1、品 管 七 大 手 法 講 解,講師:彭衛安單位:NSE衝壓品管課日期:年6月日,一.七大手法簡介:,A.特性要因圖:尋找因果關係.B.柏拉圖:找出“重要的少數”.C.直方圖:了解數據分布與制程能力.D.層別法:按層分類,分別統計分析.E.查檢表:調查記錄數據用以分析.F.散布圖:找出兩者的關係.G.管制圖:了解制程變異.,1,二.品管七大手法所體現的精神:,1.用事實與數據說話.2.全面預防.3.全因素、全過程的控制.4.依據PDCA循環突破現狀予以改善.5.層層分解、重點管理.,2,三.特性要因圖:,對於結果與原因間或所期望之效果與對策間的關係,以箭頭連結,詳細分析原因或對策的一種圖形稱為
2、特性要因圖,工程魚骨圖或因果圖.它為1952年日本品管權威學者石川馨博士所發明,又稱“石川圖”.,3,作法:,1.4M1E法:(人、機、料、法、環境) 2.5W1H法:(What、Where、When、Who、Why、How) 3.創造性思考法:希望點例舉法、缺點列舉法、特性列案法. 4.腦力激蕩法:“Brain Storming”嚴禁批評、自由奔放. 5.系統圖法:依因果關係組合排列,作成問題點系統圖.,4,兩類特性要因圖:,1.追求原因型:,5,模具定位不穩定,模具設計不合理,模具設備老化,模具改善不及時,設備維修不力,模具保養不當,品管人員檢查不落實,責任心不強,模修人員技能不夠,教育訓
3、練不夠,產線未做好自主檢查,品質意識不夠,教育訓練不夠,規格不完善,鋼材不良,新機種承接不力,治具不完善,自主檢查未落實,品管管理方法不當,作業方法不當,專案改善不力,現場管理不嚴,模具、設備,人員,其他,方法,為何SWR那麼高 ?,6,2.追求對策型:,7,四.柏拉圖:,1897年,意大利學者柏拉撬分析社會經濟結構,發現絕大多數財富掌握在極少數人手里,稱為“柏拉法則”.美國質量專家朱蘭博士將其應用到品管上,創出了“Vital Few, Trivial Many”(重要的少數,瑣細的多數)的名詞,稱為“柏拉圖原理”.定義:根據所搜集之數據,按不良原因、不良狀況、不良發 生位置等不同區分標準,以
4、尋求占最大比率之原因,狀況或位置的一种圖形.,8,作法:,注意事項: 1.橫軸按項目別,依大小順序由高而低排列下來,“其他”項排末位. 2.次數少的項目太多時,可歸納成“其他”項. 3.前23項累計影響度應在70%以上. 4.縱軸除不良率外,也可表示其他項目.,9,柏拉圖的用途:,1.作為降低不良的依據.2.決定改善的攻擊目標.3.確認改善效果.4.用於發掘現場的重要問題點.5.用於整理報告或記錄.6.可作不同條件的評價.,10,柏拉圖應用範圍:,1.時間管理. 2.安全. 3.士气. 4.不良率. 5.成本. 6.營業額. 7.醫療. ABC法應用: A.時間管理. B.倉務管理. C.其他
5、.,11,柏拉圖實例:,12,五.層別法:,定義:為區別各種不同原因對結果之影響,而以個別原因為主體,分別作統計分析的方法,稱為層別法.分類: 1.時間的層別. 2.作業員的層別. 3.機械、設備層別. 4.作業條件的層別. 5.原材料的層別. 6.地區的層別等.,13,實例一:,結果顯示,周師傅的方法配美國材料良品率最高,為98%.,14,實例二:,法拉利籠衝壓成型品質狀況日報表,15,某電子廠有批精密零件在下工程裝配時發生困難,經直方圖分析,超出規格甚多,再將此100個數據,按A,B,C三種機種別加以層別,發現A機種的產品低於規格下限的很多,而C機種的產品超出規格上限的很多,B機種的產品完
6、全在規格內.因此,只要針對A,C兩機種著手改善即可.,實例三:,B,16,六.查檢表:,為了便於收集數據,使用簡單記錄填記並予統計整理,以 作進一步分析或作為核對,檢查之用而設計的一種表格或圖表.作法: 1.明確目的. 2.決定查檢項目. 3.決定檢查方式(抽檢、全檢). 4.決定查驗基準、數量、時間、對象等. 5.設計表格實施查驗.,17,查檢表的種類:,1.記錄用查檢表:主要功用在於根據收集之數據以調查不良項目、不 良主因、工程分布、缺點位置等情形.必要時,對收集的數據要予以層別.,月 日,月 日,18,2.點檢用查檢表:主要功用是為要確認作業實施、機械設備的實施情形,或為預防發生不良或事
7、故,確保安全時使用.這種點檢表可以防止遺漏或疏忽造成缺失的產生.把非作不可、非檢查不可的工作或項目,按點檢順序列出,逐一點檢並記錄之.,19,實例:,設 備 每 日 檢 查 表,項目,日期,20,收集數據應注意的事項:,1.收集的數據必須真實,不可作假或修正. 2.收集的數據應能獲得層別的情報. 3.查檢項目基準需一致. 4.樣本數需有代表性. 5.明確測定、檢查的方法. 6.明確查驗樣本的收集方法、記錄方式、符號代表意義. 7.慎用他人提供的數據.,21,七.散布圖:,為研究兩個變量間的相關性,而搜集成對二組數據(如溫 度與濕度或海拔高度與濕度等),在方格紙上以點來表示出二 個特性值之間相關
8、情形的圖形,稱之為“散布圖”.關係的分類: A.要因與特性的關係. B.特性與特性的關係. C.特性的兩個要因間的關係.,22,散布圖的判讀:,1.強正相關:X增大,Y也隨之增大,稱為強正相關.,2.弱正相關:X增大,Y也隨之增大,但增大的幅度不顯著.,Y,X,Y,X,23,3.強負相關:X增大時,Y反而減小,稱為強負相關.,4.弱負相關:X增大時,Y反而減小,但幅度並不顯著.,Y,X,Y,X,24,5.曲線相關:X開始增大時,Y也隨之增大,但達到某一值后,當X增大時,Y卻減小.,6.無相關:X與Y之間毫無任何關係.,Y,X,Y,X, ,25,散布圖判讀注意事項:,1.注意有無異常點.2.看是
9、否有層別必要.3.是否為假相關.4.勿依據技術、經驗作直覺的判斷.5.數據太少,易發生誤判.,26,SPC - Statistical Process Control.統計制程管制.由制程調查來改進制程能力,不斷降低產 品品質變異性,而提升產品品質的一種方法.七十年代風行於日本,以至於仍有不少日本人至今仍深信其功效,而抵觸ISO9000的導入.它的主要工具為管制圖.,27,質量有兩大特性:,11.規律性 22.波動性: 正常波動異常波動管制圖的功效: aA. 及時掌握異常波動,克服影響因素,維持制程穩定.bB. 了解制程能力.(Cpk、Ca、Cp)cC. 應客戶的要求,提供給客戶作為質量控制的
10、依據.,28,管制圖與直方圖的區別:,11. 管制圖控制時間段.直方圖控制時間點.22 .管制圖反映的Cpk是動態的Cpk.直方圖反映的Cpk是靜態的Cpk.33.“直方圖是管制圖的基礎,管制圖是直方圖的升華.”,29,八.直方圖:,直方圖是將所收集的測定值或數據之全距分為幾個相等的區間作為橫軸,並將各區間內之測定值所出現次數累積而成的面積,用柱子排起來的圖形. 製作步驟: 1.製作次數分配表:A.由全體數據中找到最大值與最小值.如:200個數據中之 170和124.B.求出全距(最大值與最小值之差).全距=170-124=46C.決定組數,一般為10組左右,不宜太少或太多.參照下表進行分組:
11、,30,附表:,132,162,166,137,145,153,148,127,155,136,144,157,150,136,126,132,127,147,144,151,137,150,133,162,147,150,157,145,156,152,150,167,152,142,147,142,137,148,143,152,145,136,134,160,142,149,167,146,157,163,139,160,153,147,148,140,152,150,142,153,142,152,144,158,143,148,152,147,153,164,126,159,154,
12、156,147,141,170,151,141,150,137,151,147,152,144,147,142,142,150,150,127,162,160,142,140,143,126,152,147,149,170,124,最大值,最小值,31,D.決定組距: 組距=全距/組數 46/12=4.E.決定各組之上下組界.1.最小一組的下組界=最小值-測定值之最小位數/2124-1/2 = 123.5.2.最小一組的上組界=下組界+組距=123.5+4=127.5依此類推.F.作次數分配表.(如附表),32,附表:,33,2.製作直方圖:畫出短形方塊及規格的上限及下限.(如附表),34,直
13、方圖常見的形態: 1.正常型:(如附圖),2.鋸齒型:(如附圖),3.偏態型:(如附圖),35,左右對稱分配(常態分配)顯示制程在正常運轉下.,檢查員對測定值有偏好或測量儀器不精密會出現此情形.,定位松動、工具磨損、技術不熟練、會有此情形發生.,4.絕壁型:(如附圖),5.雙峰型:(如附圖),36,原因為數據經過篩選過,或制程本身有經過全檢過,會出現該形狀.,兩台機台或兩種材料、兩個不同作業員的數據混入,會出現此種形狀,應予以層別.,6.离島型:(如附圖),7.高原型:(如附圖),37,測定有錯誤,使用不同原料等引起該情形.,不同平均值分配混在一起,應予以層別.,直方圖的應用:,1.測知制程能
14、力,作為制程改善依據.標準差S愈小愈好,平均值越接近規格中限越好.平均值X= 代表集中趨勢.標準偏差S= 代表分散程度.正態分布:,兩邊無限延伸,當3S= 時,其分布規格範圍占總數據分布範 圍的99.7%.,38,三個重要指標:,A.準確度Ca(Capability of Accuracy).,39,B.精密度Cp(Capability of precision)Cp= =,40,C.精確度Cpk(制程能力指數):Cpk=(1-Ca )*Cp= 或 之最小值,它是Ca與Cp的綜合體現,既考慮了平均值偏離、規格中心的情形,又考慮了分布範圍與規格範圍的比較.它反映了一個制程在一定的因素與正常管制狀
15、態下的品質作業能力,在規格確定后,平均值不偏離規格中心的情形幾乎不存在,因此,就有了Cpk.,41,制程能力指數判定表:,s,s,s,s,s,42,2.計算產品不良率:,43,1.5r,1.5r,44,3.調查是否混入兩個以上不同群體:兩個不同操作者,兩台不同機器,兩種不同材料,兩條不同生產線者.4.測知有無假數據:有無因測定誤差或檢查錯誤導致之假數據(鋸齒型、离島型).5.測知分配型態,了解制程有無異常.6.藉以訂定規格界限:如為常態分布,一般來說,X+4S為規格上限,X-4S為規格下限.,45,7.與規格或標準值比較:A.合乎規格:a.理態型:(附圖),46,b.一側無余裕:(附圖),47
16、,c.兩側無余裕:(附圖),48,d. 余裕太多:(附圖),49,B. 不合乎規格:a.平均值偏左:(如附圖),Sl,Su,50,b.分散度過大:(如附圖),51,c.完全在規格外:(如附圖),制品範圍,規格,52,8.改善前后的比較:,53,30,54,6r-PPM制程介紹:,1.何謂6r制程:(零缺陷的質量管理).制程精密度 Cp=2.0制程能力指數 Cpk1.5即:規格範圍為數據分布範圍的2倍.2.以6r訂為品質缺點的基準理由:在無制程變異情況下(Cp=Cpk=2.0),產生之缺點n率 為0.002PPM(10億分之2).在制程無法消除變異情況下,Cp=2.0,Cpk=1.5產生之缺點n
17、率為3.4PPM(百万分之3.4).,55,附圖:,56,九.管制圖:,“品質管制始於管制圖,終於管制圖”.管制圖,是一種以實際產品品質特性與根據過去經驗所判明的制程能力的管制界限比較,而以時間順序用圖形表示者.,直方圖,旋轉90,管制圖,+3r,-3r,u,UCL,CL,LCL,57,管制圖與常態分配:,U3r之範圍近似地可看作是所有數據分布範圍,近似程度為99.73%,因此通常以u3r作為管制上、下限,此即為肖華特博士所創的3r法.,58,影響數據分布的原因有,A.普通原因造成隨著時間的推移具有穩定的且可 重復的分布過程中的許多變差的原因.(如刀具正常磨損). B.特殊原因造成不是始終作用
18、于過程的變差的原 因即當它們出現時將造成過程的分布改變如果系統內存在變差的特殊原因隨著時間的推移過程的輸出將不穩定.(如刀具崩缺).,59,解決變差的特殊原因通常采取局部措施,由與過程直接相關人員(如作業員)實施可解決15%的問題.,解決變差的普通原因通常需要采取系統措施,由管理者實施可糾正85%的問題.,60,使用控制圖前提條件,1.過程處于統計穩定狀態. 2.過程各測量值服從正態分布. 3.工程及其它規范准確代表顧客需求. 4.設計目標值位于規范中心. 5.測量變差相對較小.,61,使用控制圖的准備,1.建立適合于實施的環境(確保統計方法公正有效). 2.定義過程(根據不同過程不同因素的關
19、系理解過程). 3.確定待管理的特性a.顧客的需求.b.當前的潛在問題區域.c.特性之間的相互關系(統計上之相關性=因果關系).,62,4.確定測量系統測量工具和方法必須保証產生准確和精密的結果.,不精密,不准確,精密,准確,63,量具重復性和再現性(%R&R)可接受條件,誤差30%-量具系統需要改進.,64,重復性(設備變差)EV=R K1再現性(試驗人員變差)AV= (X K2) -EV /nrn-零件數量. r-試驗次數.R&R= (EV) +AV 零件變差PV=Rp K3總變差TV= (R&R +RV ),2,2,65,5.使不必要的變差最小.不用控制圖就能糾正的問題(如模具定位松動架
20、模不正等)應盡量避免.,66,使用控制圖改進過程之基本步驟,1.收集數據.2.控制(確定是否存在特殊原因引起的變差).3.分析與改進.,67,數據的分布可按下列特性區別,位置,范圍,分布寬度,范圍,形狀,范圍,68,控制圖上數據點的分析,1.超出控制限的點(一點或多點)表明存在下列情形之一a.控制限或描點錯誤.b.過程已改變或是在當時的那一點是一種趨勢的一部分.c.測量系統發生變化(不同量具或檢驗員).,69,2.鏈*連續7點在平均值一側.*點連續上升或下降.與過程均值有關鏈通常表明存在下列情形之一.*過程均值已改變-也許還在變化.*測量系統已改變(飄移偏倚靈敏度等).,70,3.明顯的非隨機
21、圖形,大約2/3的描點應落在控制限三分之一的中間區域內(68.26%),大約1/3的描點落在2/3的兩邊區域(31.47%),71,如果大大超出2/3點落在過程平均值附近則可能,1.控制限或描點計算錯或描錯或重新計算錯. 2.過程或取樣方法分層每個子組包含以兩個或多個具有不同均值的過程流的測量值. 3.數據已被編輯.,72,如果大大少于2/3點落在平均值附近則可能,1.控制限或描點計算錯或描錯. 2.過程或抽樣方法造成連續的子組中包含兩個或多個不同過程流的測量值.,73,X-R Chart原理示意圖:,74,管制圖種類:,1.計量值管制圖:管制圖所依據的數據均屬於由量具實際量測而得.A.平均值
22、與全距管制圖(X-R Chart).B.平均值與標準差管制圖(X-r Chart).C.中位值與全距管制圖(X-R Chart).D.單個數據管制圖(X Chart).E.最大值與最小值管制圖(L-S Chart).,75,2.計數據管制圖: 管制圖所依據的數據均屬於以單位計數者.(如缺點數、不良數等).A.不良率管制圖(P Chart).B.不良數管制圖(Pn Chart).C.缺點數管制圖(C Chart).D.單位缺點數管制圖(U Chart).,76,管制圖依用途分:,1.管制用管制圖:用於控制制程之品質,如有點子跑出界限時,立即采取如下措施.A.追查不正常原因.B.迅速消除此原因.C
23、.研究采取防止此項原因重復發生的措施.2.解析用管制圖:A.決定方針用.B.制程解析用.C.制程能力研究用.D.制程管制之準備用.,77,1.管制用管制圖 先有管制界限,后有數據. (Process control chart) 2.解析用管制圖 先有數據,后才有管制界限. (Set-up chart),78,在計量值管制圖中,X-R管制圖系最常用的一種,所謂平均值與全距管制圖,系平均值管制圖(X Chart)與全距管制圖(R Chart)二者合並使用.平均值管制系管制平均值的變化,即分配的集中趨勢變化;全距管制圖則管制變異的程度,即分配的離散程度的狀況.,X-R管制圖的定義,79,TYPE:
24、 SET UP CHART PROCESS CONTROL CHART,CHART,23.95,23.93,23.91,R CHART,0.05,0.02,0.00.,80,x-R Control Chart 繪制步驟:,11. Set up chart (解析用管制圖).a.選定管制項目 (工標作出規格).b.收集數據(x1、x2、x3、x4).c.計算各組平均值: x = d.計算極差: R = Xmax-Xmine.計算總平均值: x = f.計算极差平均值: R=,81,g. 計算管制界限及繪出 x 管制圖: 中線 CLx = x上線 UCLx = x + A2 R下線 LCLx =
25、x - A2 RR 管制圖中線 CLR = R上線 UCLR = D4 R下線 LCLR = D3 RA2、D4、D3 由系統表查得.,82,h. 點圖:將數據點繪管制圖上,相鄰兩點用直線連接.i. 管制界限確定.j. 將計算出之管制界限確定為 “process control chart” (管制用管制圖)之管制界限.,83,2.Process Control Chart:a. 繪入 Set up chart之管制界限.b. 其余作法與 Set up chart 相同.c. 管制狀態判讀.d. 有異常狀態時,采取措施.f. 采取措施后,管制界限重新計算.,84,管制圖界限的計算,85,三個原
26、則:,11. “Set up chart”階段:如繪制管制界限后,發現有點子超界,則視為正常,無須改善.22.“Process Control Chart”階段:如Cpk一直在1.5以上,有必要提出建議制工更改管制 規格,取消原管制,因Cpk=1.5時,不良率為3.4DPPM.33. 不可將規格的上下限直接作為管制界限,將規格的中心值作為管制圖的中心線.,86,管制圖的判讀:,滿足下列條件,即可認為制程是在管制狀態:1.多數之點子集中在中心線附近.2.少數之點子落在管制界限附近.3.點之分布呈隨機狀態,無任何規則可循.4.沒有點子超出管制界限之外.,87,非管制狀態:1.點在管制界限的線外 (
27、誤判率為0.27%)2.點雖在管制界限內,但呈特殊排列.(見附圖),88,3.管制圖上的點雖未超出管制界限,但點的出現有下列法時,就判斷有異常原因發生.(a)點在中心線的單側連續出現7點以上時(b)出現的點連續11點中有10點,14點中有12點,17點中14點,20點中16點出現在中心線的單側時,89,七點連續上升或下降的傾向時(d)出現的點,連續3點中有2點,7點中有3點,10點中有4點出現在管制界限近旁(2線外)時,90,(e)出現的點,有周期性變動時,91,92,(f) 3點中有2點在A區或A區以外者 (g) 5點中有4點在B區或B區以外者,93,94,(h) 有8點在中心線之兩側,但C區並無點子者 (i) 連續14點交互著一升一降者,95,96,(j) 連續15點在中心線上下兩側之C區者,97,(k) 有1點在A區以外者,98,1.品管開具制程異常聯絡單.2.會簽品工、制工、模修相關人員分析原因及給出對策.3.品管人員將詳細資料寫入表中.4.QE依會簽結論作改善跟蹤.5.品管重新量測,描點在管制狀態才可繼續生產.,發現為非管制狀態時,應填寫 “Corrective Action Record”:,99,100,THIS IS THE END !,謝謝大家!2001. 6.24.,101,
