1、影像测量仪介绍,NV系列 大行程影像测量仪NV2200,性能特点:,1、导轨直接固定在大理石上，保证导轨运行的俯仰及偏摆精度。 4、横梁拱形设计，提高X轴横梁的刚性。 5、Z轴集成化设计，轻松兼容40相灯，激光等常规功能。 6、控制柜与机身一体设计，减少机台走线长度。 7、头盖分离式设计，可翻转打开，方便维护维修 11、电机动力线，编码线分离走线方式，降低内部电路干扰。,NV系列 大行程全自动光学影像测量仪,性能特点:,1.导轨直接固定在大理石上，保证导 轨运行的俯仰及偏摆精度。 2.横梁拱形设计，提高X轴横梁的刚性。 3.Z轴集成化设计，轻松兼容40相灯， 激光等常规功能。 4.控制柜与机身
2、一体设计，减少机台 走线长度。 5.头盖分离式设计，可翻转打开，方 便维护维修主控电路设计，增加机台 状态显示，便于监控机台的状态。 6.电机动力线，编码线分离走线方式， 降低内部电路干扰。,MUMA系列 便携式光学影像测量仪,性能特点: 1.外形设计美观，体积小，携带方便。 2.模组化设计，方便维护。 3.独创Z轴传动机构，轻便灵活。 4.USB百万像素相机+USB计数卡，方便 使用笔记本。 5.3DFAMILY-P型0.7X-4.5X定格卡位镜头。 6.使用OVM Lite软件。 7.在电源方面采用电脑USB接口供电或电 源转换器两种方案供选。 8.采用显微镜粗微调旋钮，达到最佳测量 效果
3、。 10.高集成化电路设计。,VMH系列 H型钢架大行程光学影像测量仪,性能特点: 1.花岗石底座和立柱，机构稳定靠。 2.Z轴前置传动系统，方便操作。 3.镜头：3DFAMILY-E型Step-Zoom 定格卡位镜头，结合软件在固定倍 率下无需线性校正。 4.随机附有自行研发的多用途校正片，不但可以进行教学演练还可以 进行精度校正。 5.使用OVM半自动测量软件。,Macro Scope系列 大视野影像测量仪,性能特点:,1.速度快，效率高，操作简单方便 。 2.全视场获取工件的平面信息，具有 连续性。 3.高像素CCD相机，提高分辨率与精度。 进口远心镜头，减少畸变误差。 4.可依据软件的
4、修改，调整工件测量的 参数，节省硬件成本，增强灵活性。 5.数据输出格式灵活，可依据客户需求 进行更改 。 6.数据SPC统计与分析，利于产品质量 管控。,VMS系列 光学影像测量仪,性能特点: 1.花岗石底座与立柱，机构稳定可靠。 2.X、Y轴装有光栅尺，定位精确。 3.Z轴采用交叉导轨加配重块的全新设计， 镜头上下升降受力均衡，确保精度。 4.激光定位指示器，精确指定当前测量位 置，方便测量。 5.镜头：3DFAMILY-S型0.7X-4.5X连续变倍 镜头。影像放大倍率：28X-180X。 6.LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件 受热变形。 7.使用OVM Lite软件。 8.具备基
5、本的点、线、圆、两点距离、角度 等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足 基本的二次元测量需求；,性能特点: 1.花岗石底座和立柱，机构稳定可靠。 2.激光定位指示器，快速寻找被测量工件位置。 3.镜头：3DFAMILY-L型0.7X-4.5X连续变倍镜头。 4.X、Y、Z装有光栅尺，定位精度高，可做高度测量。 5.可加装探针，结合TPM软体做精确的高度测量. 6.使用OVM Lite软件。,VML系列 3D光学影像测量仪,VME系列 Z轴前置型光学影像测量仪,性能特点: 1.花岗石底座和立柱，机构永不变形。 2.Z轴前置传动系统，方便操作。 3.镜头：3DFAMILY-E型Step-Zoom定
6、格卡位镜头，结合软件在固定倍率下无需线性校正。 4.随机附有自行研发的多用途校正片，不但可以进行教学演练，还可以进行精度校正。 5.可加装探针，结合TPM软体做三维测量。 6.使用OVM软件。,VMP系列 超高精度3D光学影像测量仪,性能特点: 1.线性精度可达到：（2.5+L/200m。 2.镜头：3DFAMILY-P型Step-Zoom定格 卡位镜头，结合软件在固定倍率下无需线性校正。 3.可程控式环形四相上灯配合同轴轮廓光，满足不同测量需求， 4.LED冷光源避免工件受热变形。 5.使用OVM软件。,VMC-S系列 三轴全自动光学影像测量仪,性能特点: 1.三轴CNC控制系统(X/Y/Z
7、半闭环伺服控制系统)，定位精度高。 2.全鼠标/摇杆操作，简单易用。 3.可程控式环形四相上灯配合以同轴轮廓光，满足不同测量需求，LED冷光源避免工件受热变形。 4.使用OVM Pro 2.0全自动影像测量软件。 5.3DFAMILY-P型定格卡位镜头。,VMC系列 四轴全自动光学影像测量仪,性能特点: 1.四相可程控LED冷光源上灯，可对各种 复杂工件做表面测量，使量测精度 更高。 2.美国原装NAVITAR镜头，及配合Motor Zoom技术，实现全自动连续变焦，可以任 意变换倍率而不需要校正。 3.全鼠标/摇杆操作，简单易用。 4.四轴CNC控制。 5.使用OVM Pro 2.0全自动影
8、像测量软件。,1.外形设计美观，内部紧凑，体积小。 2.模组化设计，组装维护更方便。 3.丝杆传动，低噪音，定位准确，运 行更平稳。 4.高集成电路设计，智能判断故障点。 5.全新设计可程序控制5环8相灯，工 件边界更清晰。 6.新版CNC软件，界面友好，操作简单，稳定性强。 7.功能强大的学习功能，SPC统计功能，极大提高管制效率。,NEW VISION -II 全自动光学影像测量仪,性能特点:,3DFAMILY-MMF手动三坐标测量机,1.使用RENISHAW光栅尺及读数头系统。 2.XYZ三轴均采用四面空气轴承环抱结构，具有很好的稳定性。 3.符合人机工程学的设计。 4.多种测头可选择。
9、 5.采用气动锁紧系统。 6.所使用的3D-DMIS手动版测量软件具有友好的用户界面，操作简单明了，可满足普通生产车间的各种检测任务。,性能特点:,3DFAMILY-CMF 全自动三坐标测量机,1、单边活动桥式结构，显著提高运 动性能，确保测量精度及稳定性。 2、三轴导轨均采用高精密天然花岗 岩，具有相同的温度特性及刚性。 3、三轴导轨均采用自洁式预载荷高 精度空气轴承，运动更平稳，导轨永 不受磨损。 4、RENISHAW自粘开放式金属光栅尺， 更接近花岗岩基体的热膨胀系数，提 高了设备的稳定性。,性能特点:,3DFAMILY-Perfection 三坐标测量机,1、铝合金横梁和Z轴，减轻了移
10、动桥重量，提 高了检测速度与效率。 2.获得专利的X向“精密三角梁”设计增强了 整机的刚性质量，从而提高了测量的精度和运 行的稳定性。 3.Y轴直接加工在工作台上的下燕尾槽导轨结构，具有良好的抗扭摆特性。 4.电机远程放置，也避免了电机发热对机器性 能带来的影响。 5.获得专利的气动平衡设计，提高了机器的测 量性能。 6.采用先进的Heidenhain AurodurR; 高分辨 率金质光栅尺，其热膨胀系数获得PTB认证。 7.控制器固定在主机一侧，便于整体的移动。,性能特点:,三维激光抄数机-LSH系列,性能特点: 1.零级精度200mm厚花岗石平台作机身,稳定不变形,精度持久保持 2.单独
11、控制柜集成设计 3.全闭环式运动控制,提高抄数机的定位精度 4.双CCD取点,消除扫描死角 5.采用线激光扫描,速度快 6.四轴CNC全自动扫描,三维激光抄数机优点： 测量速度快，曲面数据获取容易 可测量柔软,易碎,不可接触,薄件,变形细小等工件 无接触力，不会伤害工件的精密表面 缺点： 测量精度较差，无法判别特定几何特征 工件表面的明确程度会影响测量的精度,OM 三维光学密集点云扫描系统,1.采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术。 2.一机多用，单幅测量幅面从150mm到3000mm， 3.可测量几毫米到几十米的工件和物体。 4.面扫描、测量数据密集。 5.移动便携式测量。 6.强
12、大自动拼接和重叠面自动删除功能。 7.测量扫描速度快。 8.工件不需要喷显影剂更适合在线检测。 9.激光指示器测距。方便操作测量。 提供多种标定板。 10.系统采用工业化产品设计。,性能特点:,SO 小型三维光学面扫描系统,1.高精度测量点云间距为：0.025mm、0.05mm、0.1mm、0.15mm，曲面拟合精度更高。 2.采用LED光源，光源发热小，寿命长（2万小时），可以长时间连续工作。 3.采用全电动操作台设计：电动升降立柱、多轴运动台。 4.软件功能强大，具有点云扫描、自动拼接、点云处理、比对检测等功能。 5.与IDP工业摄影测量系统配合使用，可完成整体精度控制，全自动拼接。,性能
13、特点:,IOM 三维光学密集点云扫描系统,1.采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术。 2.一机多用，单幅测量幅面从150mm到3000mm。 3.可测量几毫米到几十米的工件和物体。 4.面扫描、测量数据密集。 5.移动便携式测量。 6.强大自动拼接和重叠面自动删除功能。 7.测量扫描速度快。 8.工件不需要喷显影剂更适合在线检测。 9.激光指示器测距。方便操作测量。 提供多种标定板。 10.系统采用工业化产品设计。,性能特点:,ISO 小型三维光学面扫描系统,1.高精度测量点云间距为：0.025mm、0.05mm、0.1mm、0.15mm，曲面拟合精度更高。 2.采用LED光源，光源
14、发热小，寿命长（2万小时），可以长时间连续工作。 3.采用全电动操作台设计：电动升降立柱、多轴运动台。 4.软件功能强大，具有点云扫描、自动拼接、点云处理、比对检测等功能。 5.与IDP工业摄影测量系统配合使用，可完成整体精度控制，全自动拼接。,性能特点:,ISO 小型三维光学面扫描系统,1.高精度测量点云间距为：0.025mm、0.05mm、0.1mm、0.15mm，曲面拟合精度更高。 2.采用LED光源，光源发热小，寿命长（2万小时），可以长时间连续工作。 3.采用全电动操作台设计：电动升降立柱、多轴运动台。 4.软件功能强大，具有点云扫描、自动拼接、点云处理、比对检测等功能。 5.与ID
15、P工业摄影测量系统配合使用，可完成整体精度控制，全自动拼接。,性能特点:,XJ-1 正置式金相显微镜,1.仪器光路采用了无穷远成像系统，配有一套新设计的平场消色差物镜和大视场 目镜，其成像平坦、视域广阔，具有优良的组 织鉴别力。偏光装置：内置式起偏和检偏系统。 2.仪器使用方法：使用者一边观察一边可以同时进行成像记录。 3.在仪器上设有专用接口，能够连接摄影装置，数码相机拍摄或显微镜监视系统下进行定量的图像分析。 4.仪器造型新颖，结构稳定，所具有功能 全部装置在显微镜主机内，从而确保使用者快速操作，并能获得一致的成像效果。 5.可以与OVM-TM软件搭配。,性能特点:,XJP-100 正置式
16、金相显微镜,1.仪器造型新颖，结构稳固，所有功 能全部装置在显微镜主机内，从而确 保使用者快速操作，并能获得一致的 成像效果。 2.可选配本公司自行研发的OVM-TM显 微镜专用软件。 3.仪器设有声用接口能连接摄像及摄 影设备，使用者一边观察一边可以同 时进行成像记录及图像分析工作。,性能特点:,XLE系列 大平台检测显微镜,1、XLE-1型大平台检测显微镜是专为IT行业 大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发 制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统 的显微镜更适合于观察。可连接计算机打印报 告、照片，还可以直接进行图像记录，并建立 技术检测档案，存储、查询，大大的提高了工 作效率。 2
17、、XLE-2、 XLE-3型大平台检测显微镜主体 为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适 合于观察。可连接计算机打印报告、照片或连 接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进 行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查 询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作， 大大的提高了工作效率。,性能特点:,白光干涉仪系列,1、非接触式测量：避免物件受损。 2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200m。 3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。 4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达0.1nm。 5、高速数字信号处理器：实现测量仅需 要几秒钟。 6、扫描仪：采用闭环控制系统。 7、工作台：气动装置、抗震
18、、抗压。 8、测量软件：基于windows 操作系统的 用户界面，强大而快速的运算。,性能特点:,LFM 激光平面度检测仪,1、高速的图像采集卡+优化的图像处理算法，检测时间可以控制在2.5s之内。 2、单点测量的重复性10m,整机重复性50m。 3、均布激光三角测头，实现非接触测量。 4、00级的大理石台面提供统一的测量基准。 5、软件界面友好，操作简单。 6、提供超差声光报警功能。 7、实现条码录入和检索功能。 8、光强软件可控，设备使用时间可知。,性能特点:,OVM Lite影像量测软件简介,适用于VML，VME系列光学影像量测仪 提供多种影像量测工具:点,线,圆,弧等量测 強大的数学运
19、算分析功能,以保证取得正确量测数据 影像直接由电脑屏幕显示观察,直接量测存档,以备后用 几何图形可以存为DXF格式进行比对 量测工件图形化显示，图形和数据可存档、打印，并可以转成WORD(*.doc)、EXCEL(*.xls)和AUTOCAD(*.dxf)档案格式输出显示 提供公差分析,可进行有效的品管检验,座标显示视窗,OVM Lite软件操作界面,座标显示视窗,物件视窗,影像视窗,几何视窗,组合量测工具,量测工具,辅助工具,2,1,5,4,3,6,9,8,7,10,11,12,座标显示视窗,9. 归Home(手动版) 10.切换绝对与相对坐标 11.将目前 X 与 Y 坐标设为 0，建立相
20、对坐标系 12.取消目前的相对坐标，回到绝对坐标,切換至笛卡儿直角坐标系 切换至极坐标系 切换至公制：毫米 切换至英制：英寸 切换至十进制角度 切换至度、分、秒 在分号之前的代表点数,分号之后的代表物件数 多点输入之点数设定,影像量测工具,组合量测工具,辅助功能,框选窗口：在几何量测窗口中框选局部窗口放至最大 最适化窗口：预览整个几何量测窗口内的图形 框选删除：被框选的对象颜色会变成黄色，再按下Delete键，可将选取的对象删除 显示资料群组编号 显示十字线 切换绝对与相对坐标,坐 标 转 换,量测实际物件时，往往要建立坐标系，座标转换功能能避免工件摆放费时的麻烦，在进行一般原点补正和轴补正的
21、基楚上，能提供坐标的数值化的平移和旋转,物件视窗,影像截图,量测工件资料的输出,转至Excel输出,转至Word输出,储存成DXF档可转至CAD/CAM做后续的图形编修,可以用DXF图档和实际工件直接做比对，提高工作效率,比对功能,OVM Pro影像量测软件简介,适用于VMP，VMT，VMC，VMCT，Radiant, Radiant T系列光学影像量测仪 提供多种影像量测方法,如快速寻边量测，自动寻边量测，框选量测，去毛边量测 自动对焦，自动量测高度 自动或遥杆控制三轴系统 自动寻找形心 提供公差分析,可进行有效的品管检验 IUI功能，以尽量少的操作步骤来完成测量.使测量方式多元化 自动编程
22、，批量检测，操作简便省时 SPC（统计制程管制），可进行有效的品管检验 图形和数据可存档、打印，并可以转成WORD(*.doc)、EXCEL(*.xls)和AUTOCAD(*.dxf)档案格式输出显示.,OVM Pro全自动影像量测软件操作界面,上光源灯光控制控制四相灯表面光及轮廓光的照射区域,灯源（LED）控制,下光源发出的是平行光,快速寻边量测工具只要利用滑鼠在量测影像上一按，经由影像工具列上的工具，自动量测点、线、圆、弧等,并且把相关的资料立即显示出來.保证任何人操作都是一样的精度.,框选量测工具,利用方框内所有黑白边缘的资料来做回归。 注意不要框选到工件其他图形的边缘。,自动寻边量测工
23、具,利用影像处理自动寻找黑白对比度最高值，加入点的资料。,当量测工件有毛刺的时，以键头指向來扫描边界，从光滑面向有毛刺的面逼近，滤除杂边，量测图形。,去毛边量测工具,以尽可能少的操作去完成量测,IUI （Intelligence User Interface）,锁住回归功能若量测的物体太大而无法一次显示在屏幕上，按下此键可告知计算机目前正在量测同一物体，本功能不能单独使用，它是在框选功能和快速量测功能被激活时才可以使用。,高度量测,自动对焦，量测高度,编程检测,编程检测功能可以纪录学习操作者的所有量测流程，并重复执行所有指令，对于大量重复性量测可节省庞大的操作时间,SPC(Statistica
24、l Process Control)统计制程管制，就是在生产过程中检查产品的品质并辨认其形成不良产品的原因。 他是企业提高品质管理水准的有效方法，利用数理统计原理通过检测数据的收集和分析，可以利用其分析结果来解决实际的问题。可以达到事前预防的效果，从而有效控制生产过程，不断改进品质。Spc的使用目的：更大的客户满意度减少重工和停工的损失节省大量时间和金钱高品质可以大大提升企业的竞争优势,分析数据,资料表格,图形数据,SPC量测结构分析,1.适用于配有接触式探针的仪器，如VMT，VMCT， Radiant T等光学影像量测仪 2. 提供几何量测工具，基本几何元素量测轻而易举 3. 提供尺寸公差和
25、型位公差分析，可进行有效之品管检验 4.工件的对象化，使软件可直接对对象进行快捷的几何运算 5. 探针可量测复杂对象 6. 简单而全面的坐标补正功能，让操作者运用起来得心应手 7. 兼容于Windows XP操作系统 8.量测工件图形化显示，图形可存盘、打印，并可以转成WORD(*.doc)、EXCEL(*.xls)及AUTOCAD(*.dxf)档案格式适合行业：五金、模具等,TPM三座标量测软件简介,TPM软件界面介紹,绘图区,探針使用区,快捷键区,资料显示区,学习区,座标显示视窗,設定功能：开关，置换，补偿,探針补偿：探针在使用中会出现磨损，为避免影响精度，我们需要做探针补偿。,补偿步骤：
26、 1.固定标准球位置 2.选择要补偿的探针 3.使用该探针测量标准球，实现位置和半径的补偿,探针头功能介绍,补偿过,补偿前,测量点数提示,注：基本元素量测的默认点数，是生成它的必要最少点数再加1（圆柱与圆锥除外），以便算出对象的形状公差。当然，使用者可以根据自己的需要进行点数的调整。,量測工具,角度:线线夹角,线面夹角,面面夹角 距离：点点距,点线距,点面距,线线距,线面距,面面距 组合点：交点,中点,投影点,中心点 组合线：联线,交线,投影线,切线,垂轴线,平行线 组合面：中面,建构面,平行面,垂面 组合圆：截圆,对称圆,一. 组合元素量测工具,存储项目 mf格式，只供本系统使用 dxf格式，为CAD2000 dxf格式 doc格式为word标准格式 xls格式为Excel标准格式 快速报表格式，格式为QRP标准格式,学 习 区,全屏显示，把所有图形都显示在绘图区 框选放大 局部移动放大 平移绘图显示区3D旋转绘图显示区,上视图，前视图，侧视图，透视图，不贴图， 贴图， 点选视角,绘图区功能键,设定投影面 引用已有坐标系 基准面设定 基准轴设定 原点设定 碰触法建立坐标系,座标系建立,1.形狀公差直线度 真圆度平面度 圆柱度2.方向公差平行度 垂直度 倾斜度 3.定位公差同轴度 对称度 位置度,公差分析和管制,谢谢观看!,
