1、研究级智能全自动万能金相显微镜 Axio Imager M2m 品牌：卡尔蔡司 型号：Axio Imager M2m制造商：德国卡尔蔡司公司 经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司产地：德国 联系方式：800-890-0660ZEISS 一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS 仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品。通过我们不断改进的显微技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观世界的道路。今天的显微镜与以往相比，它们的成像质量更好、效率更高、机械性能更加稳定，并且更加环保。总体描述：金相学主要指借助光学（金相）显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织
2、和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒（亦包括可能存在的亚晶）、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷（例如位错）的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相学的兴起给金属材料研究带来了历史性的变革，而蔡司长久以来一直致力于金相显微镜的研发与应用，并将金相学的科研水平推向一个又一个高点。2010 年蔡司最新推出的金相显微镜 Axio Imager M2m 再次为金相学的长足发展了提供最佳检测工具。旷世经典、延续传奇！蔡司研究级智能全自动正立万能材料显微镜 Axi
3、o Imager M2m 的诞生源于蔡司高端智能显微镜 Axio Imager M1m 升级产品，在研究级智能全自动万能材料显微镜 Axio Imager M1m 卓越的产品性能基础上，对光路设计尤其是照明系统进行了全新的升级，将光学系统的优化发挥到了极致，展现给您无微不至的细节和最锐利的显微图像。Axio Imager M2m 可通过AxioVision 软件、TFT 液晶显示屏、远程、手动等方式进行显微镜的所有操作控制，操作菜单和所采集的图像及显微镜功能控制同界面，是至今为止智能化程度最高的研究级显微镜。Axio Imager M2m 的诞生给智能化显微镜提出了全新的标准，将蔡司的显微技术
4、又一次推向了巅峰。凭借 Axio Imager ，蔡司再次向世界证明了其全球技术先锋的领导地位！产品特点：1、 采用世界上最优秀的无限远双重色彩校正及反差增强型（ICCS）光学系统，为用户提供最锐利的图像。2、 更高品质的光学部件，更完善的色差校正，从而获得超强的对比度和极高的分辨率。3、 全新的照明理念获得出色的成像质量，xio Imager A2m 采用全新的照明系统，最大限度地降低了杂散光的干扰和图像的畸变，从而获得最出色的图像对比度。4、 6 位或 10 位的观察功能转盘获得绝无仅有的超大升级空间，满足您日趋复杂的分析要求。5、 创新的设计保证工作的稳定性，不受环境振动的影响。6、 精
5、益求精的人机工程学设计，让您保持操作仪器时无任何负担。技术参数：光学系统：ICCS 光学系统 镜体：FEM 设计，ACR 位置编码 1、ICCS 物镜：5X、10X、20X 、50X 、100X 可选 1.25X、2.5X、150X 2、目镜：10X/23 3、物镜转盘：研究级 7 孔或 6 孔明暗场自动物镜转盘 4、观察功能转盘：6-10 位，有预留位置便于日后升级 5、观察功能：反射光：自动切换明场、ADF 高级暗场、圆偏光、微分干涉、荧光 透射光：自动切换明场、ADF 高级暗场、圆偏光、相衬 6、光 源：12V100W 卤素灯，智能化光路管理器，光强色温自动可调 7、光学附件：目镜测微尺
6、，台尺，各种滤色片 8、Z 轴聚焦：自动聚焦 9、数字化平台：可配数字相机，计算机，图像分析软件 10、可配热台 11、可配自动扫描台，实现多视场自动扫描。 12、可配激光共聚焦附件（蔡司独有技术）13、可升级为颗粒度分析工作站产品应用：应用 目标群体 实例金属样品分析 质量控制 失效分析 新材料开发 结构成分的鉴定和量化 晶粒大小和非金属夹杂物的检测 腐蚀损害的分析 气孔和裂痕的检测 孔隙率的测定 机械工程学 汽车制造行业 汽车行业 航空、航天领域 船工业 金属行业 铸造业 以上各行业和大学的研究中心反射光 C-DIC 下的珍珠岩: 两束正交光方向上的图像区分 材料分析 质量控制 阻力测试
7、失效分析 鉴定 材料科学的研究中心 新材料机构 汽车行业 航空航天领域 船舶制造业 精密仪器行业复合材料 (碳加强的碳化硅),反射光,聚合物分析 质量控制 阻力测试 失效分析 鉴定 塑料加工行业 汽车领域 航空、航天领域 精密器械 塑料行业的研究中心复合材料（涂有塑料的铝)偏光+ Red I, 透射光矿物原材料分析 岩相测定和定量分析 质地和结构分析 气孔分析 矿物、地质行业的研究机构 采矿公司 (天然气和原油、岩石学、粘土/瓷土/石英、经济地质学)反射光明场下含黄铁的矿石微系统元件的分析和测试 缺陷分析 纯度测定(喷溅残留物) 生产控制 干涉的阶梯高度测量 微系统工程的研发和生产 1.支持安
8、全气袋传感器(C-DIC),喷溅残留物2.支持安全气袋传感器, C-TIC玻璃、陶瓷的分析 质量控制 (缺陷分析,粗糙度的测量) 过程控制 失效分析 新材料研发 玻璃制造商 (如. SCHOTT,OSRAM, Rodenstock) 建筑用陶瓷生产商 建筑结构机构（如：耐火材料研究院、陶瓷研究院）1.经过激光加工的 CaF2 表面,反射光2.C-DIC (缺陷探测)和 TIC(粗糙度数)太阳能电池的分析 接触点和接触表面的质量控制 太阳能电池的缺陷分析(显微裂纹,气泡等) 绝缘带和条状导体的质量控制 应用于太阳能电池薄膜发展的新“Scnbing”技术 涉及到太阳能光伏电池研究的科研机构 生产太
9、阳能电池薄膜单晶硅和多晶硅的生产厂商 生产用于太阳能电池薄膜的“scnbing”工具的生产厂商反射光明场下的多晶硅太阳能电池 印刷电路板的分析 接触点和接触表面的质量控制 绝缘层和保护层的质量控制台 结合区的显示和分析 电子工程和电子学的研究机构和生产厂商 印刷电路板的生产厂商 汽车零部件的供应商 消费电子领域的生产厂商和零部件供应商 机械电子学条形导体上的缺陷 合区 EDF 图像，反射光 木材/纸/细胞膜质的分析 质量检测 (建筑木材、高质量木材) 涂层、颜料层、侵蚀保护 对建筑用木材的分析 木材加工工业 树木年代研究(树木年轮测定) 纤维方面的生产商 造纸 研究中心 实验室 修复研究木材 (银杏茎皮) K. Verbeeck - HCTO, Antwerp(Belgium)
