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类型DIN 4768-1990 用电接触式记录仪测定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax—术语 测量条件 中文译文.doc

  • 上传人:jinchen
  • 文档编号:7229223
  • 上传时间:2019-05-10
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    DIN 4768-1990 用电接触式记录仪测定粗糙度特征值Ra、Rz、Rmax—术语 测量条件 中文译文.doc
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    1、DK 62-408.8: 621.9.05 德国标准 1990 年 5 月用电接触式记录仪测定粗糙度特征值 Ra、R z、R max术语,测量条件DIN4768用电接触式(铁笔)记录仪测定表面粗糙度数值 Ra、R z、R max:术语,测量条件替代 DIN 4768 第 1部分-08.74与国际化标准组织发布的国际标准 ISO 3274:1975 和 ISO 4288 之间的关系见注释。单位:mm1 应用范围该标准规定了通过具有电传输、高通滤波和分析功能的接触式尖笔记录仪来测定技术表面的可比粗糙度测量值的术语和测量条件。备注:波纹度和其它的形状偏差不属本标准范畴。但是在某些功能情况,它对表面适

    2、用性的影响比起其对表面粗糙度的影响来说可能会更大。2 术语按照 DIN 4760、DIN 4762 以及 DIN 4777 中用相位校正滤波器测量粗糙度中的术语。此外,按照 2.1 和 2.2 中的术语。2.1 滤波器(高通滤波器)滤波器为轮廓滤波器 1,根据滤波器特性曲线,实际轮廓的长波部分只有部分或根本就不计入粗糙度轮廓或测量结果。按照极限波长称之为滤波器。备注:在文献中,滤波器也叫做波分离器或斩波器。图 1:表面粗糙度轮廓的平均峰谷高度图 Rz 2.2 测量段2.2.1 初试段(见图 1)初试段是投影垂直于中线、不用来分析的接触段的长度。刚开始的瞬态过程必须在初试段内逐渐消失。2.2.2

    3、 总测量段 lm(见图 1)总测量段是投影垂直于中线、直接用来分析表面粗糙度轮廓部分的长度。2.2.3 各具体的测量段 le(见图 1)各具体的测量段为总测量段 lm 的五分之一。备注:各具体的测量段 le 相当于 DIN 4762/01.89 中的基准段 l。2.2.4 后续段(见图 1)后续段是投影垂直于中间直线、不再用来分析的描画段的表面粗糙度轮廓的最后一部分的长度。1按照 DIN 4777/05.90 中的概念2.2.5 描画段 lr(见图 1)描画段等于初试段、总测量段 lm 和后续段的总和。2.3 粗糙度特征值本标准意义中的粗糙度特征值从表面粗糙度轮廓 1) 中得出。2.3.1 算

    4、术平均粗糙度值 Ra算术平均粗糙度值是基准段 l2内轮廓偏差 y 的绝对值的算术平均值。 dxlla0备注 1:这相当于长等于基准段长度 l 且面积等于表面粗糙度轮廓和中线之间面积之和的矩形的高。 uioiAiig图 2:算术平均粗糙度值 Ra备注 2:按照 DIN 4775 和 ISO 4288:1985,R a 和 Rz 直至 16时表面上所测的各具体值允许大于规定的极限值。2.3.2 各表面峰谷高度 Zi(Z i Z 1Z5) (见图 1)具体的粗糙高度为平行于中心线的两条直线之间的距离,它在具体的测量段内在最高点或最低点与表面粗糙轮廓接触。2.3.3 平均峰谷高度 Rz平均峰谷高度为

    5、5 段彼此相邻的测量段的表面峰谷高度的算术平均值。备注 1:按照 ISO 4287/1:1984 和 DIN 4762,该特征参数的缩写符号为 Rys。备注 2:本标准中的 Rz 定义与 ISO 4287/1:1984 中的定义不一致。如有必要,使用缩写符号 RzDIN 或 RzISO,以示区别。因测量技术的原因,测量 ISO 4287/1: 1984 中的特性参数Rz 应用 DIN 4768 中适用于 Rz DIN 的测量条件变得越来越普遍。这也适用于 ISO 4288:1985中的规定。当规定的 Rz ISO 最大值不超过 Rz DIN,该规定的 Rz ISO 可视为遵守规定。详细说明见

    6、DIN 4762/01.89 第 5.7 至 5.9 中的说明。备注 3:见 2.3.1 中的备注。2.3.4 最大的表面峰谷高度 Rmax(见图 1)最大的表面峰谷高度为整个测量段所测得的表面峰谷高度的最大值 Zi。备注 1:按照 DIN 4775 和 ISO 4288:1985,各测量所得的 Rmax 值不得超过所规定的极限值。这在诸如交互变化的表面也必须满足。备注 2:按照 ISO 4287/1:1984 和 ISO 4288:1985,该特征参数的缩写符号为 Ry max。3 测量条件3.1 描画记录方向必须在出现最大粗糙度值的方向进行描画记录。特殊情况时务必就描画记录方向进行2按照

    7、DIN 4762/01.89 中的概念协商。3.2 极限波长 c,测量段长度 le3.2.1 周期性外形轮廓(车削和刨削等)的极限波长 c,测量段长度 le 和总测量长度 lm为周期性外形轮廓时,适用于表 1 中的规定。表 1:表面波纹间距配合可以通过表面轮廓简图或对工件的 10 个表面波纹宽度进行测量确定表面波纹间距。3.2 非周期性外形轮廓(研磨、圆周铣削、无过梁端面铣削、铰孔、成型等见表 2 或表 3)的极限波长 c,测量段长度 le 和总测量长度 lm表 2:平均表面峰谷高度 Rz 配合表 3:平均粗糙度值 Ra 配合Ram c lmmin0.020.5m 。在这种极限情况,适用较小的

    8、粗糙度值。同样适用于 0.1m 、 10m 、50m 的 Rz 值和相应极限情况下相关的 Ra。3.3 测量段表面波纹间距 Sm进给 c le lmmin 0.1 0.04 0.4 0.13 0.13 0.4 0.4 1.3 1.3 40.080.250.82.580.080.250.82.580.41.25412.540Rzm c le lmmin0.1 0.1 0.5 0.5 10 10 50500.080.250.82.580.080.250.82.580.41.25412.540如果工件不符合表 1 至表 3 总测量段为 5.le 的规定,也可以应用各具体测量段数较少的总测量段。随后在

    9、给出粗糙度值时必须对此做出说明,例如当 lm = 3.le 时,R a =1.1m。如果因特殊原因必须给出不同于表 1 至表 3 中的极限波长配合,在给出粗糙度值时必须规定,例如 c0.25 mm 时,R a = 1.1m。3.4 适用于仲裁情况的附加条件如果预计的粗糙度值大于 Rz = 2m 或大于 Ra =0.4m 时,仲裁时需使用按照 DIN 4772 标准、描画记录最大半径为 5m 的参考面描画记录系统。小于预计的粗糙度值时使用描画记录最大半径为 2m 的描画记录系统。引用标准DIN 4760 外形轮廓偏差;术语,分级系统DIN 4762 表面粗糙度;术语,表面及其特性参数;等同于 I

    10、SO 4287/1:1984DIN 4772 按照描画记录法测量表面粗糙度用电描画记录器DIN 4775 工件表面粗糙性检测;目检和描画记录比较,描画记录法DIN 4777 表面测量技术;电描画记录器中所使用的外形轮廓滤波器;相校正滤波器ISO 4287/1:1984 3英文版:表面粗糙度;术语 第 1 部分:表面及其特性参数德文版:表面粗糙度;术语 第 1 部分:表面及其特性参数ISO 4288:1985 3) 英文版:使用接触式记录仪测量表面粗糙度的规则和程序德文版:使用电描画记录器测量表面粗糙度的固定和程序其它标准ISO 3274:1975 3) 英文版:轮廓法表面粗糙度测量用仪器,接触

    11、尖笔记录仪,具有连续的外形轮廓传输的描画记录仪,描画记录仪,M 系统德文版:轮廓法表面粗糙度测量用仪器;具有连续的外形轮廓传输的描画记录仪,描画记录仪,M 系统旧版本:DIN 4768 第 1 部分:1970 年 10 月,1974 年 8 月。修订:较之 DIN 4768 第 1 部分/08.74 ,做了以下修正:a) 删除了有关滤波器的规定,相关规定见 DIN 4777。b) 为使用 DIN 4777 标准中相校正的滤波器或至今常用的 2 RC-滤波器时得到可比结论,仅对表面波纹距的分级做了极小修正。详见说明。c) 增加了 3.4 仲裁调节。d) 编辑上的修订。注释:在 DIN 4768

    12、Teil 1/08.74 标准化的滤波器为 2 RC-滤波器,从此被符合 DIN 4777 标准的相校正滤波器所取代。从而互补滤波器既可用于粗糙度测量,又可用于 DIN 4774 中波纹度测量。对表 1 中的极限波长配合做了一些修改,以便同一配合适用于波纹度测量。符合 DIN 4777 标准的相校正滤波器方面的修订以及表 1 中的配合变动实际上对粗糙度特征参数 Rmax 、R z 和 Ra 没有影响,也就是说新测量仪器和旧测量仪器可以配合使用。国际上也出现了这样的发展趋势。在 ISO/TC 57 中推荐 DIN 4777 和本标准的表 1 至表3 用作 ISO 3274:1975 和 ISO 4288:1985 的修正。3通过 Beuth Verlag GmbH(出版公司)(国外标准销售)可以获得,地址:Burggrafenstrae 6, 1000 Berlin 30国际专利分类G 01 B

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