1、 基本概念：一 般 安全、法规产品关 键 KPCS配合、功能一 般特 性过程关 键 KCCS一般特性：只要是合格就可以；关键特性：不仅仅合格，还要尽可能接近目标值。检验分类： 计数型：检验时仅分为合格、不合格； 计量型：检验时可确定值的大小。第一章 持续改进及统计过程控制概述应用统计技术来控制产生输出的过程时，才能在改进质量、提高生产率、降低成本上发挥作用。第一节 预防与检测检 测 - 容忍浪费预 防 - 避免浪费第二节 过程控制系统过 程 共同工作以产生输出的供方、生产者、人、设备、输入材料、方法和环境以及使用输出的顾客之集合。过程性能取决于： 1.供方和顾客之间的沟通；2.过程设计及实施的
2、方式；3.动作和管理方式。过程控制重点：过程特性过程控制步骤：确定特性的目标值；监测我们与目标值的距离是近还是远；对得到的信息作出正确的解释，确定过程是在正常的方式下运行；必要时，采取及时准确的措施来校正过程或刚产生的输出；监测采取措施后的效果，必要时进一步分析及采取措施。注：仅对输出进行检验并随之采取措施，只可作为不稳定或没有能力的过程的临时措施。不能代替有效的过程管理。第三节 变差：普通及特殊原因任何过程都存在引起变差的原因，产品的差距总是存在。虽然单个的测量值可能全都不同，但形成一组后它们趋于形成一个可以描述的分布的图形。 （例图）影响因素：普通原因： 难以排除，具有稳定、可重复的分布；
3、此时输出可以预测。特殊原因： 必须排除，偶然发生、影响显著；此时将有不可预测方式影响输出。生产过程控制就是要清除系统性因素（特殊原因） 。第四节 局部措施和对系统采取措施局部措施： 针对特殊原因由直接操作人采取适当纠正措施。此时大约可纠正 15%的过程问题。系统措施： 解决变差的普通原因，由管理人员来采取措施。此时大约可纠正 85%的过程问题。采取措施类型不正确，将给机构带来在的损失，劳而无功，延误问题的解决。第五节 过程控制和过程能力过程控制系统的目标：对影响过程的措施作出经济合理的决定，处理好两种变差原因的风险。 （例图）过程控制系统的作用：当出现变差的特殊原因时提供统计信号，从而采取适当
4、的措施。过程分类： 控 制满足要求 受控 不受控可接受 1 类 3 类不可接受 2 类 4 类利用量化的过程性能，反映能否满足顾客要求的能力。例如：Cp 和 Cpk第六节 过程改进循环及过程控制（例图）第七节 控制图：过程控制的工具（例图）第八节 控制图的益处 控制图是了解过程变差并帮助达到统计控制状态的有效工具； 达到质量水平的稳定的成本； 控制图提供了通用的语言； 控制图减少混淆、挫折以及误导性解决问题的努力而造成的高成本。总 结：SPC 对象：过程过程测量了解过程状态受控与否NY 控制/改进计算过程能力CPK是否满足N利用控制图分析特殊原因普通原因Y 改进保持第二章 计量型数据控制图计量
5、型数据的控制图应用广泛的原因：1. 大多过程和其输出具有可测量的特性，所以其潜在应用很广；2. 量化的值比简单的是否陈述包含的信息更多；3. 虽然获得一个测得的数据比获得一个通过或不通过的数据成本高，但为了获得更多的有关过程的信息而需要检查的件数却较少，因此，在某些情况下测量的费用更低；4. 由于在作出可靠的决定之前，只需检查少量产品，因此可以缩短零件生产和采取纠正措施之间的时间间隔；5. 用计量型数据，可以分析一个过程的性能，可以量化所作的改进，即使每个单值都在规范限界之内。统计过程控制有效性评价：-过程质量是否达到受控状态-过程能力是否达到规定要求第一节 均值和极差图（XR 图）准备工作：
6、 建立适合于实施的环境 定义过程 确定待管理（作图）的特性应考虑： 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系 确定测量系统 使不必要的变差最小化 确定需要控制的质量特性 能定量的质量特性 与生产和使用关系重大的质量特性 对下道工序影响较大的质量特性 经常出问题的质量特性 分析生产过程 掌握规范对所选择的质量特性提出的要求 研究每一个生产步骤和多个特性之间的关系以说明生产过程可能发生异常的地点及起因 研究所选择质量特性的检查方法，特别注意产生测量误差的因素 考虑整个产品是作为同一总体还是多个总体 确定控制点计量型数据控制图的绘制与应用：A. 收集数据A.1 选择子组大小、频率和数据a.
7、子组大小所有的子组样本的容量应保持恒定，一般为 45 件连续生产的产品的组合；b.子组频率应当在适当的时间收集足够的子组，这样子组才能反映潜在的变化；c. 子组数的大小一般情况下，包含 100 或更多单值读数的 25 或更多个的子组可以很好地用来检验稳定性。A.2 建立控制图及记录原始数据A.3 计算每个子组的均值（X）和极差（R）X （X 1 + X2 + + Xn）n 最大值 最小值式中：X 1 ，X 2 为子组内的每个测量值。n 为子组的样本容量。A.4 选择控制图的刻度对于 X 图：坐标上的刻度的最大值与最小值之差至少为子组均值的最大值与最小值的 2 倍。对于 R 图：刻度值应从最低值
8、为 0 开始到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差的 2 倍。A.5 将均值和极差画到控制图上B. 计算控制限B.1 计算 R 及 XR1 + R2+ +RKR =KX1 + X2 + + XKX =KB.2 计算控制限UCLR=D4RLCLR=D3RUCLX=X A 2RLCLX=X A 2RB.3 在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线. 过程控制解释.1 分析用控制图受控状态的判断准则： 连续 25 个点都在控制界限内，或 连续 35 个点中，在控制界限外的点不超过 1 个点，或 连续 100 个点中，在控制界限外的点不超过 2 个点，且 点子无非随机排列。非随机排列情况： 点子
9、屡屡接近控制界限（在 2 外的范围内）a. 连接 3 个点中，至少有 2 个点接近界限b. 连接 7 个点中，至少有 3 个点接近界限c. 连接 10 个点中，至少有 4 个点接近界限 连（控制图中心线一侧连续出现的点）长（点子的数目）不少于 7 间断的连a. 连续 11 个点中，至少有 10 个点在中心线的一侧b. 连续 14 个点中，至少有 12 个点在中心线的一侧c. 连续 17 个点中，至少有 14 个点在中心线的一侧d. 连续 20 个点中，至少有 16 个点在中心线的一侧 连续 6 个点中，至少有 5 个点超过中心线一侧的 1 界限 连续不少于 7 个点的上升或下降.2 识别并标注
10、特殊原因.3 重新计算控制极限D. 过程能力解释D.1 计算过程的标准偏差 = R/d 2 = R/d2D.2 计算过程能力Cp =（USL LSL）/（6 R/d2）注：仅限于公差中心与过程中心重合。SL：规范界限当 Cp 1 能力合格；CPU=（USL X）/（3 R/d2）CPL=（X - LSL）/（3 R/d2）Cpk =Zmin/3=CPU 或 CPL 的最小值D.3 评价过程能力基本目标：对过程的性能进行持续改进，首先应考虑的是哪些过程应优先获得注意。未满足要求的措施： 通过减少普通原因引起的变差或将过程均值调整到接近目标值方法来改进过程性能；临时措施： 对输出进行筛选，根据需要进行报废或返工处置； 改变规范使之与过程性能一致。D.4 提高过程能力必须重视减少普通原因。D.5 对修改的过程绘制控制图并分析控制用控制图：如分析用控制图为受控状态且能力满足，可直接作为控制用控制图。分析用控制图与控制用控制图异同点：分析用 控制用计算控制界限 需 无收集样本 至少 25 件 1 件样本分析时间 25 件以后 每件以后目 的 了解状态是否受控； 能力能否满足 保持状态-END
