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1、材料分析技术复习 2- 1 -一、选择题1.用来进行晶体结构分析的 X 射线学分支是（ ）A.X 射线透射学；B.X 射线衍射学；C.X 射线光谱学；D.其它2. M 层电子回迁到 K 层后，多余的能量放出的特征 X 射线称（ ）A. K；B. K；C. K；D. L。3. 当 X 射线发生装置是 Cu 靶，滤波片应选（ ）A Cu；B. Fe；C. Ni；D. Mo 。4. 当电子把所有能量都转换为 X 射线时，该 X 射线波长称（ ）A. 短波限 0；B. 激发限 k ；C. 吸收限；D. 特征 X 射线5.当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后，L 层电子回迁 K 层，多余能量将

2、另一个L 层电子打出核外，这整个过程将产生（ ） （多选题）A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C）1.有一倒易矢量为 ，与它对应的正空间晶面是（ ） 。cbag2A. （210） ；B. （220） ；C. （221） ；D. （110） ；。2.有一体心立方晶体的晶格常数是 0.286nm，用铁靶 K （K =0.194nm）照射该晶体能产生（ ）衍射线。A. 三条； B .四条； C. 五条； D. 六条。3.一束 X 射线照射到晶体上能否产生衍射取决于（ ） 。A是否满足布拉格条件；B是否衍射强度 I0；CA+B；D晶体形状。4.面心立方晶体（111）晶面族的多重

3、性因素是（ ） 。A4；B8；C6；D12。1.最常用的 X 射线衍射方法是（ ） 。A. 劳厄法；B. 粉末多法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。2.德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ ） 。A. 正装法；B. 反装法；C. 偏装法；D. A+B。3.德拜法中对试样的要求除了无应力外，粉末粒度应为（ ） 。A. 250 目；C. 在 250-325 目之间；D. 任意大小。4.测角仪中，探测器的转速与试样的转速关系是（ ） 。A. 保持同步 11 ；B. 21 ；C. 12 ；D. 10 。5.衍射仪法中的试样形状是（ ） 。A. 丝状粉末多晶；B. 块状粉末多晶；C. 块状单晶；

4、D. 任意形状。1.测定钢中的奥氏体含量，若采用定量 X 射线物相分析，常用方法是（ ） 。A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K 值法。2. X 射线物相定性分析时，若已知材料的物相可以查（ ）进行核对。A. Hanawalt 索引；B. Fenk 索引；C. Davey 索引；D. A 或 B。3.德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（ ） 。A. 相机尺寸误差；B. 底片伸缩；C. 试样偏心；D. A+B+C。4.材料的内应力分为三类，X 射线衍射方法可以测定（ ） 。A. 第一类应力（宏观应力） ；B. 第二类应力（微观应力） ；C. 第三类应力；D. A+B+C。

5、5.Sin2 测量应力，通常取 为（ ）进行测量。A. 确定的 角；B. 0-45 之间任意四点；C. 0、45 两点；D. 0、15、30、45 四点。1.若 H-800 电镜的最高分辨率是 0.5nm，那么这台电镜的有效放大倍数是（ ） 。A. 1000；B. 10000；C. 40000；D.600000。2. 可以消除的像差是（ ） 。A. 球差；B. 像散；C. 色差；D. A+B。3. 可以提高 TEM 的衬度的光栏是（ ） 。材料分析技术复习 2- 2 -A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。4. 电子衍射成像时是将（ ） 。A. 中间镜的物平面与

6、与物镜的背焦面重合；B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合；C. 关闭中间镜；D. 关闭物镜。5.选区光栏在 TEM 镜筒中的位置是（ ） 。A. 物镜的物平面；B. 物镜的像平面 C. 物镜的背焦面；D. 物镜的前焦面。1.单晶体电子衍射花样是（ ） 。A. 规则的平行四边形斑点；B. 同心圆环；C. 晕环；D.不规则斑点。2. 薄片状晶体的倒易点形状是（ ） 。A. 尺寸很小的倒易点；B. 尺寸很大的球；C. 有一定长度的倒易杆；D. 倒易圆盘。3. 当偏离矢量 S0；D. Ig=Imax。3. 已知一位错线在选择操作反射 g1=（110）和 g2=（111）时，位错不可见，那么它的布氏

7、矢量是（ ） 。A. b=（0 -1 0） ；B. b=（1 -1 0） ；C. b=（0 -1 1） ；D. b=（0 1 0） 。4. 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（ ） 。A. 质厚衬度；B. 衍衬衬度；C. 应变场衬度；D. 相位衬度。5. 当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时所看到的粒子大小（ ） 。A. 小于真实粒子大小；B. 是应变场大小；C. 与真实粒子一样大小；D. 远远大于真实粒子。1. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ ） 。A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。2. 在扫描电子显微镜中，下列二次电子像衬度最亮的区域

8、是（ ） 。A.和电子束垂直的表面；B. 和电子束成 30 的表面；C. 和电子束成 45 的表面；D. 和电子束成 60 的表面。3. 可以探测表面 1nm 层厚的样品成分信息的物理信号是（ ） 。A. 背散射电子；B. 吸收电子；C. 特征 X 射线；D. 俄歇电子。4. 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是（ ） 。A. 波谱仪；B. 能谱仪；C. 俄歇电子谱仪；D. 特征电子能量损失谱。5. 波谱仪与能谱仪相比，能谱仪最大的优点是（ ） 。A. 快速高效；B. 精度高；C. 没有机械传动部件；D. 价格便宜。1. 电子光谱是（ ） 。A、 线状光谱 B、带状光谱 C、连续光

9、谱2. 下列方法中， （ ）可用于测定 Ag 的点阵常数。A、 X 射线衍射线分析 B、红外光谱 C、原子吸收光谱 D 紫外光谱子能谱3. 某薄膜(样品)中极小弥散颗粒(直径远小于 1m)的物相鉴定，可以选择（ ） 。材料分析技术复习 2- 3 -A、X 射线衍射线分析 B、紫外可见吸收光谱 C、差热分析 D、多功能透射电镜4. 几种高聚物组成之混合物的定性分析与定量分析，可以选择（ ） 。A、红外光谱 B、俄歇电子能谱 C、扫描电镜 D、扫描隧道显微镜5. 下列（ ）晶面属于110晶带。A、 （110） B、 （011） C、 （101） D、 （ ）016. 某半导体的表面能带结构测定，可

10、以选择（ ） 。A、 红外光谱 B、透射电镜 C、X 射线衍射 D 紫外光电子能谱7. 要分析铁中碳化物成分和基体中碳含量，一般应选用（ ） 。A、波谱仪型电子探针仪 B、能谱仪型电子探针仪 C、原子发射光谱 D、原子吸收光谱8. 要测定聚合物的熔点，可以选择（ ） 。A、红外光谱 B、扫描电镜 C、差热分析 D、X 射线衍射9. 下列分析方法中， （ ）不能分析固体表面元素的含量。A、俄歇电子能谱 B、X 射线光电子能谱 C、紫外光电子能谱10. 要鉴定某混合物中的硫酸盐矿物，优先选择（ ） 。A、原子吸收光谱 B、原子荧光光谱 C、红外光谱 D、透射电镜二、判断题1.扫描电子显微镜中的物镜

11、与透射电子显微镜的物镜一样。 （ ）2.扫描电子显微镜的分辨率主要取决于物理信号而不是衍射效应和球差。 （ ）3. 扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。 （ ）4. 扫描电子显微镜具有大的景深，所以它可以用来进行断口形貌的分析观察。 （ ）5.波谱仪是逐一接收元素的特征波长进行成分分析；能谱仪是同时接收所有元素的特征 X射线进行成分分析的。 （ ）1.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。 （ ）2.X 射线衍射与光的反射一样，只要满足入射角等于反射角就行。 （ ）3.干涉晶面与实际晶面的区别在于：干涉晶面是虚拟的，指数间存在公约数 n。 （ ）4.布拉格方程只涉及 X

12、 射线衍射方向，不能反映衍射强度。 （ ）5.结构因子 F 与形状因子 G 都是晶体结构对衍射强度的影响因素。 （ ）1.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。 （ ）2.在衍射仪法中，衍射几何包括二个圆。一个是测角仪圆，另一个是辐射源、探测器与试样三者还必须位于同一聚焦圆。 （ ）3.选择小的接受光栏狭缝宽度，可以提高接受分辨率，但会降低接受强度。 （ ）4.德拜法比衍射仪法测量衍射强度更精确。 （ ）5.衍射仪法和德拜法一样，对试样粉末的要求是粒度均匀、大小适中，没有应力。 （ ）1.要精确测量点阵常数。必须首先尽量减少系统误差，其次选高角度 角，最后还要用直线外推法或柯亨

13、法进行数据处理。 （ ）2. X 射线衍射之所以可以进行物相定性分析，是因为没有两种物相的衍射花样是完全相同的。 （ ）3.理论上 X 射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有多少。 （ ）4.只要材料中有应力就可以用 X 射线来检测。 （ ）5.衍射仪和应力仪是相同的，结构上没有区别。 （ ）材料分析技术复习 2- 4 -1.TEM 的分辨率既受衍射效应影响，也受透镜的像差影响。 （ ）2.孔径半角 是影响分辨率的重要因素，TEM 中的 角越小越好。 （ ）3.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅

14、是仪器的制造水平。 （ ）4.TEM 中主要是电磁透镜，由于电磁透镜不存在凹透镜，所以不能象光学显微镜那样通过凹凸镜的组合设计来减小或消除像差，故 TEM 中的像差都是不可消除的。 （ ）5.TEM 的景深和焦长随分辨率 r 0的数值减小而减小；随孔径半角 的减小而增加；随放大倍数的提高而减小。 （ ）1.多晶衍射环和粉末德拜衍射花样一样，随着环直径增大，衍射晶面指数也由低到高。 （ ）2.单晶衍射花样中的所有斑点同属于一个晶带。 （ ）3.因为孪晶是同样的晶体沿孪晶面两则对称分布，所以孪晶衍射花样也是衍射斑点沿两则对称分布。 （ ）4.偏离矢量 S=0 时，衍射斑点最亮。这是因为 S=0 时

15、是精确满足布拉格方程，所以衍射强度最大。 （ ）5.对于未知晶体结构，仅凭一张衍射花样是不能确定其晶体结构的。还要从不同位向拍摄多幅衍射花样，并根据材料成分、加工历史等或结合其它方法综合判断晶体结构。 （ ）6.电子衍射和 X 射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。 （ ）1.实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。 （ ）2.厚样品中存在消光距离 g，薄样品中则不存在消光距离 g。 （ ）3.明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。 （ ）4.晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。 （ ）5.等厚消光条纹和等倾消光条纹通常是形貌观察中

16、的干扰，应该通过更好的制样来避免它们的出现。 （ ）1. 随 X 射线管的电压升高， 0 和 k 都随之减小。 （ ）2. 激发限与吸收限是一回事，只是从不同角度看问题。 （ ）3. 经滤波后的 X 射线是相对的单色光。 （ ）4. 产生特征 X 射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。 （ ）5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料，而不需要考虑厚度。 （ ）1. 干涉指数表示的晶面并不一定是晶体中的真实原子面，即干涉指数表示的晶面上不一定有原子分布。 （ ）2. 倒易矢量 r*HKL的基本性质为：r* HKL垂直于正点阵中相应的（HKL）晶面，其长度 r*HKL等于(HKL)

17、之晶面间距 dHKL的倒数。 （ ）3. 二次电子像的分辨率比背散射电子像的分辨率高。 （ ）4. 一束 X 射线照射一个原子列（一维晶体） ，只有镜面反射方向上才有可能产生衍射。 （ ）5. 低能电子衍射（LEED）适合于分析所有固体样品的表面结构。 （ ）6. 俄歇电子能谱适合于分析所有固体样品的表面化学成分。 （ ）7. X 射线光电子能谱可用于固体表面元素的定性、定量和化学状态分析。 （ ）材料分析技术复习 2- 5 -8. d-d 跃迁和 f-f 跃迁受配位体场强度大小的影响都很大。 （ ）9. 分子的振-转光谱是连续光谱。 （ ）10. 无论测试条件如何，同一样品的差热分析曲线都应

18、是相同的。 （ ）三、填空题1. 当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和 X 射线。2. X 射线与物质相互作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。 3. 经过厚度为 H 的物质后， X 射线的强度为 。 4. X 射线的本质既是 也是 ，具有 性。 5. 短波长的 X 射线称 ，常用于 ；长波长的 X 射线称，常用于 。1. 倒易矢量的方向是对应正空间晶面的 ；倒易矢量的长度等于对应 。2. 只要倒易阵点落在厄瓦尔德球面上，就表示该 满足 条件，能产生 。3. 影响衍射强度的因素除结构因素、晶体形状外还有 ， ， ， 。4. 考虑所有因素后的衍射强度公式为 ，对于粉末多晶的

19、相对强度为 。5. 结构振幅用 表示，结构因素用 表示，结构因素=0 时没有衍射我们称 或 。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现 。1. 在粉末多晶衍射的照相法中包括 、 和 。2. 德拜相机有两种，直径分别是 和 mm。测量 角时，底片上每毫米对应 和 。3. 衍射仪的核心是测角仪圆，它由 、 和 共同组成。4. 可以用作 X 射线探测器的有 、 和 等。5. 影响衍射仪实验结果的参数有 、 和 等。6. 在 一定的情况下， ，sin ；所以精确测定点阵常数应选择 。7. X 射线物相分析包括 和 ，而 更常用更广泛。8. 第一类应力导致 X 射线衍射线 ；第二类应力导致衍射线 ；第三类应

20、力导致衍射线 。9. X 射线测定应力常用仪器有 和 ，常用方法有 和 。10.X 射线物相定量分析方法有 、 、 等。11.TEM 中的透镜有两种，分别是 和 。12.TEM 中的三个可动光栏分别是 位于 ， 位于 ， 位于 。13.TEM 成像系统由 、 和 组成。14.TEM 的主要组成部分是 、 和观 ；辅助部分由 、 和 组成。15.电磁透镜的像差包括 、 和 。16.电子衍射和 X 射线衍射的不同之处在于 不同、 不同，以及 不同。17.电子衍射产生的复杂衍射花样是 、 、 、 和 。材料分析技术复习 2- 6 -18.偏离矢量 S 的最大值对应倒易杆的长度，它反映的是 角 布拉格

21、方程的程度。19.单晶体衍射花样标定中最重要的一步是 。20.二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在 产生衍射花样，但体心立方和面心立方结构的花样中 。21.运动学理论的两个基本假设是 和 。22.对于理想晶体，当 或 连续改变时衬度像中会出现 或 。23.对于缺陷晶体，缺陷衬度是由缺陷引起的 导致衍射波振幅增加了一个 ，但是若 =2 的整数倍时，缺陷也不产生衬度。24.一般情况下，孪晶与层错的衬度像都是平行 ，但孪晶的平行线 ，而层错的平行线是 的。25.实际的位错线在位错线像的 ，其宽度也大大小于位错线像的宽度，这是因为位错线像的宽度是 宽度。26.电子束与固体样品相互作用可以产生、

22、 、 、 、 、 等物理信号。27.扫描电子显微镜的放大倍数是 的扫描宽度与 的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是 衬度，而裂纹、凹坑则是 衬度。28.分辨率最高的物理信号是 为 nm，分辨率最低的物理信号是 为 nm 以上。29.电子探针包括 和 两种仪器。30.扫描电子显微镜可以替代 进行材料 观察，也可以对 进行分析观察。31.电磁波谱可分为（ ）、（ ）和（ ）3 个部分。32.光谱分析方法是基于电磁辐射与材料相互作用产生的特征光谱波长与强度进行材料分析的方法。吸收光谱与发射光谱按发生作用的物质微粒不同可分为（ ）光谱和（ ）光谱等。33.X 射线等谱域的辐射照射晶体，电子是

23、散射基元。晶体中的电子散射包括（ ）和（ ）两种。34.电子束与固体物质（样品）相互作用可能产生的信息主要有（ ） （ ） 、 （ ）和（ ） 。35.单晶体 X 射线衍射分析的基本方法为（ ）和（ ） 。36.电子能谱分析法是基于电磁辐射或运动实物粒子照射或轰击材料产生的电子能谱进行材料分析的方法，最常用的主要有（ ） 、 （ ）和（ ）三种。37.红外辐射与物质相互作用产生红外吸收光谱，必须有分子偶极矩的变化。只有发生偶极矩变化的分子振动，才能引起可观测到的红外吸收光谱带，称这种分子振动为（ ） ，反之则称为（ ） 。38.电子透镜有（ ）和（ ）两种类型。39.透射电镜的两种基本操作是（ ）和（ ） 。40.紫外光电子能谱、原子吸收光谱、波谱仪、差示扫描量热法的英文字母缩写分别是（ ） 、 （ ） 、 （ ） 、 （ ） 。