收藏 分享(赏)

MCJF局部放电测试仪.doc

上传人:yjrm16270 文档编号:6800583 上传时间:2019-04-22 格式:DOC 页数:15 大小:238.50KB
下载 相关 举报
MCJF局部放电测试仪.doc_第1页
第1页 / 共15页
MCJF局部放电测试仪.doc_第2页
第2页 / 共15页
MCJF局部放电测试仪.doc_第3页
第3页 / 共15页
MCJF局部放电测试仪.doc_第4页
第4页 / 共15页
MCJF局部放电测试仪.doc_第5页
第5页 / 共15页
点击查看更多>>
资源描述

1、MCJF 局部放电测试仪使用说明书上海贸创电气有限公司MCJF 局部放电测试仪 上海贸创电气有限公司1目 录一 概述 (1)二 名词、术语 (1)三 技术参数 (2)四 系统工作原理简介 (4)五 通用试验方法 (5)六 具体操作说明 (6)七 测试中的干扰问题 (10)八 附件 (11)九 成套装置 (12)十 视在放电量校准器参数及使用 (13)十一.常见图谱分析 (15)MCJF 局部放电测试仪 上海贸创电气有限公司2一概述MCJF局部放电测试仪是我厂继 MC型局部放电测试仪后研制开发生产的又一新颖仪器。它基本上保持了 MC的优点和功能,并致力于缩小仪器体积、重量、使之成为名符其实的携带

2、式仪器。该仪器是根据 IEC(270)标准,利用脉冲电流法原理研制而成,并满足 GB-7354-87、GB-1207-97、GB-1208-97 中关于局部放电测试对测试仪器规定的技术要求。具有灵敏度高、测试的试品范围广,有高频椭圆扫描,放电系统动态范围大,并采用先进的抗干扰组件和独特的门显示电路,适用于高压产品的型式、出厂试验,新产品研制试验,电机、互感器、电缆、套管、电容器、变压器、避雷器、开关及其它高压电器局部放电的定量测试,可供制造厂、科研部门、电力部门现场使用。二名词、术语1局部放电:局部放电是指导体间绝缘仅被部分桥接的电气放电,这种放电可以在导体附近发生,也可以不在导体附件发生。2

3、视在电荷量 q:在试品两端瞬时注入一定电荷量,使试品端电压的变化和由局部放电本身引起的端电压的变化相同,此注入量即为局部放电的视在电荷包量。3视在放电量校准器:视在放电量校准器由校准脉冲发生器与校准电容串联组成,是一个校准电荷产生装置。校准脉冲发生器产生规定波形的脉冲电压,通过校准电容对被试品注入电荷,模拟被试品局部放电时的视在放电电荷。校准器的主要技术参数包括校准脉冲波形上升时间、衰减时间、校准脉冲峰值及校准电容值。电压波形上升时间为从 0.1Uo到 0.9Uo时间,衰减时间性定义为从峰值下降到 0.1Uo的时间。三技术参数1可测试品的电容范围:6pF-250uF2检测灵敏度及允许电流(见表

4、 1) 。3椭圆扫描时基(1)频率:50、100、150、200、400Hz。(2)旋转:以 30度为一档,可旋转 120度。(3)工作方式:标准-扩展-直线。(4)高频时基椭圆可按输入电压(13-275V)调至正确大小。4显示单元采用 10080mm矩形示波管,有亮度与聚集调节旋钮。5放大器(1)3dB 低频端频率 fL:20、40kHz 任选。(2)3dB 低频端频率 fL:200、300kHz 任选。(3)增益调节:粗调 6档,档间增益差 201dB。(4)细调范围:20dB。(5)正、负脉冲响应不对称性:200Hz注入电容 10pF、100pF 或 10pF、20pF(二)使用方法首先

5、检查校正脉冲发生器的电池,电量如面板上的电压表,指示在 8V以下则需充电,8V 以上方能正常工作。将输出的红、黑两个端子上接上导线,红端子上的导线尽量短且靠近试品的高压端,黑线导线接试品的低压端,将校正电量开关置于5、10、50、100、500 中任何合适一档即可校正。频率可在 1.2kHz随机调节。校正脉冲发生器使用后及时将调节电荷量的波段开关旋在关位置,充电要适时,且时间要达到连续 16小时。十一.常见图谱分析(1)接触不良这种干扰如图 1所示。其特点是干扰波位于椭圆时基的零点附近。在正负半波上对称出现,幅值相差不大。干扰在低电压时即出现。电压增大时,干扰占MCJF 局部放电测试仪 上海贸

6、创电气有限公司10位区域也增大,由于叠加效果幅值增大较慢。有时在电压达到某一定数值后会完全消失。造成这种干扰的原因有:试验回路中金属对金属接触不良,塑料电线半导电屏蔽层中粒子间接触不良,电容器卷绕铝箔电极与插接片接触不良等。(2)浮动电位物体波形见图 2,特别是在电压峰值之前的正负半波部分出现。等幅值间隙不等,由于余辉,有时成对的出现,有时图像有飘动。电压增加时,根数增加,间隙缩小,中间值不变。有时电压增加到一定值后干扰讯号会消失,再降低电压时,又会重新出现。起因:金属或碳质导体之间的间隙放电。它可以发生在试样上或测试回路中。常常在两个孤立的导电物之间,例如地面上处于浮动电位的多种物体体间发生

7、。(3)外部尖端电晕波形如图 3,特别是仅在试验电压的一个半波中出现,位于外施电压的峰值部分,等幅值等间距。电压增加时,放电讯号波的根数增加,但幅值总不变。起因:高压电极的尖端或边缘对空气中的放电。若干扰讯号位于椭圆时基的负半周。则尖端电晕处于高电压下,若干扰讯号位于时基椭圆的正半周,则尖端在接地部分,有时也可能高压、接地部分都有尖端电晕放电,则时基椭圆的正负半周就出现两组讯号。(4)液体介质中的尖端放电波形见图 4,特别:在试验电压正负半周峰值位置均有一组讯号,同一组讯号等幅值,等间隔,一组中间值较大的讯号先出现,随电压增加中间值也增大。一组中间值小的讯号其幅值不随电压变化。起因:在绝缘液体

8、中发生了尖端或边缘电晕放电。或一组大的讯号出现在正半周,则尖端位高压部分;若它出现在负半周,则尖端处于接地部分。(5)继电器、接触器的动作干扰讯号波形见图 5,特点:在时基椭圆上干扰讯号波形分布不规则,间隙地出现,且同试验电压大小无关。起因:闪光灯,热继电器,接触器和各种火花试验器或有火花放电的记录器动作时造成。(6)可控硅元件干扰讯号波形见图 6,特点:干扰讯号在时基椭圆上之位置固定,每一无件产生一个独立的高频脉冲讯号。电路接通,电磁耦合效应增强时,讯号幅值增加,也可能发生波形展宽、相移,从而在时基上占位增加。起因:供电网络中有可控硅器件在运行。干扰的大小同所用可控硅器件的功率直接有关。(7

9、)异步电机干扰波形见图 7,特点:在时基椭圆上正负半波形出现对称的二组讯号,且沿扫描时基逆时针方向移动。起因:异步电机运行时产生的干扰讯号耦合到检测回路中来。(8)萤光灯干扰波形见图 8,特点:在椭圆上时基上出现栏栅状幅值大致相等的脉冲,并伴有正负半波时对称出现的二簇脉冲组。(9)电动机MCJF 局部放电测试仪 上海贸创电气有限公司11干扰波形见图 9,特点:沿椭圆时基均布,等幅值每一个单个讯号或“山”字形。起因:带换向器的电动机如风扇、电吹风运转时所发出的干扰讯号。(10)无线电干扰干扰图见 10,特点:沿整个时基椭圆分布的幅值有调制的高频正弦波。起因:高频电力放大器,无线电话、广播话筒等。

10、(11)中高频工业设备干扰波形见图 11,特点:讯号在时基椭圆上连续发生,但仅在半周内出现。起因:感应加热装置及频率接近局放电检测频率的超声波发生器等。(12)磁饱和产生的谐波干扰波形见图 12,特点:在时基椭圆正负半波上对称出现一对谐波振荡讯号,讯号幅值随电压增加而增加,电压除去,讯号消失。讯号稳妥定,能重复再现。起因:试验系统中铁芯设备(试验变压器,并联或串联电抗器,波波电抗器,匹配变压器,调压变压器)磁饱和时产生的谐振讯号。(13)电极在电场方向运动干扰波形见图 13,特点:仅在时基椭圆的半周中出现二个讯号脉冲,它们相对于峰值点对称分布。起始点该二讯号很靠近,随电压增大,二者逐渐分开,且

11、有可能产生新的讯号脉冲对。起因:电极(尤其是金属箔电极)在电场作用下运动。(14)介质表面放电干扰讯号波形见图 14,特点;放电讯号出现在试验电压峰值之前。正负半周中都有,而且幅值基本相等。讯号幅值和位置有随机性变化。开始时,放电讯号是可分辨的,到一不定期电压值后便难以分辨。起因:二个接触的绝缘导体之间介质表面上的放电,或介质表面上切向场强较高的区域发生放电。(15)漏电痕迹和树枝波形特点:讯号与一般典型的图像不符合,波形呈现不规则,不确定的图像,与电压有关。起因:脏污绝缘中泄漏,绝缘局部过热而致的碳痕迹或电树枝足道等。上述有些图像,如(4) 、 (13) 、 (14) 、 (15)等也可能即属试品本身的缺陷。(15)则为介质内部放电之图像。MCJF 局部放电测试仪 上海贸创电气有限公司12MCJF 局部放电测试仪 上海贸创电气有限公司13MCJF 局部放电测试仪 上海贸创电气有限公司14

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置:首页 > 企业管理 > 管理学资料

本站链接:文库   一言   我酷   合作


客服QQ:2549714901微博号:道客多多官方知乎号:道客多多

经营许可证编号: 粤ICP备2021046453号世界地图

道客多多©版权所有2020-2025营业执照举报