5.3.2 基线扫描的调节根据下列方法调节 1 探伤面为平面时，可在对比试块上进行时基线扫描调节，扫描比例依据工作厚度和选用的探头角度来确定，最大检验范围应调到时基线满刻度的23以上。2 探伤面曲率半径RW2 4时，可在平面对比试块上或探伤面曲率相近的
20、曲面对比试块上，进行时基线扫描调节。 3 探伤面曲面半径RW24时，探头楔块应磨成与工件曲面相吻合，按NB/T47013.3-2015标准要求在对比试块上作时基线扫描调节。5.4 距离-波幅曲线（DAC曲线)的绘制5.4.1 距离-波幅曲线（DAC曲线）应按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线族由评定线、定量线和判废线组成。评定线与定量线（包括平定线）为区，定量线与判废线之间（包含定量线）为区，判废线及以上区域为区如下图所示：5.4.2 距离-波幅曲线（DAC曲线）灵敏度选择5.4.2.1工件厚度为6mm-200mm的焊接接头，斜探头或直探头检测时，用CSK-A试块制作距离-波幅曲
21、线（DAC曲线）的灵敏度如下表所示：5.4.1.2 工件厚度为8mm-120mm的焊接接头，斜探头检测时，用CSK-A试块制作距离-波幅曲线（DAC曲线）的灵敏度如下表所示：5.4.1.3 CSK-A与CSK-A 试块之间灵敏度转化5.4.3 距离-波幅曲线（DAC曲线）的绘制按照5.2.1，5.2.2，5.2.3，5.2.4调校好仪器和探头的参数后，就可以制作DAC曲线。依据标准NB/T47013.3-2015选取试块CSK-A或者CSK-A。 5.4.1.1 选择仪器制作DAC按钮，激活DAC曲线制作功能。5.4.1.2 依据探伤需要选取试块上深度10mm的240孔或者16孔，双手移动探头
22、找到其最高反射波，调节增益按钮使波高稳定于屏幕80高度，按确定按钮（冻结键），这时就选好了第一点。5.4.1.3按照步骤1的方法，依次选择不同深度其他两点的，找到最高波确定各点。 5.4.1.4 最后选择确定键（回车键），激活DAC母线曲线。按照5.2.2.2或5.2.2.3中列表分别确定判废线、定量线、评定线。5.4.4 探测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。5.4.5 探伤面曲率半径R小于等于W*W 4时，距离一波幅曲线的绘制应在曲线面对比试块上进行。5.4.6 受检工件的表面耦合损失及材质衰减应与试块相同，否则应进行传输损失修整，在1跨距声程内最大传输损差在2dB以内可不进行修整。
23、5.5 仪器调整的校验 5.5.1 每次检验前应在对比试块上对时基线扫描比例和距离一波幅曲线灵敏度进行调整或校验。校验点不少于两点。 5.5.2 在检验过程中每4h之内检验工作结束后应对时基线扫描和灵敏度进行校验，校验可在对比试块或其他等效试块上进行。 5.5.3 扫描调节校验时，如发现校验点反射波在扫描线上偏移超过原校验点刻度读数的10或满刻度5(两者取较小值)，则扫描比例应重新调整，前次校验后已经记录的缺点，位置参数应重新测定，并予以更正。5.5.4 灵敏度校验时，如校验点的反射波幅比距离一波幅曲线降低20或2dB以上，则仪器灵敏度应重新调整，而前次校验后，已经记录的缺陷，应对缺陷尺寸参数
24、重新测定并予以评定。6 焊缝的检验6.1 检验技术等级要求6.1.1 超声波检测技术等级超声波检测的技术等级分为A、B、C级，对于实际检测检测项目，选取A或者B级，一般采用B级超声波检测。6.1.2 超声波检测等级的要求6.1.2.1 A级检测：适用于工件厚度为6mm-40mm焊接接头的检测。可用一种折射角（K值）斜探头采用那个直射波法和一次反射波法在焊接接头的单面双侧进行检测。如果条件限制，也可以选择双面单侧或者单面单侧进行检测。一般不对横向缺陷进行检测。6.1.2.2 B级检测: a、B级检测适用于工件厚度6mm-200mm焊接接头检测b、一般焊接接头进行横向检测c、对于要求进行栓面双侧的
25、焊接接头，如受几何限制只能采用单面双侧检测时，还应补充斜探头作近表面缺陷检测。要求如下表所示：6.2 检测面要求6.2.1 超声波检验应在焊缝及探伤表面经外观检验合格并满足3.2.5.2和3.2.5.3要求检验前探伤人员应了解受检工件的材质、结构、曲率、厚度、焊接方法、焊缝种类、坡口形式、焊缝余高及背面衬垫、沟槽等情况。 6.3 平板焊缝扫查6.3.1 纵向焊缝的扫查6.3.1.1 探测纵向缺陷，斜探头垂直于焊缝中心线放置在探伤面上,作锯齿型扫查。扫查速度不应大于150mmS，相邻两次探头移动间隔保证至少有探头宽度10的重叠。6.3.1.2 探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面及热影响区
26、。在保持垂直焊缝作前后移动的同时，还应作1015左右移动。 为探测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行和斜平行扫查。为确定缺陷的位置、方向、形状、观察缺陷动态波形或区分缺陷讯号与伪讯号，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式.如下图所示:6.3.2 横向缺陷的扫查6.3.2.1 检测焊接接头的横向缺陷时,可在焊接接头的两侧边缘时斜探头与焊接接头中心线成不大于10作两个方向的斜平行扫查如下图所示：6.3.2.2 如果焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查，如下图所示：6.4 曲面焊缝扫查6.4.1 探伤面为曲面时，按规定选用对比试块，并采用6.3.1条的方法
27、进行检验。受工件几何形状限制，横向缺陷探测无法实施时，应在检验记录中予以注明。 6.4.2 环缝检验时，对比试块的曲率半径为探伤面曲率0.9-1.5倍的对比试块，均可采用，对比试块的采用。探测横向缺陷时按6.3.3条的方法进行。 6.4.3 纵缝检验时，对比试块的曲率半径与探伤面曲率半径之差应小于10。 6.4.3.1 根据工件的曲率和材料厚度选择探头角度，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊缝厚度；条件允许时，声束在曲底面的入射角度不应超过70。 6.4.3.2 探头接触面修磨后，应注意探头入射点和折射点角或K值的变化，并用曲面试块作实际测定。7 焊缝的缺陷的评定7.1 缺陷的位置
28、7.1.1 缺陷的位置应以获得缺陷的最大长度为准.7.1.2 对所有反射波幅超过定量线的缺陷，均应确定其位置，最大反射波幅所在区域和缺陷指示长度并作记录。7.2 缺陷的指示长度7.2.1 当缺陷反射波只有一个高点,且位于区或者区以上时,用-6db法(半波高度法)量其指示长度.7.2.2 当缺陷反射波峰值起伏变化,有多个高点,且均位于区或者区以上时,应采用断点-6db法量其指示长度.7.2.3 当缺陷最大反射波幅位于区,将探头左右移动,使波幅降到评定线,用评定线绝对灵敏度法测量其指示长度.7.3 缺陷定量7.3.1 缺陷当量，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检验，可采用公式计算，DGS曲线，
29、试块对比或当量计算尺确定缺陷当量尺寸。7.3.2 检测时应对反射波幅在评定线或者评定线以上的缺陷进行定量,除了按7.1和7.2确定缺陷的位置、波幅和指示长度外，还应包括对缺陷自身高度，缺陷类型进行可能的估判。7.4 缺陷类型确定（定性）7.4.1 缺陷类型度确定应主要考虑焊接方法、缺陷的位置、缺陷的指示长度、自身高度、缺陷波幅、缺陷指向性,再结合缺陷静态波形和动态波形.通常用确定点状缺陷、线状缺陷或面状缺陷。7.4.2 缺陷类型确定的方法7.4.2.1 缺陷类型确定应按一下顺序依次进行：a、缺陷波幅b、缺陷指向性c、静态波形d、动态波形7.5 缺陷的评定7.5.1 缺陷的判定应遵循3.2.2表
30、中要求确定7.5.2 超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹,未熔合未焊透等类型缺陷的特征,如有怀疑时,应采取改变探头折射角度(K值),增加检测面,观察动态波形并结合结构工艺特征判定,如波形不能准确判定,应辅以其他检测方法作综合判定.7.5.3 沿缺陷长度方向相邻的两缺陷,其长度方向间距小于其中最小缺陷长度且两缺陷在与缺陷长度相垂直方向的间距小于5mm时,应作为同一条缺陷处理,两缺陷长度之和加上投影的左右端点左右间距作为指示长度.8 检测记录与报告8.1 检测记录应按照现场操作的情况详细记录检验过程的相关信息和数据超声波检测记录符合NB/T47013.1-2015的规定外，还至少包括以下内容：8
31、.1.1 工艺规程版次或操作指导书编号。8.1.2 检测技术等级8.1.3 检测设备器材：1、 检测仪器型号及编号2、 探头（类型、晶片尺寸、折射角或K值、标称频率）3、试块型号4、耦合剂8.1.4 检测工艺参数：1、检测范围、扫查位置（面、侧）2、检测比例3、检测灵敏度4、耦合补偿量8.1.5 检测结果:1、检测部位示意图；2、缺陷位置、尺寸、回波波幅；3、缺陷评定级别；8.1.6 检测人员签字和复核人员签字8.2 检测报告应依据检测记录出具检测报告。超声波检测报告应符合NB/T47013.1-2015的规定外，至少还包括以下内容：1、委托单位2、检测技术等级3、检测设备器材：仪器型号、探头
32、、试块、耦合剂；4、检测示意图：检测部位、检测区域以及说发现的缺陷位置。记录和报告中的数据真实准确，检验记录和报告至少保存7年。目录1.总则.( )2.引用标准( )3.试验项目及质量要求( )3.1 试验项目( )3.2 质量要求( )4.仪器、试块、耦合剂、探头.( )4.1 探伤仪( )4.2 试块( )4.3.耦合剂( )4.4 探头( )5.仪器、探头、曲线的调校( )5.1 仪器与探头的调节( )5.2 横波探头的校准( )5.3 基线扫描( )5.4距离-波幅曲线（DAC曲线)的绘制( )5.5 仪器调整的校验( )6 焊缝的检验( )6.1 检验技术等级要求( )6.2 检测面要求( )6.3 平板焊缝扫查( )6.4 曲面焊缝扫查( )7 焊缝的缺陷的评定.( )7.1 缺陷的位置( )7.2 缺陷的指示长度( )7.3 缺陷定量.( )7.4 缺陷类型确定（定性）( )7.5 缺陷的评定( )8 检测记录与报告( )8.1 检测记录( )8.2 检测报告( )
