1、第九章 扫描电子显微镜 Light vs Electron Microscope 扫描电子显微镜（ Scanning Electron Microscope，简称 SEM）是继透射电镜之后发展起来的一种电子显微镜。 扫描电子显微镜是 以类似电视摄影的方式，利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的 。 扫描电镜能完成：表 (界 )面形貌分析；配置各种附件，做表面成分分析及表层晶体学位向分析等。概 述SEM1 扫描电镜的特点和工作原理 特点 仪器分辨本领较高。二次电子像分辨本领可达1.0nm(场发射 ),3.0nm(钨灯丝 )； 仪器放大倍数变化范围大（从几倍到几十万倍）
2、，且连续可调； 图像景深大，富有立体感。可直接观察起伏较大的粗糙表面（如金属和陶瓷的断口等）； 试样制备简单。只要将块状或粉末的、导电的或不导电的试样不加处理或稍加处理，就可直接放到 SEM中进行观察。一般来说， 比透射电子显微镜（ TEM）的制样简单， 且可使图像更近于试样的真实状态；特 点 可做综合分析。SEM装上波长色散 X射线谱仪（ WDX ）（简称波谱仪）或能量色散 X射线谱仪（ EDX）（简称能谱仪）后，在观察扫描形貌图像的同时，可对试样微区进行元素分析。装上不同类型的试样台和检测器可以直接观察处于不同环境（加热、冷却、拉伸等）中的试样显微结构形态的动态变化过程（动态观察）。工作原
3、理扫描电子显微镜结构原理框图扫描电镜的成像原理，不是用电磁透镜放大成像，而是逐点逐行扫描成像。 由电子枪发射出来的电子束，在加速电压作用下，经过 2-3个电磁透镜聚焦后，会聚成一个细的电子束。在末级透镜上边装有扫描线圈， 在它的作用下电子束在样品表面按顺序逐行进行扫描。 高能电子束与样品物质的交互作用 ,激发样品产生各种物理信号， 如二次电子、背散射电子、吸收电子、 X射线、俄歇电子和透射电子等。 其强度随样品表面特征而变化。 这些物理信号分别被相应的收集器接受，经放大器按顺序、成比例地放大后 ,送到显像管 ,调制显像管的亮度。 供给电子光学系统使电子束偏向的扫描线圈的电源也是供给阴极射线显像
4、管的扫描线圈的电源，此电源发出的锯齿波信号同时控制两束电子束作同步扫描。因此，样品上电子束的位置与显像管荧光屏上电子束的位置是一一对应的。工作原理扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法，把样品表面不同的特征，按顺序、成比例地转换为视频传号，完成一帧图像，从而使我们在荧光屏上得到与样品表面特征相对应的图像 某种信息图，如二次电子像、背散射电子像等。画面上亮度的疏密程度表示该信息的强弱分布。2扫描电镜成像的物理信号 扫描电镜成像所用的物理信号是电子束轰击固体样品而激发产生的。具有一定能量的电子，当其入射固体样品时，将与样品内原子核和核外电子发生弹性和非弹性散射过程 ,激发固体样品产生多种物理信号。 入
5、射电子轰击样品产生的物理信号一、背散射电子 （ backscattering electron） 背散射电子是指被固体样品中的原子反弹回来的一部分入射电子。 其中包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。 弹性背散射电子是指被样品中原子核反弹回来的散射角大于 90的那些入射电子，其能量基本上没有变化。 弹性背散射电子的能量为数千到数万电子伏。 非弹性背散射电子是入射电子和核外电子撞击后产生非弹性散射而造成的，不仅能量变化，方向也发生变化。 如果有些电子经多次散射后仍能反弹出样品表面，这就形成非弹性背散射电子。一、背散射电子 （ backscattering electron） 非弹性背散射电子的能
6、量分布范围很宽，从数十电子伏到数千电子伏。 从数量上看，弹性背散射电子远比非弹性背散射电子所占的份额多。 背散射电子的产生范围在 1000 到 1 m深，由于背散射电子的产额随原子序数的增加而增加，所以，利用背散射电子作为成像信号 不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度 ，定性地进行成分分析。二、二次电子 （ secondary electron） 二次电子是指被入射电子轰击出来的核外电子。 由于原子核和外层价电子间的结合能很小，因此外层的电子比较容易和原子脱离。当原子的核外电子从入射电子获得了大于相应的结合能的能量后，可离开原子而变成自由电子。 如果这种散射过程发生在比较接近样品表层，
7、那些能量尚大于材料逸出功的自由电子可从样品表面逸出，变成真空中的自由电子，即二次电子。 一个能量很高的入射电子射入样品时，可以产生许多自由电子，而在样品表面上方检测到的二次电子绝大部分来自价电子。二、二次电子 （ secondary electron） 二次电子来自表面 50-500 的区域，能量为 0-50 eV。 它对试样表面状态非常敏感，能非常有效地显示试样表面形貌。 由于它发自试样表面层，入射电子还没有较多次散射，因此产生二次电子的面积与入射电子的照射面积没多大区别。所以二次电子的分辨率较高，一般可达到 50-100 。 扫描电子显微镜的分辨率通常就是二次电子分辨率。二次电子产额随原子
8、序数的变化不明显，它主要决定于表面形貌。三、吸收电子 （ absorption electron） 入射电子进入样品后，经多次非弹性散射，能量损失殆尽（假定样品有足够厚度，没有透射电子产生），最后被样品吸收。 若在样品和地之间接入一个高灵敏度的电流表，就可以测得样品对地的信号，这个信号是由吸收电子提供的。 入射电子束与样品发生作用，若逸出表面的背散射电子或二次电子数量任一项增加，将会引起吸收电子相应减少，若把吸收电子信号作为调制图像的信号，则其衬度与二次电子像和背散射电子像的反差是互补的。 三、吸收电子 （ absorption electron） 入射电子束射入一含有多元素的样品时，由于二次
9、电子产额不受原子序数影响，则产生背散射电子较多的部位其吸收电子的数量就较少。 因此，吸收电流像可以反映原子序数衬度，同样也可以用来进行定性的微区成分分析。四、透射电子 （ transmission electron） 如果样品厚度小于入射电子的有效穿透深度 (扫描透射操作方式下 ) ，那么就会有相当数量的入射电子能够穿过薄样品而成为透射电子。 透射电子信号是由微区的厚度、成分和晶体结构来决定。 一般金属薄膜样品 (扫描透射操作方式下 )的厚度在 2000-5000 左右，在入射电子穿透样品的过程中将与原子核或核外电子发生有限次数的弹性或非弹性散射。 因此，样品下方检测到的透射电子信号中，除了有
10、能量与入射电子相当的弹性散射电子外，还有各种不同能量损失的非弹性散射电子。 其中有些待征能量损失 E的非弹性散射电子和分析区域的成分有关，因此，可以用特征能量损失电子配合电子能量分析器来进行微区成分分析。五、特征 X射线 （characteristic X-ray） 特征 X射线是原子的内层电子受到激发以后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和波长的一种电磁波辐射。 如在高能入射电子作用下使 K层电子逸出，原于就处于 K激发态，具有能量 EK。当一个 L2层电子填补 K层空位后，原于体系由 K激发态变成 L激发态，能量从 EK降为 EL2，这时就有 E (EK-EL2)的能量释放出来。 特
11、征 X射线发射五、特征 X射线 （ characteristic X-ray） 若这一能量以 X射线形式放出，这就是该元素的 K辐射，此时 X射线的波长为：式中， h为普朗克常数， c为光速。对于每一元素， EK、 EL2都有确定的特征值，所以发射的 X射线波长也有特征值，这种 X射线称为特征 X射线。 X射线的波长和原子序数之间服从莫塞莱定律：式中， Z为原子序数， K、 为常数。可以看出，原子序数和特征能量之间是有对应关系的，利用这一对应关系可以进行成分分析。如果用 X射线探测器测到了样品微区中存在某一特征波长，就可以判定该微区中存在的相应元素。六、俄歇电子 （ Auger electron） 处于激发态的原子体系释放能量的另一形式是发射具有特征能量的俄歇电子。 如果原子内层电子能级跃迁过程所释放的能量，仍大于包括空位层在内的邻近或较外层的电子临界电离激发能，则有可能引起原子再一次电离，发射具有特征能量的俄歇电子。 因每一种原子都有自己的特征壳层能量，所以它们的俄歇电子能量也各有特征值，一般在 50-1500 eV范围之内。俄歇电子是由试样表面极有限的几个原于层中发出的，这说明俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。 显然，一个原子中至少要有三个以上的电子才能产生俄歇效应，铍是产生俄歇效应的最轻元素。
