1、1南台科技大學 99 學年度第 2 學期課程資訊課程名稱 奈米材料結構分析課程編碼 10M02801系所代碼 01開課班級 博研機電一甲 碩研機械一甲 碩研奈米一甲 開課教師 王聖璋 學分 3.0時數 3上課節次地點 二 1 2 3 教室 B402必選修 選修課程概述 材料顯微結構分析是材料科學中最為重要的研究方法之一。準確、快捷的分析結果為材料的製備工藝、材料性能微結構表徵研究及其材料顯微結構設計提供可靠的實驗和理論依據。本課程主要介紹包括材料顯微結構形貌觀察、物相種類確定及其定量分析、微晶及納米粉體尺寸測定、塊材料及其微區成分分析和定量測定等；同時側重介紹進行上述顯微結構分析通常所採用的各
2、種現代儀器的主要功能特性及其分析方法，其中包括 X 光繞射儀(XRD)、穿透式電子顯微鏡(TEM)、掃描電子顯微鏡 (SEM)、電子探針(EPMA)、波譜儀(WDS)、能譜儀 (EDS)、X 光螢光分析儀(XRF) 等，並且按排了相應的實驗。課程目標 瞭解包括 X 光繞射儀(XRD)、穿透式電子顯微鏡(TEM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、電子探針(EPMA)、波譜儀(WDS)、能譜儀(EDS)、X 光螢光分析儀(XRF)等的原與基本，並熟習其實務分析方法。課程大綱 1.簡介-什麼是奈米科技 ?-如何檢測奈米材料2. 晶體結構 (I)-基本晶體理論3. 晶體結構(II)-反晶格空間4. 晶體結構
3、(III)-立體投影5. X 光繞射分析技術 6.電子束繞射分析技術英文大綱 1. Introduction-What is the nanotechnology ?-How to characterize the nanophase materials2. Crystal Structure (I)-Basic theory of crystal23. Crystal Structure (II)-Reciprocal lattice4. Crystal Structure (III)-Stereographic projection5.X-Ray Characterization (I)教
4、學方式 課堂教授,分組討論,實務操作,評量方法指定用書 Elements of X-Ray Diffraction, 2nd Edition參考書籍 1.許樹恩、吳泰伯，X 光繞射原理與材料結構分析，中國材料科學學會，1996 2. David B. Williams, and C. Barry Carter, “Transmission Electron Microscopy- A Textbook for Materials Science”, Plenum Press, New York, 1996先修科目教學資源注意事項全程外語授課 0授課語言 1 華語授課語言 2輔導考照 1輔導考照 2
