1、6s的意义与计算,s 是一个希腊字母, 用来 描 述 过程的变差6s 最初由 Motorola 公司发起, 逐步 被越来越多的世界级大公司所采用68.2% 的数据落在1s 以内 95.4% 的数据落在2s 以内 99.7% 的数据落在3s 以内 99.99999975% 的数据落在6s 以内,s个数的计算(连续数据),Z =,s,Min(USL-T), ( T-LSL) ,Z=3Cpk,计算s个数的概念与公式,Unit: 单元,被研究对象的基本单位。如一件产品、一次服务、一个过程等。Defect: 缺陷,任何未达到要求的特性DPU (Defects per unit) = Defects /
2、Unit= 缺陷数/单元数PPM (Defects per Million Units) = Defects / Unit x 106=缺陷数/(单元数 X 106 )TOP (Total Opportunities) = Units * Opportunities(总机会)=单元数 X 每单元发生缺陷的机会DPO (Defects per Opportunity)=Defects/TOP (每个机会中产生的缺陷数)=缺陷数/总机会DPMU(Defects per million units)=DPUx 106 (每百万单元中的缺陷数),DPMO (Defects per Million Op
3、portunities) = Defects / TOP x 106= 缺陷数 / TOP x 106First Pass Yield(一次合格率)=全过程中未产生任何缺陷的单元数/总单元数Rolled Yield (单元的缺陷数为零的几率)(The likelihood that any given unit of product will contain 0 defects) YRT= e -DPU YRT = P(ND) * P(ND) * P(ND) *P(ND)n P(ND) 表示零缺陷的几率Ynorm (Normalized Yield 正态合格率)=1-DPO= n YRT(连续
4、过程的平均合格率)n=过程的个数 Zlt=NormSinv(Ynorm) (在电子表格Excel 的函数 fx 中的统计类中, 或查表) Zst=Zlt+1.5,计算s个数的概念与公式(非连续数据),计算s个数实例,M(每单元产生缺陷的机会) =50 Units(单元数) =1000 Defects(缺陷数) =500 TOP=MxUnits =50000 DPO=Defects/TOP =0.01 DPMO=DPOx106 =10000 Ynorm=1-DPO =0.9900 Zlt=NormSinv(Ynorm) =2.33 Zst=Zlt+1.5 =3.83,93.32%,Long-Te
5、rm Yield,Long-Term Yield,4,2,308,537,3,66,807,6,210,5,233,6,3.4,不同s 个数的比较,(Distribution Shifted 1.5s),s,PPM,过程能力,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,Process Entitlement 目标,6s的意义与计算,s 是一个希腊字母, 用来 描 述 过程的变差6s 最初由 Motorola 公司发起, 逐步 被越来越多的世界级大公司所采用68.2% 的数据落在1s 以内 95.4% 的
6、数据落在2s 以内 99.7% 的数据落在3s 以内 99.99999975% 的数据落在6s 以内,Z =,s,Min(USL-T), ( T-LSL) ,Z=3Cpk,计算s个数的概念与公式,Unit: 单元,被研究对象的基本单位。如一件产品、一次服务、一个过程等。Defect: 缺陷,任何未达到要求的特性DPU (Defects per unit) = Defects / Unit= 缺陷数/单元数PPM (Defects per Million Units) = Defects / Unit x 106=缺陷数/(单元数 X 106 )TOP (Total Opportunities)
7、 = Units * Opportunities(总机会)=单元数 X 每单元发生缺陷的机会DPO (Defects per Opportunity)=Defects/TOP (每个机会中产生的缺陷数)=缺陷数/总机会DPMU(Defects per million units)=DPUx 106 (每百万单元中的缺陷数),DPMO (Defects per Million Opportunities) = Defects / TOP x 106= 缺陷数 / TOP x 106First Pass Yield(一次合格率)=全过程中未产生任何缺陷的单元数/总单元数Rolled Yield (
8、单元的缺陷数为零的几率)(The likelihood that any given unit of product will contain 0 defects) YRT= e -DPU YRT = P(ND) * P(ND) * P(ND) *P(ND)n P(ND) 表示零缺陷的几率Ynorm (Normalized Yield 正态合格率)=1-DPO= n YRT(连续过程的平均合格率)n=过程的个数Zlt=NormSinv(Ynorm) (在电子表格Excel 的函数 fx 中的统计类中, 或查表) Zst=Zlt+1.5,计算s个数的概念与公式(非连续数据),计算s个数实例,M(
9、每单元产生缺陷的机会) =50 Units(单元数) =1000 Defects(缺陷数) =500 TOP=MxUnits =50000 DPO=Defects/TOP =0.01 DPMO=DPOx106 =10000 Ynorm=1-DPO =0.9900 Zlt=NormSinv(Ynorm) =2.33 Zst=Zlt+1.5 =3.83,93.32%,Long-Term Yield,Long-Term Yield,2,308,537,3,66,807,4,6,210,5,233,6,3.4,不同s 个数的比较,(Distribution Shifted 1.5s),s,PPM,过程
10、能力,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,- - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - -,We dont know what we dont know We cant act on what we dont know We wont know until we search We wont search for what we dont question We dont question what we dont measure Hence, We just dont know,Low Hanging Fruit 底处的果实 Seven Basic Tools 统计七工具,Process Entitlement 目标,Sweet Fruit 最甜的果实 Design for Manufacturability,Bulk of Fruit 大量的果实 Process Characterization and Optimization过程优化,Ground Fruit 掉到地上的果实 Logic and Intuition基本常识,WHAT LEVEL ARE YOU?,