1、S P C精 進 教 育 教 材製作: 日期:2001/3/27頁數:共 29 頁一、SPC 的源起SPC: Statistical Process Control年代 人名 貢獻1910 費雪 Fisher 敘述統計轉變為推論統計1930 修華特 Shewhart 發明管制圖1950 戴明 Deming 統計與品管結合 (S Q C)1980 三大汽車廠 推行 SPC日本品質的演進品質是檢驗出來的 5%品質是製造出來的 20%品質是設計出來的 75%二、美、日推行 SPC美國推動 SPC 的原因1.SPC 可發現製程中的變異,並加以解決,不僅可提昇品質,更可降低成本。2.作業者利用它,可使工
2、作有效率。3.管理者透過它,可掌握製程的品質。日本推動 SPC 的效果1.可顯示製程中的變異。2.可反映製程調整的效果。3.可指出製程最須改善之處。SPC 讓傳統兩大理論同時實現1.確保高品質與高生產力品質是製造出來,不是檢查出來的。檢修人員可解決問題,但不能消除問題。2.確保作業者的尊嚴SPC 是將製程品管的責任,交由現場作業者負責的方法,此即謂工作的人性化。三、SPC 的理論SPC 觀念的來源1.沒有兩件的事情、產品、人是完全一樣的。2.製程中的變異是可以衡量的。3.宇宙的事物與工業產品其都呈常態分配的。4.變異的原因可以分為機遇原因與非機遇原因。變異變異可分為機遇原因與非機遇原因機遇原因
3、：原就存在於製程中的原因，是屬於製程的一部份。大概有 85%製程的品質問題是屬於此類，其改善須管理階層的努力方可解決。非機遇原因：原不存在於製程中的原因。大概有 15%製程的品質問題屬於此類，其改善係經由基層作業者的努力方可解決。常態分配99.73%.在隨機抽樣條件下 68.27%表在1 範圍內,抽到的機率95.45%表在2 範圍內,抽到的機率99.73%表在3 範圍內,抽到的機率-3 -2 -1 +1 +2 +395.45%68.27%符號認識母體(群體) 樣本平均值 X標準差 S公式X1+X2+ XX = n = n(X1-X)2+(X2-X)2+ (X i-X)2S= n-1 = n-1
4、n-1 中的 1 為自由度,因母體分配比抽樣範圍大.(為讓分母小一點). 若為母體則不減 1.常態分配的特性1.群體平均值()之次數最多.2.兩邊對稱.3.曲線與橫線不相交.4.曲線之反曲點在1 處.5.曲線與橫軸所為之面積為 1.四、SPC 的定義及實施步驟定義經由製程中去收集資料,而加以統計分析,從分析中得以發覺製程的異常,並經由問題分析以找出異常原因,立即採取改善措施,使製程恢復正常。並透過製程能力解析與標準化,以不斷提昇製程能力。推行三要項1.統計的方法可以應用在任何改善及追求進步的場合。2.只是理論上的知識推演是無法融會貫通的,必須實際去瞭解製程管制及演練方可致效。3.持續的改善、不
5、斷的進步,沒有終止。反曲點不良查檢容忍浪費預先防止避免浪費管理兩面性維持&改善建立 SPC 的步驟1.確立製造流程 繪製製造流程圖 訂定品質工程表2.決定管制項目 顧客之需求為何?3.實施標準化 標準之建立、修正與營運4.製程能力解析 是否符合規格或顧客的要求?5.管制圖的運用 如何正確的使用適當之管制圖6.問題分析解決 原因為何? 如何避免問題再次發生?7.製程之繼續管制延長管制界限作為製程之繼續管制SPC 的應用步驟(圖解)一.確立製造流程六.問題分析解決二.決定管制項目三.實施標準化五.管制圖的運用六.問題分析解決七.製造之繼續管制流程四.製程能力調查Ca、Cp、CpkCpk10,則使用
6、 X-S公式：X 管制圖：中心線 (CL)=X管制上限(UCL)=X+A 3S管制下限(LCL)=X-A 3SR 管制圖：中心線 (CL)=S管制上限(UCL)=B 4S管制下限(LCL)=B 3S= SC4p Chart適用製程：產品依規格分合格/不合格、可以/不可以、通過/不通過公式：中心線 (CL)=P當樣組樣本 n 相等或不超過25%P(1-P)管制上限(UCL)=P+3 nP(1-P)管制下限(LCL)=P-3 n當樣組樣本 n 超過25%P(1-P)管制上限(UCL)=P+3 nP(1-P)管制下限(LCL)=P-3 n建立解析用管制圖(p Chart)步驟1.收集數據依測定時間順
7、序排列.2.數據分組每組樣本內含有 15 個不良品為佳.3.記入管制圖的數據欄內.4.計算每組之不良率.5.計算平均值不良率 P 及平均樣本數 n.6.計算管制界限.7.繪製管制界線及中心線.8.點繪點在其數值之位置並以直線連接之.9.管制界限檢討-如 X-R 管制圖一樣.建立製程管制用管制圖(p Chart)步驟同 X-R 管制圖nP Chart適用製程： 基本上與 P Chart,惟每組樣本數須相同.公式：中心線 (CL)=nP管制上限(UCL)= nP+3 nP(1-P)管制下限(LCL)=nP-3 nP(1-P)建立解析用管制圖(nP Chart)步驟1.收集數據依測定時間順序排列.2
8、.數據分組每組樣本內含有 15 個不良品為佳.3.記入管制圖的數據欄內.4.計算每組之不良率 P.5.計算平均值不良率 P.6.計算管制界限.7.繪製管制界線及中心線.8.點繪點在其數值之位置並以直線連接之.9.管制界限檢討-如 X-R 管制圖一樣.建立製程管制用管制圖(nP Chart)步驟同 X-R 管制圖C Chart適用製程：以單位數量內缺點數發生之次數者.公式：中心線 (CL)=C管制上限(UCL)= C+3 C 管制下限(LCL)= C-3 C U Chart適用製程： 同 C 管制圖,但其檢查單位(樣本大小)不同.公式：中心線 (CL)=管制上限(UCL)=+3 /n 管制下限(LCL)=-3 /n管制圖的判讀1.任何一點超出管制上、下限。2.連續三點中,任何二點在 23 間。3.連續七點(不含)以上在單側。4.連續七點上升或下降。5.連續 11 點中,至少 10 點出現在同一側。6.點子的分佈不呈隨機分佈。管制圖之選定原則管制圖之選定資料性質?計量值 計數值樣本大小n2 ?資料是不良數或缺點數?中心線 CL之性質?n 是否較大?X-管制圖n10n=25X-R管制圖X XX-R管制圖n2 n=1X-Rm管制圖不良數 缺點數單位大小是否一定?n 是否一定?一定 不一定一定 不一定pn管制圖p管制圖C管制圖U管制圖
