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X光探伤.docx

上传人:w89153 文档编号:5543504 上传时间:2019-03-07 格式:DOCX 页数:3 大小:19.02KB
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资源描述

1、4.5.7 无损检验焊缝的无损检验采用射线探伤,探伤比例为 5%,其中固定焊口为 40%,合格标准为级。1、作业现场安全防护及布置现场关口应设明显射线作业标记,防止他人误入。布置好高压柜、控制柜,同时佩带好剂量仪,测量估计作业区场射线辐射情况,充分利用距离、屏蔽物进行防护。2、X 射线机的训机X 射线机必须按规定进行训机,特别是老机子更要注意。3、安放各种标记、象质计、测深计及胶片1)受检工件的定位标记、识别标记的安放A、被检的每段焊缝附近均应有下列铅质识别标记:工件编号、对接接头编号、部位编号、焊工代号和透照日期。B、外径小于或等于 89mm 的管子被检焊缝附近,至少应有工件编号、对接接头编

2、号和焊工代号,加倍抽检的对接接头应有“JB”标记。返修后的对接接头透照部位还应有返修标记 R1,R2,(其数码 1,2,指返修次数) 。C、定位标记和识别标记均应离焊缝边缘大于或等于 5mm,并在底片上显示。D、对透照工件做永久性标识或采用详细的透照部位草图,以作为底片位置对照的依据。2)象质计、测深计及胶片的安放A、象质计、测深计的选用参见具体检验项目的射线探伤工艺卡 。B、R10 系列线型象质计应放在射线源侧的工件表面上被检焊缝区的一端(被检区长度的 1/4 部位) 。金属丝应横跨焊缝并与焊缝垂直,细丝置于外侧。当射线源侧无法放置象质计时,也可放在胶片侧的工件表面上,但象质计应提高一级,或

3、通过对比试验使实际象质指数达到规定的要求。象质计放在胶片侧的工件表面时,应附加“F”标记以示区别。C、采用射线源置于圆心位置的周向曝光透照工艺时,象质计应每隔 90放置一个,同时每一张底片应有一个。D、I 型专用象质计应放在射线源管子正中的表面上,金属丝应横跨焊缝并与焊缝垂直。E、II 型专用象质计的金属丝应置于焊缝中心,围绕全周。F、当透照呈排状的管子并使数个管子焊缝透照在同一张底片上时,象质计应放在最外侧的管子上。G、深度对比试块应平行于焊缝放置,且距焊缝边缘大于或等于 5mm。H、胶片应贴紧放置于射线源对侧透照部件外表面相应对接接头的区域上。4、曝光透照1)对焦时要特别注意,以免焊缝重叠

4、或透照角度不符合规定要求。2)工艺卡上的曝光参数是由曝光曲线或经验取得的,但由于现场情况复杂,所以要根据情况做相应调整。5、胶片的暗室处理1)胶片暗室处理应按胶片的使用说明书或公认的有效方法进行处理。2)采取自动冲洗应注意严格控制胶片显影、定影、水洗和干燥等工序的温度、传送速度和药液量。3)胶片手工冲洗宜采用槽浸方式,在规定的温度(20左右)和时间内进行显影、定影等操作。不允许在显影时用红灯观察,以调整显影时间的方式控制底片黑度。定影后的底片应充分水洗和除污,以保证底片的质量。注:暗室处理操作过程参数参照射线探伤工艺卡 。6、评片1)评片室及评片器械要求A 评片应在专用评片室内进行。评片室内的

5、光线应暗淡,室内照明用光不得在底片表面产生反射。B 观片灯最大亮度应不小于 100000cd/ m 2 ,且观察的漫射光亮度应可调。对不需要观 察或透光量过强的部分应采用适当的遮光板屏蔽强光。经照射后的底片亮度应不小于 30cd/ m 2 。C 评片时允许使用放大倍数小于或等于 5 的放大镜辅助观察底片的局部细微部分。2)评片工作A 按规定填写底片袋,以便归档。B 检查底片质量是否符合 5.1 的要求,不合格的底片须作废并重拍。C 根据 5.2 进行初评、复评并做好记录。D 将底片装入相应底片袋,放入底片柜相应位置。7、出具返修单及报告1)根据评片原始记录,对焊缝有超标缺陷的焊口,及时填写并出具返修单,以便返修及复检。2)在规定时间内填写并出具报告。

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